李成孝,張淵通,安晨
中國礦業(yè)大學(xué)(北京)力學(xué)與建筑工程學(xué)院,北京 100083
動態(tài)斷裂力學(xué)是目前國內(nèi)外學(xué)者集中關(guān)注的問題,相對于靜載荷作用下含有缺陷介質(zhì)的斷裂行為,動態(tài)載荷的作用過程更加復(fù)雜[1-5]。其中動態(tài)斷裂過程的觀察和加載手段的創(chuàng)新是動態(tài)斷裂力學(xué)的研究熱點。以往對裂紋尖端動態(tài)應(yīng)力強度因子的測量,大多通過理論推導(dǎo)和結(jié)果近似獲取[6],在研究Ⅰ型和Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋擴展過程中,對于裂紋的起裂韌度和擴展韌度難以實現(xiàn)精準(zhǔn)、有效測量和證明。針對這一問題,近年來國內(nèi)外研究取得重大進展,研究方法包括應(yīng)變片法[7]、試驗-數(shù)值-分析法[8]、動態(tài)焦散實驗法[9-10]。隨著實驗手段的進步,落錘加載法、SHPB法可實現(xiàn)實驗室內(nèi)對巖石、金屬以及其他脆性材料的動態(tài)斷裂研究。Kalthoff[11]利用動態(tài)焦散試驗系統(tǒng)研究了裂紋尖端的應(yīng)力強度因子。楊仁樹等[12]利用焦散系統(tǒng)研究了不同長度靜裂紋和運動裂紋的相互作用過程。李清等[13]利用落錘加載研究了含偏置裂紋的半圓盤試件在沖擊載荷下的動態(tài)斷裂行為。張華等[14]利用SHPB沖擊復(fù)合型裂紋直切槽平臺巴西圓盤,研究了不同預(yù)制裂紋長度對裂紋擴展和斷裂韌性的影響。Wang等[15]利用SHPB和數(shù)值模擬對半圓孔型巖石的Ⅰ-Ⅱ復(fù)合型裂紋擴展和止裂進行了研究,發(fā)現(xiàn)了半圓孔型巖石的Ⅰ-Ⅱ復(fù)合型裂紋擴展的速度不是恒定的。朱萬成等[16]將SHPB和數(shù)值模擬結(jié)合起來,研究了動、靜態(tài)載荷聯(lián)合作用下巖石的破壞過程。
以上研究大多是利用SHPB沖擊巖石,通過應(yīng)變片測量其應(yīng)力-應(yīng)變關(guān)系研究巖體的動態(tài)力學(xué)性能,或者是利用焦散法結(jié)合落錘沖擊試驗,研究含缺陷介質(zhì)試件的動態(tài)斷裂過程。很少有人利用焦散法觀察試件在SHPB作用下的動態(tài)斷裂過程,獲得裂紋尖端的動態(tài)應(yīng)力強度因子,研究裂紋傳播路徑變化情況。在前人研究基礎(chǔ)上,本文采用SHPB作為加載手段,結(jié)合動態(tài)焦散線方法,分析了新型USH試件Ⅰ型和Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋擴展過程,結(jié)合數(shù)值模擬驗證試驗的可靠性,為后續(xù)研究提供參考。
Manogg[17]于1964年提出焦散線方法,當(dāng)固體受外界載荷作用時,其內(nèi)部的應(yīng)力發(fā)生變化,由于泊松效應(yīng),通過其內(nèi)部的光路也會發(fā)生變化,壓力載荷使得固體折射率降低,拉力載荷使固體折射率升高。焦散線就是應(yīng)用這種光學(xué)現(xiàn)象,當(dāng)平行光通過受載荷作用的透明介質(zhì)時,光線不再垂直于介質(zhì)表面而會發(fā)生偏轉(zhuǎn),在距離試件一定距離的參考面處得到一個暗斑,即焦散斑。利用焦散斑特征尺寸D的不同來衡量裂紋尖端的應(yīng)力強度變化,其成像原理[18]如圖1所示,Ⅰ型和Ⅱ型裂紋尖端的焦散斑形狀[13]如圖2所示。
圖1 焦散線原理圖[18]Fig.1 Diagram of caustics[18]
圖2 Ⅰ型和Ⅱ型裂紋尖端焦散斑形狀[13]Fig.2 Shape of caustics at crack tip under Mode Ⅰ and ModeⅡ[13]
