大連交通大學電氣信息工程學院 高璽皓 宋 智 金思辰 王佳睿 關鈞洋 劉 野
針對傳統(tǒng)阻抗測試儀體積較大、價格昂貴等問題,提出了基于FFT算法的便攜式阻抗測試儀。該測試儀采用STM32單片機及FPGA作為處理器,雙路高速A/D采樣芯片采集電壓信號,通過FFT算法對采集到的信號進行處理得到阻抗相位,同時將電壓信號分解為虛部和實部發(fā)送至單片機,對電壓實部和虛部信號進行矢量計算得到阻抗模值。經過實驗研究,該測試儀性能穩(wěn)定,測量精度高。
本文提出了基于FFT算法實現(xiàn)便攜式阻抗測量儀,將矢量伏安法作為系統(tǒng)阻抗測量方法,并將其與FFT算法相結合,彌補了矢量伏安法不易測量相位的缺點,能夠在較寬的頻率范圍內使被測信號幅值、頻率對測量儀性能影響較小,具有較高的測量精度。
阻抗測試儀系統(tǒng)框圖如圖1所示,信號合成單元產生正弦電流信號,信號通過測量接口中的待測阻抗Zx和參考電阻Rx,信號檢測單元對兩者的電壓進行采樣。FPGA對采樣信號進行FFT運算,得到兩段電壓的實部和虛部,并提取基波參數(shù),實現(xiàn)相位測量。將FPGA處理得到的電壓實部和虛部數(shù)據(jù)傳送到單片機進行矢量伏安計算,最終將被測阻抗幅值及相位顯示在液晶上。
圖1 測量系統(tǒng)工作原理圖
測試儀硬件可劃分為系統(tǒng)控制模塊、FPGA信號處理模塊、采樣模塊、差分模塊、信號發(fā)生模塊等功能模塊構成,硬件框圖如圖2所示。
圖2 硬件框圖
選用STM32單片機作為控制芯片,對被測元件的阻抗值進行分析計算,根據(jù)測量值與初始設定的參數(shù)進行比較,將比較結果反饋到測量模塊中選擇合適R0達到最優(yōu)測量狀態(tài)。
FFT核轉換數(shù)據(jù)長度選擇512點,數(shù)據(jù)精度8bit,引擎結構選擇單輸出結構,引擎數(shù)為1,I/O數(shù)據(jù)流結構選擇突發(fā)結構,采用兩個雙口RAM核,深度均為512,寬度均為8bit,分別存放FFT核的實部和虛部數(shù)據(jù)。該模塊實現(xiàn)了信號數(shù)據(jù)的快速傅里葉變換,F(xiàn)FT算法流程圖如圖3所示。
圖3 FFT流程圖
系統(tǒng)采用高速雙通道A/D轉換器AD9226作為采樣芯片,采樣時序通過FPGA產生。前級采用單端轉差分芯片AD8138,其差分輸出對平衡后級雙通道ADC的差分輸入起到重要作用。
軟件流程圖如圖4所示,為防止單片機復位,單片機首先要關閉看門狗,然后進行時鐘初始化以及各個子模塊初始化。測量階段中,首先執(zhí)行鍵盤掃描子程序,設置信號發(fā)生器輸出頻率,通過FPGA驅動A/D芯片對信號采集,對離散序列進行FFT運算,根據(jù)測量結果調整R0,對測量結果進行修正,最終由液晶顯示測量結果。
圖4 軟件流程圖
實驗過程中正弦波信號頻率設置為2kHz,幅度設置為2V,先對電阻進行測量,再對阻容串聯(lián)進行測量,計算測量值與實際值之間的誤差,并對誤差進行分析。
通過實驗,測量結果如圖5~圖7所示。誤差公式為式(1)所示:
圖5 電阻測量結果
圖6 電阻與電容串聯(lián)模值測量結果
圖7 電阻與電容串聯(lián)相位測量結果
測量結果表明,電阻測量相對準確,大電阻測量精度小于1%,而在測量小電阻時,由于模擬開關的導通電阻相對較大,故小電阻的測量結果誤差也相對較大。另外,元件的電阻值也會有一定的誤差,尤其是電容的測量。結果表明,阻抗幅值誤差小于10%,相位誤差在2%~10%之間。
結論:以實現(xiàn)低成本、高性能、便攜式阻抗測量儀為目的,采用高速A/D實現(xiàn)被測信號與參考信號的同步采樣,提高測量速度;采用FFT算法,提取基波分量,實現(xiàn)精確的數(shù)字相位測量,能夠在較寬的頻率范圍內使測試儀不受被測信號幅值和頻率的影響,測量精度高。