席 瑩 林士耀 胡立群 徐立清 張繼宗
(中國科學(xué)院等離子體物理研究所 合肥 230031)
EAST(Experimental advanced superconducting tokamak)托卡馬克是我國自行設(shè)計(jì)、制造的全超導(dǎo)非圓截面托卡馬克核聚變實(shí)驗(yàn)裝置。它利用外部線圈產(chǎn)生的環(huán)向磁場與離子體電流自身感應(yīng)產(chǎn)生的極向磁場,對等離子體進(jìn)行約束。其高參數(shù)穩(wěn)態(tài)等離子體運(yùn)行及相關(guān)工程技術(shù)和物理研究,對于國際熱核聚變實(shí)驗(yàn)堆(ITER)的穩(wěn)態(tài)運(yùn)行及物理研究有重大的參考意義。EAST全超導(dǎo)托卡馬克的基本參數(shù)[1]為:縱場BT=3.5 T,大半徑R0=1.75 m,小半徑a=0.4 m,拉長比1.2–2,在限制器和偏濾器(單零,雙零位形)條件下放電運(yùn)行。
低雜波電流驅(qū)動(LHCD)是研究長脈沖穩(wěn)態(tài)運(yùn)行和先進(jìn)托卡馬克位形等物理問題的重要手段,是目前驅(qū)動效率最高的非感應(yīng)電流驅(qū)動方法。低雜波通過朗道阻尼驅(qū)動快電子來維持等離子體電流,因此,可利用快電子和主等離子體相互作用(主要是軔致輻射)發(fā)出特定波段的射線來研究 LHCD的驅(qū)動效果。
Goeler等[2]在PLT裝置上使用碘化納(NaI)閃爍體陣列研究硬X射線的輻射強(qiáng)度及能譜分布,利用硬 X射線研究低雜波電流驅(qū)動。Peysson[3]在 Tore Supra裝置上安裝的碲化鎘(CdTe)探測器陣列是研究快電子的有力工具。2012年在EAST托卡馬克實(shí)驗(yàn)裝置上,建立了水平七道的 CdTe探測器陣列,用來研究水平方向的快電子行為、LHCD的沉積以及驅(qū)動效果等的物理特性[4]。本文介紹了硬X射線診斷系統(tǒng)和電子線路,并給出EAST硬X射線診斷實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
低雜波通過平行朗道阻尼將超熱電子加速至共振能量,高能快電子碰撞頻率低、速度高,可有效攜帶非感應(yīng)電流??祀娮拥墓舱衲芰吭跀?shù)十至兩百keV,硬X射線測量的能段區(qū)域?yàn)?0–200 keV,所以,探測器的選擇是硬X射線測量的關(guān)鍵。碲化鎘(CdTe)探測器是一種化合物半導(dǎo)體探測器,具有較高能量分辨率,室溫下工作不受磁場干擾。而且體積小,對硬X射線具有較高的能量沉積率,能在有限的空間范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)多道測量,同時在無防護(hù)情況下,對探頭抗中子干擾能力較強(qiáng),即使在中子輻射很強(qiáng)情況下,由低雜波產(chǎn)生的硬X射線能譜也能很好的識別出來,因此CdTe探頭可作為可靠的測量手段在托卡馬克裝置上得到使用。
我們使用的是法國 Eurorad公司生產(chǎn)的 CdTe能譜型探頭,尺寸為5 mm×5 mm×3mm,有效測量范圍在20–200 keV,且吸收率的線形較好。圖1為硬X射線探測系統(tǒng)的探測效率,圖2為57Co的標(biāo)定能譜。圖中低能段(小于20 keV)是在探測夾縫口上加裝1 mm厚的鋁膜用于截止低能段的射線。它對200 keV硬X射線的吸收率為31.6%,能量分辨率為4.7 keV@122 keV。
圖1 硬X射線探測系統(tǒng)效率Fig.1 Detection efficiency of HXR detection.
圖2 放射源57Co標(biāo)定能譜Fig.2 57Co calibration spectrum.
