王曉方 王晶宇

(中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)近代物理系，中國科學(xué)院基礎(chǔ)等離子體物理重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室，合肥 230026)

(2010年1月12日收到;2010年3月29日收到修改稿)

菲涅耳波帶板應(yīng)用于聚變靶的高分辨X射線成像分析*

王曉方?王晶宇

(中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)近代物理系，中國科學(xué)院基礎(chǔ)等離子體物理重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室，合肥 230026)

(2010年1月12日收到;2010年3月29日收到修改稿)

在慣性約束核聚變研究中，為了實(shí)現(xiàn)1 μm高空間分辨keV-X射線成像，文中發(fā)展了菲涅耳波帶板(FZP)直接成像的分析方法，并通過數(shù)值計(jì)算研究了FZP的成像特性.針對(duì)鈦Kα線(光子能量4.51 keV，波長(zhǎng)0.275 nm)，提出了FZP參數(shù)，對(duì)制作技術(shù)的要求較低.研究了靶尺度的影響.FZP的有效視場(chǎng)使它能夠?qū)?shù)毫米大尺度靶實(shí)現(xiàn)高分辨成像.還研究了入射光的光譜帶寬對(duì)成像的影響.FZP的色差有助于單色成像，但是帶寬超過限度會(huì)導(dǎo)致像的反襯度降低.這些結(jié)果表明FZP應(yīng)用于聚變點(diǎn)火靶的高空間分辨X射線成像的能力，也為應(yīng)用提出了要求.

X射線成像，慣性約束核聚變，菲涅耳波帶板

PACS:52.70.La，52.57.－ z，42.79.Ci

1.引 言

激光驅(qū)動(dòng)的慣性約束核聚變(ICF)，靶球向心壓縮的對(duì)稱性要求非常高［1］，不僅要求激光或X射線均勻輻照靶球，而且要減小或抑制壓縮過程中流體力學(xué)不穩(wěn)定性.例如，瑞利-泰勒不穩(wěn)定性會(huì)導(dǎo)致靶界面上材料混合，甚至靶殼破裂，破壞向心壓縮.為了監(jiān)測(cè)靶球壓縮的對(duì)稱性，研究流體力學(xué)不穩(wěn)定性及其增長(zhǎng)，實(shí)驗(yàn)研究常采用背光照相方法，即以光子能量在keV量級(jí)的X射線束作為探針光來透視高密度靶球，再對(duì)靶球進(jìn)行高分辨成像.這些研究對(duì)X射線成像提出要求:1 mm尺度的視場(chǎng)范圍，1—2 μm的空間分辨能力.

常用的X射線成像技術(shù)有針孔成像［2］、反射鏡成像［3］、彎晶單色成像［4］.前者在技術(shù)上較容易實(shí)現(xiàn)，且視場(chǎng)大，但是空間分辨能力最好在5—10 μm，收集角也較?。?］.后兩者具有較大收集角，理論上空間分辨能力可以達(dá)到1 μm.但是，受元件表面加工的精度限制、掠入射像散等影響，實(shí)際獲得的視場(chǎng)為幾百微米，空間分辨能力為 2—3 μm［3—5］.因此，有必要發(fā)展其他高分辨成像技術(shù)，以獲得更高空間分辨能力，并兼顧較大視場(chǎng).

隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)的發(fā)展，X射線光刻技術(shù)取得重大進(jìn)展.利用光刻技術(shù)制作的菲涅耳波帶板(FZP)，是迄今在X射線波段獲得最高空間分辨的光學(xué)元件，空間分辨能力可達(dá) 10 nm 量級(jí)［6，7］，在X射線顯微術(shù)中具有重要地位.FZP成像采用正入射方式，操作調(diào)節(jié)較容易，也避免了掠入射導(dǎo)致的像散等不利因素.在X射線波段，半波帶材料對(duì) X射線部分透射，這樣的FZP也稱為相位型FZP.

將FZP應(yīng)用于ICF研究獲得高分辨X射線成像，近年來日本、法國開展了一些初步實(shí)驗(yàn).日本大阪大學(xué)激光工程研究所在背光照相實(shí)驗(yàn)中，利用FZP直接成像方法，獲得了高空間分辨的 X射線像，分辨能力接近 2 μm［8］.國內(nèi)，中國工程物理研究院激光聚變研究中心也進(jìn)行了成像的初步實(shí)驗(yàn)研究［9］.

