宋殿友 ,劉鐵根,丁小昆,李志宏
(1. 天津大學(xué)精密儀器與光電子工程學(xué)院,天津 300072;2. 天津理工大學(xué)電信學(xué)院,天津 300384;3. 薄膜電子與通信器件天津市重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,天津 300384)
在工業(yè)生產(chǎn)中,許多產(chǎn)品幾何特性的在線檢測(cè)不僅要求做到非接觸連續(xù)測(cè)量,還要求精度不受被測(cè)物移動(dòng)以及外界環(huán)境的影響.激光微位移測(cè)量系統(tǒng)不僅能較好地滿足這些要求,而且測(cè)量精度高、測(cè)量距離遠(yuǎn)、重復(fù)性強(qiáng),因此越來越多地被應(yīng)用在工業(yè)生產(chǎn)中.
激光微位移測(cè)量系統(tǒng)采用的光電傳感器主要有CMOS、CCD 和PSD 等.目前,歐美和日本在這方面的研究處于領(lǐng)先水平[1-2],并且已經(jīng)有比較成熟的基于PSD 的激光位移傳感器產(chǎn)品,比如日本Keyence公司的 LD 系列、德國 Micro-Epsilon 公司的optoNCDT 系列、美國MEDAR 公司的2101 型等產(chǎn)品,均采用直射式或斜射式激光三角法,分辨率在0.01%~0.1%之間,但在適應(yīng)不同被測(cè)物體表面狀況時(shí),一般都通過數(shù)控電位器調(diào)節(jié)采樣信號(hào)強(qiáng)度或通過改變光源電流來調(diào)節(jié)有效光的強(qiáng)度,這樣不僅使得系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜而不利于系統(tǒng)集成,還由于噪聲和成像光斑光強(qiáng)分布微變等帶來一系列測(cè)量誤差[3].而在適應(yīng)不同被測(cè)物測(cè)量環(huán)境的變化方面,尤其是溫度變化,這些產(chǎn)品都采用價(jià)格昂貴的精密元器件,以減小溫度變化的影響,但溫漂仍高達(dá)滿量程的±0.02%/℃,有些產(chǎn)品甚至高達(dá)滿量程的±0.05%/℃,因此,在溫差較大的測(cè)量環(huán)境下[4-5],無法滿足測(cè)量精度的要求.而國內(nèi)應(yīng)用的多為基于CCD 的位移傳感器[6-8].盡管近年來國內(nèi)對(duì)PSD 的微位移測(cè)量進(jìn)行了大量研究,但由于對(duì)PSD 的研究起步較晚,基于PSD 的激光微位移測(cè)量系統(tǒng)尚處于實(shí)驗(yàn)室研究階段.呂愛民等[9]對(duì)位置指示光源對(duì)PSD 定位精度的影響進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究,郭麗峰等[10]對(duì)PSD 的非線性修正技術(shù)進(jìn)行了研究,劉鐵根等[11]對(duì)PSD 測(cè)量中激光源波長的優(yōu)選進(jìn)行了研究,但還沒有基于PSD 的高精度、高可靠性的微位移產(chǎn)品出現(xiàn).
筆者充分利用PSD 的固有特性,采用基于變頻調(diào)制、高階帶通濾波、峰值檢測(cè)等技術(shù)的PSD 信號(hào)單通道處理方式和激光三角法相結(jié)合的設(shè)計(jì)方案,簡化了結(jié)構(gòu),并進(jìn)一步降低了溫漂和被測(cè)物表面狀況的影響,制作了低成本和高適用性的精密激光微位移在線測(cè)量系統(tǒng).
本系統(tǒng)采用一維PSD 和直射式激光三角法,測(cè)量原理如圖1 所示,由PSD 特性公式可以得出像斑在PSD 上的位移x ,則被測(cè)物位移大小可以根據(jù)幾何關(guān)系求得[12],即.
