張 巖,楊友良,馬翠紅,景會成,張偉強
(1.唐山賽福特智能控制股份有限公司,唐山 063000;2.河北聯(lián)合大學 電氣工程學院,唐山 063000;3.唐山職業(yè)技術(shù)學院 機電工程系,唐山 063000)
目前,我國的轉(zhuǎn)爐煉鋼自動化水平還比較落后,轉(zhuǎn)爐煉鋼終點[1]還主要是依靠人工來判斷,嚴重降低了鋼鐵生產(chǎn)水平。而轉(zhuǎn)爐煉鋼終點主要是鋼水溫度和鋼水成分達到出鋼的要求,因此準確測量轉(zhuǎn)爐煉鋼過程中的鋼水溫度是急需解決的問題。
因此研究一套CCD[2]測溫方法具有巨大意義。目前國際上位置公認的輻射測溫[3]方法主要有4種:基于參考點的單色測溫法、比色測溫法、基于彩色CCD的三色測溫法和全輻射測溫法。這4種輻射測溫法都有自己的優(yōu)缺點,但對于鋼鐵生產(chǎn)而言,比色測溫法比較方便、快捷,更能適應(yīng)鋼鐵生產(chǎn)的工藝要求。
比色測溫法[4]是一種非接觸測溫法,又稱雙波段測溫法或雙色溫度法,是根據(jù)輻射物在2個波長下的光譜輻射亮度之比與溫度之間的函數(shù)關(guān)系來測量溫度。合理的選擇2個工作波段可很大程度上減小物體比輻射率變化引起的測量誤差。
設(shè)溫度為Tc的黑體在波長λ1和λ2下的光譜輻射亮度[5]為 Lb(λ1,Tc)和 Lb(λ2,Tc),令兩光譜輻射亮度之比為Bb,則利用維恩公式[6]轉(zhuǎn)化可得到黑體的比色測溫公式為
由于絕對的黑體并不存在,則利用非黑體的維恩公式可得到非黑體的比色測溫公式為
式中:B=L(λ1,T)/L(λ2,T)為溫度 T 下非黑體在波長為 λ1和 λ2時的輻射亮度之比;ε(λ1,T)和 ε(λ2,T)為溫度T時非黑體在波長為λ1和λ2下的比輻射率。
CCD攝像機是一種新型半導體器件,特點是以電荷為信號。CCD攝像機的成像面是由水平和垂直排列的象素組成,每個象素的光電轉(zhuǎn)換部分為一個光敏元件。光敏元件的作用是把接收到的光輻射信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡姾尚盘?,電荷包的電量反映了照在該象素上的光線強弱,于是成像面上的光的強弱分部就轉(zhuǎn)換成了電荷量多少的分布。由于測量的是熔融鋼水圖像,因此利用CCD測量圖像時光敏元件存在飽和現(xiàn)象,圖像嚴重失真,不能用來分析鋼水溫度。為解決這一問題,測量時在CCD攝像機前加1個中性衰減片和2個不同波長的濾光片,這樣得到的圖像更能清晰地反映爐內(nèi)的溫度分布情況。
再將這兩幅圖像經(jīng)過預(yù)處理后得出兩幅圖像的灰度值[7],灰度值反映出輻射亮度,將此代入上述比色測溫公式就可得出爐內(nèi)鋼水的比色溫度。
針對轉(zhuǎn)爐內(nèi)高溫、高粉塵情況,提出2種轉(zhuǎn)爐測溫方法:①直接從爐口采集經(jīng)過不同波長濾光片的圖像來測量溫度;②利用光纖從轉(zhuǎn)爐爐底氧槍[8]采集光學信息,再經(jīng)850 nm和950 nm波長濾光片的圖像來測量溫度。實驗結(jié)構(gòu)如圖1所示。
圖1 轉(zhuǎn)爐溫度測量實驗圖Fig.1 Figure of BOF temperature measurement experiment
圖中旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺由同步電機帶動,盡量使采集的2個不同波長下的圖像是同一溫度下的,以減小誤差。2種方法同時測溫,在采集圖像的同時,用熱偶測量爐內(nèi)鋼水的溫度,并用熱偶來對比色測溫方法進行標定。圖2為測溫系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。
圖2 測溫系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖Fig.2 Structure diagram of temperature measurement system
采集到的圖像經(jīng)過圖像預(yù)處理[9]后得到比較清晰的圖像,再提取2幅圖像同一點的灰度值,一般情況下,取圖像中心的灰度值。得到如圖3的圖像。
圖3 CCD采集的經(jīng)過濾波后的圖像Fig.3 Image of CCD acquisition after filtered
將圖中采集到的圖像中心的灰度值提取出來,代入比色測溫公式就能測得轉(zhuǎn)爐中鋼水的溫度。
為減小比輻射率[10]對溫度測量的影響,實驗中利用熱偶測得的實際溫度來反推物體的比輻射率。在利用熱偶測溫的同時利用CCD采集鋼水圖像,將熱偶測得的溫度與圖像的灰度值代入比色測溫公式,就可得出該溫度下的比輻射率 ε(λ2,T)/ε(λ1,T),比輻射率隨實際溫度變化的圖像如圖4所示。
圖4 溫度與比輻射率關(guān)系圖Fig.4 Diagram of temperature and emissivity