在X射線顯微術(shù)中，常采用同步輻射或單色X射線束照射樣品，樣品被成像的區(qū)域也?。?，7］.因此，過去的理論分析 FZP的 X射線成像，例如 FZP的空間分辨能力，常采用夫朗禾費(fèi)近似的衍射理論［10，11］，無需考慮 FZP 的視場(chǎng).FZP 應(yīng)用于 ICF 研究，有別于 X射線顯微術(shù).第一，光源的單色性不同.無論是背光照相還是激光等離子體自發(fā)射的成像，光源的單色性都受限制.入射到 FZP的X射線具有一定帶寬，或者是線譜與連續(xù)譜的混合.美國勞侖斯利弗摩爾實(shí)驗(yàn)室曾利用單色的X射線激光與一定帶寬的連續(xù)譜等離子體X射線，實(shí)驗(yàn)對(duì)照研究了FZP成像，觀察到后者照射導(dǎo)致FZP分辨能力和像反襯度下降［12］.第二，成像物體的幾何尺度不同.在ICF研究中，需要對(duì)1 mm甚至10 mm尺度的靶成像.對(duì)于這樣大尺度的物體，在分析 FZP的X射線成像特性時(shí)，不僅夫朗禾費(fèi)近似，甚至菲涅耳近似也不適用.第三，分辨能力的要求不同.在 ICF研究中，在滿足大視場(chǎng)的同時(shí)，空間分辨能力要求在1—2 μm左右.考慮到這些因素，F(xiàn)ZP應(yīng)用于ICF研究，不僅對(duì)FZP的參數(shù)，而且實(shí)驗(yàn)條件如何影響FZP的成像，都需要做分析研究.

本文以ICF研究中對(duì)1 mm量級(jí)大尺度靶在keV能段的X射線成像實(shí)現(xiàn)1 μm高空間分辨為目標(biāo)，發(fā)展了FZP成像分析的理論，通過數(shù)值計(jì)算系統(tǒng)地研究了FZP的成像特性.針對(duì)鈦 Kα線(光子能量4.51 keV，波長(zhǎng)0.275 nm)，提出了 FZP的參數(shù).首次考慮了靶尺度的影響，分析了FZP成像的視場(chǎng).還分析了入射光帶寬對(duì)成像的影響.有關(guān)方法和結(jié)果為FZP應(yīng)用于大視場(chǎng)、高空間分辨X射線成像提供了理論基礎(chǔ).

2.FZP成像原理與數(shù)值分析方法

X射線背光透視和FZP對(duì)靶直接成像的原理如圖1所示.X射線探針光束照射靶，F(xiàn)ZP對(duì)靶成的像記錄在像探測(cè)器上.為了研究靶的大小、光譜帶寬等參數(shù)對(duì)成像的影響，本文將靶視為非相干的擴(kuò)展源，分析方法采用基本的惠更斯點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)方法，即采用菲涅耳-基爾霍夫衍射公式［13］來分析點(diǎn)光源經(jīng)FZP后成像的強(qiáng)度分布.

設(shè)靶上P0(x0，y0，z0)點(diǎn)微分面元為 dS的點(diǎn)光源，在λ－λ+dλ范圍輻射的振幅為Aλ(P0)，經(jīng)過面積為 Σ，屏函數(shù)為的衍射屏(即 FZP)后，在觀察點(diǎn)P(x，y，z)的振幅由菲涅耳-基爾霍夫衍射公式給出［13］

式中積分區(qū)域 Σ 為 FZP，r，s分別為 P0點(diǎn)到 FZP表面某點(diǎn)以及 Q點(diǎn)到觀察點(diǎn) P的距離.分別對(duì)應(yīng)FZP法向與物方波矢，像方波矢的夾角.在實(shí)際應(yīng)用中，物點(diǎn)P0和觀察點(diǎn)P都靠近光軸式簡(jiǎn)化為

FZP的半波帶外半徑與主焦距(即FZP的一級(jí)衍射焦距)關(guān)系為

f為FZP的主焦距，與第一半波帶半徑r1關(guān)系為f=為入射 X射線的真空波長(zhǎng)(本文中，除特別說明外，取λ=0.275 nm).本文取奇數(shù)次半波帶(含F(xiàn)ZP中央第一個(gè)半波帶)為透明，偶數(shù)次半波帶為FZP材料.這樣，F(xiàn)ZP對(duì)應(yīng)的屏函數(shù)為

式中 d為 FZP的厚度，k=2π/λ，β，δ取自文獻(xiàn)［14］，與 FZP材料的復(fù)折射率關(guān)系為=1－δ+iβ.

