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刻線

  • 基于三維激光掃描的金屬基航空模線樣板自動(dòng)檢測(cè)算法*
    率,且不具備樣板刻線檢測(cè)的功能,無(wú)法滿(mǎn)足對(duì)樣板的檢測(cè)需求。近年來(lái),三維激光掃描技術(shù)逐漸成熟,憑借著高精度、非接觸、數(shù)據(jù)量大等優(yōu)點(diǎn),在航空零部件的數(shù)字化檢測(cè)領(lǐng)域已有廣泛應(yīng)用[5–11]。針對(duì)傳統(tǒng)測(cè)量手段的不足,嚴(yán)成等[6]利用三維激光掃描儀獲取蒙皮對(duì)縫點(diǎn)云數(shù)據(jù),建立對(duì)縫階差數(shù)學(xué)模型實(shí)現(xiàn)飛機(jī)蒙皮對(duì)縫的三維數(shù)字化檢測(cè)。張一鳴等[7]利用多種三維點(diǎn)云描述子投票加權(quán),提高了三維掃描數(shù)據(jù)與數(shù)模的對(duì)齊精度。陳允全等[8]構(gòu)建機(jī)器人掃描系統(tǒng),擴(kuò)大三維激光掃描儀的測(cè)量范圍,

    航空制造技術(shù) 2023年4期2023-03-02

  • 基于激光干涉和視覺(jué)技術(shù)的銦瓦標(biāo)尺自動(dòng)測(cè)量裝置研制
    ,需要對(duì)銦瓦標(biāo)尺刻線間隔進(jìn)行檢定[1]。因這種標(biāo)尺刻線多,為準(zhǔn)確、高效地瞄準(zhǔn)和測(cè)量刻線間隔距離[2],研制了結(jié)合激光干涉儀和視覺(jué)識(shí)別技術(shù)的自動(dòng)測(cè)量裝置[3],用于銦瓦標(biāo)尺的計(jì)量檢定。1 總體介紹本測(cè)量裝置主要由激光干涉儀、視覺(jué)圖像采集系統(tǒng)、傳動(dòng)系統(tǒng)、伺服系統(tǒng)等組成,外觀如圖1所示。圖1 測(cè)量裝置外觀圖測(cè)量基本原理:采用伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)工作臺(tái)進(jìn)行初始定位[4],由激光干涉儀準(zhǔn)確測(cè)量移動(dòng)的距離L,再經(jīng)過(guò)視覺(jué)抓拍,確定零位起始刻度線的像素值P0和被測(cè)刻度線像素值Pm

    機(jī)電信息 2022年23期2022-12-13

  • 復(fù)合式量具刻線工藝研究
    710043)刻線量具是為測(cè)量零件上具有特殊形狀的不易直接測(cè)量的尺寸而設(shè)計(jì)制造的一種檢具,一般品種較多,有長(zhǎng)度、寬度、深度、厚度、位置、全形等單一量具,也有兼顧各尺寸同時(shí)測(cè)量的復(fù)合式量具。使用中具有高效、快捷、操作簡(jiǎn)便、適用性強(qiáng)等特點(diǎn)[1],適用于大批量的生產(chǎn)要求,被廣泛應(yīng)用于機(jī)械零件加工領(lǐng)域。復(fù)合式量具應(yīng)用在不易直接進(jìn)行測(cè)量復(fù)雜結(jié)構(gòu)的異形零件上[2],分為樣板和對(duì)板。樣板用于檢測(cè)零件,屬于生產(chǎn)檢具,對(duì)板用于檢測(cè)樣板,屬于計(jì)量檢具。設(shè)計(jì)精度一般高于2倍的

    新技術(shù)新工藝 2022年10期2022-11-21

  • 激光跟蹤儀應(yīng)用功能提升
    件曲面外形和型面刻線等方面的檢測(cè)和校準(zhǔn)應(yīng)用不足。王巍[8]利用激光跟蹤儀對(duì)某型機(jī)機(jī)身桶段關(guān)鍵特性和關(guān)鍵對(duì)接點(diǎn)進(jìn)行在線測(cè)量及數(shù)據(jù)分析,驗(yàn)證了激光跟蹤儀系統(tǒng)在飛機(jī)產(chǎn)品測(cè)量中的應(yīng)用情況。史懷璽[9]通過(guò)激光跟蹤儀對(duì)某型機(jī)尾端后梁接頭和頂肋關(guān)鍵特征點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,利用SA軟件分析對(duì)接位置的關(guān)鍵特性,并對(duì)部件的協(xié)調(diào)關(guān)系進(jìn)行擬合與評(píng)估,為后續(xù)尾梁的對(duì)接與質(zhì)檢提供數(shù)字依據(jù)。梅龍[10]運(yùn)用激光跟蹤儀T-Probe附件對(duì)飛機(jī)鈑金劃銑零件的型面刻線進(jìn)行檢測(cè),大幅提升飛機(jī)鈑金件的

    工程與試驗(yàn) 2022年3期2022-09-27

  • 基于Grubbs準(zhǔn)則和直線線性度擬合的線紋提取算法
    ,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)線紋刻線的提取[1];景加慧提出邊緣檢測(cè)特征值提取算法結(jié)合分段最小二乘擬合,實(shí)現(xiàn)刻線的提取[2];茍建松提出了圖像閾值分割并結(jié)合垂直投影定位算法來(lái)提取線紋刻線[3];Menaka在現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)板上基于Sobel濾波器設(shè)計(jì)了一種邊緣檢測(cè)算法[4],實(shí)現(xiàn)了刻線特征提取和模式識(shí)別。上述方法使用了圖像處理里的邊緣檢測(cè)、閾值分割以及最小二乘擬合等理論,對(duì)線紋圖像處理并提取刻線、比對(duì)刻線,過(guò)程高度自動(dòng)化,因此大大降低了勞動(dòng)力,提高了效率,同

    中國(guó)測(cè)試 2022年8期2022-09-13

  • 銅銦鎵硒薄膜太陽(yáng)能電池激光刻劃及串聯(lián)技術(shù)研究
    組件生產(chǎn)工藝中,刻線是把連續(xù)的膜層細(xì)分為單個(gè)的子電池,然后在單個(gè)電池之間建立串聯(lián)連接的結(jié)構(gòu)[6];刻線的數(shù)量及結(jié)構(gòu),可根據(jù)薄膜太陽(yáng)能電池的性能以及市場(chǎng)的具體需求設(shè)計(jì)。該文主要針對(duì)CIGS薄膜太陽(yáng)能電池的刻線工藝進(jìn)行試驗(yàn)研究,結(jié)合最優(yōu)子電池寬度,獲得最優(yōu)激光刻線并應(yīng)用于規(guī)?;a(chǎn)。1 材料和方法該文所涉的基板尺寸為1 583 mm×660 mm普通浮法玻璃。P1刻線是利用1 064 nm皮秒低頻激光設(shè)備完全分隔Mo電極,并保證阻擋層和薄膜不能被刻蝕消融。P2

    建材世界 2022年4期2022-09-01

  • 汽車(chē)覆蓋件拉深模壓邊圈刻線方案研究與應(yīng)用
    制度。1 壓邊圈刻線類(lèi)型壓邊圈刻線是根據(jù)制件拉深工藝中的參考線進(jìn)行刻劃,不同參考線所起的作用不同,圖1所示是某后側(cè)門(mén)內(nèi)板拉深工藝圖,其中主要參考線包含板料線、重力線、位置線、閉合線和收縮線等,具體說(shuō)明及作用如表1所示。2 壓邊圈刻線方案由于不同參考線所起的作用不同,如果將所有的線都刻劃在壓邊圈上,不僅信息凌亂,容易產(chǎn)生誤導(dǎo),而且部分刻線還會(huì)對(duì)板料的正常流動(dòng)產(chǎn)生影響,批量生產(chǎn)時(shí)容易造成成形制件拉傷問(wèn)題。壓邊圈刻線既要方便板料流入量的快速測(cè)量,又要減小對(duì)模具調(diào)