圖1 激光三角法測(cè)距原理Fig.1 Schematic diagram of measuring the distance based on the laser triangulation
PSD 激光微位移測(cè)量系統(tǒng)框圖如圖2 所示,該系統(tǒng)由激光器、會(huì)聚透鏡、成像透鏡、一維PSD、激光調(diào)制電路、I/V 轉(zhuǎn)換電路、通道切換電路、比例放大電路、濾波電路、峰值檢測(cè)電路、集成ADC 微控制器及外部接口電路等組成.從小型半導(dǎo)體激光器發(fā)射出650,nm 的調(diào)制紅光,經(jīng)過會(huì)聚透鏡形成比較理想的光斑照射在被測(cè)物上,然后通過成像透鏡對(duì)漫反射光的匯聚將光斑成像于PSD 上.當(dāng)被測(cè)物發(fā)生位移時(shí),成像于PSD 光敏面上的光斑位置會(huì)發(fā)生變化,進(jìn)而改變了從PSD 兩端輸出的調(diào)制電流信號(hào)強(qiáng)度.該微電流信號(hào)經(jīng)過處理后,由微控制系統(tǒng)采集并通過運(yùn)算得到被測(cè)物的位移量.同時(shí),系統(tǒng)可通過外觸發(fā)采樣接口控制采樣,從而實(shí)現(xiàn)多設(shè)備同步采樣,系統(tǒng)還可以通過RS232 通信接口對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行標(biāo)定、采集頻度設(shè)定、通信波特率設(shè)定等功能以及相應(yīng)查詢功能.
圖2 PSD激光微位移測(cè)量系統(tǒng)框圖Fig.2 Schematic diagram of PSD laser micro-displacement measurement system
光路系統(tǒng)主要由激光光源、會(huì)聚透鏡、成像透鏡和光電探測(cè)器PSD 等組成.
傳統(tǒng)的激光測(cè)量系統(tǒng)都通過窄帶濾光片來濾掉背景光對(duì)測(cè)量的影響,但當(dāng)被測(cè)物本身發(fā)出的光與信號(hào)光源的波長相近時(shí)(如熱軋板厚度測(cè)量),濾光片無法達(dá)到系統(tǒng)要求.因此系統(tǒng)通過調(diào)制波長λ為650,nm的激光光源,從而在沒有濾光片的情況下,有效地消除背景光的影響.
會(huì)聚透鏡的作用主要為準(zhǔn)直和聚焦,能將激光器發(fā)出的光會(huì)聚為具有一定焦深、尺寸較小的光斑,從而降低了測(cè)量誤差[13].成像透鏡將不同角度的散射光集中在PSD 感光接收面上,若采用多片透鏡組合,可使其像差減小,進(jìn)一步提高測(cè)量準(zhǔn)確度[14].
光電探測(cè)器采用濱松公司生產(chǎn)的 S3932 型PSD,該型號(hào)PSD 有效感光面積為12,mm ×1,mm,光譜響應(yīng)范圍為 320~1,100,nm,峰值靈敏度為0.55,A/W,位置分辨率為0.3,μm.
通常,基于PSD 的微位移測(cè)量系統(tǒng)對(duì)PSD 兩端輸出的電流信號(hào)由2 個(gè)獨(dú)立的信號(hào)處理通道進(jìn)行處理,如圖3 所示,但是當(dāng)采用調(diào)制模式時(shí),由于信號(hào)增益系數(shù)與調(diào)制頻率以及系統(tǒng)的中心頻率和帶寬是直接相關(guān)的,而中心頻率和帶寬與系統(tǒng)所用器件的阻容特性是密切相關(guān)的,因此即使采用價(jià)格昂貴的精密元器件,隨著溫度變化,2 個(gè)通道的增益系數(shù)也很難調(diào)節(jié)一致,從而造成測(cè)量誤差.
圖3 PSD信號(hào)雙通道處理框圖Fig.3 Schematic diagram of PSD signal processing based double channels
為解決該問題,系統(tǒng)通過通道切換將PSD 輸出的兩路信號(hào)在同一信號(hào)處理通道處理,電路如圖4 所示,這樣不僅使PSD 兩端的輸出信號(hào)得到了一致處理,而且還簡化了結(jié)構(gòu)、降低了成本.
