成生偉,田文懷,周 杰
(北京科技大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,北京100083)
電鑄作為一種現(xiàn)代加工技術(shù),在許多領(lǐng)域都有著非常重要的用途。目前,電鑄法制備的藥型罩材料在晶粒的大小、形態(tài)和取向諸方面具有可控性,使得電鑄藥型罩技術(shù)得到了國內(nèi)外相關(guān)行業(yè)的高度重視[1-3],利用電鑄技術(shù)成功地制備了純Cu和純Ni藥型罩[4-6]。鎳及其合金由于具有優(yōu)良的塑性、沖擊韌性和耐腐蝕等特點(diǎn),成為制備藥型罩的首選材料之一[7-8]。W具有高熔點(diǎn)、高密度,Ni具有高聲速、優(yōu)良的動(dòng)態(tài)變形性能,兩者的結(jié)合使得Ni-W合金成為一種有前景的藥型罩合金材料[9-11],但相關(guān)的研究還未見報(bào)道。
本文用電鑄法制備了不同成分的Ni-W合金,研究了退火溫度對(duì)電鑄合金的微觀組織和硬度的影響,為后續(xù)的藥型罩制備提供試驗(yàn)依據(jù)。
以氨基磺酸鎳和鎢酸鈉為主鹽,檸檬酸為絡(luò)合劑,用直流電鑄法制備3種Ni-W合金。表1列出了3種鍍液的組成及工藝條件。用氨水調(diào)節(jié)電鑄液pH為4~6,陽極采用質(zhì)量分?jǐn)?shù)為99.98%的鎳板,陰極為單面用過氯乙烯膠絕緣的不銹鋼薄片,工作面積為0.50 cm×0.85 cm。電鑄液用磁力攪拌器中速攪拌,轉(zhuǎn)速為900 r/min,電鑄溫度設(shè)定為70℃,陰極電流密度為10 A/dm2,電鑄時(shí)間設(shè)定為3 h。
對(duì)制備的3種合金分別在400℃、500℃、600℃和700℃到溫入爐,保溫2 h,然后空冷。Ni-W合金的晶體結(jié)構(gòu)利用日本理學(xué)(Rigaku)D/MAX-RB型X射線衍射儀(XRD)進(jìn)行解析確定,化學(xué)成分利用LEO-1450掃描電子顯微鏡能譜分析技術(shù)(SEM-EDS)進(jìn)行測(cè)定。合金熱處理前后的顯微硬度變化利用MVX-A顯微硬度計(jì)進(jìn)行測(cè)定,載荷為1 N,作用時(shí)間15 s。合金的顯微組織利用OLYMPUS-BX51M型金相顯微鏡進(jìn)行觀察。
表1 電鑄Ni-W合金溶液成分
改變電鑄液中W、Ni的含量制備了3種不同W含量的Ni-W合金。表2列出了3種試樣的化學(xué)成分分析結(jié)果(試樣編號(hào)對(duì)應(yīng)表1中的3種電鑄方案)。從表2可以看出:隨著電鑄液中Na2WO4·2H2O與Ni(NH2SO3)2·4H2O比值的增大,所制備的Ni-W合金中W含量也增大。
對(duì)3種電鑄Ni-W合金的X射線衍射分析結(jié)果,如圖1所示。由圖1可以看出:隨著試樣中W元素含量的增加,電鑄合金從最開始的晶態(tài)逐漸過渡到非晶態(tài)。當(dāng)w(W)=2.61%時(shí),合金在 44.43°、51.84°、76.12°處都出現(xiàn)較強(qiáng)的衍射峰,且峰非常尖銳,這表明電鑄合金呈晶態(tài)且為Ni(W)固溶體。因?yàn)閃原子半徑(r=0.137 0 nm)大于Ni原子半徑(r=0.124 3 nm),W的固溶會(huì)引起Ni晶格的膨脹,從而導(dǎo)致Ni衍射峰的左移。隨著W含量增加(w(W)=35.35%),Ni衍射峰進(jìn)一步向低角方向移動(dòng),同時(shí)衍射峰寬化,峰強(qiáng)降低。當(dāng)w(W)=45.52%時(shí),電鑄Ni-W合金的X射線衍射譜圖呈現(xiàn)為漫散射包,表明合金為非晶態(tài)結(jié)構(gòu)。這與文獻(xiàn)[9-10]所得結(jié)果相一致。Ni-W合金非晶態(tài)結(jié)構(gòu)形成的緣由,主要是由于鑄層中W元素含量的增加,造成Ni晶格的畸變,從而引起體系自由能的升高。隨著鍍層中W元素含量的不斷增加,體系自由能也不斷升高。當(dāng)W元素含量增加到一定程度時(shí),體系的自由能上升到能夠躍遷過晶態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榉蔷B(tài)的“勢(shì)壘”,就轉(zhuǎn)變到“亞穩(wěn)態(tài)”的非晶態(tài)結(jié)構(gòu)。