    模具工業(yè) 2022年8期2022-08-24

  • 鋁質(zhì)易拉蓋輕量化的蓋型分析與模具改進(jìn)
    和線號(hào),舌片通過(guò)刻線和蓋本體連成一體,拉環(huán)與蓋本體鉚釘連接。此類(lèi)易拉蓋耐壓能力弱,灌裝中經(jīng)常出現(xiàn)蓋面變形,且變形位置不固定,當(dāng)變形在切線附近出現(xiàn)時(shí),易導(dǎo)致切線整體爆開(kāi),舌片或內(nèi)容物飛脫,對(duì)消費(fèi)者造成傷害。圖3 易拉蓋改進(jìn)前后結(jié)構(gòu)為了避免上述情況的發(fā)生,改進(jìn)后的結(jié)構(gòu)如圖3b)所示,使用上下模具對(duì)蓋本體面直接實(shí)施擠壓,讓材料發(fā)生塑性變形,在蓋本體切線附近形成一條沿著蓋本體平面下凹加強(qiáng)拱。此加強(qiáng)拱和蓋本體的切線呈平行狀態(tài),其寬度0.5~0.9 mm,深度0.05

    設(shè)備管理與維修 2021年20期2021-11-26

  • 游標(biāo)卡尺的快速讀數(shù)與莫爾現(xiàn)象
    主尺和游標(biāo)尺的零刻線重合,稱(chēng)為一級(jí)亮紋,游標(biāo)的第10條刻線與主尺第9條刻線重合,稱(chēng)為二級(jí)亮紋.當(dāng)游標(biāo)沿主尺移動(dòng)δ=0.1 mm,第1條刻線與主尺第1條刻線重合,一級(jí)亮紋中心移至此處;當(dāng)移動(dòng)2δ=0.2 mm時(shí),第2條刻線與主尺第2條刻線重合,一級(jí)亮紋中心移至此處;圖2(d)表示游標(biāo)移動(dòng)了5δ=0.5 mm時(shí),游標(biāo)的第5條刻線與主尺的第5條刻線重合,一級(jí)亮紋移動(dòng)到該處的情形,…,游標(biāo)沿主尺移動(dòng)了9δ=0.9 mm時(shí),游標(biāo)的第9條刻線與主尺的第9條刻線重合,一

    物理教師 2021年5期2021-06-07

  • 游標(biāo)卡尺的兩種讀數(shù)方法及比較研究
    將游標(biāo)尺的“0”刻線與主尺的“0”刻線進(jìn)行對(duì)齊,與此同時(shí),還要保證游標(biāo)尺的第一條刻線處在主尺的1mm 刻線左邊0.1mm 位置上,而游標(biāo)尺的第二條刻線要位于主尺的2mm 刻線左邊0.2mm 位置上,這樣才能確保讀數(shù)的準(zhǔn)確性,以此類(lèi)推,如圖1 所示。圖1當(dāng)對(duì)長(zhǎng)度為0.1mm 的物體進(jìn)行測(cè)量時(shí),就要將游標(biāo)尺向右移動(dòng)0.1mm,進(jìn)以保證其第一條刻線與主尺的1mm 刻線相對(duì)齊。而對(duì)長(zhǎng)度為0.3mm 的物體進(jìn)行測(cè)量時(shí),則要將游標(biāo)尺的第三條刻線與主尺的3mm 對(duì)齊,以

    商品與質(zhì)量 2021年11期2021-03-31

  • 車(chē)用鋼板材料耐腐蝕性研究
    下:(1)鍍鋅板刻線位置開(kāi)始出現(xiàn)白色鋅層銹蝕,平面上形成少量的點(diǎn)狀白銹,鈑金邊緣開(kāi)始有輕微起泡;(2)鋁硅板在刻線位置產(chǎn)生可見(jiàn)紅銹,非刻線位置鋁硅層開(kāi)始出現(xiàn)少量輕微點(diǎn)狀銹蝕,鈑金邊緣有輕微紅銹擴(kuò)展;(3)非鍍鋅板在刻線位置產(chǎn)生可見(jiàn)紅繡,非刻線位置開(kāi)始有銹蝕斑點(diǎn),鈑金邊緣有輕微銹蝕形成。2.3 試驗(yàn)30循環(huán)狀態(tài)圖4 試驗(yàn)30循環(huán)試驗(yàn)30循環(huán)后觀察記錄三種鈑金的表面腐蝕狀態(tài),如圖4所示,結(jié)果如下:(1)鍍鋅板在刻線位置及周邊鋅層起泡進(jìn)一步擴(kuò)展,非刻線位置銹蝕加

    汽車(chē)實(shí)用技術(shù) 2021年5期2021-03-29

  • 游標(biāo)卡尺示值誤差自動(dòng)檢定方法研究
    1]設(shè)計(jì)了一種雙刻線儀表自動(dòng)讀數(shù)系統(tǒng),采用移位寄存式線性逼近法和特征窗平移法分別識(shí)別對(duì)準(zhǔn)刻線和字符,降低了人眼讀數(shù)的主觀誤差。中國(guó)計(jì)量大學(xué)鮑承德等[2]設(shè)計(jì)了一種用于檢定游標(biāo)卡尺示值的裝置,測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)采用高精度光柵尺代替檢定用標(biāo)準(zhǔn)量塊,利用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)方式代替人工移動(dòng)游標(biāo)卡尺,提高了檢定效率。為了解決人工目視檢定存在的弊端,本文提出一種基于機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)和誤差補(bǔ)償技術(shù)的游標(biāo)卡尺示值誤差自動(dòng)檢定方法,極大地降低了人工檢定的工作量,提高了檢定精度和效率,增強(qiáng)了檢定

    機(jī)械制造與自動(dòng)化 2020年6期2021-01-04

  • 提高萬(wàn)能角度尺檢測(cè)精度的新方法
    。萬(wàn)能角度尺中的刻線以1°為單位,精確度為2’。技術(shù)人員在使用之前,需要校準(zhǔn)零度位置,保持角度尺的底邊與基尺無(wú)縫銜接。目前常見(jiàn)的萬(wàn)能角度尺型號(hào)可分為I型與II型兩種,I型可以測(cè)量0°-320°的角。而II型可以測(cè)量0°-360°的角。在使用萬(wàn)能角度尺之前,首先要將各個(gè)組件擦拭干凈,并組裝緊密。擰松制動(dòng)器頂部的螺帽,保持基尺測(cè)量面和直尺測(cè)量面的穩(wěn)定接觸,確定游標(biāo)零刻線和主尺零刻線保持重合。同時(shí)按照被測(cè)工件的體積大小,組裝角度尺后,移動(dòng)主尺使兩個(gè)測(cè)量面與工件表

    商品與質(zhì)量 2020年1期2020-11-26

  • 淺析電表的改裝原理與使用
    的阻值由于其表盤(pán)刻線是均勻的,只不過(guò)量程擴(kuò)大了而已,故可在電流計(jì)原來(lái)的刻線上重新標(biāo)數(shù)。圖1同學(xué)們普遍感到困難的一類(lèi)題如下:當(dāng)兩個(gè)由相同電流計(jì)改裝成的量程不一樣的電流表并聯(lián)時(shí),二者的讀數(shù),偏角如何?我們可以根據(jù)上述方法,這樣分析理解:把并聯(lián)的每一塊電流表拆分成電流計(jì)和一電阻的并聯(lián),由于并聯(lián),兩塊電流計(jì)兩端的電壓相同,電流計(jì)一樣說(shuō)明其內(nèi)阻也是相同的,根據(jù)歐姆定律流過(guò)兩塊電流計(jì)中的電流就是一樣大,故偏角一樣,但由于所并聯(lián)阻值不同,電流表的量程不一樣,相同偏角處標(biāo)