圖4 PSD信號(hào)單通道處理電路Fig.4 Circuit diagram of PSD signal processing based single channel
系統(tǒng)還通過調(diào)制激光、I/V 轉(zhuǎn)換和比例放大電路,將PSD 輸出的微弱有效電流信號(hào)變?yōu)橐欢l率的易于采集的電壓信號(hào),然后通過帶通濾波器,消除了暗電流和背景光對(duì)系統(tǒng)的影響.峰值檢測(cè)電路大大降低了系統(tǒng)對(duì)A/D 轉(zhuǎn)換器采集頻度的要求,保證了對(duì)PSD 兩端輸出信號(hào)的同相位采集,進(jìn)一步減小了測(cè)量誤差,同時(shí),通過放電電路實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)的高速動(dòng)態(tài)測(cè)量.
電路中采用失調(diào)電壓和偏置電流非常小的AD公司的OP27 運(yùn)算放大器設(shè)計(jì)電路對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行處理.用Silicon Lab 公司的內(nèi)置采樣速度可達(dá)1,MS/s的16 位ADC 的C8051F060 單片機(jī)作為主控.
在實(shí)際應(yīng)用中,由于不同被測(cè)物體的表面反射率不同,使得PSD 感光面上接受的調(diào)制激光光強(qiáng)也不同,從而造成PSD 輸出的調(diào)制電流強(qiáng)度變化較大,無法充分利用A/D 轉(zhuǎn)換器的采集范圍,甚至超出范圍而不能測(cè)量.所以應(yīng)根據(jù)被測(cè)物體表面狀況自適應(yīng)調(diào)節(jié)信號(hào)強(qiáng)度的增益系數(shù)或激光強(qiáng)度.
現(xiàn)有的系統(tǒng)一般都通過采用數(shù)控電位器來改變信號(hào)增益系數(shù)或通過改變激光器電流調(diào)節(jié)激光強(qiáng)度,但是數(shù)控電位器的非連續(xù)性有時(shí)無法達(dá)到系統(tǒng)要求,并且本身的噪聲也會(huì)影響測(cè)量精度.而改變激光器光強(qiáng)不僅使得激光器電源電路復(fù)雜,還會(huì)因?yàn)楣獍叩母哳l噪聲變化和光斑整體偏移使得光斑光強(qiáng)分布微變,從而產(chǎn)生測(cè)量誤差,本系統(tǒng)中采用了信號(hào)帶通濾波技術(shù),濾波器的中心頻率f0為40,kHz,Q 值為7,其幅頻特性可表示為
式(2)表明,當(dāng)通過濾波器的信號(hào)頻率f 從f0開始不斷增大時(shí),信號(hào)的放大倍數(shù)Au會(huì)逐漸減小,當(dāng)信號(hào)頻率增大至2,f0時(shí),信號(hào)衰減了-20,dB,也就是說,當(dāng)信號(hào)頻率從80,kHz 變化到40,kHz 時(shí),信號(hào)的強(qiáng)度可以變化10 倍.因此,筆者先通過測(cè)量反射率最高的白色平面,調(diào)整電路將濾波器的輸入信號(hào)強(qiáng)度調(diào)整到運(yùn)算放大器線性放大范圍的最大值(本系統(tǒng)為12,V),且初始激光調(diào)制頻率為55,kHz.這樣,當(dāng)采集到的PSD 兩路信號(hào)強(qiáng)度之和大于A/D 轉(zhuǎn)換器的采集最大值一定范圍時(shí),系統(tǒng)自動(dòng)增大激光的調(diào)制頻率,反之則自動(dòng)減小激光調(diào)制頻率,改變信號(hào)在濾波器上的衰減程度,實(shí)現(xiàn)采集信號(hào)強(qiáng)度的連續(xù)改變,使信號(hào)強(qiáng)度總處于A/D 轉(zhuǎn)換器的最佳采集范圍.另外,如果和數(shù)控電位器改變?cè)鲆嫦禂?shù)相結(jié)合,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)具有極低反射率物體測(cè)量,從而全面解決了被測(cè)物表面反射率不一致造成PSD 輸出的調(diào)制信號(hào)強(qiáng)度變化較大的影響,提高了系統(tǒng)精度和實(shí)用性.