由于固體材料的光學(xué)性能變化和受力變化存在某種特定關(guān)系,對于Ⅰ型和Ⅱ型裂紋的動態(tài)應(yīng)力強度因子,Beinert等[19]提出計算公式如下:
(1)
(2)
SHPB加載的特點是一維應(yīng)力波加載,并且加載速度可控。本試驗為了使試件受到均勻的一維應(yīng)力波作用并研究其裂紋擴展過程,選擇SHPB為加載手段。SHPB試驗系統(tǒng)由氣壓裝置、子彈、入射桿、透射桿、紅外光測速器、阻尼裝置組成(圖3)。選用子彈、入射桿和透射桿直徑均為50 mm,長度分別為400 mm、2 000 mm和 1 800 mm的圓柱形鋼桿,桿件的彈性模量為206 GPa,縱波波速為5 123 m/s。在進行沖擊試驗時,將試件放在入射桿和透射桿之間,試件兩端均勻涂抹少量的凡士林,減少試件和桿件接觸面不平整和摩擦的影響。焦散線系統(tǒng)與SHPB系統(tǒng)垂直布置。
圖3 SHPB試驗系統(tǒng)Fig.3 SHPB test equipment
采用新型數(shù)字激光焦散線系統(tǒng)來觀測試件受動載荷下裂紋的擴展情況,如圖4所示。其中,高速攝像機型號為Fastcan-SA5(16G),最高拍攝速率為1 000 000 fps,通過配套的PFV軟件可對拍攝的照片進行存儲和參數(shù)調(diào)整,本次拍攝速率為75 000 fps,時間間隔為13.33 μs,拍攝圖片尺寸為384×216像素;光源選用LWGL300-1500 MW型激光,輸出功率50 MW。
圖4 數(shù)字激光焦散線試驗系統(tǒng)Fig.4 The system of digital laser dynamic caustics(DLDC)
本試驗研究的是Ⅰ型和Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋的擴展問題,為了保證試件能與SHPB加載相匹配,試驗過程有足夠長的裂紋擴展區(qū)域,并且可以穩(wěn)定得到Ⅰ型和Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋。經(jīng)過多次試驗和驗證,設(shè)計出單側(cè)半開圓孔(USH)形試件,尺寸為100 mm×50 mm×10 mm,在左側(cè)開半徑為10 mm的圓孔,并在半圓圓周上的不同位置設(shè)置長度10 mm的預(yù)制裂紋,預(yù)制裂紋距離試件中軸線的距離x分別為0 mm和5 mm,裂紋寬度為0.5 mm,分別命名為X0型試件和X5型試件。每種試件制備10塊,試件示意如圖5所示。試件材料為有機玻璃板(PMMA),相關(guān)參數(shù)[20]見表1。
試件選擇合理的幾何結(jié)構(gòu)可以保證裂紋擁有足夠長的傳播區(qū)域,但實際中試件不是無限平面。在試驗中發(fā)現(xiàn),裂紋水平傳播至距離右側(cè)邊緣20 mm時,其傳播方向和速度將發(fā)生明顯變化,因此將距離試件右側(cè)邊緣20 mm的范圍定義為邊界效應(yīng)影響區(qū),而裂紋在垂直方向的傳播沒有發(fā)生異常變化,因此認為上下邊界對裂紋傳播無明顯影響。本文將裂紋的傳播分為有效裂紋擴展區(qū)和邊界效應(yīng)影響區(qū)(圖6),在后文的研究和討論中只針對有效裂紋擴展區(qū)。
圖5 試件示意圖Fig.5 Schematic diagram of specimen
表1 PMMA力學(xué)參數(shù)[20]
圖6 裂紋傳播分區(qū)Fig.6 Crack propagation zone
搭建好焦散線實驗系統(tǒng),使其光路垂直于試件表面,試驗采用SHPB作為加載方式。先以0.18 MPa的氣壓分別沖擊X0型和X5型試件5次,然后用0.23 MPa的氣壓發(fā)射子彈分別沖擊X0型和X5型試件5次,在聽到試件被撞擊的聲音后按下錄像按鈕,因攝像機采用后觸發(fā)模式,可以記錄按下按鈕前2 s內(nèi)的畫面,確保試件斷裂過程被完全記錄。通過紅外光測速器測得,0.18 MPa氣壓時子彈速度為(4.50±0.50)m/s,0.23 MPa氣壓時子彈速度為(7.00±0.50)m/s。
