◆宋謀勝 張東方
一種改進伏安法測量較低電阻的實驗探究*
◆宋謀勝 張東方
物理實驗伏安法測電阻對于測量中等阻值的電阻較準(zhǔn)確,而對較低阻值的測量則會帶來較大誤差。在電表內(nèi)阻不祥情形下,改進原伏安法的電路并設(shè)計完整的實驗來測量較低電阻的阻值。結(jié)果表明,該設(shè)計使用器材少、操作簡單、測試結(jié)果精確,是一種實用的測量較低電阻方法,能激發(fā)學(xué)生物理實驗的探究思維。
低電阻;伏安法;實驗;誤差
通常將10 Ω以下的電阻稱為低電阻,低電阻測量在電磁測量技術(shù)中應(yīng)用廣泛。在物理實驗和生產(chǎn)實踐中也常會對某些低電阻進行測量。電阻測量常采用伏安法和電橋法,二者主要適用中值電阻的測量,對低值電阻測量會導(dǎo)致較高的系統(tǒng)誤差。當(dāng)不能避免電表內(nèi)阻對測量阻值的影響時,人們設(shè)計了補償法來測量低電阻的阻值以減小伏安法時系統(tǒng)誤差的影響,如電壓補償法、電流補償法等[1-2]。伏安法應(yīng)用到電橋電路則可廣泛用來測量較低阻值的電阻,如單臂電橋法(惠更斯電橋)[3]、雙臂電橋法(開爾文電橋)[4],其中雙臂電橋以其測量精度高、誤差低而被廣泛使用。本文對原伏安法測電阻的電路進行適當(dāng)改進,對0~10 Ω內(nèi)的低電阻測量取得較精確的效果。
原伏安法在測量中值電阻的阻值時較容易,但由于電路接觸電阻和導(dǎo)線電阻的影響,在測量低電阻Rx時會導(dǎo)致較大的系統(tǒng)誤差。圖1(a)為伏安法測電阻的一般電路圖,如將Rx兩端的接觸電阻、導(dǎo)線電阻等效為r1、r2、r3和r4時,則其等效電路如圖1(b)所示。
一般電壓表的內(nèi)阻極大,串接的r1和r4阻值極小,對測量影響可忽略。r2和r3與Rx串接使被測低電阻變?yōu)椋╮2+Rx+r3)。當(dāng)Rx較低,(r2+r3)之值不能忽略甚至接近或超過Rx時,其所造成的串接分壓必然給Rx的真實電壓帶來極大的干擾,致使測量不準(zhǔn)確,系統(tǒng)誤差不能忽略。
為了克服由于電表內(nèi)阻存在但大小未知而導(dǎo)致的實驗測量結(jié)果誤差,對原伏安法電路測試較低電阻時存在問題進行改進,設(shè)計一個簡單易行、操作方便的實驗電路如圖2所示。該電路另增加一個已知可調(diào)電阻Ri與待測電阻Rx串接,通過相關(guān)實驗測試表明,該改進能減小因電表內(nèi)阻引起的方法誤差。
圖1 伏安法測電阻電路圖:(a)一般電路圖;(b)等效電阻電路圖
圖2 低電阻測量實驗改進電路圖
如圖2示,當(dāng)S合至A時,即為通常的伏安法測電阻圖,調(diào)節(jié)滑動變阻器R0測出電壓表、電流表讀數(shù)U、I1;當(dāng)S合至B時,調(diào)節(jié)R0和Ri使電壓表示數(shù)不變,測出電流表讀數(shù)I2。因電壓表兩次的示數(shù)相同,由IU=U/Rv可知,流過電壓表的電流IU相等(Rv為電壓表內(nèi)阻)。
當(dāng)S合至A時有:
*資助基金:貴州省物理學(xué)專業(yè)綜合改革試點項目(黔財撥〔2012〕207)。
作者:宋謀勝、張東方,銅仁學(xué)院物理與電子工程學(xué)院(554300)。
表1 待測電阻值約5 Ω時的實驗數(shù)據(jù)
當(dāng)S合至B時有:
對(1)(2)整理得:
這是關(guān)于Rx的一元二次方程,則可計算出待測電阻的阻值為:
實驗時,已知可調(diào)電阻Ri用等級為0.1級的可調(diào)標(biāo)準(zhǔn)電阻箱代替,滑動變阻器R0的阻值范圍為0~200 Ω。因待測電阻Rx的阻值較低,實驗用連接導(dǎo)線粗一點兒,接頭處焊接緊固。實驗用電流表為JO407型,內(nèi)阻rA=0.025 Ω,測量直流范圍為0~3 A;電壓表為JO408型,內(nèi)阻rV=12 kΩ,測量電壓范圍為0~15 V;電源為SS1710型直流穩(wěn)壓電源,標(biāo)稱電壓在0~15 V之間連續(xù)可調(diào);待測電阻Rx選用可調(diào)阻值為0~9.9 Ω的直流十進電阻箱。
實驗用較低待測電阻Rx的阻值為5 Ω,遠小于滑動變阻器最大阻值和電壓表內(nèi)阻,故滑動變阻器采用限流式接法,電流表采用外接法,如圖2所示。實驗時,分別將開關(guān)S擲于A、B,則此時可調(diào)電阻Ri(電阻箱讀數(shù))分別為0和某一數(shù)值,并調(diào)節(jié)滑動變阻器R0使電壓表讀數(shù)U不變,記錄下各自的電流表讀數(shù)I1、I2,最后根據(jù)公式(3)計算出待測電阻Rx阻值。
表1為待測電阻為5 Ω、電壓表讀數(shù)分別恒定為3 V和5 V時,每改變一組可調(diào)電阻Ri的值,測出的電流值和相應(yīng)Rx的計算值。通常,物理實驗數(shù)據(jù)中的粗大誤差可采用格羅布斯準(zhǔn)則來判定[5],該準(zhǔn)則可剔除不良實驗數(shù)據(jù)。利用格羅布斯準(zhǔn)則對表1中的實驗數(shù)據(jù)進行判定,發(fā)現(xiàn)無不良數(shù)據(jù),表明數(shù)據(jù)及其計算結(jié)果是可靠的。
由表1可知,待測電阻Rx約5 Ω的實驗測試均值為5.093 Ω,相對誤差為1.9%,標(biāo)準(zhǔn)差為0.141 Ω。表1中,當(dāng)電壓表讀數(shù)U恒為3 V時,Rx的測試均值為5.006 Ω,相對誤差為0.1%;當(dāng)電壓表讀數(shù)U恒為5 V時,Rx的測試均值為5.179 Ω,相對誤差為3.6%。
可見,利用改進的伏安法測較低電阻,可以獲得相對誤差和標(biāo)準(zhǔn)差均較理想的測量結(jié)果。當(dāng)待測電阻兩端電壓不同時,同一待測電阻在同一電路中的電阻測量值略有偏差,且偏差隨著待測電阻兩端電壓增大而增大。這是由于電壓較高時所產(chǎn)生的熱效應(yīng)增大,對測試結(jié)果的影響也隨之增強。在實驗過程中,電流表、電壓表的指針偏轉(zhuǎn)較小時,會造成對其測量讀數(shù)的不精準(zhǔn)而導(dǎo)致測量誤差增大,如換用量程較大的毫安表、毫伏表或數(shù)顯表,可以獲得較精確的電流、電壓測試值,從而降低因讀數(shù)不準(zhǔn)而帶來的誤差。另外,使用更精密的實驗器材,探索更精確的實驗方法,還可以測試出更低的電阻元件阻值,如利用差動放大器、數(shù)字示波器、恒流源等能夠測試出更低的電阻值[6-7]。
通過改進伏安法的電路來測量較低電阻的阻值,獲得了較精確的測試結(jié)果。該方法設(shè)計合理、使用儀器少、操作簡單,可以減小測試低電阻時的誤差,能激發(fā)學(xué)生的實驗設(shè)計與探究思維。
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G642.0
B
1671-489X(2016)18-0129-03
10.3969/j.issn.1671-489X.2016.18.129