根據(jù)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和PSD 參數(shù),該系統(tǒng)最大量程為9,mm,系統(tǒng)理論分辨率為0.002 5%,但受噪聲影響,大量實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,系統(tǒng)實(shí)際分辨率達(dá)到0.035%.采用精度為10,μm 的螺旋測(cè)微器對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行標(biāo)定,并使系統(tǒng)輸出數(shù)據(jù)為光斑在PSD 成像位置.首先微調(diào)使PSD 輸出數(shù)據(jù)為2,000,μm,以此為原點(diǎn),以500,μm為步長測(cè)量了12 個(gè)點(diǎn),即標(biāo)定范圍為0~6,000,μm,結(jié)果如圖5 所示.采用最小二乘法擬合一條直線如圖5 所示,可表示為
圖5 標(biāo)定曲線Fig.5 Calibration curve
則線性相關(guān)系數(shù)R 為0.999 54,線性度好于1.2%.
為了考察系統(tǒng)的穩(wěn)定性,選一固定位置,從系統(tǒng)開機(jī)開始測(cè)量,每隔30,s 保存1 次數(shù)據(jù),連續(xù)監(jiān)測(cè)了12,h,得到的結(jié)果如圖6 所示.
圖6 系統(tǒng)穩(wěn)定性測(cè)量Fig.6 Stability measurement of the system
由圖6 可見,系統(tǒng)開始運(yùn)行的前10 min,數(shù)據(jù)呈急劇下降的趨勢(shì),這主要是因?yàn)榘雽?dǎo)體激光器的穩(wěn)定需要一段時(shí)間,在初始運(yùn)行階段由于激光強(qiáng)度穩(wěn)定度較差和光斑不夠均勻造成測(cè)量誤差較大[15].當(dāng)激光強(qiáng)度趨于穩(wěn)定后,測(cè)量數(shù)據(jù)基本穩(wěn)定.從圖6 中可以看出在30,min以后的11,h里,穩(wěn)定性誤差小于0.09%.
影響測(cè)量結(jié)果的外界因素主要有背景光、暗電流、溫度和被測(cè)物表面狀況等.設(shè)計(jì)了3 個(gè)實(shí)驗(yàn),分別對(duì)背景光、暗電流、溫度和被測(cè)物表面狀況等對(duì)測(cè)量的影響進(jìn)行了測(cè)量.
3.3.1 實(shí)驗(yàn)1
在沒有濾光片的情況下,分別在日光、日光燈光和熱輻射紅外光3 種背景光下對(duì)3 個(gè)固定位置進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量結(jié)果(光斑在PSD 的位置)見表1.
表1 背景光影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果Tab.1 Results of background light influence experiment
從表1 可以看出,3 種背景光對(duì)系統(tǒng)測(cè)量的影響產(chǎn)生的誤差遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于穩(wěn)定性測(cè)量誤差,因此可以認(rèn)為影響忽略不計(jì).這是因?yàn)橄到y(tǒng)帶通濾波器的中心頻率為40,kHz,帶寬為8,kHz,而背景光和暗電流強(qiáng)度變化頻率較低,一般都在1,kHz 以下,這樣就有效地消除了背景光對(duì)測(cè)量的影響,同樣,也消除了暗電流對(duì)測(cè)量的影響.
3.3.2 實(shí)驗(yàn)2
采用電熱恒溫鼓風(fēng)干燥箱,分別設(shè)定20,℃、30,℃、40,℃和50,℃ 4 種溫度,在4 種溫度下,分別采用PSD 信號(hào)單通道處理模塊和傳統(tǒng)的PSD 信號(hào)雙通道處理模塊進(jìn)行測(cè)量,同時(shí)為避免半導(dǎo)體激光器光斑的不均勻性影響測(cè)試結(jié)果,調(diào)整系統(tǒng)使PSD 兩端輸出幅值相等的電流信號(hào),測(cè)量結(jié)果(光斑在PSD的位置)見表2.