    數(shù)字通信世界 2020年5期2020-06-15

  • 異型面機(jī)件檢測(cè)方法探析
    類(lèi)曲面,且有各種刻線,如圖 1所示。圖1 航空模胎2 測(cè)量?jī)?nèi)容測(cè)量?jī)?nèi)容主要分為模胎表面(曲面)數(shù)字化測(cè)量和模胎表面刻線的數(shù)字化測(cè)量,且兩類(lèi)測(cè)量結(jié)果應(yīng)統(tǒng)一在一個(gè)整體坐標(biāo)系中。測(cè)量完成后,應(yīng)對(duì)模胎數(shù)字化測(cè)量點(diǎn)云進(jìn)行曲面和曲線建模,并以 CATIA格式輸出,此即為模胎的逆向建模工程。如模胎已有數(shù)模,則無(wú)需進(jìn)行此步驟,可在后續(xù)設(shè)備配置中去除便攜式掃描儀,以單+雙相機(jī)即可完成模胎型面及刻線的檢測(cè),并在SA等軟件中進(jìn)行與數(shù)模的對(duì)比分析,就可以得出模胎的檢測(cè)結(jié)果。模胎測(cè)

    航空維修與工程 2020年2期2020-04-11

  • 一種魯棒的線紋尺圖像刻線提取算法研究
    動(dòng)化檢定方法中,刻線識(shí)別是關(guān)鍵技術(shù),以鋼卷尺[1]為例,對(duì)于表面較為光潔嶄新的鋼卷尺,采用常規(guī)的圖像二值化[2]與邊緣檢測(cè)算法[3]就可以得到每條刻線的中心位置,但由于不同生產(chǎn)廠家采用不同的加工印刷工藝,導(dǎo)致鋼卷尺的基體材質(zhì)、印刷方式都有所不同,使得不同鋼卷尺在相同的光照與拍攝條件下會(huì)呈現(xiàn)出不同的表面明暗對(duì)比;同時(shí),由于使用環(huán)境、使用時(shí)間不同,尺帶表面會(huì)出現(xiàn)各種污點(diǎn)與銹斑。以上因素都對(duì)鋼卷尺圖像的自動(dòng)檢測(cè)提出了挑戰(zhàn)[4-6],為保證鋼卷尺圖像的自動(dòng)檢測(cè)識(shí)別

    計(jì)測(cè)技術(shù) 2020年1期2020-04-10

  • 超導(dǎo)陀螺儀轉(zhuǎn)子加工誤差對(duì)其位置檢測(cè)影響研究
    法。根據(jù)轉(zhuǎn)子表面刻線和光電傳感器安裝位置的不同,超導(dǎo)陀螺儀轉(zhuǎn)子位置的光電檢測(cè)法可分為轉(zhuǎn)子赤道刻線法、轉(zhuǎn)子極頂刻線法以及轉(zhuǎn)子極頂-赤道刻線法等。超導(dǎo)陀螺儀對(duì)轉(zhuǎn)子的加工精度要求較高,轉(zhuǎn)子的加工精度將直接影響到其位置檢測(cè)精度,從而對(duì)超導(dǎo)陀螺儀的精度產(chǎn)生重要影響。但是,由于加工過(guò)程中的各種不確定因素,加工轉(zhuǎn)子會(huì)產(chǎn)生多種加工誤差。轉(zhuǎn)子的加工誤差主要包括轉(zhuǎn)子的刻線誤差、轉(zhuǎn)子頂部平面誤差、轉(zhuǎn)子的球形誤差等,其中轉(zhuǎn)子的刻線誤差、轉(zhuǎn)子頂部平面誤差對(duì)其位置檢測(cè)有較大的影響。本

    榆林學(xué)院學(xué)報(bào) 2020年2期2020-03-17

  • 828D 系統(tǒng)使用SETCO 多向搖擺立臥主軸頭實(shí)現(xiàn)加工中心立臥轉(zhuǎn)換示例
    角度,主軸端面的刻線與主軸外圈端面刻線重合。另外A、C 軸為虛擬軸,MD30130 設(shè)置為0,其它通用機(jī)床軸名MD10000,以及通道對(duì)應(yīng)的機(jī)床軸MD20070、通道中的軸名MD20080 仍然需要設(shè)置。該立臥主軸頭在A、C 軸旋轉(zhuǎn)位置均帶有HEIDENHAIN ROD 486 增量編碼器,作為測(cè)量系統(tǒng)反饋實(shí)際位置,用來(lái)消除A 軸(下頭座)、C 軸(上頭座)分別與主運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)嚙合的間隙。所以PLC 要處理對(duì)應(yīng)第一測(cè)量系統(tǒng)信號(hào)DB3804.DBX1.5 和DB

    科學(xué)技術(shù)創(chuàng)新 2020年36期2020-01-04

  • 光纖激光刻線機(jī)在量具制造行業(yè)的應(yīng)用與發(fā)展方向
    5%[1]。游標(biāo)刻線,是游標(biāo)卡尺生產(chǎn)過(guò)程中最為關(guān)鍵的一道加工工序,關(guān)乎到游標(biāo)卡尺精度、示值及外觀是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。隨著近年來(lái)工業(yè)智能化迅速發(fā)展需要及人們對(duì)環(huán)境保護(hù)、職業(yè)健康意識(shí)的增強(qiáng),量具行業(yè)中游標(biāo)卡尺刻線工藝也日新月異,從最初的對(duì)線條照相、腐蝕工藝逐步改進(jìn)為光纖激光刻線機(jī)刻線工藝。本文首先介紹光纖激光刻線機(jī)系統(tǒng)構(gòu)成與工作原理和光纖激光刻線機(jī)在游標(biāo)卡尺游標(biāo)刻線加工工藝中的應(yīng)用,最后講述光纖激光刻線機(jī)在量具制造中刻線工藝方面的發(fā)展方向。1 光纖激光刻線機(jī)

    裝備制造技術(shù) 2019年10期2020-01-01

  • 刻劃光柵刻線彎曲誤差在線修正技術(shù)研究
    述因素均導(dǎo)致光柵刻線產(chǎn)生彎曲誤差,嚴(yán)重影響了光柵刻劃精度及波前質(zhì)量[5-7]。Harrison等人研制的MIT-C[8-9]刻劃?rùn)C(jī),刻劃尺寸及刻劃精度均在世界領(lǐng)先,其刻劃的光柵仍具有明顯的刻線彎曲誤差。同時(shí)隨著刻劃尺寸的增加,刻線彎曲誤差對(duì)于光柵波前的影響越大,基于此Harrison等人為了降低由于刻劃過(guò)程中導(dǎo)向?qū)к壝嫘蛷澢鷮?dǎo)致的刻劃彎曲誤差,將MIT-C機(jī)中導(dǎo)向?qū)к壍暮穸扔?0 mm改進(jìn)為100 mm,但是此舉只能降低部分由于導(dǎo)向?qū)к壝嫘蛷澢鸬恼`差,

    應(yīng)用光學(xué) 2019年4期2019-10-10

  • 投影立式光學(xué)計(jì)故障分析與維護(hù)保養(yǎng)
    應(yīng)正確,刻度尺的刻線與指標(biāo)線應(yīng)平行。如果玻璃測(cè)微尺在視場(chǎng)中斜向運(yùn)動(dòng),可以用以下方法進(jìn)行調(diào)整。轉(zhuǎn)動(dòng)微調(diào)手輪使玻璃刻度尺在視場(chǎng)中移動(dòng),范圍是20 μm,由于玻璃刻度尺的工作平面與基準(zhǔn)尺的運(yùn)動(dòng)方向不一致,造成刻度尺的斜向運(yùn)動(dòng),通過(guò)調(diào)整微米刻度尺鎖緊螺釘,使微米刻度尺的影像在投影屏幕的中心位置,微米刻度尺影像對(duì)準(zhǔn)零位時(shí),轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)微手輪使微米刻度尺的實(shí)線部分與指標(biāo)線的虛線對(duì)準(zhǔn),上下移動(dòng)微米刻度尺,觀察微米刻度尺影像是否還發(fā)生斜向運(yùn)動(dòng),其誤差不超過(guò)1/10短刻線,最后將

