顏 鵬 賈健明 王 迅
(常州信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院 江蘇常州 213164)
電子積分器積分漂移抑制措施分析
顏 鵬 賈健明 王 迅
(常州信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院 江蘇常州 213164)
電子積分器常用于弱磁通檢測,分析了電子積分器積分漂移的原因,提出綜合解決措施,并給出了軟件補(bǔ)償算法。通過實(shí)際測量數(shù)據(jù)證明,改進(jìn)了積分器精度,達(dá)到了國家標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的微磁通測量精度要求。
電子積分器;積分漂移;磁通;補(bǔ)償;運(yùn)算放大器
弱磁性材料的靜態(tài)磁滯回線測量多采用線圈測量法進(jìn)行,所謂線圈測量法,是指將變化的磁場在線圈中產(chǎn)生感生電動(dòng)勢,然后采用電子積分器進(jìn)行對(duì)其進(jìn)行積分,就可得到與磁場變化量成正比的輸出信號(hào),從而推算出被測樣品的磁特性。電子積分器的工作原理如下,當(dāng)線圈的匝數(shù)N和截面積S一致時(shí)變化的磁場B引起磁通量Φ的變化,從而進(jìn)一步在積分器的感應(yīng)線圈中產(chǎn)生感生電動(dòng)勢e1
由于感生電動(dòng)勢過于微弱,所以采用放大器對(duì)其進(jìn)行放大K倍,放大后的信號(hào)采用積分電路(見圖1)對(duì)感生電動(dòng)勢進(jìn)行積分,在0-T1時(shí)間段內(nèi):
將(1)式代入(2)式內(nèi),可以得出積分電路輸出的電壓e2與磁通變化量ΔΦ成正比:
式中ΔΦ是指在0-T1時(shí)間內(nèi)線圈磁通變化量;只要確定RC,就可以通過輸出電壓e2計(jì)算出磁通變化量。[1]
電子積分器的干擾主要來自積分漂移,積分漂移是指積分器在零輸入情況下,積分電容上會(huì)累計(jì)電荷,從而導(dǎo)致輸出從0一直到飽和,之所以產(chǎn)生積分漂移,主要來自運(yùn)算放大器的失調(diào)電壓Vos。
圖1 積分電路圖
1)采用輸入失調(diào)電壓和失調(diào)電流都很小的集成運(yùn)算放大器。ICL7650斬波穩(wěn)零運(yùn)算放大器是INTERSIL公司利用動(dòng)態(tài)校零技術(shù)和CMOS工藝制作的斬波穩(wěn)零式高精度功放,有輸入偏置小,失調(diào)小,高增益,共模抑制能力強(qiáng),響應(yīng)快,漂移低,性能穩(wěn)定和價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)。其中失調(diào)電壓為 INV<5 μV,而偏置電流僅為60 pA,滿足積分器的設(shè)計(jì)要求。[3]
2)積分電容兩端并聯(lián)合適電阻。根據(jù)所測量的磁通量變化類型、特性等,在積分電容兩側(cè)合理并聯(lián)電阻值(見圖1),降低系統(tǒng)靈敏度,增加抗干擾性。如果不加電阻值,整個(gè)電路相對(duì)于直流信號(hào)而言是開路,這樣任何很小失調(diào)電壓,結(jié)果輸出很大,最終便會(huì)導(dǎo)致電容飽和,直至輸出飽和。[4]加入負(fù)反饋電阻進(jìn)行鉗位是理想的抗干擾措施,但是這樣會(huì)導(dǎo)致原有的單純積分電路數(shù)學(xué)模型發(fā)生變化,輸出電壓Vo與變化的磁通之間不再是簡單的線性關(guān)系。忽略掉失調(diào)電壓和偏置電流所引起的誤差,可以得出以下公式:
RF是并聯(lián)在電容兩側(cè)的電阻,解微分方程。得出:
C1是積分常數(shù)。輸出電壓與輸入電壓之間不再簡單積分關(guān)系,也就是與變化的磁通ΔΦ之間不是簡單的線性關(guān)系,傳統(tǒng)積分器對(duì)此采取的辦法是忽略,對(duì)于變化緩慢的磁通,忽略后導(dǎo)致偏差較大。[5]如果要精確測量變化磁通,可以采用軟件補(bǔ)償?shù)霓k法,對(duì)式(6)兩邊積分,積分時(shí)間從0到T1:
K2是積分常數(shù),由于輸入電壓與變化磁通之間存在以下關(guān)系:
將式(9)代入式(8)
進(jìn)一步積分,得出
式中K3是積分常數(shù),ΔΦ可以通過計(jì)算機(jī)對(duì)Vo進(jìn)行積分以及與CVo之和獲得。
