黃麗蓮,朱耿雷,項建弘,張春杰,李文亞
(哈爾濱工程大學信息與通信工程學院,哈爾濱 150001)
憶阻器被認為是打破集成電路限制的潛在器件之一[1],而憶阻器的生產(chǎn)成本很高,目前尚未商用,實驗室制備更是難上加難,所以設(shè)計SPICE 憶阻器模型以供實驗室實驗研究顯得尤為重要。加法器是組成計算機的基本元件[2],基于憶阻器的加法器的設(shè)計具有實際的應用意義。1971 年,Chua[3]根據(jù)電路對稱理論預測并證明了憶阻器的存在。2008 年,HP 實驗室設(shè)計了一種由Pt/Ti/TiO2/Pt 組成的憶阻器物理模型并制備出了第1 種物理憶阻器器件[4]。憶阻器可應用于邏輯電路[5-7]、存儲器[8]、神經(jīng)網(wǎng)絡[9-10]、混沌電路[11-12]等多個領(lǐng)域。現(xiàn)有的SPICE 憶阻器模型中往往只能匹配一種物理憶阻器器件,而且數(shù)學模型較復雜[13]。設(shè)計一個簡單通用的SPICE 憶阻器模型對憶阻器基礎(chǔ)實驗和憶阻邏輯電路實驗研究具有重大意義。
本文首先設(shè)計了一種參數(shù)可調(diào)且能夠匹配兩種憶阻器物理器件的憶阻器SPICE 模型,并對此憶阻器模型進行實驗驗證與比較討論,同時給出了SPICE 等效模型與SPICE代碼,方便在后續(xù)的實驗中使用。然后介紹了基于電壓閾值憶阻器SPICE 模型的多功能憶阻邏輯模塊和MRL(憶阻器比例邏輯門)并將其應用在加法器中,設(shè)計了一種基于電壓閾值憶阻器SPICE模型的加法器電路設(shè)計方法。最后對此加法器進行實驗驗證與性能分析。
本文設(shè)計模型的I-U關(guān)系由下式?jīng)Q定,狀態(tài)變量x表示歸一化的導電區(qū)寬帶,其范圍為[0,1],即
式中:ΔR=Roff-Ron,Roff和Ron分別是憶阻器的最大和最小憶阻值,對應的狀態(tài)變量分別為x=0,x=1。
狀態(tài)變量x的導數(shù)可以表示為兩個獨立函數(shù)的乘積,即
式中,η用來確定狀態(tài)變量運動的方向。為了實現(xiàn)電壓閾值行為,給出方程:
式中:uon和uoff分別表示憶阻器的正負閾值電壓;kon、koff分別是對應的線性可調(diào)參數(shù)。考慮到實際的憶阻器器件存在不同的正負閾值以及不同的遷移速率,因此引入兩種不同的閾值與線性參數(shù)。從式(3)可以看出,只有當輸入電壓滿足閾值條件時,憶阻器的狀態(tài)才會發(fā)生改變,即可描述為帶有可編程電壓閾值的憶阻器。
為了描述憶阻器的非線性漂移行為,設(shè)計了一個漂移速度自適應方程
式中:a1,a2,b1,b2為可調(diào)參數(shù),根據(jù)現(xiàn)有的憶阻器表征數(shù)據(jù),狀態(tài)變量在兩個方向上的運動速率是不同的,因此引入η來定義狀態(tài)變量運動的方向,這里η =1。假設(shè)a1=a2=a,b1=b2=b,那么f(x,u(t))的基本示意圖如圖1 所示。圖中兩組漂移速度曲線分別用來描述Ron→Roff和Roff→Ron的變化過程,它們的函數(shù)取值范圍均為ab~0。此外,通過調(diào)整參數(shù)得到不同的參數(shù)組合(a,b),可以得到不同的非線性漂移速度曲線。
圖1 漂移速率f(x,u(t))的控制原理圖
參數(shù)a和b對漂移速度曲線的調(diào)控起到了不同的作用。其中參數(shù)a是線性參數(shù),可以對曲線進行向上或向下尺度縮放,進行小范圍的校正;參數(shù)b是指數(shù)型參數(shù),可以通過調(diào)整取值大小來決定曲線的形狀。