圖1中，p，q分別表示光軸上FZP到靶，像平面的距離，即物距和像距.p，q，f滿足FZP的成像公式

(2)—(6)式為本文分析FZP成像的基本公式.

在菲涅耳近似下，對(duì)(2)式可做進(jìn)一步簡(jiǎn)化.按照?qǐng)D1定義的坐標(biāo)系，有:

式中s對(duì)q做展開

這樣，s只保留前兩項(xiàng)，得到

同理，對(duì)r做菲涅耳近似，得到

式中FT表示二維傅里葉變換運(yùn)算.

如果是平行光正入射到 FZP，p→∞，q=f，在菲涅耳近似下，得到

當(dāng)滿足菲涅耳近似條件時(shí)，由(7)式可以得到對(duì)靶幾何尺度的限制.因FZP的半徑較小，(7)式中略去坐標(biāo) (ζ，η)，有定義FZP成像的橫向放大倍數(shù)M=q/p.由物點(diǎn)與像點(diǎn)的幾何對(duì)應(yīng)關(guān)系有取 λ =0.275 nm，若取M=10，p ～ f(f=178 mm)，那么要求靶的幾何尺度0.75 mm.因此，菲涅耳近似條件要求靶的幾何尺度不能超過這一范圍.在滿足這一條件下，對(duì)(8)或(9)式進(jìn)行快速傅里葉變換的數(shù)值計(jì)算，就可以得到U(P).

當(dāng)對(duì)更大尺度靶成像時(shí)，菲涅耳近似條件不再滿足，即(8)或者(9)式不再適用.在這種情況下，有必要對(duì)(2)式的積分直接進(jìn)行數(shù)值計(jì)算，來獲得U(P).

3.結(jié)果與討論

為了使FZP成像達(dá)到1 μm的分辨能力，并考慮到 FZP 制作技術(shù)［9，15］，本文建議的 FZP 參數(shù)如下:FZP材料為金，厚度 d為900 nm，直徑 D為140 μm，總半波帶環(huán)數(shù) N為100，第一環(huán)外半徑 r1為7 μm，最外環(huán)半徑 rN為 70 μm，最外環(huán)寬度 Δrout為0.35 μm.對(duì)于波長(zhǎng)為0.275 nm的X射線，F(xiàn)ZP主焦距f為178 mm.在 keV能段，由于半波帶材料對(duì) X射線吸收小，要求FZP具有較大的厚度.本文選擇的FZP厚度可以使FZP成的像占入射光能量接近最高效率［11］.選擇的最外環(huán)寬度，綜合考慮了分辨能力和FZP制作的技術(shù).盡管最外環(huán)越窄，F(xiàn)ZP的空間分辨能力越高，F(xiàn)ZP的收集角也相應(yīng)大些，但是波帶板厚度與最外環(huán)寬度之比(即高寬比)相應(yīng)增大，制作波帶板的技術(shù)難度和成本也增加［15］.采用本文的參數(shù)，高寬比約2.6，較容易制作出高質(zhì)量 FZP.從下面結(jié)果將看到，使用這樣的FZP已可使成像獲得1 μm的空間分辨能力.

3.1.FZP的空間分辨極限

空間分辨極限通常由瑞利判據(jù)給出.為此，數(shù)值計(jì)算了平行光正入射時(shí)FZP的成像.圖2給出q=f時(shí)FZP焦點(diǎn)位置像的強(qiáng)度分布.可以看到，平行光經(jīng)過FZP聚焦成很小光斑.從強(qiáng)度峰值到第一極小值的寬度為 0.43 μm，對(duì)應(yīng)的半角寬度 Δθ1/2=2.4×10－6rad.因此，按照瑞利判據(jù)，該FZP的最小分辨角為2.4×10－6rad，相應(yīng)的空間分辨極限為Δr=f·Δθ1/2=0.43 μm.

