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成型方式對(duì)反應(yīng)燒結(jié)碳化硅顯微結(jié)構(gòu)及強(qiáng)度的影響

2011-02-06 12:44:26武七德劉開(kāi)松屠隆李娜
陶瓷學(xué)報(bào) 2011年3期
關(guān)鍵詞:坯體碳化硅炭黑

武七德 劉開(kāi)松 屠隆 李娜

(武漢理工大學(xué)硅酸鹽材料工程教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,湖北武漢430070)

0 前言

反應(yīng)燒結(jié)碳化硅(RBSC)陶瓷的燒結(jié)溫度低(1450℃~1500℃)、燒結(jié)時(shí)間短[1]、燒結(jié)體尺寸變化小,能獲得無(wú)孔的致密陶瓷,是制備大尺寸、復(fù)雜形狀SiC材料的有效的方法。研究表明,制備高性能的RBSC材料關(guān)鍵在于控制坯體微觀結(jié)構(gòu)的均勻性[2],它決定了燒結(jié)體內(nèi)部缺陷的數(shù)量和大小,其中,游離硅的含量與尺寸是RBSC材料強(qiáng)度主要決定因素[3-6]。

S.Suyama[7]等采用1μm的SiC粉體,通過(guò)注漿成型工藝制備了坯體結(jié)構(gòu)均勻的RBSC陶瓷,認(rèn)為細(xì)粒徑的SiC有利于獲得細(xì)小且均勻分布的游離硅(fSi),fSi尺寸達(dá)到100nm時(shí),強(qiáng)度達(dá)到1GPa。MatthiasWilhelm[5]等用壓制成型(Pressure forming,PF)制備RBSC,認(rèn)為粒徑大于3μm的SiC顆粒不易制備高強(qiáng)度的RBSC,采用平均粒徑為1.5μm的細(xì)顆粒SiC獲得了強(qiáng)度為583MPa的RBSC材料。但當(dāng)SiC粒徑小于0.5μm時(shí),燒結(jié)體中易出現(xiàn)較大的硅斑和硅線裂紋等缺陷。

國(guó)內(nèi)外對(duì)凝膠澆注(Gel-casting,GC)成型工藝進(jìn)行了大量的研究。聶麗芳[8]等采用4.5μm與29μm的SiC粉體級(jí)配,以GC成型制備了強(qiáng)度為475MPa的反應(yīng)燒結(jié)碳化硅碳纖維復(fù)合材料;劉海林[9]等用3.8μm與43μm的SiC粉級(jí)配,GC成型制備的RBSC抗彎強(qiáng)度最高為367.69MPa。但以單一粒徑的SiC細(xì)粉(<1μm)為原料,通過(guò)GC成型制備致密的RBSC卻鮮有報(bào)道。本研究以0.8μm的SiC粉為原料,對(duì)比了GC成型和PF成型對(duì)RBSC陶瓷微觀結(jié)構(gòu)及性能的影響,分析了燒結(jié)體內(nèi)缺陷產(chǎn)生的原因,獲得了較高強(qiáng)度的RBSC陶瓷。

1 實(shí)驗(yàn)過(guò)程

實(shí)驗(yàn)原料:SiC,D50=0.8μm,純度97.7%;炭黑的平均粒徑為0.38μm,灰分含量≤200PPM。

PF成型:將炭黑與SiC粉按一定比例混合,加入2%硬脂酸鋅為潤(rùn)滑劑,1%聚乙烯醇(PVA)為粘結(jié)劑,用行星球磨機(jī)濕混2h。原料干燥并破碎后以100目篩造粒,以200MPa壓力壓制成直徑50mm,厚5mm的坯體,坯體干燥并在N2保護(hù)下排膠至900℃后,于1500℃下真空滲硅燒結(jié)。

GC成型:將丙烯酰胺(AM)與N,-N亞甲基雙丙烯酰胺(MBAM)及炭黑分散劑聚乙烯吡咯烷酮(PVP)制成預(yù)混液(AM占5%,MBAM為AM的10%,PVP占炭黑的3%),加入炭黑球磨分散30min后加入分散劑四甲基氫氧化銨(TMAH),調(diào)整溶液的pH值為10.5,加入SiC粉球磨分散2h,制備固含量為50~55vol%的SiC/C陶瓷料漿,加入適量消泡劑NXZ,真空除泡后加入2%AM的引發(fā)劑過(guò)硫酸銨(APS)在65℃下固化,坯體烘干排膠后于1500℃下真空滲硅燒結(jié)。