EAST上硬X射線診斷系統(tǒng)如圖3所示,該系統(tǒng)位于EAST水平A窗口上,空間分辨率約為10 cm,探測范圍137–197 cm,基本覆蓋等離子體全空間,為屏蔽非觀測范圍內(nèi)的X射線[5],我們利用2 cm厚的鉛對探測器進(jìn)行屏蔽,同時,每個探測器前均有直徑2 mm、長度10 cm的準(zhǔn)直孔進(jìn)行準(zhǔn)直。主等離子體特定水平位置的硬X射線在CdTe探頭里激發(fā)電子-空穴對,其數(shù)目與X射線的能量成正比,在偏壓電場作用下,電子和空穴被探頭的兩極收集在輸出回路中形成信號,經(jīng)電荷靈敏前置放大器(charge preamplifier)和線性電壓放大器(linear amplifier)放大處理,初始信號形成窄脈沖的電壓信號,脈沖高度(正比于X射線的能量)被多道脈沖分析器(MCA—multi-channel analyzer)變成數(shù)字信號送入計(jì)算機(jī)。所以X射線能譜測量系統(tǒng)也被稱為高度脈沖分析器—PHA(pulse height analyzer)[6–8]。圖4為硬X射線診斷系統(tǒng)數(shù)據(jù)信號流程示意圖。
其中 MCA 包含幅度-數(shù)字變換器(ADC)和數(shù)據(jù)緩存器(MEM)兩部分。我們使用的是威金森(Wilkinson)型幅度-數(shù)字變換器,它采用線性法進(jìn)行幅度-數(shù)字轉(zhuǎn)換。數(shù)據(jù)緩存器的變換道數(shù)有 512或1024,硬X射線診斷用的道數(shù)為1024。主放的成形時間為0.3 μs,可容許200 kHz的計(jì)數(shù)率而不產(chǎn)生嚴(yán)重的堆積效應(yīng)。數(shù)據(jù)存儲器用來收集EAST托卡馬克長脈沖放電的能譜。每幅譜的采樣時間從1 ms到500 ms連續(xù)可調(diào),能滿足數(shù)十秒至上百秒的長脈沖放電需要。數(shù)據(jù)存儲安放了內(nèi)置式網(wǎng)卡,從主控計(jì)算機(jī)發(fā)出的指令和采集的數(shù)據(jù)通過網(wǎng)線傳送,工作指令以UDP數(shù)據(jù)包形式發(fā)給數(shù)據(jù)緩存器后,指令將被MEM中的嵌入式CPU執(zhí)行。圖5為MCA工作流程圖,一臺數(shù)據(jù)緩存器可連接8個ADC,一臺計(jì)算機(jī)又可通過 HUB控制多臺數(shù)據(jù)緩存器,所以,在EAST控制室用一臺電腦可以控制多個數(shù)據(jù)的采集[2,9–14]。
圖3 EAST水平七道硬X射線診斷系統(tǒng)示意圖Fig.3 The schematic view of the HXR diagnostic in EAST of 7 detectors.
圖4 硬X射線診斷信號流程圖Fig.4 Block diagram of hard X-ray.
圖5 MCA系統(tǒng)工作流程圖Fig.5 Schematic of MCA system.
在EAST實(shí)驗(yàn)過程中,硬X射線CdTe探測器診斷系統(tǒng)工作良好,信號及信噪比較好,能夠滿足等離子體硬X射線軔致輻射的要求。圖6為典型的EAST托卡馬克LHCD等離子體的放電波形圖,主要參數(shù)為:等離子體電流約250 kA,低雜波的注入功率約 500 kW,等離子體中心弦平均密度約為1.0×10?19m?3,低雜波維持時間約為 3.5 s。從圖中可以看到在加波前后,等離子體密度Ne沒有太大變化,環(huán)電壓從加波前的約2.0 V降至加波期間的大約1.0 V。從環(huán)電壓的下降可明顯看出LHCD驅(qū)動電流的效果,由硬X射線能譜看出,加波前的歐姆放電中硬X射線計(jì)數(shù)非常少,加入LHCD后來自等離子體的硬X射線輻射通量明顯增加。這是由于加波后有更多的快電子產(chǎn)生,使快電子的軔致輻射增強(qiáng)。圖7給出不同密度下LHCD實(shí)驗(yàn)的硬X射線實(shí)驗(yàn)結(jié)果。在同一炮放電情況下,等離子體電流約300 kA,低雜波功率500 kW,由圖7可見,在2.0–2.5 s間等離子體密度約為 1.7×10?19m?3,在 2.8–3.2 s等離子體密度約為 2.5×10?19m?3,可以看出,在等離子體電流、環(huán)電壓以及低雜波功率基本保持不變時,等離子體密度升高后,硬X射線信號輻射強(qiáng)度減弱。圖8為硬X射線在加低雜波平穩(wěn)階段的三維徑向分布圖,X軸為七道探測器的位置分布,Y軸為時間軸,Z軸為硬X射線的輻射強(qiáng)度。其中等離子電流為 400 kA,等離子體密度為 3.2×10?19m?3,低雜波功率約為900 kW,三維徑向分布可給出低雜波能量的沉積位置。
圖6 EAST實(shí)驗(yàn)低雜波電流驅(qū)動的典型實(shí)驗(yàn)結(jié)果Fig.6 Typical waveform of LHCD plasma in EAST.
圖7 EAST不同密度的低雜波實(shí)驗(yàn)Fig.7 Different density of LHCD plasma in EAST.
圖8 LHCD實(shí)驗(yàn)硬X射線徑向強(qiáng)度分布Fig.8 The hard X-ray radial distribution.
在EAST托卡馬克裝置上安裝了基于CdTe(碲化鎘)探測器的水平七道硬 X射線診斷系統(tǒng),該系統(tǒng)具有較好的時間和空間分辨率,并在實(shí)驗(yàn)中取得較好的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,驗(yàn)證了其具有較好的有效性和可靠性。CdTe探測器具有較高的探測效率、較好的能量分辨率,且可在常溫下使用。CdTe探測器信號穩(wěn)定、信噪比也較好。在EAST高參數(shù)實(shí)驗(yàn)中,等離子體的溫度越來越高,相應(yīng)輻射的硬X射線能量也隨之增強(qiáng),因此,將會被能量探測范圍更高的半導(dǎo)體探測器CZT(碲鋅鎘)探頭所取代。CZT是在CdTe中參入Zn,從而增加禁帶寬度,CZT晶體探頭相比CdTe探頭,還具有暗電流更低、電阻率更高、熱穩(wěn)定性更好和帶隙(~1.7 eV)更寬、能量分辨率更高等諸多優(yōu)異的性能。
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