X0和X5試件在2種不同氣壓沖擊下重復(fù)5次試驗,共得到20組試件,對試驗數(shù)據(jù)進行對比分析,發(fā)現(xiàn)相同試驗條件下的重復(fù)試驗結(jié)果基本一致。圖7為從相同實驗條件下隨機選取的一組試件,為了排除邊界效應(yīng)的影響,本文只研究有效區(qū)域內(nèi)裂紋的擴展。可以看到X0型試件在2種速度下均呈現(xiàn)出Ⅰ型裂紋的擴展軌跡;X5型試件在兩種速度下出現(xiàn)了Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋軌跡,并且裂紋方向最終朝向試件中軸線(紅色虛線),子彈速度vp為4.62 m/s時,X5型試件的裂紋在擴展過程中出現(xiàn)多個拐點(圖中紅色箭頭表示),具體原因在后文焦散線結(jié)果中進行分析;在沖擊速度大致相同時,X0型試件在軸向的擴展長度均小于X5試件。
圖7 裂紋擴展軌跡Fig.7 Crack growth trace
為了驗證新型USH試件獲得Ⅰ型和Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋的規(guī)律性,利用ABAQUS中的擴展有限元法(XFEM)來模擬裂紋開裂過程,分別對試件和子彈、透射桿進行建模,模擬子彈以4 m/s的速度沖擊入射桿并作用試件時裂紋的擴展情況。假設(shè)材料的唯一變化是由裂紋擴展引起的,并認為試件材料是線彈性的,試件剪切模量G1=1.28 GPa,泊松比νd1=0.31,物質(zhì)密度為1 180 kg/m3,試件的數(shù)值模型由10 185個單元組成,單元尺寸為0.068 mm。子彈和入射桿參數(shù)如下:剪切模量G2=81 GPa,泊松比νd2=0.26,物質(zhì)密度為7 900 kg/m3,子彈和入射桿模型分別由440和1 385個單元格構(gòu)成,單元尺寸為10 mm。圖8為數(shù)值模型網(wǎng)格及裂紋尖端應(yīng)力云圖。圖9、圖10分別為X0型和X5型試件不同時刻裂紋擴展軌跡數(shù)值模擬。
圖8 數(shù)值模型網(wǎng)格劃分及裂紋尖端應(yīng)力云圖Fig.8 Meshing generation of numerical model and contour plots of stress near the crack tip
圖9 X0型試件裂紋傳播軌跡Fig.9 Crack propagation path of X0 type specimen
圖9顯示的X0型試件數(shù)值模擬裂紋軌跡沿預(yù)制裂紋方向開始擴展,沒有明顯彎曲,這與圖7中的X0型試件試驗結(jié)果基本一致,屬于Ⅰ型裂紋。圖10顯示的X5型試件數(shù)值模擬裂紋軌跡與預(yù)制裂紋呈一定的角度擴展,從而產(chǎn)生裂紋,最終沿著和中軸線平行的方向擴展,形成了Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋軌跡,和圖7中的X5型試件試驗結(jié)果大致相符,但對于Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋的數(shù)值模擬結(jié)果,其裂紋軌跡較為平滑,而試驗中速度為4.62 m/s時的X5型試件形成的裂紋軌跡具有一些拐點,這可能與初始加載能量和有機玻璃材料在加工過程中的不均勻有關(guān),使得裂紋在其內(nèi)部傳播時遇到較大的顆粒時會繞過粒子,在裂紋傳播軌跡中形成了拐點。
圖10 X5型試件裂紋傳播軌跡Fig.10 Crack propagation path of X5 type specimen