表1 兩種成型方式下RBSC燒結(jié)體的性能Tab.1 Properties of RBSC achieved through different molding methods

圖1 成型方式與RBSC強(qiáng)度的關(guān)系Fig.1 Effect of the molding method on the bending strength of RBSC

以阿基米德排水法測(cè)定試樣密度。以三點(diǎn)彎曲在美國(guó)MTS公司810型陶瓷試驗(yàn)機(jī)上測(cè)試材料的強(qiáng)度,試樣為尺寸3mm×4mm×40mm,跨距L=30mm,加載速率0.5mm/min。以壓汞儀測(cè)試素坯的孔結(jié)構(gòu),光學(xué)顯微鏡和SEM觀察試樣的顯微結(jié)構(gòu)和斷口形貌。

2 結(jié)果與分析

2.1 成型方式對(duì)RBSC抗彎強(qiáng)度的影響

本研究采用控制素坯總碳密度ρC-即素坯中的SiC與外加炭總量的方法[11],來(lái)控制RBSC的燒結(jié)密度,其計(jì)算公式可以表示如下:

式中,ρC為坯體中的總碳密度;ρ素為素坯密度;FSiC、FC和F添分別為素坯中SiC、炭素和添加劑的質(zhì)量百分?jǐn)?shù);MC和MSiC分別為碳化硅和碳的分子質(zhì)量;xC為添加劑焙燒后的殘?zhí)柯省?/p>

以0.8μm的SiC在兩種成型方式下制備的RBSC試樣密度和彎曲強(qiáng)度的實(shí)測(cè)值見(jiàn)表1。

由圖1可見(jiàn),隨ρC增加,兩種成型方式制備的RBSC強(qiáng)度整體呈增大的趨勢(shì),這是由于SiC含量增加,fSi減少的緣故。在ρC相近時(shí),GC燒結(jié)體的強(qiáng)度明顯高于PF燒結(jié)體,當(dāng)ρC為0.861g/cm3時(shí),PF成型RBSC的強(qiáng)度驟降,而GC成型的坯體在ρC=0.863g/cm3時(shí)仍能夠完全燒透,RBSC的密度為3.12g/cm3,抗彎強(qiáng)度為690MPa。這說(shuō)明GC成型比PF成型獲得的素坯結(jié)構(gòu)更均勻,有利于高溫下液態(tài)硅的浸滲;而PF成型工藝難以實(shí)現(xiàn)SiC和C顆粒的均勻分散,導(dǎo)致素坯中局部ρC過(guò)高,反應(yīng)的體積效應(yīng)易導(dǎo)致燒結(jié)滲硅阻塞,殘存反應(yīng)不完全的游離碳和氣孔,影響了材料的強(qiáng)度和燒結(jié)密度。

2.2 成型工藝對(duì)RBSC素坯孔結(jié)構(gòu)的影響

成型工藝影響陶瓷素坯的內(nèi)部結(jié)構(gòu)均勻性,而坯體的微觀結(jié)構(gòu)能直接影響滲硅反應(yīng)過(guò)程[12-13],從而決定燒結(jié)體中fSi的分布形態(tài)。

圖2(a)(b)分別為試樣A2和B2的素坯斷面的SEM照片,圓形顆粒的是C,塊狀顆粒的是SiC。如圖可見(jiàn),A2樣中的孔結(jié)構(gòu)大小均一,形狀規(guī)則,SiC和炭黑顆粒相互包裹,分散均勻;而B(niǎo)2樣內(nèi)部存在大小不一的孔,這是由于PF過(guò)程難以完全消除粉體之間的“橋拱效應(yīng)”,且潤(rùn)滑劑和成型壓力的分布不均,易造成粉體團(tuán)聚,因此,降低了素坯結(jié)構(gòu)的均勻性。