上述數(shù)學模型對應的SPICE 等效模型如圖2 所示。其中圖2(a)描述了器件的I-U關(guān)系;圖2(b)用于計算器件的狀態(tài)變量的值。圖3 給出了LTspice 中使用本文設(shè)計的SPICE 憶阻模型進行仿真實驗的代碼。
圖2 SPICE等效電路模型
圖3 LTspice中使用的代碼
憶阻器建模是為了描述物理憶阻器設(shè)備與擬合匹配多種物理憶阻器件,因此實驗驗證與分析是檢驗一個電壓閾值憶阻器模型的關(guān)鍵步驟。本節(jié)給出了通過調(diào)整模型參數(shù)擬合匹配不同的物理憶阻器件I-U行為的仿真結(jié)果,相應的擬合參數(shù)如表1 所示。
表1 憶阻器實驗擬合參數(shù)設(shè)置
基于TiO2[2]和RRAM[14]的憶阻器器件數(shù)據(jù),對實驗結(jié)果進行分析。I-U特性曲線中的輸入是連續(xù)變化的曲線,同時測試不同電壓下的電流值得到對應的I-U特性曲線。第1組憶阻數(shù)據(jù)擬合實驗結(jié)果如圖4所示,圖4(b)中的紅點為目標數(shù)據(jù)點。輸入是正弦電壓,得到對應的I-U特性曲線,與TiO2的憶阻器器件數(shù)據(jù)相比平均誤差為3.58%。從圖4 中可以看出,本文設(shè)計模型可以模擬HP憶阻器模型的I-U行為,并且平均誤差率較低。圖5 為對阻變存儲器(Resistance Random Access Memory,RRAM)的數(shù)據(jù)擬合實驗結(jié)果,圖5(b)中的紅點為目標數(shù)據(jù)點。輸入為正弦電壓,實驗結(jié)果以3.26%的平均誤差再現(xiàn)了RRAM的I-U曲線特性,并體現(xiàn)出了RRAM 的開關(guān)特效。本文設(shè)計的電壓閾值憶阻器模型不僅能夠匹配兩種物理憶阻器設(shè)備,還能應用在邏輯電路中。
圖4 輸入電壓為sin 2πft時擬合TiO2 憶阻器數(shù)據(jù)的實驗結(jié)果
圖5 輸入電壓為sin 2πft時擬合RRAM憶阻器數(shù)據(jù)的實驗結(jié)果
將本文設(shè)計的憶阻器模型與現(xiàn)有的部分憶阻器模型進行比較,結(jié)果如表2 所示。由表2 分析可知,本文設(shè)計的電壓閾值憶阻器模型具有電壓閾值特性和明確的I-U關(guān)系,可應用于邏輯電路與神經(jīng)網(wǎng)絡突觸實驗。復雜度較低容易理解,有助于對憶阻器的理解與研究??傮w來說是一個功能完整的憶阻器。
表2 本文設(shè)計的模型與現(xiàn)有部分憶阻模型的比較
Kowsalya等[17]設(shè)計了一種低功率的并行前綴加法器,該技術(shù)提高了二進制加法器的運算速度,降低了功率和晶體管的數(shù)量。在兩個操作模塊的每一個點位i上,兩個輸入信號Ai和Bi被加在相應的進位信號上產(chǎn)生和輸出Sumi:
進位產(chǎn)生函數(shù)和進位傳播函數(shù)表達式:
加法器模塊進位信號的計算方法:
Kvatinsky等[18]設(shè)計的MRL邏輯門能夠形成完備的布爾邏輯族,在LTspice 平臺中搭建的MRL 邏輯門如圖6 所示。圖中:憶阻器符號中Up和Un分別代表正負端口;U1和U2為輸入;UCC代表邏輯“1”;GND代表邏輯“0”?!盎颉焙汀芭c”邏輯門對相同的輸入做出類似的反應(2 個輸入都是邏輯“1”或邏輯“0”)。在邏輯與門中,負極連接VCC,電流從正極流出,憶阻器狀態(tài)的動態(tài)變化如圖6(d)所示。假設(shè)Roff≥Ron,則邏輯與門的輸出由下式分壓決定:
