宋 靜, 唐 亮
(中國電子科技集團公司第38研究所,安徽 合肥230031)
隨著毫米波段基礎(chǔ)理論和應(yīng)用技術(shù)不斷取得的重大進展,毫米波段有源相控陣?yán)走_的性能獲得了極大的提升。而作為其核心部件的T/R組件,不僅占整部雷達成本的70%以上,而且其性能指標(biāo)的好壞將直接影響相控陣?yán)走_系統(tǒng)的發(fā)現(xiàn)能力、收發(fā)波束副瓣大小、指向精度和作用距離等技戰(zhàn)術(shù)指標(biāo)。故指標(biāo)優(yōu)良、性能可靠的毫米波T/R組件是毫米波段有源相控陣?yán)走_系統(tǒng)的設(shè)計關(guān)鍵。
在國外,毫米波T/R組件研制已十分深入,并且有著成功運用的例子,如美軍軍事衛(wèi)星通信用的44GHz毫米波有源相控陣發(fā)射天線陣的T/R組件,其組件功率輸出為28dBm,T/R組件總效率為21%~23%。在國內(nèi),各大研究院所和高校也廣泛開展了毫米波T/R組件的技術(shù)研究,本文介紹了一款應(yīng)用于星載環(huán)境中、高功率輸出的Ka波段T/R組件,從其電訊、工藝和結(jié)構(gòu)等設(shè)計方面進行論述。
有源相控陣?yán)走_中的T/R組件主要是完成發(fā)射信號的大功率放大和接收信號的低噪聲放大,能實現(xiàn)波束對收/發(fā)信號進行幅度和相位的控制,并根據(jù)系統(tǒng)要求實現(xiàn)不同的極化方式。圖1為此Ka波段T/R組件工作原理框圖。
鑒于星載應(yīng)用平臺對有效載荷的要求,該組件需具備體積小、重量輕、性能指標(biāo)高、一致性好的特點,故在Ka波段T/R組件的設(shè)計中,運用了單片集成電路(MMIC)和多芯片組裝(MCM)相結(jié)合的技術(shù)來實現(xiàn)以上特性。
圖1 T/R組件工作原理框圖
而在各項性能指標(biāo)的實現(xiàn)過程中,輸出功率是該組件的設(shè)計重點。根據(jù)MMIC工藝特性,功率芯片的輸出能力隨工作頻率的升高而下降,為達到3.5W輸出功率的要求,組件的發(fā)射通道末級需由兩只功率放大器芯片合成輸出。
在T/R組件設(shè)計中考慮功率合成,就必須對合成器的設(shè)計、功率芯片的一致性以及工藝裝連的對稱性提出很高要求。
其中Ka波段合成器的設(shè)計,既要考慮到合成效率,又要關(guān)注8mm波長尺寸所帶來的影響,以及組件設(shè)計中必須考慮的小型化要求和易于平面集成特性。滿足這些要求的合成電路形式有基片集成波導(dǎo)合成電路和Wilkinson合成電路兩種,比較它們的尺寸大小、性能指標(biāo)及實現(xiàn)難易程度,在設(shè)計中選擇了Wilkinson合成電路。同時鑒于隔離電阻的尺寸與8mm波長相近以及工藝裝配的準(zhǔn)確性,為避免隔離電阻的不利影響,在 Wilkinson電路的設(shè)計中去除隔離電阻,為改進型Wilkinson電路。
Wilkinson電路的設(shè)計選擇RT/Duriod 5880軟基板材料,按Ka波段最低TM模截止頻率選擇最佳基片厚度0.254mm,導(dǎo)體厚度18um,損耗角正切值為0.0009。通過軟件仿真可以計算出兩段50Ω微帶線線寬為 W1=0.77mm,70.7Ω的線寬為W2=0.43mm。按照上面的初始參數(shù),利用HFSS仿真的結(jié)果計算,如圖2所示,在Ka波段,兩臂的功分比:端口二為-3.13dB,端口三為-3.11dB,合成端口一的駐波為1.23,端口二、三的駐波均在1.9以下,兩臂的隔離度在-13dB以下。
圖2 改進型Wilkson電路
同時,在工藝裝連的過程中,金絲鍵合的質(zhì)量對功率放大器芯片的性能有較大的影響,金絲鍵合的高度應(yīng)盡可能地小,以減小金絲的高頻輻射效應(yīng)。同時,源極采用多根長度小于0.2mm并聯(lián)金絲,使得引入的等效電感小于0.02nH,防止源極連接不良造成的潛在不穩(wěn)定現(xiàn)象。
通過以上的設(shè)計,兩片功率芯片的合成輸出功率實測值為5W。
考慮基板熱膨脹系數(shù)、導(dǎo)熱率的匹配以及盒體氣密性等因素,選擇Kovar材料作為組件結(jié)構(gòu)的盒體材料。
在組件的微組裝方面,所有的裸芯片全部采用焊接工藝技術(shù)來實現(xiàn),未采用導(dǎo)電膠,避免因?qū)щ娔z配膠、固化等因素而造成導(dǎo)電性的離散和因?qū)щ娔z的穩(wěn)定性原因而造成的早期失效,從而避免造成T/R組件性能的離散和不穩(wěn)定,確保T/R組件在各種環(huán)境條件下都能正常穩(wěn)定的工作。其中,需要散熱的功率放大器芯片,則是通過Au80Sn20焊料在300℃溫度下以共晶焊工藝焊接在鉬銅載體后,再焊接至Kovar盒體所鑲嵌的散熱性能良好的無氧銅熱沉位置。
此外,基板材料也采用焊接工藝,保證與盒底材料85%以上的釬著率。在芯片與微帶板之間的射頻互連采用金絲熱壓焊,其他低頻信號之間的互連則采用金絲球焊。最終的Kovar盒體采用平行縫焊工藝實現(xiàn)組件氣密性設(shè)計。
Ka波段T/R組件的測試采用自動測試系統(tǒng),通過GPIB總線將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號源、峰值功率計等連接到計算機上,自動設(shè)置測試參數(shù),自動數(shù)據(jù)采集和計算,提高測試效率。
圖3為該組件的實物照片,圖4為組件的發(fā)射功率的測試曲線圖。
圖3 Ka波段高功率T/R組件照片
圖4 Ka波段高功率T/R組件發(fā)射功率測試曲線
通過對功率合成技術(shù)的研究,該Ka波段T/R組件實現(xiàn)了3.5W高功率輸出,實現(xiàn)了設(shè)計目標(biāo)。而作為有源相控陣?yán)走_的關(guān)鍵技術(shù)之一,T/R組件的設(shè)計越來越引起重視。要研制出具有批量、性能穩(wěn)定可靠且一致性優(yōu)良的T/R組件,需要電訊、結(jié)構(gòu)和工藝的密切配合。當(dāng)電路的關(guān)鍵技術(shù)突破以后,批生產(chǎn)的制造技術(shù)則變得更為重要。
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