表2 3種試樣的SEM-EDS化學(xué)成分分析結(jié)果
為了進(jìn)一步了解電鑄Ni-W合金的結(jié)構(gòu),本文進(jìn)行了熱處理試驗(yàn),并測(cè)量了顯微硬度。圖2為電鑄合金經(jīng)不同溫度(t)熱處理后的維氏硬度(HV)變化圖。未熱處理時(shí),W的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為2.61%的合金硬度為HV495。隨著W質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增加,電鑄合金的硬度提高,當(dāng) W質(zhì)量分?jǐn)?shù)為 45.52%時(shí),合金硬度高達(dá)HV597。含W質(zhì)量分?jǐn)?shù)為2.61%的電鑄合金隨著熱處理溫度的提高,硬度一直降低。而W質(zhì)量分?jǐn)?shù)為35.35%和45.52%的兩種合金則表現(xiàn)為先升后降,都在500℃達(dá)到最大值,并且均接近HV1 000。另外,在每個(gè)熱處理溫度時(shí),W質(zhì)量分?jǐn)?shù)高的合金,其硬度均高于質(zhì)量分?jǐn)?shù)低的電鑄合金。
圖1 電鑄Ni-W合金的X射線衍射圖譜
圖3為3種Ni-W電鑄合金在不同溫度熱處理后的XRD結(jié)果。從圖3a可看出:低W含量(w(W)=2.61%)的電鑄合金,在不同溫度的熱處理后,晶體結(jié)構(gòu)沒有發(fā)生變化,均具有與Ni一樣的面心立方結(jié)構(gòu)。依據(jù)Ni-W合金的平衡相圖,Ni在室溫只能溶入質(zhì)量分?jǐn)?shù)為32.50%的W,所以w(W)=35.35%的合金為過飽和固溶體(見圖3b),在500℃熱處理以前,其晶體結(jié)構(gòu)基本無變化,只是在(111)、(200)、(220)等晶面相應(yīng)的衍射峰變尖銳;500℃熱處理以后析出了Ni4W相。通常XRD分析,在新相析出的量和它的晶粒尺寸沒達(dá)到檢測(cè)限之前,由于衍射線微弱,所以檢測(cè)不到新相的生成。但這并不意味著新相在500℃以前不存在。正是由于析出的新相微晶粒彌散在母體中,才使得合金的硬度升高。圖3c中,W質(zhì)量分?jǐn)?shù)為45.52%的非晶態(tài)電鑄合金在400℃之前無明顯變化,仍為非晶態(tài),經(jīng)500℃熱處理后轉(zhuǎn)變?yōu)榫B(tài)結(jié)構(gòu),并且有新的衍射峰出現(xiàn),有新相Ni4W生成。
圖4為3種合金在600℃熱處理后的二次電子相。由圖4a可看出:600℃熱處理后,低W含量的合金晶粒尺寸為2 μm,W質(zhì)量分?jǐn)?shù)為35.35%的合金晶粒尺寸如圖4b所示,約為1 μm,而W質(zhì)量分?jǐn)?shù)為45.52%的合金如圖4c所示,晶粒尺寸約為0.8 μm。圖5為700℃熱處理后合金的金相圖。與600℃熱處理相比,3種合金的晶粒尺寸均明顯增大。W含量從低到高,3種合金的晶粒尺寸分別為20 μm、18 μm和8 μm。這說明600℃熱處理后,高W含量合金的硬度降低主要是緣于合金的晶粒尺寸增大。
圖2 電鑄Ni-W合金的硬度
圖3 電鑄Ni-W合金熱處理后的X射線衍射圖譜
圖4 600℃熱處理后合金的二次電子像
圖5 700℃熱處理后合金的金相圖
根據(jù)對(duì)電鑄合金的XRD分析結(jié)果,w(W)=2.61%的合金為Ni(W)固溶體,其硬度一般比電鑄純Ni的硬度高[7],這主要是由于W的加入有利于晶粒細(xì)化,從而強(qiáng)化了Ni基體。w(W)=35.35%的合金為過飽和固溶體,依據(jù)Orowan彌散強(qiáng)化機(jī)制,在600℃熱處理前,析出的細(xì)小的硬質(zhì)第二相將大幅提高基體的強(qiáng)度。繼續(xù)提高熱處理溫度,第二相的晶粒尺寸變大,數(shù)目減少,從而硬度降低。w(W)=45.52%的電鑄合金初始為非晶態(tài),此時(shí)的高硬度主要來源于非晶態(tài)的無序結(jié)構(gòu)。當(dāng)熱處理溫度低于500℃時(shí),合金硬度隨著熱處理溫度的升高而升高,這是由于合金的微晶化和Ni4W新相的析出所致。其后硬度降低的原因與含W質(zhì)量分?jǐn)?shù)為35.35%的合金的原因相同。
