趙曉鋒,溫殿忠,潘東陽,王志強(qiáng),修德軍
(黑龍江大學(xué)a.黑龍江省普通高等學(xué)校電子工程重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;b.集成電路重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,哈爾濱150080)
20世紀(jì)70年代,采用合金燒結(jié)工藝制作立體結(jié)構(gòu)鍺磁敏三極管[1-2],該器件具有正反磁靈敏度。在單晶硅片上制作具有矩形板狀立體標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)的硅磁敏三極管一直未能實(shí)現(xiàn)。隨著MEMS技術(shù)的發(fā)展,2003年黑龍江大學(xué)敏感技術(shù)研究所采用KOH硅各向異性腐蝕技術(shù)在高阻單晶硅片上制作完成矩形板狀立體結(jié)構(gòu)的新型硅磁敏三極管。通過特性測(cè)試,該新型硅磁敏三極管的集電極電流相對(duì)磁靈敏度較高,最大可達(dá)227%/T,具有負(fù)溫度系數(shù)且溫度系數(shù)較小[3-6]。
本文在分析新型硅磁敏三極管基本結(jié)構(gòu)、工作原理和特性基礎(chǔ)上,通過采用Silvaco的ATLAS軟件建立新型硅磁敏三極管仿真結(jié)構(gòu)模型,研究基區(qū)寬度、復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度等幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)其特性的影響,為進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)新型硅磁敏三極管優(yōu)化設(shè)計(jì)奠定基礎(chǔ)。
采用MEMS技術(shù)在p型高阻(ρ≥100Ω· cm)<100>晶向單晶硅片表面制作具有矩形板狀立體結(jié)構(gòu)[3]的n+pn+型硅磁敏三極管,圖1給出新型硅磁敏三極管的基本結(jié)構(gòu)模型,B為外加磁場(chǎng)。
圖1 n+pn+型硅磁敏三極管結(jié)構(gòu)模型Fig.1 Structure model of n+pn+silicon magnetic sensitive transistor
圖2給出新型硅磁敏三極管在外加磁場(chǎng)作用下載流子偏轉(zhuǎn)。當(dāng)外界磁場(chǎng)B加于磁敏三極管,載流子在洛侖茲力作用下發(fā)生偏轉(zhuǎn)。圖2(a)、(b)、(c)分別給出新型硅磁敏三極管在共發(fā)射偏置時(shí),在B=0T、B>0T、B<0T時(shí)硅磁敏三極管載流子在洛侖茲力下的偏轉(zhuǎn)情況。
當(dāng)B=0T時(shí),如圖2(a)所示,e-i-b是n+-i-p+型長(zhǎng)基區(qū)硅磁敏二極管,從發(fā)射極e注入的電子,一小部分被輸運(yùn)到集電極,形成集電極電流Ic。而大部分受橫向電場(chǎng)的作用,與基極注入的空穴復(fù)合,即形成基極電流Ib。
當(dāng)B>0T時(shí),如圖2(b)所示,e-i-b作為n+-i-p+型長(zhǎng)基區(qū)硅磁敏二極管,在外加磁場(chǎng)且B>0T時(shí),發(fā)射極注入的電子和基極注入的空穴受到洛侖茲力的作用,載流子向發(fā)射極e一側(cè)偏轉(zhuǎn),大部分在基區(qū)復(fù)合掉,使載流子有效壽命減小,致使有效擴(kuò)散長(zhǎng)度減小,基區(qū)內(nèi)壓降增大,n+-i和p+-i結(jié)壓降減小,使載流子輸運(yùn)到集電結(jié)的數(shù)量減小。故集電極電流Ic減小。
當(dāng)B<0T時(shí),如圖2(c),e-i-b作為n+-i-p+型長(zhǎng)基區(qū)磁敏二極管,在外加磁場(chǎng)且B<0T時(shí),發(fā)射極注入的電子和基極注入的空穴受到洛侖茲力的作用,載流子向集電極c一側(cè)偏轉(zhuǎn),由于表面處復(fù)合速率小,使載流子有效壽命增加,致使有效擴(kuò)散長(zhǎng)度變長(zhǎng),基區(qū)內(nèi)壓降減小,n+-i和p+-i結(jié)壓降增加,使集電極收集的載流子數(shù)目增多。故集電極電流增加。新型硅磁敏三極管集電極電流Ic隨外加磁場(chǎng)B變化,具有正、反向磁靈敏度,而且有確定的磁敏感表面,磁場(chǎng)必須與之垂直,才有最大的磁靈敏度。
本文采用BJ-4814半導(dǎo)體管特性測(cè)試儀對(duì)新型硅磁敏三極管樣品進(jìn)行伏安特性測(cè)試,圖3(a)、(b)、(c)分別給出新型硅磁敏三極管在外加磁場(chǎng)B=0T、B>0T、B<0T時(shí)的伏安特性,其中Vce為硅磁敏三極管發(fā)射極與集電極電壓,1V/每格;Ic為硅磁敏三極管集電極電流,1mA/每格。結(jié)果表明,當(dāng)B>0T時(shí),集電極電流變?。划?dāng)B<0T時(shí),集電極電流變大,該新型硅磁敏三極管具有正、反向磁靈敏度。
采用Silvaco的ATLAS仿真軟件建立新型硅磁敏三極管仿真結(jié)構(gòu)模型,研究基區(qū)寬度、復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度等不同結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)硅磁敏三極管特性的影響。圖4為新型硅磁敏三極管的模擬仿真結(jié)構(gòu)圖。
圖4 采用ATLAS新型硅磁敏三極管仿真模型Fig.4 Simulation model of new silicon magnetic transistor on the base of ATLAS
3.2.1 基區(qū)寬度對(duì)Ic-Vce特性影響
