唐 若, 鄧 謹, 梁 輝
(上海海關(guān)機電產(chǎn)品檢測技術(shù)中心, 上海 200135)
根據(jù)ISO/IEC 17025:2017 《檢測和校準實驗室能力的通用要求》和CNAS-CL01:2018 《檢測和校準實驗室能力認可準則》的要求,實驗室應(yīng)有專人負責設(shè)備的管理,包括校準、維護和期間核查等,建立設(shè)備校準、核查和維護的機制。這兩個標準還規(guī)定實驗室應(yīng)根據(jù)設(shè)備的穩(wěn)定性和使用情況確定期間核查的方法和周期。實驗室一般都會對儀器設(shè)備進行定期檢定或校準,以保證檢測數(shù)據(jù)的有效性和量值的溯源性,同時還會對其定期加以維護,以確保設(shè)備的可靠性和有效性。對于一些穩(wěn)定性差、使用頻率高、使用環(huán)境惡劣的設(shè)備,更應(yīng)重視對設(shè)備進行期間核查。
期間核查的目的是保證儀器設(shè)備在兩個校準周期間的可信度,避免由于其狀態(tài)異常而給檢測結(jié)果的準確性帶來風(fēng)險。
期間核查的要求有:規(guī)定核查對象、核查內(nèi)容、核查方法、核查周期等。
實驗室應(yīng)定期對設(shè)備進行評估和分析,制定期間核查計劃和期間核查的范圍。主要考慮儀器設(shè)備的校準周期及上次校準的結(jié)果、儀器設(shè)備的使用狀況和頻次、儀器設(shè)備的使用情況和使用環(huán)境等因素,對一些數(shù)據(jù)易變或數(shù)據(jù)存疑的儀器,以及臨近使用期限的儀器制定期間核查計劃[1]。每一年度可根據(jù)設(shè)備的校準周期、新增減設(shè)備、設(shè)備狀態(tài)等制定和修改核查計劃。根據(jù)每類設(shè)備的特性制定期間核查作業(yè)指導(dǎo)書。
溫度試驗設(shè)備是實驗室使用頻率最高的設(shè)備之一,檢測周期、檢測環(huán)境、設(shè)備異常等因素都會影響其檢測結(jié)果。
檢查設(shè)備為GPS-4型恒溫試驗箱,其生產(chǎn)日期為2015年,容積為784 L,溫度為-60~150 ℃,循環(huán)系統(tǒng)為離心風(fēng)機單循環(huán),溫度偏差為±2 ℃,溫度均勻度為±2 ℃。在不大于100 ℃時,溫度波動度為±0.2 ℃;在100~150 ℃時,溫度波動度為±0.3 ℃。
期間核查的方法有多種,可根據(jù)實驗室及其檢定、校準、檢測樣品的特點,從測量設(shè)備的特性以及經(jīng)濟性、實用性、可靠性、可行性等方面綜合考慮。通過核查溫度試驗設(shè)備的溫度偏差、波動度以及均勻度來檢驗設(shè)備的可靠性和有效性。
根據(jù)GPS-4型恒溫試驗箱的實際情況制定的核查程序為:① 部署測量點;② 選取溫度;③ 選定核查所用設(shè)備;④ 核查結(jié)果。
將設(shè)備空間分為上、中、下3個水平面,測量點分別位于這3個層面上,位置如圖1所示;核查測量點分布在A,B,C,D,O,K,L,M,N位置,共9個點;當設(shè)備容積大于2 m3時,溫度測量點為如圖1所示的15個點;當設(shè)備容積小于0.05 m3時,可適當減少測量點。
圖1 測量點位置示意
測量點O位于中層的幾何中心;測量點A,B,C,D,K,L,M,N與設(shè)備內(nèi)壁距離為100 mm。
根據(jù)試驗箱的大小,一般測量點位置為距離設(shè)備內(nèi)壁各自邊長的1/10,但最大距離不大于500 mm,最小距離不小于50 mm。
檢驗溫度原則上應(yīng)覆蓋整個設(shè)備運行及其經(jīng)常使用的溫度。設(shè)備的溫度為-60~150 ℃,實驗室常用的檢驗溫度為40,80 ℃,故選擇-60,0,40,80,150 ℃等5個溫度進行期間核查。
選用量值穩(wěn)定和具備更高精度等級的同類測量設(shè)備,其測量不確定度不超過被查設(shè)備不確定度的1/3。選用GL-840型溫度循環(huán)檢測儀和HL-NT3-D型溫濕度記錄儀對溫度試驗設(shè)備進行期間核查,配有T型熱電偶,最大允許溫度誤差為±0.2 ℃,不確定度為0.3。
采用傳遞測量核查法,利用更高精度等級的同類測量設(shè)備對溫度試驗設(shè)備內(nèi)不同測量點的溫度進行監(jiān)控。將熱電偶按上述測量點位置和數(shù)量進行布置,用核查設(shè)備進行監(jiān)控。設(shè)置每個檢驗溫度,設(shè)備在每個檢驗溫度穩(wěn)定30 min后(穩(wěn)定時長最長不超過2 h),開始記錄各測量點的溫度,在30 min內(nèi)每間隔1 min記錄一次,共記錄30次。