DWY-1型鋼鐵材料磁特性檢測裝置是常州信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院研制的新型鋼鐵件材料磁特性檢測裝置,在本裝置中利用電子積分器測量電磁軛中弱磁通量的變化,磁通量變化后在測量線圈中產(chǎn)生感生電動(dòng)勢,感生電動(dòng)勢變化經(jīng)過放大后經(jīng)過積分電路轉(zhuǎn)化成電壓輸出,經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換后進(jìn)入單片機(jī)系統(tǒng);在本系統(tǒng)中,首先采用ICL7650斬波穩(wěn)零運(yùn)算放大器作為前級(jí)放大,有效降低了輸入失調(diào)電壓和偏置電流。[6]經(jīng)過實(shí)驗(yàn)分析和計(jì)算,在積分電容兩端并聯(lián)1兆歐電阻,提高其抗干擾性。對(duì)于并聯(lián)電阻后引起的誤差,采用軟件補(bǔ)償?shù)霓k法消除。積分算法采用常見的梯形算法,算法核心是將積分函數(shù)橫坐標(biāo)區(qū)分成若干相等的步長,取步長兩端坐標(biāo)函數(shù)值,以直線代替函數(shù)曲線,將這些梯形面積累加,代替函數(shù)積分值,詳細(xì)圖形見圖2。定時(shí)器每次中斷后,由中斷程序完成積分計(jì)算工作,Jifen代表積分值,單片機(jī)主程序和中斷程序見圖3、圖4。在程序中,步長設(shè)置為定時(shí)器定時(shí)時(shí)間值。
圖2 積分算法圖
圖3 單片機(jī)積分計(jì)算主程序流程圖
圖4 單片機(jī)定時(shí)器中斷服務(wù)程序
采取以上措施后,采用伏秒標(biāo)定法對(duì)積分器進(jìn)行標(biāo)定,[1]所謂伏秒標(biāo)定,就是在積分器輸入端輸入一組標(biāo)準(zhǔn)電壓模擬磁通輸入,然后對(duì)比積分器輸出電壓與標(biāo)準(zhǔn)電壓值,得出積分器精度。從量綱上講,由于1 VS(伏秒)=108Mx(麥可思偉)= 1 Wb(韋伯),所以采用“伏秒”直接轉(zhuǎn)換成磁通量,實(shí)現(xiàn)對(duì)磁通量的精密測量。在標(biāo)定環(huán)境25度,積分器加電12分鐘后,標(biāo)定數(shù)據(jù)如表1。
表1 新舊標(biāo)定數(shù)據(jù)對(duì)比表
根據(jù)多次標(biāo)定,結(jié)果表明,測量系統(tǒng)精度大于1%,滿足國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3567-1983規(guī)定的磁通測量誤差小于2%的要求,相對(duì)改進(jìn)前提高7倍以上。
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Analysis of Measures Used to Restrain Integration Drift in Electronic Integrator
YAN Peng JIA Jian-ming WANG Xun
(Changzhou College of Information Technology,Changzhou 213164,China)
Electronic integrator is used to measure micro-power magnetic flux,This article analyzes the reasons of integration drift in electronic integrator,provides some solutions and gives soft compensation.The actual measure data proves that the measurement accuracy of the electronic integrator has been enhanced to reach to the national standard of magnetic flux measurement accuracy.
electronic integrator;integration drift;magnetic flux;compensation;operational amplifier
TM 936
A
1672-2434(2011)06-0025-03
2011-05-13
顏 鵬(1979-),男,工程師、講師,從事研究方向:電磁無損檢測技術(shù)