吳柯薇,鐘朝輝,王振常,原 媛,張景東,崔茹欣
(首都醫(yī)科大學附屬北京友誼醫(yī)院放射科,北京 100050)
圖1 ODM技術應用于頭顱CT平掃 A.定位像,藍色框為頭部掃描區(qū)域,黃色框為應用ODM技術區(qū)域; B.CT平掃圖像分析時后顱窩顳骨巖部層面橋腦及雙側小腦半球ROI的位置 圖2 試驗組患者,男,56歲 頭顱CT掃描時應用ODM技術,后顱窩顳骨巖部層面橋腦、左側及右側小腦半球客觀噪聲分別為4.4、3.3、3.1 圖3 對照組患者,女,45歲 頭顱CT掃描時未應用ODM技術,后顱窩顳骨巖部層面橋腦、左側及右側小腦半球客觀噪聲分別為4.3、3.3、3.2
頭顱CT成像是檢查神經系統(tǒng)疾病的重要手段[1]。既往流行病學研究[2-3]表明,晶狀體對電離輻射的敏感性高,而輻射誘發(fā)的白內障甚至是無閾值劑量的隨機過程,因此,晶狀體是CT檢查中需要給予特殊保護的器官。本研究探討在頭顱CT平掃時應用器官劑量調制(organ dose modulation, ODM)技術對輻射劑量和圖像質量的影響。
1.1 一般資料 連續(xù)收集2018年10—12月根據臨床需要于我院接受頭顱CT平掃的100例患者,男32例,女68例,年齡25~88歲,平均(57.7±14.2)歲;排除影像學診斷為顱內占位、腦出血、腦梗死及腦萎縮等可能影響圖像測量分析等病變患者。將上述100例隨機分為試驗組和對照組,每組各50例。試驗組中,男18例,女32例,年齡25~88歲,平均(57.6±15.1)歲;對照組男14例,女36例,年齡29~79歲,平均(57.7±13.6)歲。本研究經醫(yī)學倫理委員會批準,患者均知情同意。
1.2 儀器與方法 采用GE Optima 680 64排螺旋CT機,囑患者仰臥,以聽眥線為掃描基線進行頭顱CT平掃。掃描參數:管電壓120 kV,管電流自動調節(jié)范圍10~400 mA,預設噪聲指數(noise index, NI)為4,探測器寬度為40 mm,層厚及層間距均為5 mm,螺距0.984∶1,球管旋轉速度0.5 s/rot,均采用標準算法重建。試驗組在定位像上眼眶區(qū)域開啟ODM技術后,選擇ODM掃描范圍為40 mm,并將ODM區(qū)域框放置于眼眶區(qū)域(圖1A);對照組采用常規(guī)頭部平掃方法。
1.3 圖像評價
1.3.1 客觀評價 記錄2組患者眼眶區(qū)域前、后、左、右4個方向CT掃描管電流,CT平掃時儀器自動計算得出容積CT劑量指數(volume CT dose index, CTDIvol)和劑量長度乘積(dose length product, DLP),計算有效輻射劑量(effective dose, ED),ED=k×DLP,其中k為劑量轉換系數,取0.0023。分別測量2組CT平掃圖像后顱窩顳骨巖部層面橋腦及雙側小腦半球CT值和客觀噪聲,并計算SNR,SNR=CT值/客觀噪聲[4],橋腦及雙側小腦半球ROI面積50 mm2(圖1B)。
表1 2組患者頭顱CT平掃眼眶區(qū)域不同方向管電流及輻射劑量指標比較(±s,n=50)
表1 2組患者頭顱CT平掃眼眶區(qū)域不同方向管電流及輻射劑量指標比較(±s,n=50)
組別管電流(mA)前左后右CTDIvol(mGy)DLP(mGy·cm)ED(mSv)試驗組160±19227±26229±27227±2628.09±3.38331.76±30.690.76±0.07對照組226±24225±23226±24225±2329.29±2.86337.49±77.640.78±0.18t值9.72-0.37-0.38-0.37-4.76-2.34-0.67P值0.010.320.240.260.200.100.12
表2 2組患者頭顱CT平掃眼眶區(qū)域圖像客觀噪聲及SNR比較(±s,n=50)
表2 2組患者頭顱CT平掃眼眶區(qū)域圖像客觀噪聲及SNR比較(±s,n=50)
組別客觀噪聲橋腦小腦半球(左)小腦半球(右)SNR橋腦小腦半球(左)小腦半球(右)試驗組4.97±0.285.05±0.685.10±0.575.37±0.235.35±0.215.78±0.12對照組4.90±0.314.98±0.304.99±0.315.28±0.245.66±0.345.34±0.56t值-0.92-0.49-2.17-0.780.23-0.45P值0.220.430.130.430.510.36