圖11是以預(yù)制裂紋的尖端為起始點,將X5型試件數(shù)值模擬預(yù)測的裂紋擴展路徑與試驗結(jié)果進行對比,可以看出試驗得到的裂紋軌跡在垂直方向上的擴展距離要大于數(shù)值模擬的結(jié)果,這可能與數(shù)值模擬選用的彈性模量和剪切模量參數(shù)有關(guān),但試驗結(jié)果與數(shù)值模擬結(jié)果裂紋的趨勢大致相同,驗證了通過USH試件獲得Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋的可靠性。
圖11 X5型試件試驗結(jié)果和模擬結(jié)果裂紋擴展路徑的比較Fig.11 Comparison of crack propagation path between test results and simulation results of X5 specimen
圖12為四塊試件裂紋擴展的焦散圖。由圖12(a)可以看到子彈速度為4.82 m/s時,X0型試件從t=0 ms時刻試件受到力的作用,出現(xiàn)在裂紋尖端的焦散斑面積隨著時間呈現(xiàn)變大→變小→變大的現(xiàn)象,這反映了裂紋尖端處能量的匯集過程,當(dāng)焦散斑面積達到最大時,試件開始起裂,焦散斑開始沿著裂紋移動。在運動過程中焦散斑的明亮程度和大小仍然會發(fā)生變化,這表明裂紋的擴展是一個不斷匯集能量然后釋放的過程。焦散斑在t=1.06 ms時停止移動,但其大小在不斷變化,表明此時裂紋尖端仍有能量,直到t=1.60 ms繼續(xù)移動,接著運動至t=2.13 ms,焦散斑再次停止移動,停止了0.42 ms后再次移動一小段距離,最終焦散斑消失,裂紋停止擴展。
圖12(b)為X5型試件在子彈速度為4.62 m/s 時,試件發(fā)生斷裂的焦散圖。t=0 ms時,試件受到力的作用,在預(yù)制裂紋的尖端處開始匯聚能量,到t=0.08 ms時形成的焦散斑最大,然后裂紋開始擴展。在這個過程中,焦散斑的形狀既出現(xiàn)圖2(a)中Ⅰ型裂紋焦散斑,也出現(xiàn)圖2(b)中Ⅱ型裂紋的焦散斑形,說明此時裂紋的擴展模式為Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋。從t=0.41 ms到t=1.0 ms,焦散斑運動后留下的軌跡呈現(xiàn)上下抖動的波浪式曲線,說明在這個過程中裂紋的擴展方向并不是始終如一的,而是在小范圍內(nèi)向上或向下的不停變化,最終沿著中軸線的方向擴展,這與圖7中X5型試件斷裂結(jié)果符合。同時在t=0.41 ms時焦散斑停止在水平方向移動,其大小和亮度在不停變化,經(jīng)過了0.56 ms后再次移動。
由圖12(c)可以看出,從t=0 ms到t= 0.25 ms,試件開始受到力的作用,裂紋尖端開始匯集能量,形成的焦散斑不斷變化,當(dāng)面積最大時焦散斑沿著中軸線方向向右移動,移動一段距離以后焦散斑停止移動。從t=1.12 ms到t=2.44 ms焦散斑位置沒有發(fā)生改變,但大小有所變化,說明了這個過程中裂紋尖端處仍有能量聚集。
由圖12(d)可以看出,在裂紋擴展初期能量匯集階段,t=0.067 ms時形成的焦散斑是圓形的,屬于Ⅰ型裂紋焦散斑;在t=0.25 ms時焦散斑增大后形成了Ⅱ型裂紋焦散斑,然后裂紋開始向中軸線方向彎曲擴展,當(dāng)垂直方向的位移接近中軸線時,裂紋開始沿著水平方向向右移動,最終焦散斑面積變小,裂紋不再擴展。
對比X0型和X5型試件的斷裂試驗結(jié)果和焦散圖,X0型試件裂紋擴展屬于Ⅰ型裂紋,X5型試件裂紋擴展屬于Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋;X0型試件裂紋擴展時間較長,焦散斑在運動過程會出現(xiàn)較長時間的停留,而X5型試件裂紋擴展時間相對較短;X5型試件裂紋會向中軸線彎曲,然后沿著水平方向擴展。
圖13(b)中試件斷裂韌度KIC為0.66 MPa·m1/2,試件開始起裂,在斷裂過程中SIF達到最大值0.98 MPa·m1/2,然后其大小隨著時間變化,總體是減小趨勢,局部時間內(nèi)是減小→增大→減小的變化趨勢。圖13(a)和圖13(b)的SIF變化趨勢大致相同,但有一些差別:子彈加載速度較大時撞擊后的試件在斷裂過程中SIF的峰值較小,并且達到峰值所用的時間較短,說明了加載速度大時,試件斷裂難度較小。但加載速度大并不會縮短Ⅰ型裂紋尖端應(yīng)力作用的時間,圖13(a)和圖13(b)中SIF降到最低的時間分別為2 720 μs和2 706.7 μs,兩者幾乎相同。