在夫朗禾費(fèi)近似下，解析理論［10］給出，當(dāng) FZP的半波帶數(shù)N很大(N>200)時(shí)，F(xiàn)ZP的最小分辨角為 Δθ1th

/2=1.22λ/D，D為FZP直徑，空間分辨極限Δrth=1.22·Δrout，Δrout為 FZP 最外環(huán)半波帶的寬度.代入本文建議的 FZP有關(guān)參數(shù)，得到2.4 ×10－6rad，Δrth=0.43 μm，與前面的數(shù)值計(jì)算結(jié)果符合.這一結(jié)果說明，本文提出的FZP盡管只有100個(gè)半波帶，但是分辨極限不受影響.而且，前面已指出，在制作FZP時(shí)，選用較寬的半波帶外環(huán)參數(shù)即較小的高寬比，更容易制作出高質(zhì)量的FZP.

3.2.FZP成像的視場(chǎng)

FZP應(yīng)用于ICF靶的X射線成像，靶尺度和相關(guān)物理問題都要求成像系統(tǒng)的視場(chǎng)達(dá)到1 mm甚至更大.因此，有必要考慮光源偏離光軸時(shí)對(duì)成像的影響.本文通過計(jì)算偏離光軸不同位置的點(diǎn)光源經(jīng)過FZP的成像，來獲得分辨率、視場(chǎng)等結(jié)果.這里假設(shè)點(diǎn)光源是發(fā)射波長(zhǎng)為λ的單色光源.

實(shí)際測(cè)量中通常要求FZP成放大的像.作為典型情況，圖3給出放大倍數(shù)M=10的結(jié)果.其中，所取物距、像距分別為p=1.1f，q=11f.為了便于比較，圖3(a)中已將點(diǎn)光源離軸時(shí)的成像強(qiáng)度峰位置做了平移，使所有情況下像的強(qiáng)度峰值位于零點(diǎn).從圖中可見，當(dāng)點(diǎn)光源在軸上時(shí)，從像的強(qiáng)度峰值到第一極小位置的寬度為4.70 μm.對(duì)應(yīng)的半角寬度Δθ1/2=2.4×10－6rad，與3.1節(jié)確定的最小分辨角一致.在當(dāng)前情況下，p=1.1f，因此對(duì)應(yīng)的空間分辨能力為 p·Δθ1/2=0.47 μm.這一結(jié)果已經(jīng)很接近該FZP的空間分辨極限(參見3.1節(jié)).

圖3 點(diǎn)光源位置對(duì)FZP成像的影響 (a)點(diǎn)光源沿x方向偏離光軸不同位置時(shí)，F(xiàn)ZP成像的強(qiáng)度分布，實(shí)線為源在光軸上，點(diǎn)線為偏離光軸5 mm，虛線為偏離光軸13 mm，虛點(diǎn)線為偏離光軸17 mm;(b)像的峰值強(qiáng)度和半高全寬度(FWHM)的變化

需要說明的是，空間分辨能力與放大倍數(shù)有關(guān).對(duì)M=1，即1∶1成像的計(jì)算表明，空間分辨能力為0.86 μm.對(duì)于放大成像，空間分辨能力介于M=1情況和3.1節(jié)的分辨極限(相當(dāng)于放大倍數(shù)無窮大)之間.因此，前面M=10情況確定的分辨能力可以代表實(shí)際測(cè)量中放大成像的典型情況.