    設(shè)備管理與維修 2019年2期2019-02-19

  • 誰(shuí)最早發(fā)明了卡尺
    都是由有卡爪、有刻線的固定尺和另外一支活動(dòng)尺兩部分組成。不同之處在刻線上,漢代卡尺在固定尺上有分、寸刻度,活動(dòng)尺上只刻寸,這樣用它來(lái)對(duì)準(zhǔn)主尺上的分度線則更清晰。而現(xiàn)代游標(biāo)卡尺是運(yùn)用了游標(biāo)讀數(shù)原理,刻線更精細(xì),測(cè)量數(shù)據(jù)更精準(zhǔn)。中國(guó)古代卡尺與近現(xiàn)代游標(biāo)卡尺相比,除了刻線準(zhǔn)確度不高,不具游標(biāo)讀數(shù)外,幾乎沒(méi)有其他本質(zhì)上的區(qū)別。中國(guó)的刻線卡尺在什么情況下,由誰(shuí)發(fā)明制造的?史書(shū)缺乏記載,我們目前也無(wú)法知道。那么我們借助其他國(guó)家卡尺的發(fā)展史,來(lái)看看卡尺特殊用途和它的演進(jìn)

    品牌與標(biāo)準(zhǔn)化 2019年6期2019-02-06

  • 探析千分尺精確測(cè)量小微導(dǎo)線外徑的改進(jìn)措施
    條平行于軸線的縱刻線,在縱刻線的上下兩側(cè)各有一列均勻分度橫刻線刻線間距都是1mm。但上下兩列橫刻線相互錯(cuò)位0.5mm;下側(cè)橫刻線標(biāo)有數(shù)字,表示毫米整數(shù)值,左端橫刻線稱(chēng)下限刻線,右端橫刻線稱(chēng)上限刻線,上、下限刻線距離25mm,也就是每把千分尺的量程(測(cè)砧固定式);上側(cè)橫刻線未標(biāo)數(shù)字,表示半毫米數(shù)值。微分筒左端錐面上,有50條均勻刻線(平行母線)并標(biāo)出數(shù)字。微分筒每轉(zhuǎn)一周。測(cè)微螺桿軸向位移O.5mm;每轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)刻線間距,測(cè)微螺桿移動(dòng)距離O.5/50=O.01

    商品與質(zhì)量 2018年42期2018-12-06

  • 農(nóng)藥原藥和制劑的分析方法 ——CIPAC分析手冊(cè) O卷的分析方法
    溫,用乙腈定容至刻線。采用紫外檢測(cè)器檢測(cè)(λ=300nm),外標(biāo)法定量測(cè)定。以0.5mL/L乙酸乙腈溶液/0.5mL/L乙酸水溶液(v/v)的程序淋洗液(表2)為流動(dòng)相,流速2.0mL/min,經(jīng)過(guò)50mm×4.6mm(i.d)、內(nèi)填HALO C18的2.7μm色譜柱分離,柱溫25℃。保留時(shí)間:10min。表2 溴蟲(chóng)腈程序淋洗液4 氰霜唑(Cyazofamid,653)-HPLC法稱(chēng)取約含85mg氰霜唑的試樣于50mL容量瓶中,加入40mL乙腈超聲溶解5m

    農(nóng)藥科學(xué)與管理 2018年2期2018-08-07

  • 汽車(chē)生產(chǎn)線方向盤(pán)對(duì)中方案探討
    輔具方向盤(pán)上面有刻線等明顯標(biāo)志。例如某車(chē)型的(方向盤(pán)總?cè)?shù)為3圈)調(diào)整方法:(1)使用方向盤(pán)調(diào)整輔具(圖 1),將方向盤(pán)向左打到底,調(diào)整方向盤(pán)輔具的起點(diǎn)位于儀表的正前方,如圖2;(2)反方向打方向盤(pán)約1.5圈,使輔具的終點(diǎn)線第二次與輔具方向盤(pán)的基點(diǎn)線相重合;(3)拔出方向盤(pán)輔具,水平方向裝配商品化方向盤(pán)于轉(zhuǎn)向管柱上。圖1 方向盤(pán)調(diào)整輔具圖2 標(biāo)記點(diǎn)調(diào)整位置兩種人工對(duì)中方法是初期生產(chǎn)線裝配方向盤(pán)時(shí)采用的,主要是利用人工肉眼觀察對(duì)中裝配。由于主觀因素起決定性作

    汽車(chē)實(shí)用技術(shù) 2018年6期2018-04-11

  • 機(jī)械天平常見(jiàn)故障與排除
    。如果當(dāng)微分標(biāo)牌刻線過(guò)高或過(guò)低,也可用同樣方法解決。三、光屏上的光太臟。清洗燈泡,聚光管兩頭放大鏡,并更換一次二次反射鏡片,如果臟物隨著刻線跑則是微分標(biāo)牌臟,清洗微分標(biāo)牌即可。四、光屏上的讀數(shù)刻線不清或脫落。卸下光屏內(nèi)的兩塊玻璃:即一塊磨砂玻璃,一塊刻線玻璃,把原殘缺的刻線清洗掉,在磨砂玻璃的磨砂面上,用鉛筆或碳素筆畫(huà)一刻線,刻線一定要仔細(xì)清潔待干再安裝好。五、光屏上微分標(biāo)牌刻線不清。松開(kāi)二次反射鏡片下的物鏡緊固螺絲,將物鏡前后移動(dòng),選擇最佳刻度線,再緊固

    中國(guó)質(zhì)量監(jiān)管 2017年5期2017-08-16

  • 拼接型光柵對(duì)壓縮器中刻線密度差對(duì)輸出脈沖的影響及補(bǔ)償方案?
    型光柵對(duì)壓縮器中刻線密度差對(duì)輸出脈沖的影響及補(bǔ)償方案?趙丹1)2)3)王逍1)3)?母杰1)3)左言磊1)周松1)周凱南1)3)曾小明1)李志林1)3) 粟敬欽1) 朱啟華1)3)1)(中國(guó)工程物理研究院激光聚變研究中心,等離子體物理重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,綿陽(yáng) 621900)2)(中國(guó)工程物理研究院研究生院,北京 100088)3)(上海交通大學(xué)IFSA協(xié)同創(chuàng)新中心,上海 200240)(2016年8月26日收到;2016年10月25日收到修改稿)拼接型光柵對(duì)壓縮器

    物理學(xué)報(bào) 2017年2期2017-08-01

  • QMD141型白光瞄準(zhǔn)鏡
    鏡組后,在分劃板刻線面上形成倒立影像,該影像與分劃板刻線一起經(jīng)過(guò)變倍轉(zhuǎn)像鏡組而成正立放大的實(shí)像于目鏡透鏡組前焦面上,人眼通過(guò)目鏡觀察其前焦面上的正立實(shí)像完成對(duì)目標(biāo)的觀察和瞄準(zhǔn)。結(jié)構(gòu)組成該瞄準(zhǔn)鏡主要由物鏡組、物鏡防塵罩、分劃調(diào)整機(jī)構(gòu)、鏡身組(內(nèi)含變倍轉(zhuǎn)像鏡組)、變倍手輪組、目鏡防塵罩、目鏡組、分劃照明系統(tǒng)、調(diào)焦手輪組、遮光罩與遮光筒及皮卡汀尼導(dǎo)軌接口等組成。物鏡組物鏡組分前后二組,前組由三塊單片玻璃和一個(gè)物鏡框通過(guò)螺紋連接固定在鏡身前端,后組由一塊膠合玻璃和

    輕兵器 2017年9期2017-05-17

  • “庫(kù)侖定律”定量實(shí)驗(yàn)的改進(jìn)
    所示的薄塑料透明刻線標(biāo)尺,貼到毛玻璃上,靜電擺不受靜電力而平衡時(shí),其擺線投影與0豎刻線重合.在0刻線左右的等間隔長(zhǎng)刻度線依次標(biāo)為-1、1,-2、2,-3,3……,其間隔為10mm.短刻線表示半格,改變兩球距離,使電擺偏至-0.5、-1、-1.5、-2…….零刻線兩邊的A、B投影位置讀數(shù)數(shù)值之和即為電擺A和帶電球B之間的距離.為進(jìn)一步減少放電時(shí)間,零刻線右邊的位置可以先不記錄,可通過(guò)實(shí)時(shí)錄像之后再做數(shù)據(jù)記錄和處理.(4) 為了減少讀數(shù)誤差,電擺讀數(shù)位置可以用