根據(jù)溫度試驗設(shè)備的使用率、可靠性及使用情況,在兩次校準之間至少安排一次期間核查。如果核查設(shè)備在運行時出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常、需要維修、老化嚴重等情況,需要增加核查次數(shù)。由于檢驗的溫度試驗設(shè)備近年來的運行狀況和精準度較好,無異常事件發(fā)生,故該年度僅安排一次期間核查。
按測量點位置和數(shù)量將GPS-4型恒溫試驗箱的溫度核查數(shù)據(jù)分為上、中、下3層,共9個測試點的數(shù)據(jù),每個測試點按30 min內(nèi)每間隔1 min記錄一次數(shù)據(jù),再按-60,0,40,80,150 ℃等5個不同的溫度重復(fù)測試。對共計1 350個測量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計和計算,溫度核查數(shù)據(jù)如表1所示(Tmax為溫度上偏差,Tmin為溫度下偏差)。
表1 溫度試驗設(shè)備期間核查數(shù)據(jù)及其偏差和波動度 ℃
分別統(tǒng)計5組核查數(shù)據(jù),并根據(jù)GB/T 5170.2—2017 《電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備》中溫度偏差、波動度及均勻度的計算方式進行計算。
溫度偏差分為上偏差Tmax和下偏差Tmin,30 min內(nèi)測的最高溫度點(最低溫度)與標稱值Ts的誤差,即ΔTmax=Tmax-Ts,ΔTmin=Tmin-Ts。
該次核查的最大偏差出現(xiàn)在150 ℃的測試過程中,分別是0.6 ℃和-0.8 ℃(見表1),均未超出設(shè)備的溫度允許偏差范圍±2 ℃的限值。同時,該次核查的最大偏差也未超過IECEE OD-5014 《CTL儀器精度限值》。儀器精度限值與核查結(jié)果的溫度偏差對比如表2所示。
表2 儀器精度限值與核查結(jié)果的溫度偏差對比 ℃
溫度波動度ΔTj等于30次測量的實測最高溫度Tjmax減去實測最低溫度Tjmin,即ΔTj=Tjmax-Tjmin。核查溫度波動度未超過設(shè)備允許的范圍,其對照表如表3所示。
表3 核查溫度波動度對照表 ℃
溫度均勻度ΔTu是在任一時刻,工作空間中最高溫度Timax和最低溫度Timin的最大差值。核查溫度均勻度最大值出現(xiàn)在150 ℃,計算得到核查的均勻度為1.1 ℃,未超過設(shè)備的溫度均勻度±2 ℃的限值。
根據(jù)核查結(jié)果,溫度偏差、波動度和均勻度均未超出標準以及設(shè)備自身的要求。分析該設(shè)備之前的校準和核查結(jié)果,認為該設(shè)備是可靠的,出具的數(shù)據(jù)是有效的。近年來該設(shè)備運行正常,無異常數(shù)據(jù),故維持設(shè)備的核查計劃和作業(yè)指導(dǎo)書。如期間核查中發(fā)現(xiàn)設(shè)備運行有問題,則應(yīng)立即停用,查明原因并維修后重新校準。分析并追溯該設(shè)備之前的檢測結(jié)果,如影響檢測結(jié)果的有效性則需要重新檢測,并修改已出具的檢測報告。
溫度波動度雖未超出相關(guān)允許值,但已是設(shè)備允許的最大值,在該設(shè)備的使用和校準過程中需要密切關(guān)注此溫度波動度。最好對該設(shè)備進行一次維修保養(yǎng)并找出原因。若無法查找原因,試驗前需考慮檢測中規(guī)定的允許誤差范圍,對該設(shè)備做出限制性使用或其他處理意見。
由核查的數(shù)據(jù)可知,出風(fēng)口和遠離箱內(nèi)測溫點的溫度波動度較大,溫度均勻度較差。根據(jù)此特征,試驗前需考慮試樣的體積和擺放位置,試樣體積太大會影響箱內(nèi)的熱對流。試樣擺放位置應(yīng)盡量避免箱內(nèi)溫度均勻性差的位置。
以上是在設(shè)備無負載、無熱源的情況下進行核查的,在增加負載后,箱內(nèi)的溫度波動度和溫度均勻度可能存在變化,故在實際檢測過程中需考慮試樣負載對溫度的影響。
期間核查可以保持設(shè)備在兩個校準周期之間的可信度,確保設(shè)備的正常運行和有效性,保證實驗室檢測數(shù)據(jù)準確可靠,在實驗室設(shè)備管理中起著不可替代的作用。