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頻域介電譜在500kV變壓器套管故障診斷中的應(yīng)用

2022-04-02 15:01:32馬欣鄭偉欽李利
廣東科技 2022年3期
關(guān)鍵詞:絕緣紙頻域套管

文/馬欣 鄭偉欽 李利

0 引言

變壓器套管是變壓器的重要組成部分,其作用是將變壓器高壓側(cè)和低壓側(cè)繞組的引線從變壓器的油箱引出,并且起到固定引線、高壓對外殼及地絕緣的作用。絕緣套管的種類包括純瓷套管、沖油套管和電容型套管等,其中電容型套管廣泛應(yīng)用于電壓等級高的設(shè)備。油紙電容式變壓器套管由油枕、瓷套、電容芯子、連接法蘭和均壓球等組成。電容芯子是套管的主絕緣,它是在套管的中心導(dǎo)電桿包繞鋁箔作為電極、油浸紙作為極間介質(zhì)組成的串聯(lián)同軸圓柱電容器,能夠保證套管徑向和軸向電場均勻分布。目前,油紙電容式變壓器套管的預(yù)防性試驗包括介質(zhì)損耗、絕緣電阻、局部放電、紅外測溫等項目。頻域介電譜(freq uency domain spectroscopy,F(xiàn)DS)作為一種新型的絕緣診斷技術(shù),將傳統(tǒng)的工頻復(fù)電容和介質(zhì)損耗測量擴展到低頻、中頻和高頻頻段(如 0.1mHz~1kHz)進行絕緣評估和分析,能夠提供更加豐富的套管絕緣評估檢測方法。本文就某500kV變壓器套管FDS專項試驗中頻域介電特性曲線低頻段異常作詳細的原因分析。

1 缺陷發(fā)現(xiàn)過程

近年來,南方電網(wǎng)公司連續(xù)發(fā)現(xiàn)幾起500kV主變高壓側(cè)套管介損緩慢增長、油色譜異常的缺陷。該套管為瑞典ABB公司生產(chǎn)的GOE型油紙電容式套管(型號為GOE 1675-1300-2500-0.6-B;編號為1ZSCT14001657/03),南方電網(wǎng)公司因此要求各地市供電局對該型號的套管開展檢測和整改。2016年11月2日,試驗人員對某500kV變電站2#主變壓器(以下簡稱“主變”)高壓側(cè)A相套管進行FDS專項試驗時發(fā)現(xiàn),頻域介電特性曲線在低頻段呈現(xiàn)向上翹的形態(tài),曲線在頻率為50Hz的介損值為0.553%,超出南方電網(wǎng)公司電力設(shè)備預(yù)防性試驗規(guī)程的注意值(0.4%)。測試曲線如圖1所示。

圖1 A相套管頻域介電譜測試曲線

根據(jù)套管生產(chǎn)廠家提供的該型號套管的FDS試驗標準圖譜(如圖2)所示,其中曲線1和曲線2表示套管存在不溶于油的碳氫聚合物(X-蠟),曲線3和曲線4表示套管不存在X-蠟,可以發(fā)現(xiàn)圖1中的頻域介電譜測試曲線隨頻域變化的介損超出標準圖譜中的曲線1和曲線2,可以初步判斷該套管存在X-蠟。套管絕緣油在高壓或高溫下形成X-蠟,這是局部放電的產(chǎn)物,且會導(dǎo)致套管介損值偏大。

圖2 套管FDS試驗標準圖譜

試驗人員對A相套管進行介質(zhì)損耗復(fù)試和油色譜分析,并與歷年預(yù)防性試驗數(shù)據(jù)進行對比,結(jié)果如表1和表2所示。

表1 A相套管介損和電容量測試結(jié)果

表2 套管油色譜分析結(jié)果

由表1可以看出,A相套管自交接試驗以來,主絕緣介損值一直持續(xù)增長,由交接時的0.380%,上升至0.512%(2016年02月24日),經(jīng)過約9個月時間,介損增長至0.528%(2016年11月2日),并且最近兩次試驗套管介損均大于0.500%。