    物理之友 2017年4期2017-05-12

  • 在線診斷光譜儀用光柵制作誤差對(duì)光譜成像的影響及補(bǔ)償
    錄參數(shù)誤差對(duì)光柵刻線密度、 聚焦曲線、 譜像寬度等的影響及規(guī)律, 提出相應(yīng)的補(bǔ)償方法是必要前提。 基于費(fèi)馬原理、 光程差理論及像差理論, 分析了光柵光譜性能對(duì)記錄參數(shù)誤差的影響及其敏感性。 在光柵使用參數(shù)固定的情況下, 記錄角度誤差對(duì)光譜性能影響較大, 在光柵設(shè)計(jì)時(shí)可通過(guò)對(duì)記錄角度加權(quán)的方法來(lái)提高記錄角度的取值的精確度; 記錄臂長(zhǎng)誤差對(duì)光譜性能影響較小; 記錄臂長(zhǎng)和記錄角度的相對(duì)誤差決定了其對(duì)光柵光譜性能影響程度。 結(jié)果表明, 單側(cè)記錄臂長(zhǎng)和角度誤差對(duì)光譜

    光譜學(xué)與光譜分析 2016年3期2016-06-15

  • 用歸納法學(xué)習(xí)幾種測(cè)量?jī)x器的讀數(shù)方法
    的長(zhǎng)度=游標(biāo)尺零刻線對(duì)應(yīng)主尺上的整毫米數(shù)+n×精度,其中n為與主尺上的某條刻線對(duì)齊的游標(biāo)尺上的那條刻度線的數(shù)值。如圖1所示,被測(cè)物體長(zhǎng)度=36 mm+2×0.1 mm=36.2 mm圖1游標(biāo)卡尺的讀數(shù)2螺旋測(cè)微器的讀數(shù)方法被測(cè)部分的長(zhǎng)度=固定套筒上露出的毫米數(shù)值(含0.5 mm)+n×精度,其中精度是0.01 mm,n為和固定套管的橫刻線對(duì)齊的微分筒上刻線的數(shù)值(含估讀數(shù))。如圖2所示,讀數(shù)是(10 mm+29.6×0.01 mm)=10.296 mm。圖

    中小學(xué)實(shí)驗(yàn)與裝備 2015年3期2016-04-21

  • 游標(biāo)卡尺如何從常規(guī)走向變異
    ,游標(biāo)尺的“0”刻線恰與主尺的“0”刻線對(duì)齊,兩個(gè)斜腳之間放上被測(cè)圓柱形或球形工件,使工件與主尺、兩斜腳都相切,即共有三個(gè)切點(diǎn),如圖3中的D、C、E。圖3所示的被測(cè)球形工件的直徑為_(kāi)_______mm。【解析】游標(biāo)尺的“0”刻線恰與主尺的“0”刻線對(duì)齊時(shí),兩個(gè)斜腳之間不放工件,說(shuō)明此時(shí)A與B點(diǎn)是重合的,放工件后,兩“0”刻線間距就是A、B間距。過(guò)C、E作垂線,找出球形工件的球心O點(diǎn),連接OB。由題意知:C是AB的中點(diǎn)、∠EBO=63°26′06″、tan∠

    教學(xué)考試(高考物理) 2016年2期2016-03-20

  • 基于影像測(cè)量方法的楔形塞尺全自動(dòng)檢測(cè)解決方案
    卡到楔形塞尺被測(cè)刻線上的,所以雖然用卡尺檢測(cè)楔形塞尺速度較快,但這種方法是錯(cuò)誤的。2)萬(wàn)工顯法該方法需要通過(guò)人眼瞄準(zhǔn)楔形塞尺每條刻線中間位置處,通過(guò)計(jì)算兩中間位置連線來(lái)測(cè)量楔形塞尺測(cè)量面寬度。這種方法從原理上說(shuō)是正確的,但因楔形塞尺刻線較密,需要檢測(cè)點(diǎn)數(shù)較多,效率低,檢測(cè)一把楔形塞尺需要很長(zhǎng)的時(shí)間,檢測(cè)成本高,因此該方法目前很少被檢測(cè)單位采用。2 基于影像測(cè)量方法的塞尺全自動(dòng)檢測(cè)方案目前非接觸測(cè)量?jī)x器中,影像測(cè)量?jī)x是自動(dòng)化程度和準(zhǔn)確度都非常高的儀器,正在被

    計(jì)測(cè)技術(shù) 2015年1期2015-12-02

  • 高精度白光與微光瞄具零位走動(dòng)量檢測(cè)技術(shù)研究
    自準(zhǔn)直儀1的十字刻線在CCD視場(chǎng)的中間位置。白光瞄具安裝在調(diào)整架上,調(diào)整調(diào)整架使白光瞄準(zhǔn)具十字分劃線與光電自準(zhǔn)直儀1的十字分劃接近重合。調(diào)節(jié)平面反射鏡二維調(diào)整架,使光電自準(zhǔn)直儀2的十字刻線經(jīng)過(guò)平面鏡反射的像與原光電自準(zhǔn)直儀2的十字刻線重合,鎖緊平面反射鏡二維調(diào)整架。2.1 瞄具的純零位變化測(cè)量白光瞄具裝卡到調(diào)整架上,記下此時(shí)從CCD中采集的白光瞄準(zhǔn)具十字刻線相對(duì)于光電自準(zhǔn)直儀1十字刻線的偏移量θX0、θY0,以及光電自準(zhǔn)直儀1經(jīng)過(guò)半反半透鏡反射的十字刻線

    兵工學(xué)報(bào) 2015年8期2015-11-18

  • 中國(guó)制式觀察測(cè)量?jī)x“第一”:58式方向盤(pán)
    分劃鏡上設(shè)有十字刻線,十字刻線的水平、垂直線上設(shè)有分劃,用于測(cè)量方向角、高低角。這兩種分劃的測(cè)量范圍均為80密位,刻線間隔均為5密位。分劃鏡上還設(shè)有水平、垂直測(cè)距分劃,與2m標(biāo)桿配合時(shí)可測(cè)量50~400m范圍的距離,這兩種測(cè)距分劃均設(shè)有“50、60、80、100、150、200、300、400”數(shù)字標(biāo)記,這些數(shù)字標(biāo)記以米為單位。在不同距離范圍內(nèi),水平、垂直測(cè)距分劃的刻線間隔表示的距離值不同。在50~100m之間,刻線間隔為2m;在100~150m之間,刻線

    輕兵器 2015年21期2015-09-10

  • 用于二維線紋測(cè)量的二維動(dòng)態(tài)光電顯微鏡
    利用一組交叉十字刻線定義平面內(nèi)的點(diǎn)坐標(biāo),常用于影像測(cè)量?jī)x、光學(xué)成像系統(tǒng)等視覺(jué)測(cè)量系統(tǒng)的校準(zhǔn)與畸變檢測(cè)[1-2]。二維線紋樣板的量值傳遞過(guò)程中,需要進(jìn)行高精度可溯源測(cè)量。對(duì)二維線紋進(jìn)行溯源測(cè)量的關(guān)鍵是對(duì)其刻線進(jìn)行高精度瞄準(zhǔn),刻線瞄準(zhǔn)方法決定了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和溯源性。工業(yè)領(lǐng)域常采用成像法進(jìn)行二維線紋的精密測(cè)量與校準(zhǔn),將被測(cè)樣板經(jīng)光學(xué)成像系統(tǒng)放大后投影在CCD 靶面上,采集圖像,處理圖像信息擬合出刻線及位置坐標(biāo)[3]。該方法的測(cè)量精度受到成像系統(tǒng)精度的限制,一