從圖3(a)可以注意到，當(dāng)點(diǎn)光源偏離光軸一定程度后，像變得發(fā)散，即隨著像峰值強(qiáng)度降低，像的翼部出現(xiàn)增強(qiáng).在這種情況下，可通過比較像的峰值強(qiáng)度來確認(rèn)成像質(zhì)量.通常定義成像質(zhì)量保證的允許范圍是:與衍射極限情況(即點(diǎn)光源在光軸上時(shí))相比，像的峰值強(qiáng)度下降不超過20%［13］.另外，圖3(a)也顯示，隨著像的翼部增強(qiáng)，對(duì)應(yīng)衍射極限強(qiáng)度分布的第一極小位置消失.在這種情況下，盡管空間分辨能力仍可借助瑞利判據(jù)給出［13］，但為簡(jiǎn)潔，可采用斯帕羅判據(jù)，即近似用像強(qiáng)度的半高全寬度(FWHM)對(duì)應(yīng)的物方寬度來表征空間分辨能力(在衍射極限情況下，瑞利分辨極限與斯帕羅分辨極限之比約為1.2).從圖3(a)和(b)可見，當(dāng)點(diǎn)光源偏離光軸不大，例如當(dāng)偏離達(dá)5 mm時(shí)，像的峰值強(qiáng)度和FWHM都幾乎不變，說明成像質(zhì)量和空間分辨能力都幾乎沒受影響.當(dāng)點(diǎn)光源偏離光軸13 mm時(shí)，像的峰值強(qiáng)度下降到點(diǎn)光源在軸上時(shí)的80%.相應(yīng)地，像的 FWHM從軸上時(shí)的3.95 μm增加到 4.27 μm，增加不到 10%.因此，可以確認(rèn)該FZP成像的有效視場(chǎng)相對(duì)于光軸為 ±13 mm，即有效視場(chǎng)范圍為26 mm，對(duì)應(yīng)的視角為7.6°.在這一有效視場(chǎng)內(nèi)，成像的空間分辨能力改變不大，仍接近分辨極限.對(duì)于慣性約束核聚變點(diǎn)火研究使用的靶［1］，其尺度約10 mm.因此，該 FZP的有效視場(chǎng)范圍能夠保證對(duì)這樣大尺度聚變點(diǎn)火靶的高空間分辨成像.

當(dāng)點(diǎn)光源更大地偏離光軸時(shí)，像的峰值強(qiáng)度進(jìn)一步下降.例如圖3(a)中點(diǎn)光源偏離光軸17 mm時(shí)，像的峰值強(qiáng)度已經(jīng)下降到點(diǎn)光源在軸上時(shí)的51%，像的翼部也明顯增強(qiáng).顯然，這會(huì)造成像的反襯度減小.圖3(b)表明，在點(diǎn)光源偏離光軸比較大時(shí)，隨著像的峰值強(qiáng)度下降，像的FWHM也快速增加.反襯度減小和 FWHM增加都會(huì)造成像質(zhì)量降低.

3.3.FZP的焦深

FZP的焦深定義為偏離像平面位置的一定范圍內(nèi)，光軸上的強(qiáng)度下降不超過20%.對(duì)于平面波入射，F(xiàn)ZP 的焦深 ΔZ≈±2(Δrout)2/λ［16］.本文的FZP 最外環(huán)較寬，代入有關(guān)數(shù)據(jù)得到ΔZ=±0.89 mm，即FZP具有較大的焦深范圍2|ΔZ|=1.78 mm.這一范圍與本文的數(shù)值計(jì)算結(jié)果相符.在實(shí)際測(cè)量中，大的焦深范圍使得靶或FZP的放置容易滿足要求.

這一參數(shù)也決定了在實(shí)際測(cè)量中像探測(cè)器定位精度的要求.由成像公式(6)，可以得到≈ q2/p2=M2.當(dāng) δp≈ ΔZ，那么 δq≈ M2ΔZ，由此可估算出探測(cè)器允許的放置范圍為q±δq.如果取M=10，則δq≈9 cm.本文還做了數(shù)值計(jì)算，定量給出對(duì)于M=10，像的峰值強(qiáng)度下降20%對(duì)應(yīng)的像距范圍是q=11f－12.8 cm到q=11f+9.3 cm，與上面估算也較好符合.在FZP成像的實(shí)際測(cè)量中，很容易將像探測(cè)器放置在這一范圍內(nèi).

3.4.入射光的單色性

當(dāng)入射光非單色，而具有一定光譜帶寬，例如為Kα單色光與連續(xù)譜的混合，或?yàn)?K-殼層線輻射的組合，對(duì)FZP成像如何影響，本文也進(jìn)行了模擬.假設(shè)入射光為多色光，中心波長(zhǎng)為λ=0.275 nm，帶寬為 λ±Δλ/2，在此范圍譜密度不變.下面分析帶寬參數(shù) Δλ/λ取不同值時(shí)，位于軸上的點(diǎn)光源經(jīng)FZP成像的情況.