(1)電鑄Ni-W合金的結(jié)構(gòu)與W含量密切相關(guān),隨著W含量的增加,W的固溶引起Ni晶格畸變,體系自由能升高,促使合金由晶態(tài)向非晶態(tài)結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變。當(dāng)W質(zhì)量分?jǐn)?shù)為45.52%時(shí),Ni-W電鑄合金出現(xiàn)非晶態(tài)結(jié)構(gòu)。
(2)隨著W質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增加,Ni-W合金的硬度也逐漸增加。電鑄Ni-W晶態(tài)合金的高硬度源于W原子固溶在Ni晶格中引起的固溶強(qiáng)化和細(xì)晶強(qiáng)化;而非晶態(tài)合金的高硬度則與非晶態(tài)的無序結(jié)構(gòu)有關(guān)。提高熱處理溫度,低W含量的電鑄合金硬度逐漸降低;而過飽和的晶態(tài)合金則先升后降,這主要與過飽和固溶體的析出有關(guān);非晶態(tài)合金的硬度也是先升后降,這源于熱處理過程中非晶體的晶化及后續(xù)的析出強(qiáng)化。
[1]趙騰,羅虹,賈萬明,等.影響藥型罩材料使用性能的因素研究[J].兵器材料科學(xué)與工程,2007,30(5):82-86.
[2]胡忠武,李中奎,張廷杰,等.藥型罩材料的發(fā)展[J].稀有金屬材料與工程,2004,33(10):1009-1012.
[3]高曉軍,徐宏,郭志俊,等.爆炸成形彈藥型罩材料的現(xiàn)狀和趨勢(shì)[J].兵器材料科學(xué)與工程,2007,30(2):85-88.
[4]李小慶,田文懷,楊峰,等.電鑄鎳藥型罩的微觀組織及織構(gòu)分析[J].兵器材料科學(xué)與工程,2004,27(2):29-32.
[5]Fan A L,Li S K,Tian W H,et al.Comparison of Microstructures in Electroformed and Spin-formed Copper Liners of Shaped Charge Undergone High-strain-rate Deformation[J].Transactions of Nonferrous Metals Society of China,2007,17(6):1447-1450.
[6]Tian W H,F(xiàn)an A L,Gao H Y,et al.Comparison of Microstructures in Electroformed Copper Liners of Shaped Charges Before and After Plastic Deformation at Different Strain Rates[J].Materials Science and Engineering A,2003,350:160-167.
[7]王雷,李珍,李春華,等.退火處理對(duì)電鑄鎳藥型罩組織與性能的影響[J].功能材料,2010,41(12):2049-2056.
[8]李春華,成生偉,王雷,等.電鑄鎳藥型罩侵徹體的高速變形行為[J].北京科技大學(xué)學(xué)報(bào),2011,33(1):53-59.
[9]Mizushima I,Peter T T,Marcel A J S.Identification of an Anomalous Phase in Ni-W Electrodeposits[J].Surface &Coatings Technology,2008,202:3341-3345.
[10]李潔瓊,姜秉元.電沉積Ni-W-P非晶合金的組織結(jié)構(gòu)與耐蝕性能[J].河南科技大學(xué)學(xué)報(bào):自然科學(xué)版,2003,24(4):8-11.
[11]吳玉程,舒霞,解挺,等.Ni-W,Ni-Fe合金納米晶涂層電沉積與性能研究[J].中國表面工程,2005,18(3):2-7.