表2 溫度影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果Tab.2 Results of temperature influence experiment
從表2 可以看出,PSD 信號(hào)雙通道處理系統(tǒng)測(cè)量結(jié)果隨著溫度升高逐漸變小,誤差逐漸增大,這是由于系統(tǒng)的兩路信號(hào)處理通道受溫度變化影響造成兩通道的調(diào)制信號(hào)增益系數(shù)不一致所引起的.而單通道處理系統(tǒng)測(cè)量結(jié)果遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于穩(wěn)定性測(cè)量誤差,因此可以認(rèn)為,通過對(duì)PSD 輸出信號(hào)采用單通道信號(hào)處理方式大大消減了溫度對(duì)測(cè)量的影響,從而使測(cè)量系統(tǒng)更能夠適應(yīng)溫差較大的生產(chǎn)環(huán)境.
3.3.3 實(shí)驗(yàn)3
對(duì)同一固定位置進(jìn)行測(cè)量,并將該位置表面分別涂上灰度值為10%、40%和70%的灰色,從而使被測(cè)表面有3 種不同的反射率.測(cè)量輸出量為激光調(diào)制頻率、PSD 兩路信號(hào)強(qiáng)度之和以及光斑在PSD 的位置,測(cè)量結(jié)果見表3.
表3 被測(cè)物表面狀況影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果Tab.3 Results of the state of measured surface influence experiment
從表3 可以看出,隨著灰度值的增大,也就是被測(cè)物的反射率變小,激光的調(diào)制頻率逐漸向中心頻率40 kHz 偏移,從而保證了PSD 兩路信號(hào)強(qiáng)度之和在A/D 轉(zhuǎn)換器采集范圍最大值4 096±200 內(nèi)(系統(tǒng)中只用了ADC 高12 位),實(shí)現(xiàn)了A/D 轉(zhuǎn)換器的最佳采集.同時(shí),3 次測(cè)量位置有所變化,這是由于被測(cè)物表面灰色分布不均造成成像光斑重心偏移所致.
(1) 提出了基于信號(hào)調(diào)制、帶通濾波、峰值檢測(cè)的PSD 信號(hào)單通道處理方式和激光三角法相結(jié)合的設(shè)計(jì)方案,在沒有濾光片的情況下,有效地消除了背景光、暗電流的影響,同時(shí)大大降低了溫漂對(duì)測(cè)量的影響,使系統(tǒng)能夠適應(yīng)溫差較大的生產(chǎn)環(huán)境.
(2) 系統(tǒng)通過自適應(yīng)調(diào)節(jié)激光調(diào)制頻率改變采集信號(hào)強(qiáng)度,不僅能夠更好地適應(yīng)各種被測(cè)對(duì)象,還簡化了系統(tǒng)結(jié)構(gòu),消除和降低了數(shù)控電位器產(chǎn)生的噪聲和光斑光強(qiáng)分布微變所產(chǎn)生的影響.
(3) 設(shè)計(jì)并制作了測(cè)量頻率可達(dá)2 kHz,分辨率達(dá)0.035%,線性度好于1.2%,電路溫漂系數(shù)極小的具有自適應(yīng)能力的激光微位移測(cè)量系統(tǒng).系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、成本低.
[1]Nakajima Hajime,Sumi Kazuhiko,Inujima Hiroshi,et al. High-precision absolute rotary angular measurement by using a multielectrode circular position-sensitive detector[J]. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,2010,59(11):3041-3048.
[2]Martins R,F(xiàn)ortunato E. Static and dynamic resolution of 1,thin film position sensitive detector[J]. Journal of Non-Crystalline Solids,1996,198:1202-1206.
[3]丁小昆,劉鐵根,宋殿友,等. 激光光斑質(zhì)量對(duì)基于PSD 的激光三角法長時(shí)間連續(xù)測(cè)量精度的影響[J]. 中國激光,2012,39(2):0208006.Ding Xiaokun,Liu Tiegen,Song Dianyou,et al. Impact of accuracy of laser spot quality in laser triangulation long-term continuous measuring based on PSD[J].Chinese Journal of Lasers,2012,39 (2):0208006(in Chinese).
[4]錢建強(qiáng),王東生,李 鑫,等. 熱軋中板寬度智能檢測(cè)儀[J]. 儀器儀表學(xué)報(bào),2001(增):229-230.Qian Jianqiang,Wang Dongsheng,Li Xin,et al. An intellectualized measurement instrument for hot-rolled middle plate[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument,2001 (Suppl):229-230(in Chinese).