圖5(a)、(b)、(c)和(d)分別給出復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度為120μm,基區(qū)寬度w分別為40、30、20 μm和10μm時(shí),溫度為300K、外加磁場(chǎng)B=0T,基極注入電流Ib為不同值時(shí)Ic-Vce特性仿真曲線。仿真結(jié)果表明,當(dāng)基區(qū)寬度w和外加偏壓Vce恒定時(shí),隨基極注入電流Ib增加,集電極電流Ic增加;當(dāng)外加偏壓Vce和基極注入電流Ib恒定時(shí),基區(qū)寬度w減小,集電極電流放大倍數(shù)增加且集電極電流出現(xiàn)不飽和現(xiàn)象。
3.2.2 復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度對(duì)Ic-Vce特性影響
圖6(a)、(b)、(c)分別給出基區(qū)寬度為30 μm,復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度L分別為80、120、160μm時(shí),溫度為300K、外加磁場(chǎng)B=0T,基極注入電流Ib為不同值時(shí)Ic-Vce特性仿真結(jié)果。結(jié)果表明,當(dāng)復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度L和外加偏壓Vce恒定時(shí),隨基極注入電流Ib增加,集電極電流Ic增加;當(dāng)外加偏壓Vce和基極注入電流Ib恒定時(shí),復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度L增加,集電極電流放大倍數(shù)減小。
3.3.1 基區(qū)寬度對(duì)磁特性影響
圖7(a)、(b)和 (c)分別給出復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度為120μm,基區(qū)寬度w為40、30μm和20μm時(shí),基極注入電流Ib為5mA,外加磁場(chǎng)B=0T、B=±0.3T和B=±0.5T時(shí),新型硅磁敏三極管的Ic-Vce特性仿真結(jié)果。仿真結(jié)果給出,在基極注入電流恒定時(shí),隨外加正向磁場(chǎng)增加,集電極電流逐漸減小,隨外加反向磁場(chǎng)增加,集電極電流逐漸增加,新型硅磁敏三極管仿真結(jié)構(gòu)模型具有正反向磁靈敏度,與實(shí)驗(yàn)結(jié)果一致。在基極注入電流相同時(shí),隨基區(qū)寬度減薄,正反向磁靈敏度增加,但集電極電流出現(xiàn)不飽和現(xiàn)象。
3.3.2 復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度對(duì)磁特性影響
圖8(a)、(b)和(c)分別給出基區(qū)寬度w為30μm,復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度為80、120μm和160μm時(shí),基極注入電流Ib為5mA,外加磁場(chǎng)B=0T、B=±0.3T和B=±0.5T時(shí),新型硅磁敏三極管的Ic-Vce特性仿真結(jié)果。仿真結(jié)果給出,在基極注入電流恒定時(shí),隨外加正向磁場(chǎng)增加,集電極電流逐漸減小,隨外加反向磁場(chǎng)增加,集電極電流逐漸增加,新型硅磁敏三極管仿真結(jié)構(gòu)模型具有正反向磁靈敏度,與實(shí)驗(yàn)結(jié)果一致。在基極注入電流相同時(shí),復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度為160μm時(shí),正反向磁靈敏度最大。
對(duì)基區(qū)寬度為30μm、復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度為120 μm新型硅磁敏三極管仿真結(jié)構(gòu)模型,當(dāng)外加磁場(chǎng)B=0T,復(fù)合基極注入電流Ib=5mA,采用ATLAS對(duì)新型硅磁敏三極管進(jìn)行溫度特性仿真,圖9給出新型硅磁敏三極管溫度特性仿真結(jié)果,結(jié)果表明,隨著溫度升高,集電極電流Ic減小,集電極電流Ic具有負(fù)溫度系數(shù)。
圖9 新型硅磁敏三極管溫度特性仿真結(jié)果Fig.9 Simulation results of the new type silicon magnetic sensitive transistor temperature characteristics
本文通過分析新型硅磁敏三極管基本結(jié)構(gòu)、工作原理和實(shí)驗(yàn)結(jié)果,采用ATLAS軟件建立新型硅磁敏三極管仿真結(jié)構(gòu)模型,研究基區(qū)寬度、復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度等結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)新型硅磁敏三極管I-V特性、磁電特性和溫度特性的影響。仿真結(jié)果表明:
1)在T=300K、B=0T時(shí),復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度和基極注入電流一定時(shí),基區(qū)寬度w減薄,集電極電流放大倍數(shù)增加且出現(xiàn)不飽和現(xiàn)象;基區(qū)寬度和基極注入電流一定時(shí),復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度減小,集電極電流放大倍數(shù)增加。
2)在T=300K、B≠0T時(shí),新型硅磁敏三極管具有正反向磁靈敏度,復(fù)合基區(qū)長(zhǎng)度一定和基極注入電流一定時(shí),基區(qū)寬度w減薄,正反向磁靈敏度增加。
3)新型硅磁敏三極管集電極電流具有負(fù)溫度系數(shù)。
通過仿真研究,給出影響新型硅磁敏三極管特性的主要因素,為實(shí)現(xiàn)新型硅磁敏三極管優(yōu)化設(shè)計(jì)奠定基礎(chǔ)。
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