1.3.2 主觀評價 由2名具有5年CT診斷經驗的放射科醫(yī)師采用雙盲法對2組CT圖像進行質量評估。選取后顱窩顳骨巖部層面,采用5分法從顯示解剖結構、圖像清晰度、偽影和診斷可接受程度各方面進行評價[5]:5分,圖像質量優(yōu),解剖結構顯示清楚、圖像清晰,無偽影,完全符合診斷要求;4分,圖像質量良好,解剖結構顯示較為清楚、圖像較清晰,輕度偽影,符合診斷要求;3分,圖像質量一般,解剖結構可辨認,中度偽影,不影響診斷;2分,圖像質量較差,解剖結構顯示不清、僅可大致辨認,可見明顯偽影,不符合診斷要求;1分,圖像質量差,解剖結構顯示不清、圖像模糊,偽影嚴重,完全不能用于診斷。2名醫(yī)師意見有分歧時,再次閱片后經討論達成一致。
1.4 統(tǒng)計學分析 采用SPSS 22.0統(tǒng)計分析軟件。2組間患者年齡、眼眶區(qū)域CT平掃管電流、客觀噪聲、SNR及輻射劑量參數比較采用獨立樣本t檢驗,主觀圖像質量評分比較采用Mann-WhitneyU檢驗,患者性別比較采用χ2檢驗。以P<0.05為差異有統(tǒng)計學意義。
2組間患者性別(χ2=0.13,P=0.23)、年齡(t=0.04,P=0.21)差異均無統(tǒng)計學意義。
試驗組頭顱CT眼眶區(qū)域在前方向上管電流明顯低于對照組(t=9.72,P=0.01),其余3個方向管電流2組間差異均無統(tǒng)計學意義(P均>0.05); 2組間CTDIvol、DLP及ED差異亦無統(tǒng)計學意義(P均>0.05)。見表1。2組后顱窩顳骨巖部層面橋腦及雙側小腦半球客觀噪聲(圖2、3)和SNR差異均無統(tǒng)計學意義(P均>0.05),見表2。
試驗組及對照組主觀圖像質量評分見表3。2組圖像質量均較好,可用于臨床診斷(評分≥3分);2組間圖像質量評分差異無統(tǒng)計學意義(Z=0.25,P=0.31),見表3。
表3 2組患者眼眶區(qū)域主觀評價結果比較(±s,n=50)
表3 2組患者眼眶區(qū)域主觀評價結果比較(±s,n=50)
組別主觀圖像質量評分(例)1分2分3分4分5分試驗組003938對照組003839
圖4 頭顱CT掃描過程中應用ODM技術時管電流降低區(qū)域示意圖
晶狀體為輻射敏感器官,頭顱CT掃描時易受輻照損傷[6]。既往降低晶狀體頭顱CT掃描中輻射劑量有如下方法:①使用防護屏蔽直接遮蓋晶狀體區(qū)域[7];②改變傳統(tǒng)掃描基線,使晶狀體不直接暴露于X射線[8-9];③通過自動管電流調制(automatic tube current modulation, ATCM)技術降低整個掃描區(qū)域的輻射劑量[10]。使用特殊材質的防護材料直接遮蓋眼眶區(qū)域雖然能夠減少晶狀體的輻射劑量,但會造成圖像中存在嚴重金屬硬化偽影。改變掃描基線是降低晶狀體輻射劑量的有效方法,但由于機械構造限制,目前多數CT掃描儀不能使機架產生角度而改變掃描基線。ATCM技術是采用z軸管電流調制的自動曝光技術,根據不同層面的體厚而改變對應的管電流。近年來,ATCM不斷普及和發(fā)展[11],其在CT掃描中常用以降低輻射劑量,但該技術不能特異性地保護晶狀體區(qū)域。另有研究[12]報道,在頭顱CT掃描時采用固定管電壓及ATCM技術后,晶狀體輻射劑量反而有所增加,原因主要與解剖層面上晶狀體正好位于顱后窩層面的最前方,顱后窩周圍有致密骨質結構,使得這個層面CT掃描時的管電流較高有關[13]。
利用ODM技術可有效解決晶狀體等組織器官CT掃描輻射劑量的問題。ODM是在ATCM技術基礎上新近發(fā)展起來的輔助掃描技術,通過改變敏感器官區(qū)域的管電流來實現對敏感器官的輻射保護,可大幅度降低受檢者前方120°(身體)和90°(頭部)扇形范圍內的管電流量,進而降低敏感器官的輻射劑量[14](圖4)。本研究試驗組應用ODM技術,發(fā)現在頭顱CT掃描直射方向(即前方)上管電流較對照組顯著降低,而輻射劑量與管電流呈正相關[15],提示應用ODM技術能夠有效減低頭顱CT掃描過程中眼眶區(qū)域的輻射劑量。本研究中試驗組與對照組間CTDIvol及ED差異均無統(tǒng)計學意義,2組間頭顱CT掃描整體輻射劑量相仿,可能與以下因素有關:①ODM技術僅在眼眶區(qū)域開啟,范圍較小,不足以影響頭部整體輻射劑量;②本研究記錄的是設備輻射劑量表的掃描劑量,而ODM改變的是眼眶直射方向上的管電流,從而影響晶體表面輻射劑量。此外,本研究結果顯示2組CT圖像質量均可滿足診斷需求,試驗組與對照組間顱后窩顳骨巖部區(qū)域CT圖像質量客觀評價(客觀噪聲、SNR)和主觀評價(圖像質量評分)指標差異均無統(tǒng)計學意義。
綜上所述,在頭顱CT掃描中應用ODM技術,可在不改變圖像質量的前提下,有效降低眼眶區(qū)域直射方向上的管電流,從而降低眼眶區(qū)域的輻射劑量,保護敏感器官。