由表2可以看出,本次試驗套管油中H2、CH4、C2H2含 量 均 已 超 出Q/CSG 114002—2017《南網(wǎng)電力設(shè)備預(yù)防性試驗規(guī)程》(以下簡稱《預(yù)試規(guī)程》)的注意值(H2:500μL/L;CH4:100μL/L;C2H2:1μL/L),而最近三次試驗中H2、CH4、C2H2含量均為超過預(yù)試規(guī)程的注意值。C2H6含量超過IEC 61464中C2H6的規(guī)定值(70μL/L),而最近三次試驗中C2H6的含量均為零。采用三比值法的編碼規(guī)則和典型故障類型判斷方法,可以初步判斷套管內(nèi)部存在局部放電,并釋放大量氣體。

2 現(xiàn)場試驗及分析

對套管解體前開展了油色譜分析、介損及電容量、局部放電及頻域介電譜等試驗。在套管進行電氣試驗前后,對套管取油樣分析,以判斷電氣試驗對油中溶解氣體含量的影響。

2.1 介損測試

(1)末屏介損測試

套管末屏介損測試采用1kV的試驗電壓,測量的電容量為855.86pF,介損值為0.31%,滿足預(yù)試規(guī)程的要求(tanδ不大于2%),套管末屏沒有進水受潮的跡象。

(2)高壓介損測試

跟蹤分析套管高壓介損與電壓的關(guān)系,為了不使電氣試驗對套管絕緣產(chǎn)生新的破壞,便于套管解體分析,試驗電壓由10kV升到333kV,測得的介損值介于0.59%到0.60%之間,介損值的增量沒有超過預(yù)試規(guī)程的要求(±0.3%)。升壓過程、降壓過程測試結(jié)果一致,測試曲線如圖3所示。

圖3 A相套管介損與電壓的關(guān)系

2.2 局部放電量測試

局部放電測試結(jié)果如表3所示。測試中,電壓升至230kV出現(xiàn)30pC左右穩(wěn)定的放電,當電壓繼續(xù)升至318kV時,出現(xiàn)約80pC穩(wěn)定放電,電壓下降至170kV時局部放電熄滅。由于該套管局放量較大,繼續(xù)升壓會導(dǎo)致原始缺陷發(fā)展,不利于解體分析,故只將局放測試電壓最高升至設(shè)備運行電壓。

表3 A相套管局放測試結(jié)果

2.3 油介損及局部放電試驗前后套管油樣分析結(jié)果

為準確確定該套管出現(xiàn)關(guān)鍵氣體的原因,對套管油樣進行含水量、擊穿電壓、介質(zhì)損耗試驗,套管油在溫度為90℃時的介損值為0.6648%,擊穿電壓為36.80kV。局部放電試驗前后套管油樣分析結(jié)果如表4所示。由表4可以發(fā)現(xiàn),電氣試驗前后,油中溶解氣體均有不同程度的增加,可明顯看出電壓施加后對套管絕緣產(chǎn)生的影響。耐壓試驗結(jié)束后,對套管介損耗進行復(fù)測,測試結(jié)果沒有明顯變化。

表4 A相套管局放測試前后套管油色譜分析結(jié)果

3 套管解體檢查

為確定缺陷原因,現(xiàn)場對套管進行解體分析。套管解體檢查的基本思路如下:套管排油后拆卸金具、瓷套、油位計、末屏引出裝置等附件并逐個查看,檢查是否存在放電痕跡、異物附著、形變、物理性損傷、進水痕跡等,最后對套管電容芯逐層解剖檢查。

