秦 旗,李孝君,呂昱帆,陳子龍,王子政,薛 靜,吳 浩,胡文鋒,劉 寰
(公安部物證鑒定中心,北京 100038)
金屬表面手印是犯罪現(xiàn)場中出現(xiàn)較多的一類痕跡,如錘子、匕首等關鍵物證都屬于金屬材質(zhì),能夠成功顯現(xiàn)提取這類金屬表面手印對于案件偵破起著關鍵性作用。目前,最常用的金屬表面手印顯現(xiàn)方法主要有“502”膠顯現(xiàn)、粉末刷顯、真空鍍膜等方法,“502”膠顯現(xiàn)法對于遺留在自然氧化時間短的黃銅、青銅類金屬表面手印有一定的顯現(xiàn)效果,碳微粒懸浮液對銅類金屬手印無明顯效果,但對自然氧化時間較短的不銹鋼金屬表面手印有一定的顯現(xiàn)效果,槍藍試劑對于未被氧化的青銅表面手印有一定顯現(xiàn)效果??傮w來看,這些方法對于新鮮的、遺留條件好的金屬表面手印有一定顯現(xiàn)效果,但對洗滌、浸泡等情況下(手印物質(zhì)被破壞)金屬表面手印無法成功顯現(xiàn),這類狀態(tài)下的手印成為顯現(xiàn)的難點。
眾所周知,“502”膠顯現(xiàn)法的原理是在強的吸電子基氰基和羧基的存在下,揮發(fā)狀態(tài)下的氰基丙烯酸酯類(一般為乙酯)單體很容易在潛在手印物質(zhì)中水或弱堿的引發(fā)下進行陰離子聚合,在手印紋線物質(zhì)上形成固體狀的聚合物——聚氰基丙烯酸酯(見圖1),從而顯出手印[1-3]。但對經(jīng)過洗滌、浸泡等處理的金屬表面手印顯現(xiàn)效果差,其原因是手印物質(zhì)遭到破壞后,紋線位置處陰離子環(huán)境缺失,氰基丙烯酸酯類單體無法在紋線位置處發(fā)生聚合反應。
以“502”膠顯現(xiàn)原理為模型,基于氰基丙烯酸酯類可進行聚合反應的原理,針對金屬表面手印物質(zhì)被破壞后的特點,研發(fā)可發(fā)生聚合反應的高活性物質(zhì)材料,成為解決這類手印顯現(xiàn)難題新的研究方向之一。
早在1910年,一種只含硫元素和氮元素的聚合物——含硫聚合物(SN)x被首次報道[4];1975年,美國IBM公司發(fā)現(xiàn)這種導電聚合物在低溫下電阻率隨溫度的降低而降低[5],隨之其作為超導材料被廣泛使用。經(jīng)前期調(diào)研分析,該聚合物具有高度的各向異性和金屬性,晶體呈現(xiàn)藍黑色,特別是該聚合物的反應單體化學活性非常高,類似于氰基丙烯酸酯類,在一定條件下可快速發(fā)生聚合反應,筆者認為利用該聚合物顯現(xiàn)手印存在可能性。故設計合成路線制備含硫聚合物(SN)x,并嘗試利用該含硫聚合物(SN)x顯現(xiàn)金屬表面手印,探索其在法庭科學領域手印顯現(xiàn)中的應用可能性,解決金屬表面疑難手印顯現(xiàn)的技術難題。
儀器:X-射線衍射儀(德國布魯克公司)、傅里葉紅外光譜儀(美國尼高力公司)、佳能5D mark Ⅱ單反相機。
試劑:AgNO3、硫磺(S單質(zhì))、Ag纖維絲、六甲基二硅氮烷(HMDS)(國藥集團化學試劑有限公司)、金屬銅片(銅及銅合金)。
選取銅片(6 cm×2.5 cm)為實驗材料,模擬現(xiàn)場環(huán)境,志愿者雙手不作任何處理,直接捺印至銅片表面形成手印,遺留相應時間待用。
1.3.1 含硫聚合物(SN)x的制備
如圖2所示,含硫聚合物的制備可分為兩步,具體如下:
1)二聚體(S4N4)的合成。在反應瓶中依次加入AgNO3和S單質(zhì),并加入HMDS攪拌反應,加熱至黑色沉淀析出,分離出固體,重結(jié)晶后冷藏備用。
2)含硫聚合物(SN)x的合成。加入制備的二聚體(S4N4),在銀纖維催化下,保持真空加熱至升華,二聚體(S4N4)分解成單體(S2N2),在反應瓶內(nèi)壁出現(xiàn)結(jié)晶,整個反應體系逐漸恢復至室溫,單體(S2N2)開始升華,直至聚合完全得到初產(chǎn)品。
1.3.2 含硫聚合物(SN)x的表征
對合成的含硫聚合物(SN)x初產(chǎn)品進行XRD、紅外表征。