X0型試件裂紋擴展過程中,裂紋的擴展方向是沿著中軸線的,而試件夾在入射桿和透射桿之間,當(dāng)子彈撞擊入射桿時,一維應(yīng)力波通過入射桿作用到試件上,應(yīng)力波在傳遞過程中部分會接觸到透射桿后進行反射,如圖14(a)所示,而反射的應(yīng)力波P反射和裂紋擴展的方向在同一條直線上,每次反射的P反射都會抵消一部分入射的應(yīng)力波P入射。從圖13的SIF圖可看出X0型試件裂紋擴展的SIF較小,絕大部分小于1 MPa·m1/2,而X5型試件裂紋擴展的SIF大部分是大于1 MPa·m1/2,可以發(fā)現(xiàn)X0型試件裂紋擴展過程中其應(yīng)力強度是較小的,擴展長度也較?。籜5型試件由于裂紋擴展軌跡是曲線,應(yīng)力波接觸到透射桿發(fā)生反射是需要時間的,而裂紋的運動方向又在不停地變化,因此應(yīng)力波反射時不總是能與裂紋的運動方向在同一直線上,即X5型試件反射應(yīng)力波抵消入射應(yīng)力波的程度較小,對裂紋的擴展阻止作用較小,所以X5型試件裂紋擴展較長。對于X5型試件,由圖14(b)可以看出,當(dāng)應(yīng)力波P傳遞到裂紋擴展尖端時,將其沿著切線方向和垂直于切線的方向進行分解,得到P1=Pcosα,P2=Psinα,隨著裂紋的擴展,夾角α增大,P2增大使得裂紋朝向中軸線方向擴展,當(dāng)α=90°時,裂紋會沿著中軸線運動。
圖13 動態(tài)應(yīng)力強度因子(SIF)與時間的關(guān)系Fig.13 Curves of dynamic stress intensity factor(SIF)with time
圖14 兩種試件應(yīng)力作用圖Fig.14 The stress action diagram of the two specimens
圖15(c)(d)記錄了Ⅰ-Ⅱ混合型裂紋擴展在X方向和Y方向的位移變化。從圖15(c)中可以看出,裂紋尖端在Y方向的位移上升至5.44 mm后出現(xiàn)下降→上升的變化趨勢,原因可能是試件材料的不均勻性,導(dǎo)致某些地方存在大顆粒,裂紋尖端傳遞到大顆粒時會繞過顆粒,從而導(dǎo)致在Y方向的位移是上下波動的,但最終由于裂紋尖端的能量不斷減弱,裂紋在Y方向緩慢移動直至停止移動。圖15(c)中裂紋在X方向移動了一段距離,于426.7 μs時停止移動,然后在973.3 μs時繼續(xù)移動,可以發(fā)現(xiàn)這個時間內(nèi)裂紋在Y方向的波動小于0.2 mm,比較合理的解釋是此時部分應(yīng)力波在向前傳遞到達透射桿后反射,導(dǎo)致裂紋尖端的應(yīng)力強度沒有達到材料的斷裂韌度,裂紋停止移動。
圖15 裂紋尖端擴展時程曲線Fig.15 Crack tip propagation time history curve
(1) 將SHPB與動態(tài)焦散線方法結(jié)合使用,不僅能夠得到理想的裂紋擴展結(jié)果,還能對裂紋擴展過程中SIF的變化以及裂紋擴展時程變化進行觀察和分析。
(2) 利用SHPB沖擊USH試件,分別得到Ⅰ型斷裂和Ⅰ-Ⅱ混合型斷裂結(jié)果,通過數(shù)值方法對試驗進行模擬,發(fā)現(xiàn)試驗結(jié)果和模擬結(jié)果接近,證明了試驗的可靠性。
(3) 對于Ⅰ-Ⅱ混合型斷裂過程,裂紋的擴展先朝向中軸線方向彎曲,然后沿著水平于中軸線方向繼續(xù)擴展。
(4) 對于Ⅰ型斷裂和Ⅰ-Ⅱ混合型斷裂,裂紋的擴展不是連續(xù)不斷地,而是會在某個時刻發(fā)生停頓,提高子彈加載速度,可以縮短裂紋停頓時間。
(5) 提高子彈加載速度,Ⅰ型斷裂的斷裂韌度KIC會減小,Ⅰ-Ⅱ混合型斷裂的斷裂韌度KIC與KIIC均會增大。