[5]華建新,金以慧,吳文彬. 基于動(dòng)態(tài)板形輥的冷軋板形控制新技術(shù)[J]. 鋼鐵,2001,36(1):33-37.Hua Jianxin,Jin Yihui,Wu Wenbin. The new flatness control technique of cold rolling based on dynamic shape roller[J]. Iron and Steel,2001,36(1):33-37(in Chinese).
[6]潘明華,文香穩(wěn),朱國力. 俯仰角組合測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J]. 光學(xué)精密工程,2011,19(3):598-604.Pan Minghua,Wen Xiangwen,Zhu Guoli. Design of combination measurement system for pitching angles[J]. Optics and Precision Engineering,2011,19(3):598-604(in Chinese).
[7]閆 龍,趙正旭,周以齊,等. 基于CCD 的立體視覺測(cè)量系統(tǒng)精度分析與結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)研究[J]. 儀器儀表學(xué)報(bào),2008,29(2):410-413.Yan Long,Zhao Zhengxu,Zhou Yiqi,et al. Accuracy analysis and configuration design of stereo photogrammetry system based on CCD [J]. Chinese Journal of Scientific Instrument,2008,29(2):410-413(in Chinese).
[8]郝鵬飛,張新軍,董志國,等. 基于面陣CCD 的高精度測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用[J]. 天津大學(xué)學(xué)報(bào),2008,41(12):1443-1447.Hao Pengfei,Zhang Xinjun,Dong Zhiguo,et al. Area CCD-based high accuracy measurement technology and its application[J]. Journal of Tianjin University,2008,41(12):1443-1447(in Chinese).
[9]呂愛民,袁紅星,賀安之. 位置指示光源對(duì)PSD 定位精度影響的實(shí)驗(yàn)研究[J]. 激光技術(shù),2000,24(3):192-195.Lü Aimin,Yuan Hongxing,He Anzhi. Experimental study of the effect of light source on position precision of PSD [J]. Laser Technology,2000,24(3):192-195(in Chinese).
[10]郭麗峰,張國雄,郭敬濱,等. PSD 空間三維非線性修正技術(shù)的研究[J]. 光電子·激光,2007,18(5):566-570.Guo Lifeng,Zhang Guoxiong,Guo Jingbin,et al.Study on spatial 3-D nonlinear correction technique for PSD[J]. Journal of Optoelectronics·Laser,2007,18(5):566-570(in Chinese).
[11]宋殿友,劉鐵根,李秀艷. 熱軋薄板測(cè)量系統(tǒng)中激光波長的優(yōu)選[J]. 光電子·激光,2011,22(1):99-102.Song Dianyou,Liu Tiegen,Li Xiuyan. Optimality selection of laser wavelength in the measuring system on thickness of hot rolled sheet[J]. Journal of Optoelectronics·Laser,2011,22(1):99-102(in Chinese).
[12]郁道銀,譚恒英. 工程光學(xué)[M]. 北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2004.Yu Daoyin,Tan Hengying. Engineering Optics[M].Beijing:China Machine Press,2004(in Chinese).
[13]張 璁,王雪詳,嚴(yán)高師. 激光測(cè)距儀單透鏡發(fā)射準(zhǔn)直模塊的優(yōu)化設(shè)計(jì)[J]. 激光與紅外,2009,39(4):383-385.Zhang Cong,Wang Xuexiang,Yan Gaoshi. Optimum design to a single lens transmitted collimating module of laser ranging finders[J]. Laser and Infrared,2009,39(4):383-385(in Chinese).
[14]來新民,王以忠,張大衛(wèi),等. 透鏡形式對(duì)激光位移傳感器精度影響的研究[J]. 天津大學(xué)學(xué)報(bào),1999,32(1):81-84.Lai Xinmin,Wang Yizhong,Zhang Dawei,et al. Research on influence of lens type on the accuracy of laserdisplacement sensor[J]. Journal of Tianjin University,1999,32(1):81-84(in Chinese).
[15]王春陽,李金石. 激光光斑漂移的檢測(cè)[J]. 應(yīng)用光學(xué),2007,28(2):205-208.Wang Chunyang,Li Jinshi. Detection of laser spot drift[J]. Journal of Applied Optics,2007,28(2):205-208(in Chinese).