在邏輯或門中,正極連接UCC,電流從正極流入,憶阻器狀態(tài)的動態(tài)變化如圖6(e)所示。同樣,邏輯或門的輸出也由分壓決定,
圖6 憶阻器符號及MRL 門原理圖
構(gòu)建MRL邏輯門的關(guān)鍵是憶阻器具有閾值特性與憶阻值的開關(guān)特性,前文設(shè)計的電壓閾值憶阻器模型具備這些特性可用于構(gòu)建MRL邏輯門。
Yang[19]設(shè)計了一種高性能憶阻憶阻多功能邏輯模塊(MMLA)。該模塊可以在一個周期內(nèi)實現(xiàn)與、或、異或的邏輯功能。利用電壓閾值憶阻器SPICE 模型在LTspice平臺中構(gòu)建多功能邏輯模塊,如圖7 所示,其中圖7(b)為實驗結(jié)果。
圖7 憶阻多功能模塊與實驗結(jié)果
根據(jù)并行前綴加法器算法,在LTspice 平臺利用上述構(gòu)建的MRL邏輯門和多功能邏輯模塊多功能邏輯模塊搭建了一個4 bits加法器如圖8 所示。多功能邏輯模塊可以在單個時鐘周期內(nèi)產(chǎn)生Gi和Pi信號,進而少延遲時間,提高邏輯運算效率。
圖8 基于電壓閾值SPICE憶阻器模型的4 bits加法器電路圖
在LTspice平臺上對基于憶阻器的加法器進行實驗驗證,電路中的參數(shù)設(shè)為表1 中擬合RRAM采用的參數(shù)。實驗結(jié)果如圖9 所示,其中c0是最低位的進位;c4是輸出的最高位的進位;U(s0,s1,s2,s3)是輸出的電壓波形。為了簡化仿真過程,將b3~b0和a3~a0設(shè)置為相同的電壓波形。仿真結(jié)果表明,該并行前綴加法器的進位輸出與和輸出的波形均與預期一致。
圖9 基于電壓閾值SPICE憶阻器模型的4 bits加法器電路實驗結(jié)果
基于IMPLY(實質(zhì)蘊含邏輯)的邏輯電路[7]以憶阻值作為狀態(tài)變量來表示輸入和輸出,其中高憶阻值和低憶阻值分別表示狀態(tài)“0”和“1”,操作的最終結(jié)果被存儲在憶阻器中,該電路需要一個額外的讀寫電路和初始化電路,以確保邏輯操作的正確性。額外的初始化和讀寫電路通常由憶阻器和CMOS等電路元件組成,這將使得邏輯電路占用更大的芯片面積并且消耗更多的功率。
本文設(shè)計的加法器電路以電壓電平作為邏輯變量,它與傳統(tǒng)CMOS技術(shù)兼容,不需要額外的讀寫初始化電路。此外,采用了憶阻多功能邏輯模塊,大大減少了使用的器件數(shù)量,提高了器件的利用率,簡化了電路設(shè)計的復雜性,降低了電路的功耗。設(shè)計的電壓加法器電路與幾種加法器電路的對比如表3 所示。
表3 本文設(shè)計的加法器與其他方法構(gòu)成加法器電路的比較
本文設(shè)計的加法器與傳統(tǒng)CMOS加法器性能的對較如表4 所示。表中功率指的是靜態(tài)和動態(tài)功率的平均值(μW)。從表4 可以看出,本文設(shè)計的加法器在功耗和延遲性能方面都優(yōu)于傳統(tǒng)CMOS工藝,功耗降低了87.1%。
表4 本文設(shè)計的加法器電路與傳統(tǒng)CMOS加法器性能比較
設(shè)計了一種電壓的閾值憶阻器SPICE 模型并應用在邏輯電路中,該憶阻器模型功能完整,能夠運用在神經(jīng)網(wǎng)絡與存儲器中。介紹了MRL 邏輯門和多功能邏輯模塊,然后設(shè)計一種基于電壓閾值憶阻器模型的加法器,并對其進行實驗驗證與性能分析。實驗結(jié)果與性能分析表明,設(shè)計的電壓加法器電路能夠?qū)崿F(xiàn)正確的邏輯功能,且較傳統(tǒng)的基于CMOS 的加法器能夠減少87.1%的功率。