    計(jì)測(cè)技術(shù) 2015年4期2015-04-13

  • 玻羅板刻線間距測(cè)量的S-F圖解法研究
    0012)玻羅板刻線間距測(cè)量的S-F圖解法研究童伊琳1,2,廖兆曙1,陳海清1(1.漢口學(xué)院湖北省過(guò)程控制與先進(jìn)裝備制造協(xié)同創(chuàng)新中心,湖北 武漢 430212;2.漢口學(xué)院機(jī)電工程學(xué)院,湖北 武漢 430012)玻羅板是焦距儀測(cè)量焦距的基準(zhǔn)元件。在用分析放大率法測(cè)量光學(xué)透鏡焦距的測(cè)量精度的基礎(chǔ)上,根據(jù)光電式焦距儀探測(cè)器的讀數(shù)精度與接收范圍,推導(dǎo)了焦距儀設(shè)計(jì)時(shí)玻羅板刻線間距與被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)焦距關(guān)系的表達(dá)式,制作了表達(dá)其關(guān)系的S-F圖,提出了一種用S-F圖設(shè)計(jì)玻

    時(shí)代農(nóng)機(jī) 2015年7期2015-03-04

  • 采用主軸定向加工放射狀刻度線
    要求不太嚴(yán)格),刻線時(shí)主軸不轉(zhuǎn)。我們所用的機(jī)床是西門(mén)子840D 系統(tǒng)加工中心,西門(mén)子系統(tǒng)的主軸定向指令是SPOS=定向角度。深度方向每層下0.05mm,工件坐標(biāo)系原點(diǎn)設(shè)在上表面的φ10mm 圓心處。程序如下:加工出的零件如圖2 所示。加工一件耗時(shí)大約4min (僅刻線部分),刻線清晰,表面粗糙度值小。實(shí)踐證明采用主軸定向的方法加工放射狀刻度線比用刻字刀或尖底銑刀銑削的效果要好。圖2

    金屬加工(冷加工) 2014年5期2014-12-02

  • 小板簧彈力檢測(cè)裝置
    簧彈性力。托板上刻線2的確定:刻線2與板簧H尺寸的基準(zhǔn)線A重合(也就是在板簧放到檢具上定位固定后的基準(zhǔn)線A線);滑塊上刻線1-1和刻線1-2之間的范圍就是板簧彈性變形到H尺寸時(shí),所要求的彈力范圍值,給桿一個(gè)板簧要求范圍內(nèi)最小的彈力(F1),在彈簧的作用下桿帶動(dòng)指針1向左移動(dòng)達(dá)到平衡后,在指針1的D邊處劃一條刻線就為刻線1-1;再給桿一個(gè)板簧要求范圍內(nèi)最大的彈力(F2),在彈簧的作用下,桿帶動(dòng)指針1向左移動(dòng)達(dá)到平衡后,在指針1的D邊處劃一條刻線即為刻線1-2

    機(jī)械制造 2014年2期2014-11-26

  • 柴油機(jī)聯(lián)合調(diào)節(jié)器模擬仿真系統(tǒng)
    ;10)空載供油刻線的測(cè)定;11)工作油壓、油溫測(cè)定(具有加熱裝置);12)測(cè)試數(shù)據(jù)網(wǎng)傳。因?yàn)闄C(jī)車(chē)柴油機(jī)及其傳動(dòng)系統(tǒng)的工作狀態(tài)是一個(gè)大惰性系統(tǒng),聯(lián)合調(diào)節(jié)器在仿真系統(tǒng)上調(diào)試時(shí)遇到的問(wèn)題是,如何相對(duì)準(zhǔn)確的模擬聯(lián)合調(diào)節(jié)器在全程轉(zhuǎn)速下的實(shí)時(shí)工作狀態(tài),是保證聯(lián)合調(diào)節(jié)器在裝車(chē)后能與柴油機(jī)及其傳動(dòng)系統(tǒng)很好的匹配的關(guān)鍵問(wèn)題。為解決這個(gè)問(wèn)題,使用模擬乘法器及高精度變頻器來(lái)解決,并配以51單片機(jī)和數(shù)字顯示屏來(lái)顯示仿真系統(tǒng)的所有模擬及數(shù)字量。1 控制系統(tǒng)介紹柴油機(jī)聯(lián)合調(diào)節(jié)器模擬

    機(jī)電工程技術(shù) 2014年7期2014-11-06

  • 光柵刻劃?rùn)C(jī)刻劃系統(tǒng)光機(jī)電集成優(yōu)化方法研究*
    系統(tǒng)的誤差控制對(duì)刻線直線性的保證非常關(guān)鍵,且無(wú)法采取補(bǔ)償控制,僅僅依靠加工精度來(lái)保證十分困難.對(duì)于機(jī)械結(jié)構(gòu)優(yōu)化,雖然國(guó)內(nèi)外也有大量研究,提出了眾多的方法[4-6],但是對(duì)于光柵刻劃?rùn)C(jī)這種大行程的超精密加工裝置效果均不好.由于光柵刻線的長(zhǎng)度達(dá)到400 mm,其精度又在納米級(jí),很難有設(shè)備能同時(shí)保證如此大范圍的觀察又具備納米級(jí)的分辨率,如果用電子顯微鏡觀察納米級(jí)的刻線細(xì)節(jié),又無(wú)法顧全整條刻線的直線度,因此刻劃系統(tǒng)導(dǎo)致的誤差形式也無(wú)法確定,這樣就對(duì)刻劃系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)優(yōu)

    湖南大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版) 2014年3期2014-09-17

  • 科學(xué)對(duì)待游標(biāo)卡尺及千分尺的“零誤差”
    同點(diǎn)是從主尺上零刻線開(kāi)始確定主尺上的讀數(shù),這一點(diǎn)對(duì)理解零誤差取正或取負(fù)是很重要的.最后,實(shí)際工件的長(zhǎng)度Ls=Lg+Lk-L0,其中Lg為主尺上的固定刻度,Lk為可動(dòng)部分游標(biāo)尺上的刻度,L0為零誤差.1 游標(biāo)卡尺的零誤差1.1 零誤差情形對(duì)于游標(biāo)卡尺,零誤差是測(cè)量之前,先把量爪合攏,檢查游標(biāo)的“0”線與主尺的“0”線是否重合,無(wú)非重合(圖1),偏左(圖2),偏右(圖3)三種情形.下面以10 分度游標(biāo)尺為例說(shuō)明.圖1圖2圖31.2 零誤差讀數(shù)方法游標(biāo)卡尺的零誤

    物理通報(bào) 2014年4期2014-06-29

  • 明制簡(jiǎn)儀上地平日晷時(shí)間刻線的偏差與地理經(jīng)度差修正問(wèn)題的考證
    儀上地平日晷時(shí)間刻線的偏差與地理經(jīng)度差修正問(wèn)題的考證劉 炎 張 旸(中國(guó)科學(xué)院紫金山天文臺(tái),南京210008)在著名的明制簡(jiǎn)儀(現(xiàn)今保存于南京紫金山天文臺(tái))上有一架按西法建造的地平日晷。對(duì)于此日晷來(lái)歷,百余年來(lái)的大多數(shù)學(xué)者都認(rèn)為是清代加上去的。此晷面上的刻線有一個(gè)迄今未解的重大疑問(wèn):晷盤(pán)時(shí)間刻線的午正線方向相對(duì)于方位盤(pán)刻線的子午線北側(cè)為何有著一個(gè)向東二度左右的偏離角?文章對(duì)這一問(wèn)題作了多方面的考證,認(rèn)為:這一偏離角正相應(yīng)于南京和北京的地理經(jīng)度之差,是當(dāng)時(shí)的