1.3.3 含硫聚合物顯現(xiàn)金屬銅片表面手印初步探究
將制備好的含硫聚合物和樣本手印,置于密閉反應瓶中,調(diào)節(jié)反應溫度和反應時間,使含硫聚合物升華并與銅片表面手印充分反應,觀察手印顯現(xiàn)的實驗現(xiàn)象并記錄顯現(xiàn)結(jié)果,具體顯現(xiàn)操作如下:
1)銅片表面潛在手印遺留24 h后,低溫0~5℃,顯現(xiàn)40 d。
2)銅片表面潛在手印遺留3 d后,加熱至65~70℃,顯現(xiàn)4 h。
3)銅片表面潛在手印遺留7 d后,加熱至65~70℃,顯現(xiàn)1 h。
4)銅片表面潛在手印遺留12 h后,經(jīng)過自來水清洗,晾干再加熱至65~70℃,顯現(xiàn)1 h。
5)銅片表面潛在手印遺留12 h后,置于洗滌液溶液中用軟棉布輕擦,用自來水洗清洗晾干再加熱至65~70℃,顯現(xiàn) 1 h。
2.1.1 含硫聚合物X射線衍射(XRD)表征及分析
X射線衍射圖譜如圖3所示,X射線衍射檢測2θ 特征峰值主體要體現(xiàn)為 23~24°、27~28°、35°、58°,這與文獻報道聚合物(SN)x的2θ特征基本吻合[6],說明目標產(chǎn)物的存在。
2.1.2 含硫聚合物紅外表征及分析
含硫聚合物的紅外譜圖如圖4所示,其中在1 406、1 007、695 cm-1處出現(xiàn)吸收峰,符合氮硫單鍵、雙鍵的特征峰,說明(SN)x聚合物的存在[7]。
2.2.1 含硫聚合物顯現(xiàn)銅片表面潛在手印效果
圖5中a為銅片表面潛在手印遺留24 h后,低溫0~5℃,顯現(xiàn)40 d后的顯現(xiàn)效果圖,該手印紋線較清晰,顯出的紋線與背景反差較明顯;b為銅片表面潛在手印遺留3 d后,適當加熱至65~70℃,顯現(xiàn)4 h后的效果圖,該手印紋線清晰,顯出的紋線與背景反差明顯;c為銅片表面潛在手印遺留7 d后,適當加熱至65~70℃,顯現(xiàn)1 h效果圖,該手印紋線清晰,顯出的紋線與背景反差明顯。
實驗結(jié)果表明,含硫聚合物可實現(xiàn)銅片表面潛在手印顯現(xiàn),當反應溫度較低時,熏顯反應所需時間較長,顯出的手印紋線較清晰,有一定顯現(xiàn)效果;適當提高反應溫度,可減少手印顯現(xiàn)時間,顯現(xiàn)效果明顯增強,手印紋線清晰,紋線與背景反差很明顯;遺留時間較長的手印也可顯現(xiàn)。
2.2.2 含硫聚合物顯現(xiàn)經(jīng)洗滌后的銅片表面潛在手印效果
圖6中a為銅片表面潛在手印遺留12 h后,經(jīng)自來水緩慢沖洗處理,適當加熱至65~70℃,顯現(xiàn)1 h后的效果圖,該手印紋線較清晰,顯出的紋線與背景反差較明顯;b為銅片表面潛在手印遺留12 h后,經(jīng)洗滌液溶液沖洗并用軟棉布輕擦,適當加熱至65~70℃,顯現(xiàn)1 h后效果圖,金屬表面有明顯的擦劃痕跡,同時該手印紋線較清晰,顯出的紋線與背景反差較明顯。
實驗結(jié)果表明,含硫聚合物可實現(xiàn)手印物質(zhì)被洗滌、擦拭后的銅片表面潛在手印顯現(xiàn),且手印紋線清晰流暢,紋線與背景反差較明顯。
本文成功制備的含硫聚合物(SN)x可實現(xiàn)金屬銅片上手印顯現(xiàn),不僅對金屬銅片上汗?jié)撌钟∮辛己玫娘@現(xiàn)效果,還對金屬銅片上經(jīng)過水泡、洗滌液洗、海綿輕擦等紋線物質(zhì)被破壞之后的疑難手印也有一定的顯現(xiàn)效果。
綜上所述,本研究為手印紋線物質(zhì)經(jīng)破壞后的金屬銅表面疑難手印顯現(xiàn)率低的難題提供了解決思路,同時驗證了含硫聚合物用于法庭科學手印顯現(xiàn)領域的可能性?;诖舜魏蚓酆衔?SN)x顯現(xiàn)手印應用的初步探究,后續(xù)將以該聚合物為基礎,明確該反應顯現(xiàn)條件,建立金屬表面疑難手印顯現(xiàn)新方法,如最佳配方、適用范圍、反應機制、操作條件、顯現(xiàn)環(huán)境等,解決金屬表面疑難手印顯現(xiàn)難題。