由于轉(zhuǎn)爐終點溫度在1600℃左右,因此為了提高測溫的準確率,參考鋼水溫度在1450~1620℃時的比輻射率的變化情況,經(jīng)大量的帶入計算,當比輻射率為0.95時,比色測溫計算得到的溫度值與實際溫度相差較小。通過9次分別采集爐口和爐內(nèi)的圖像實驗得到如表1所示數(shù)據(jù)。
表1 實驗結(jié)果數(shù)據(jù)Tab.1 Results data table of experiment
由實驗數(shù)據(jù)可得:在轉(zhuǎn)爐爐口測得的溫度值與實際溫度值的差距比爐內(nèi)測得的溫度值與實際溫度值的差距要大。在實際參考的1450℃~1620℃溫度范圍內(nèi),爐口溫度與實際溫度差值在20℃以內(nèi),而爐內(nèi)溫度與實際溫度差值不超過12℃,誤差率小于1%,完全能滿足工業(yè)生產(chǎn)的需求,但超過參考溫度范圍時,溫度誤差較大。
通過分析可知:由于轉(zhuǎn)爐爐口濃煙和鋼水表面爐渣的影響,使得CCD采集圖像質(zhì)量低,雖經(jīng)圖像處理,但仍存在一定誤差,因此最終計算得到的溫度與實際溫度誤差較大。而通過氧槍采集得到的方法誤差較小,因此時的圖像信息正好是鋼水內(nèi)部信息,沒有煙氣和爐渣[11]影響,采集的氧槍部位空腔的光學信息穩(wěn)定,所以更接近熱偶測得的真實溫度。此方法使得轉(zhuǎn)爐煉鋼終點命中率[12]提高。
針對轉(zhuǎn)爐煉鋼過程溫度對轉(zhuǎn)爐終點出鋼的重要性,提出了基于CCD圖像處理的比色測溫方法測量溫度??紤]了2種不同地方采集圖像的測溫方法,經(jīng)數(shù)據(jù)分析顯示,由于底部氧槍以固定的流量向爐內(nèi)通入氧氣,會在爐底形成一個光學信息穩(wěn)定的空腔,通過氧槍采集的圖像更能準確地計算出溫度,鋼水溫度穩(wěn)定時,測溫誤差在1%左右。建立了一套適用于中小型鋼廠測溫的方法,已投入運用,改善了傳統(tǒng)依靠人工觀察測溫的方法,具有良好的應(yīng)用前景。
[1] 岳峰,包艷平,崔衡,等.基于副槍控制的轉(zhuǎn)爐終點預(yù)測模型[J].煉鋼,2009,25(1):39-40.
[2] 程開富.新穎CCD圖像傳感器最新發(fā)展及應(yīng)用[J].集成電路通訊,2006(3):30-33.
[3] X Q Pan,P F Barker,J H Grinstead.Temperature measurement by coherent Rayleigh scattering[J].Laser Focus World,2002,27:161-163.
[4] 孫元,彭小奇,唐英.基于彩色CCD的比色測溫校正方法[J].儀器儀表學報,2008,29(1):49-53.
[5] 雷劍波,楊洗陳,王云山,等.激光再制造熔池溫度場檢測與控制方案研究[J].天津工業(yè)大學學報,2003,22(5):56-58.
[6] ZUO Yue-ping,Zhang Jian-qi.Review of simulation in infrared imaging system[J].Infrared and Laser Engineering,2002,31(5):432-436.
[7] LIU Chang-yi,LIN Jehnming.Thermal processes of a powder particle in coaxial laser cladding[J].OPTICS&Laser Cladding Technology,2003(35):81-86.
[8] 楊樹棠.我國氧氣轉(zhuǎn)爐煉鋼的開發(fā)與發(fā)展[J].中國冶金,2000,45(2):1415.
[9] Chang J S,Mark H Y.New automatic multi-level thresholding technique for segmentation of thermal images[J].Image and Vision Computing,1997,15:23-34.
[10]孫青林,陳增強,袁著祉,等.變輻射率時紅外測溫的自動補償[J].儀器儀表學報,2001,22(3):29-30.
[11]WANG Yonggang,DONG Yuehua,YAN Bingzheng.Research and application on automatic control of converter oxygen blowing in converter steelmaking process[J].Laigang Science&Technology,2011,4:49-50.
[12]趙琦,陳延如,王昀,等.光強與圖像信息在轉(zhuǎn)爐煉鋼終點判斷中的應(yīng)用[J].儀器儀表學報,2005,26(增 1):575-577,580.