3.1 套管的拆卸與附件的檢查

套管下瓷套檢查沒有發(fā)現(xiàn)異常情況,三相套管的其他附件如下瓷套端部接觸環(huán)、下瓷套端部延伸環(huán)、接地法蘭、套管頂部彈簧壓緊裝置、套管末屏接地部件等,均未發(fā)現(xiàn)異?,F(xiàn)象,套管密封情況良好,沒有進水受潮的痕跡。

3.2 套管電容芯解體檢查

該GOE型套管的電容芯包含23層主屏,每兩層主屏間包含4層部分屏,屏間為多層油浸絕緣紙,油紙絕緣結(jié)構(gòu)的電容芯布置于導(dǎo)電桿和瓷套之間,如圖4所示。

圖4 A相套管電容芯結(jié)構(gòu)

套管拆卸完成后將電容芯安置在托架上進行逐層解剖,并在套管上標記末屏引出線焊接點的方向。解體過程中發(fā)現(xiàn)末屏引出焊接導(dǎo)致在絕緣紙上形成過熱痕跡,屬于正常情況。在套管電容芯的逐層解剖過程中,對每層主屏和部分屏進行檢查,在解體到靠近導(dǎo)電桿最后5屏絕緣紙上發(fā)現(xiàn)金黃色粘稠蠟狀物,粘稠蠟狀物呈塊狀分布,如圖5所示。對套管電容芯外、中、內(nèi)部取紙樣,并依托第三方進行試驗分析,最終判斷此金黃色粘稠蠟狀物為X-蠟。X-蠟極有可能是套管內(nèi)部局部放電產(chǎn)生的,這個結(jié)論與套管在318kV下局部放電量為80pC相吻合。查閱該套管電容芯制作過程的相關(guān)記錄,電容芯在產(chǎn)生過程中采用新型繞制機繞制,電容芯存在局部凸起部位,絕緣紙層局部相互貼合不均勻,導(dǎo)致油隙中存在小氣泡而引起局部放電。

圖5 附著在絕緣紙表面的X蠟

4 缺陷原因分析

該GOE型套管工藝處理的重點在于電容芯完成卷繞后的整體烘干處理。套管解剖發(fā)現(xiàn)時的現(xiàn)象,放電點普遍集中主絕緣的中間及偏高壓端部位,故障原因是:電容芯厚度大,整體烘干、抽真空時間短,未能有效將中部的電容紙干燥,造成電容紙殘留水份,絕緣紙間殘留氣泡,水份造成主電容屏的絕緣紙收縮不均勻出現(xiàn)皺紋,氣泡在出廠試驗或運行中產(chǎn)生局部放電;隨著時間的增長,放電點會逐步增加。套管運行時長期在高電壓的作用下,在內(nèi)部產(chǎn)生局部放電,并伴有氫氣、甲烷、乙烷、乙炔等特征氣體的生成。這些氣體溶解在油中發(fā)展形成氣泡并逐漸積累,使得內(nèi)部局部放電有明顯惡化趨勢,同時造成油色譜結(jié)果超標。隨著局部放電能力的增強和溫度的升高,致使絕緣油老化形成X-蠟附著在電容芯上,其逐漸積累會造成套管介質(zhì)損耗偏大。

5 結(jié)論

(1)該套管內(nèi)部存在局部放電生產(chǎn)的附著在電容芯上的X-蠟是導(dǎo)致套管介質(zhì)損耗偏大和油色譜結(jié)果超標的直接原因。

(2)該套管生產(chǎn)過程中工藝控制不良是造成此次缺陷的根本原因。套管電容芯完成卷繞后的整體烘干處理不充分,繞制完成冷卻后引起電容屏伸縮不均勻出現(xiàn)皺紋,形成的氣隙助長局部放電的發(fā)生。

(3)本次套管缺陷是通過頻域介電譜(FDS)專項試驗發(fā)現(xiàn)的,并結(jié)合電氣、化學等不同試驗結(jié)果進行綜合判斷,對準確分析故障類型及故障原因有著重要的意義。

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