圖4給出放大倍數(shù)M=10，相同能量的單色光與帶寬參數(shù)Δλ/λ取不同值的多色光分別入射時(shí)，F(xiàn)ZP成像的強(qiáng)度分布.結(jié)果顯示帶寬增加到一定值后，像的峰值強(qiáng)度下降，翼部增強(qiáng)，從而減小像的反襯度.圖4(b)給出像的峰值強(qiáng)度和FWHM隨帶寬參數(shù)的變化.相對(duì)于單色光成像，多色光的帶寬參數(shù)增加到 Δλ/λ=1.75%時(shí)，像的峰值強(qiáng)度降低到80%.而相應(yīng)地，像的 FWHM從3.95 μm僅增加到4.00 μm，幾乎沒有改變.這一結(jié)果說明，入射光帶寬對(duì)成像的影響主要是通過減小反襯度來降低成像質(zhì)量.因此，采用多色光入射，如果帶寬參數(shù)小于1.75%，F(xiàn)ZP的成像質(zhì)量能夠得到保證.

同等能量下單色光和多色光入射，隨著后者帶寬增加造成FZP成像的峰值強(qiáng)度降低，這實(shí)際上是FZP的色差性質(zhì)決定的.從波帶板成像公式(6)和焦距公式f=r21/λ知道，對(duì)于給定物距和像距，只有波長(zhǎng)λ及其附近的光才能成像到q=q(λ)這一像距位置.對(duì)于其他波長(zhǎng)，將成像到其他位置，因此其他波長(zhǎng)的像在這一像距位置是發(fā)散的.本文的數(shù)值計(jì)算給出，在入射光能量相等的情況下，對(duì)于某一單色光，當(dāng)其波長(zhǎng)偏離λ約0.5%時(shí)，該波長(zhǎng)成像的峰值強(qiáng)度就下降到波長(zhǎng)為 λ時(shí)的80%.而前面得到，對(duì)于多色光入射，像峰值強(qiáng)度下降到80%對(duì)應(yīng)的帶寬參數(shù)Δλ/λ=1.75%.這說明，對(duì)于多色光成像，對(duì)像的貢獻(xiàn)來自于波長(zhǎng)λ及其附近的光.因此，在多色光入射情況下，F(xiàn)ZP的色差使得探測(cè)器接收的像實(shí)質(zhì)上是λ及其附近波長(zhǎng)的貢獻(xiàn)，即FZP具有較好的單色成像能力.

4.結(jié) 論

本文發(fā)展了FZP成像的分析方法，考慮了靶尺度較大、菲涅耳近似條件不能滿足的情況.以Ti-Kα線為中心波長(zhǎng)，系統(tǒng)地研究了FZP的X射線成像特性.提出的FZP最外環(huán)寬度為0.35 μm，技術(shù)上容易制作出高質(zhì)量FZP元件.該FZP成像的空間分辨極限達(dá)到0.43 μm.分析結(jié)果表明，對(duì)于10倍放大成像，在FZP的26 mm有效視場(chǎng)或7.6°視角內(nèi)，成像的空間分辨能力都接近分辨極限.這樣大的有效視場(chǎng)使得FZP可以對(duì)10 mm尺度核聚變點(diǎn)火靶實(shí)現(xiàn)高空間分辨成像.當(dāng)入射光是連續(xù)譜但是帶寬參數(shù)小于1.75%時(shí)，F(xiàn)ZP仍然可以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量成像.而FZP的色差效應(yīng)使其成像具有較好的單色性.本文的有關(guān)方法和結(jié)論對(duì)FZP應(yīng)用于聚變靶、激光等離子體或其他X射線源(例如Kα源)的高空間分辨成像具有指導(dǎo)意義.

魏來參加了部分工作.工作中還與田揚(yáng)超、董建軍、曹磊峰等進(jìn)行了討論.在此一并致謝.

［1］Lindl J D，Amendt P，Berger R L，Glendinning S G，Glenzer S H，Haan S W，Kauffman R L，Landen O L，Sute L J 2004Phys.Plasmas11 339

［2］Xiang Z L，Yu C X 1982High Temperature Plasma Diagnostics(vol.2)(Shanghai:Shanghai Science and Technology Press)pp206—207(in Chinese)［項(xiàng)志遴、俞昌旋1982高溫等離子體診斷技術(shù)(下冊(cè))(上海:上海科學(xué)技術(shù)出版社)第206—207頁］

［3］Marshall F J，Bennett G R 1999Rev.Sci.Instrum.70 617

［4］Aglitskiy Y，Lehecka T，Obenschein S，Bodner S，Pawley C，Gerber K，Sethian J，Brown C M，Seely J，F(xiàn)eldman U，Holland G 1998Appl.Opt.37 5253