圖3為A2和B2的素坯壓汞測(cè)試孔徑分布曲線。從圖中可以看出,兩種成型方式的素坯孔結(jié)構(gòu)曲線均具有單峰性。較之PF成型,GC成型素坯的密度稍底,平均孔徑稍大,孔徑分布范圍更窄。從金相照片結(jié)果可見(jiàn)(圖4b),均勻的孔結(jié)構(gòu)是燒結(jié)體中fSi分布均勻的原因,但A2燒結(jié)體中明顯存在部分10μm右的較大圓硅斑,這是料漿中殘留的氣泡所致,而壓汞曲線中未見(jiàn)反映,這是由于素坯內(nèi)存在部分“墨水瓶”孔,由這些孔引起測(cè)試的滯后效應(yīng)。Washburn方程計(jì)算所得的孔半徑將不能真實(shí)地表示其真實(shí)的孔半徑,導(dǎo)致毛細(xì)管分級(jí)半徑過(guò)小[14]。因此應(yīng)該注意,使用壓汞儀以單調(diào)升壓的方法所測(cè)得的孔結(jié)構(gòu)曲線,并不完全代表真實(shí)的孔結(jié)構(gòu)。采用RBSC燒結(jié)試樣的金相觀察和素坯壓汞曲線分析相結(jié)合的方法,可更好地反映素坯的結(jié)構(gòu)特征。

2.3 成型方式對(duì)RBSC材料顯微結(jié)構(gòu)的影響

圖4為兩種成型方式所獲坯體燒結(jié)后RBSC的金相顯微結(jié)構(gòu)。

從圖4(a)中可以看出,燒結(jié)體B2中少數(shù)fSi的尺寸分布寬,部分尺度>10μm。從fSi呈片狀判斷,可能是PVA在濕混-烘干過(guò)程中富集于料層表面,排膠后成為片狀大氣孔。此外,由于微粉之間的咬合摩擦引起的“橋拱效應(yīng)”也易造成大氣孔,燒成后形成大硅斑。(b)是A2樣的金相照片,其中存在部分5~15μm的圓形硅斑,這是由于料漿消泡不徹底造成的。由于Si的膨脹系數(shù)和彈性模量與SiC差異較大,RBSC材料在燒結(jié)完成后冷卻到室溫的過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生殘余應(yīng)力,大硅斑往往成為材料受力時(shí)的開(kāi)裂源,從而影響材料的強(qiáng)度。(a)(b)比較可見(jiàn),燒結(jié)體A2中網(wǎng)狀的fSi分布更均勻,形成了大量曲折的界面相,在燒結(jié)體密度相當(dāng)時(shí),A2的強(qiáng)度高于B2。因此,以SiC微粉制備細(xì)晶RBSC,fSi呈細(xì)小的均勻網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分布是強(qiáng)度提高的重要原因。

為減少大硅斑缺陷,以自制改性SiC粉制備了固含量為52vol%,粘度<750mPa·s的漿料,真空消泡后,燒結(jié)體A4中硅斑的數(shù)量顯著減少(c),fSi平均尺寸1μm,材料抗彎強(qiáng)度達(dá)690MPa,但燒結(jié)體內(nèi)仍存在少數(shù)3~5μm的圓硅斑,若能進(jìn)一步消除微泡,則材料的強(qiáng)度還有提高的潛力。

3 結(jié)論

(1)以0.8μmSiC微粉制備RBSC時(shí),較之PF成型,GC成型的素坯碳的分布更均勻,有利于RBSC的浸滲反應(yīng)。當(dāng)素坯ρC達(dá)到0.863g/cm3時(shí),GC成型坯體燒結(jié)密度達(dá)3.12g/cm3,而PF成型坯體在碳含量為0.861g/cm3時(shí),發(fā)生滲硅阻塞,燒結(jié)密度降低。

(2)RBSC的素坯孔結(jié)構(gòu)直接影響燒結(jié)體中fSi的分布形態(tài)。GC成型比PF成型的坯體孔結(jié)構(gòu)均勻,燒結(jié)體中fSi呈細(xì)小的網(wǎng)狀均勻分布,這是細(xì)晶RBSC強(qiáng)度提高的重要原因。

(3)以改性后的0.8μmSiC微粉GC成型獲得了結(jié)構(gòu)較均勻的RBSC,減少了燒結(jié)體中大硅斑數(shù)量和尺度,RBSC材料的強(qiáng)度達(dá)690MPa。

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