    自然科學(xué)史研究 2014年3期2014-05-16

  • 基于機(jī)器視覺(jué)與運(yùn)動(dòng)控制的軌距尺檢定器自動(dòng)化檢測(cè)技術(shù)研究
    重要特征包括標(biāo)尺刻線、長(zhǎng)度數(shù)字和水準(zhǔn)泡邊緣及其端點(diǎn)。標(biāo)尺刻線存在一個(gè)不易受光照影響的穩(wěn)定特征,即其中心像素點(diǎn)位于水平掃描線的亮度低谷,據(jù)此可提取出所有可能的刻線中心像素點(diǎn)(圖5(d))。保留細(xì)長(zhǎng)的連通中心像素點(diǎn)集合視為可能的刻線區(qū)域。處于同一高度上數(shù)量最多的區(qū)域組合視為有效標(biāo)尺刻線排列。依據(jù)刻線高度區(qū)分并保留長(zhǎng)、中兩組刻線子集合,刻線識(shí)別及分組結(jié)果如圖5(e)所示。雖然非均勻光照和圖像分辨率限制造成極少數(shù)的刻線識(shí)別缺失,但已識(shí)別刻線信息足夠支持正確讀數(shù)。在

    中國(guó)測(cè)試 2014年3期2014-02-27

  • 內(nèi)孔量具的設(shè)計(jì)
    斷產(chǎn)品端面是否在刻線范圍內(nèi)。4 量具的設(shè)計(jì)圖3 量具簡(jiǎn)圖針對(duì)以上的分析,我們對(duì)圖1 又進(jìn)行了認(rèn)真細(xì)致的分析,在總結(jié)過(guò)去經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上,充分利用初步分析的意見(jiàn)和建議,特設(shè)計(jì)了圖4 所示的量具。圖4 中,量具是利用圓柱部直徑尺寸φ55+10和尖點(diǎn)處的角度來(lái)共同控制尖點(diǎn)的位置。測(cè)頭簡(jiǎn)圖見(jiàn)圖5,它的外圓直徑尺寸為φ55,只采用圓柱的一部分,角度設(shè)計(jì)為43°49′±10′。對(duì)于測(cè)頭進(jìn)入腔體內(nèi)這個(gè)問(wèn)題,我們采用了一個(gè)辦法,測(cè)頭與測(cè)量桿的接觸部分能活動(dòng),即測(cè)頭能在測(cè)量桿上

    機(jī)械工程師 2013年11期2013-12-23

  • 外徑千分尺測(cè)量讀數(shù)的重點(diǎn)和難點(diǎn)分析
    下面的0.5 下刻線沒(méi)有露出來(lái),所以只需讀取上刻度線5 就可以了,即固定套筒讀數(shù)為5 mm。圖2 再看圖3。以微分筒的端面為準(zhǔn)線,它與固定套筒的上刻度線5 之間的0.5 的下刻度線露出來(lái)了,此時(shí)固定套筒的讀數(shù)既要讀取上刻度線5 mm,也要讀取下刻度線0.5 mm,固定套筒讀數(shù)為5.5 mm。圖3 因此,固定套筒的讀數(shù)是以微分筒的端面為準(zhǔn)線,如果端面與固定套筒上刻線之間無(wú)0.5 下刻線,則直接讀出固定套筒上的整數(shù)值;如果微分筒的端面與固定套筒上刻線之間有0.

    職教通訊 2013年27期2013-11-12

  • 激光式MWD工具面角差測(cè)量?jī)x設(shè)計(jì)
    方向,由無(wú)磁懸掛刻線順時(shí)針旋轉(zhuǎn)到動(dòng)力鉆具刻線的角度。目前,儀器內(nèi)部角差的測(cè)量?jī)x器及方法都比較成熟,可以準(zhǔn)確的測(cè)出儀器內(nèi)部角差,但是現(xiàn)有的工具面角差測(cè)量?jī)x器及方法仍存在很多問(wèn)題?,F(xiàn)場(chǎng)通常采用的工具面角差測(cè)量方法是在無(wú)磁懸掛刻線處固定一個(gè)標(biāo)志物,然后提升鉆具直至動(dòng)力鉆具刻線處,然后目測(cè)無(wú)磁懸掛標(biāo)志物在動(dòng)力鉆具圓周處的位置并做標(biāo)記,測(cè)量該標(biāo)記順時(shí)針到動(dòng)力鉆具刻線處的圓周長(zhǎng)度及此處動(dòng)力鉆具周長(zhǎng),最后通過(guò)計(jì)算得出MWD的工具面角差。此種方法有如下缺點(diǎn):(1)采用目測(cè)

    中國(guó)石油大學(xué)勝利學(xué)院學(xué)報(bào) 2013年2期2013-10-24

  • 刻瓷藝術(shù)線刻工藝技法淺析
    釉面上使用金剛石刻線刀、合金尖型刀、平口刀和斜口刀雕刻線條,以線造型。根據(jù)釉面顏色,使用的刀具以及雕刻后的效果敷色或無(wú)需敷色顯形?!睹钜艉拖摇珐Ω?00mm根據(jù)瓷器釉面顏色不同,線刻工藝分淺色釉面雕刻法和深色釉面雕刻法。一、線刻工藝淺色釉面雕刻法(一)雕刻:線刻工藝淺色釉面創(chuàng)作是利用所刻線條的長(zhǎng)短粗細(xì)、轉(zhuǎn)折頓挫、剛?cè)釓?qiáng)弱、曲直方圓、輕重緩急、虛實(shí)疏密,來(lái)表現(xiàn)形體的質(zhì)量感、體積感、動(dòng)態(tài)感和空間感。雕刻方法簡(jiǎn)潔,自然樸實(shí),具有一定的抽象審美效果和特有的藝術(shù)表現(xiàn)

    陶瓷科學(xué)與藝術(shù) 2013年2期2013-09-03

  • 曲面千分尺結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及不確定度分析
    差、固定套管上縱刻線與微分筒的刻線之間的刻線寬度差、固定套管上縱刻線與軸線平行度誤差、視覺(jué)誤差、測(cè)力變化以及其他因素引起的不確定度。(1)尺架受力時(shí)的變形量 尺架應(yīng)具有足夠的剛性,當(dāng)尺架沿測(cè)微螺桿的軸線方向作用10N的力時(shí),利用有限元分析法計(jì)算出尺架的彎曲變形量結(jié)果如圖2所示。圖2 有限元分析計(jì)算云圖(2)測(cè)微螺桿的螺距誤差對(duì)曲面千分尺不確定度的影響Δ1測(cè)微螺桿的螺距誤差影響曲面千分尺不確定度的原因是:在曲面千分尺中,測(cè)微螺桿和螺母的旋合是有間隙的旋合,當(dāng)

    金屬加工(冷加工) 2013年14期2013-08-23

  • 對(duì)玻璃液體溫度計(jì)刻線遮擋引入不確定度的探討
    柱和刻度線(簡(jiǎn)稱(chēng)刻線)等因素引入的不確定度。查閱技術(shù)資料或期刊文獻(xiàn)發(fā)現(xiàn),刻線遮擋引入的不確定度往往被忽略,本文針對(duì)溫度計(jì)刻線遮擋引入的不確定度進(jìn)行分析。1 問(wèn)題的提出玻璃液體溫度計(jì)是以感溫液面在毛細(xì)管中停留的位置通過(guò)標(biāo)尺的刻線來(lái)指示溫度的,需要通過(guò)觀測(cè)判斷示值。因此,它不能像數(shù)字顯示的溫度計(jì)那樣讓觀測(cè)者準(zhǔn)確無(wú)誤地讀出溫度值。圖1 棒式玻璃液體溫度計(jì)示意圖圖1為棒式玻璃液體溫度計(jì)示意圖。主要由感溫泡、毛細(xì)管、標(biāo)尺、安全泡、感溫液體組成,感溫液體有水銀、酒精、