［5］Koch J A，Aglitskiy Y，Brown C，Cowan T，F(xiàn)reeman R，Hatchett S，Holland G，Key M，MacKinnon A，Seely J，Snavely R，Stephens R 2003Rev.Sci.Instrum.74 2130

［6］Chao W，Harteneck B D，Liddle J A，Anderson E H，Attwood D T 2005Nature435 1210

［7］Tian Y C，Li W，Chen J，Liu L，Liu G，Tkachuk A，Tian J，Xiong Y，Gelb J，Hsu G，Yun W 2008Rev.Sci.Instrum.79 103708

［8］Azechi H， TamariY， Shiraga H 2003InstituteofLaser Engineering Annual Reports(Osaka:Osaka University)p100

［9］Dong J J，Cao L F，Chen M，Xie C Q，Du H B 2008Acta Phys.Sin.57 3044(in Chinese)［董建軍、曹磊峰、陳 銘、謝常青、杜華冰2008物理學(xué)報(bào)57 3044］

［10］Stigliani D J，Mittra R，Semonin R G 1967J.Opt.Soc.Am.57 610

［11］Kirz J 1974J.Opt.Soc.Am.64 301

［12］DaSilva L B，Trebes J E，Mrowka S，Barbee T W，Brase J，Koch J A，London R A，MacGowan B J，Matthews D L，Minyard D，Stone G，Yorkey T，Anderson E，Attwood D T，Kern D 1992Opt.Lett.17 754

［13］Born M， Wolf E 2001Principles of Optics(7thedition)(Cambridge:Cambridge University Press)pp421—491

［14］Henke B L，Gullikson E M，Davis J C 1993At.Data Nucl.Data Tables54 181

［15］Chen J，Liu L H，Liu G，Tian Y C 2007Opt.Prec.Engin.15 1894(in Chinese)［陳 潔、柳龍華、劉 剛、田揚(yáng)超 2007光學(xué)精密工程15 1894］

［16］Attwood D(Translated by Zhang J)2003Soft X-Rays and ExtremeUltravioletRadiation:PrinciplesandApplications(Beijing:Science Press)p352(in Chinese)［阿特伍德D.著張 杰譯 2003軟X射線與極紫外輻射的原理和應(yīng)用 (北京:科學(xué)出版社)第352頁］

PACS:52.70.La，52.57.－ z，42.79.Ci

Analysis of high-resolution X-ray imaging of an inertialconfinement-fusion target by using a Fresnel zone plate*

Wang Xiao-Fang?Wang Jing-Yu
(Key Laboratory of Basic Plasma Physics of Chinese Acadmy of Sciences，Department of Modern Physics，University of Science and Technology of China，Hefei 230026，China)
(Received 12 January 2010;revised manuscript received 29 March 2010)

Aiming at 1 μm high resolution in imaging an inertial confinement fusion(ICF)target，a method is developed for analyzing the direct imaging by a Fresnel zone plate(FZP)，and numerical calculations are carried out to study the FZP imaging characteristics in the keV X-ray range.For the TiKαline(photon energy 4.51 keV，wavelength 0.275 nm)，the FZP parameters are suggested，for which the technical requirement of fabricating the outmost zone is relatively low.The influence of the target size on the imaging is studied for the first time.It is shown that the FZP has a large effective field of view and the image quality can be guaranteed even for a target of several millimeters.The influence of the spectral bandwidth of a polychromatic incident light on the imaging is also studied.Monochromatic imaging can be obtained due to the achromatic property of the FZP.However，if the bandwidth is larger than a certain limit，the image contrast will be degraded.These results indicate the feasibility of applying an FZP in high-resolution X-ray imaging of an ICF ignition target and put forward the requirements as well.

X-ray imaging，inertial confinement fusion，F(xiàn)resnel zone plate

*國家高技術(shù)研究發(fā)展計(jì)劃 (批準(zhǔn)號(hào):2008AA8041206)和中國科學(xué)院知識(shí)創(chuàng)新工程(批準(zhǔn)號(hào):KJCXZ-YW-N28，KJCX2-YW-N36)資助的課題.

*Project supported by the National High Technology Research and Development Program of China(Grant No.2008AA8041206)and the Program of Knowledge Innovation of Chinese Academy of Sciences(Grant Nos.KJCX2-YW-N28，KJCX2-YW-N36).