    計(jì)量技術(shù) 2013年11期2013-05-14

  • 用經(jīng)緯儀和卡尺測(cè)量大長(zhǎng)度滑軌定位誤差的方法
    分別對(duì)準(zhǔn)0 mm刻線和500 mm刻線,讀出經(jīng)緯儀的水平角。針對(duì)運(yùn)動(dòng)滑塊的測(cè)試結(jié)果采用迭代最小二乘法辨識(shí)出經(jīng)緯儀至卡尺刻線軌跡的位置參數(shù),并計(jì)算出每次運(yùn)行的位移誤差[2]。假設(shè)當(dāng)經(jīng)緯儀視準(zhǔn)軸與滑塊的運(yùn)動(dòng)方向垂直時(shí),經(jīng)緯儀的讀數(shù)為α0,當(dāng)滑塊運(yùn)行到i點(diǎn)時(shí),經(jīng)緯儀對(duì)準(zhǔn)0 mm刻線時(shí)讀數(shù)為αi,對(duì)準(zhǔn)500 mm刻線時(shí)讀數(shù)為βi。理想情況下,βi=αi+1。如果βi≠αi+1,則表明每次移動(dòng)的500 mm的距離有誤差,此時(shí)誤差為式中:Xi是滑塊運(yùn)行到第i點(diǎn)的橫坐標(biāo)

    計(jì)測(cè)技術(shù) 2013年2期2013-04-25

  • 155 mm掠入射平場(chǎng)譜儀的理論研究
    譜儀,依據(jù)變柵距刻線光柵的光路函數(shù),計(jì)算了曲率半徑為5 649 mm的光柵各點(diǎn)的間距,并推導(dǎo)和計(jì)算了入射光源為點(diǎn)光源時(shí)在聚焦平面上形成的聚焦點(diǎn)的分布,驗(yàn)證了先前文獻(xiàn)中給出的結(jié)論.進(jìn)一步計(jì)算了當(dāng)改變?nèi)肷渚嚯x為155 mm時(shí)所形成的像散,理論上驗(yàn)證了縮短入射距離后譜儀的可用性.光柵間距;像散;平場(chǎng)譜儀近年來(lái),平焦場(chǎng)光柵譜儀在等離子體光譜學(xué)、X線激光等研究領(lǐng)域開(kāi)始得到廣泛應(yīng)用[1].在當(dāng)前實(shí)驗(yàn)室中通常采用的變柵距刻線光柵是由日立公司制造,用數(shù)控機(jī)床加工成的.其設(shè)

    河北大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版) 2011年4期2011-12-09

  • 液位實(shí)時(shí)自動(dòng)跟蹤測(cè)量系統(tǒng)*
    構(gòu)特征確定鋼尺的刻線位置,利用水管圖像的灰度特征識(shí)別液位的位置,根據(jù)測(cè)得的液位位置反饋控制電機(jī),使電機(jī)帶動(dòng)CCD相機(jī)實(shí)時(shí)跟隨液位進(jìn)行測(cè)量。1 液位測(cè)量原理系統(tǒng)整體方案如圖1所示,封閉的水罐和塑制測(cè)量管組成連通器,通過(guò)檢測(cè)測(cè)量管管內(nèi)的水位即可測(cè)得水罐內(nèi)的水位;控制系統(tǒng)根據(jù)實(shí)測(cè)的水位位置控制電機(jī),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)跟蹤測(cè)量,整體過(guò)程為:首先電機(jī)帶動(dòng)CCD相機(jī)沿導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)到初始測(cè)量位置獲取水管和鋼尺圖像,然后對(duì)圖像進(jìn)行區(qū)域分割,確定出鋼尺區(qū)域,接下來(lái)進(jìn)行二值化預(yù)處理,識(shí)別鋼

    傳感技術(shù)學(xué)報(bào) 2011年10期2011-10-20

  • 寬光譜平像場(chǎng)全息凹面光柵的優(yōu)化研究*
    小入射角度和光柵刻線數(shù)來(lái)提高光譜像質(zhì).凹面光柵,寬光譜,像差,聚焦曲線PACC:4240E,0765E1.引言全息凹面光柵同時(shí)具有分光和聚焦光學(xué)元件的特性,廣泛應(yīng)用于各種光譜分析儀器中,而其中應(yīng)用最廣泛的是平像場(chǎng)全息凹面光柵.這種光柵的光譜連續(xù)分布在一個(gè)平面上,非常適合與面陣探測(cè)器結(jié)合使用,達(dá)到高速分析的目的,并實(shí)現(xiàn)儀器的小型化和輕型化.自Rowland提出凹面光柵以來(lái),凹面光柵理論得到了不斷的發(fā)展[1—5].1945年, Beutler[6]總結(jié)并建立了

    物理學(xué)報(bào) 2010年2期2010-09-19

  • 多功能線紋尺自動(dòng)測(cè)量裝置研制
    瞄準(zhǔn)和測(cè)量很多條刻線,最后還要人工將記錄的數(shù)據(jù)輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,勞動(dòng)強(qiáng)度大,工作效率低,難以滿(mǎn)足廣大客戶(hù)需求。另外,當(dāng)前市場(chǎng)上大量使用數(shù)字水準(zhǔn)儀。國(guó)家質(zhì)監(jiān)總局2003年頒發(fā)的水準(zhǔn)儀檢定規(guī)程,對(duì)數(shù)字水準(zhǔn)儀的檢定方法在附錄中有了解釋?zhuān)袃蓚€(gè)問(wèn)題還是沒(méi)有解決:(1)對(duì)數(shù)字水準(zhǔn)儀與條碼尺配合使用的綜合測(cè)量誤差沒(méi)有說(shuō)明[2];(2)沒(méi)有檢測(cè)條碼尺,其是否準(zhǔn)確也不知道。為了徹底解決數(shù)字水準(zhǔn)儀的溯源性問(wèn)題,對(duì)其綜合誤差和條碼尺進(jìn)行有效的測(cè)量,研發(fā)了該套多功能線紋

    中國(guó)測(cè)試 2010年5期2010-04-26

  • 對(duì)專(zhuān)業(yè)課教學(xué)方法的探討
    應(yīng)用和繪制量具的刻線原理感到無(wú)從下手,作業(yè)上標(biāo)注混亂。幾年的教學(xué)實(shí)踐使筆者體會(huì)到,要教好這節(jié)課,在理論敘述清楚的前提下,關(guān)鍵是采用直觀教學(xué)法,對(duì)不同的量具進(jìn)行直觀比較,這樣學(xué)生易掌握,可收到事半功倍的效果。一、從構(gòu)造原理了解其差別學(xué)生在學(xué)校和日常生活中經(jīng)常接觸到的量具是三角板、鋼板尺、卷尺等,它與現(xiàn)在所學(xué)的萬(wàn)能量具從結(jié)構(gòu)上有何不同呢?如鋼板尺在構(gòu)造上只有一個(gè)主體并帶有刻線值,而萬(wàn)能量具大多數(shù)是由兩到三個(gè)部分組成。比如,比較典型的游標(biāo)量具是車(chē)間生產(chǎn)工人在進(jìn)行

    職業(yè)·中旬 2009年6期2009-07-21

  • 柴油機(jī)壓縮系故障的診斷與排除
    量取飛輪的上止點(diǎn)刻線與水箱刻線之間弧長(zhǎng)所對(duì)應(yīng)的角度(逆時(shí)針量取),即進(jìn)氣門(mén)在上止點(diǎn)前開(kāi)啟的角度。繼續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)飛輪,當(dāng)飛輪的下止點(diǎn)刻線越過(guò)水箱刻線之后某一位置可找到氣門(mén)關(guān)閉的臨界點(diǎn),停止飛輪轉(zhuǎn)動(dòng),用飛輪角度尺量取下止點(diǎn)刻線與水箱刻線之間弧長(zhǎng)所對(duì)應(yīng)的角度(順時(shí)針量取),即進(jìn)氣門(mén)在下止點(diǎn)后關(guān)閉的角度。1.2對(duì)排氣門(mén)配氣相位的檢測(cè)方法類(lèi)似于進(jìn)氣門(mén)的檢測(cè),但氣門(mén)開(kāi)啟角是量取飛輪的下止點(diǎn)刻線與水箱刻線之間弧長(zhǎng)所對(duì)應(yīng)的角度(逆時(shí)針量取);氣門(mén)關(guān)閉角是量取飛輪的上止點(diǎn)刻線與水

    現(xiàn)代農(nóng)業(yè)研究 2009年3期2009-04-14