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直流磁控濺射ZnO∶Al薄膜過程中氧氣濃度的研究*

2010-12-21 06:25:20韋新穎祁康成袁紅梅張良燕
電子器件 2010年1期
關(guān)鍵詞:磁控濺射載流子導(dǎo)電

韋新穎,祁康成,袁紅梅,張良燕

(電子科技大學(xué)光電信息學(xué)院, 成都610054)

ZnO∶Al(ZAO)是通過Al替位式取代ZnO結(jié)構(gòu)中的Zn而形成的一種透明導(dǎo)電氧化物薄膜(TCO)。其光電性質(zhì)與ITO相當(dāng);制備原材料廉價(jià)、豐富,制備過程不會(huì)產(chǎn)生污染性物質(zhì);穩(wěn)定性好,尤其在氫等離子環(huán)境中??蓮V泛用作太陽(yáng)能電池、平板顯示器、發(fā)光二極管等光電器件中的透明電極。因此, ZAO薄膜被認(rèn)為是未來替代ITO薄膜的最佳候選者[1]。

目前,ZAO薄膜有多種制備方法,比如:噴霧熱解法[2](spray prolysis technique), 溶膠-凝膠法(Solgel)[3],化學(xué)氣相沉積法(CVD)[4], 磁控濺射法[5-6]等。而磁控濺射法以其所制備薄膜的附著性好,成份可控制,低溫、工藝成熟等優(yōu)點(diǎn),而被廣泛采用。研究表明ZAO薄膜的性能與制備時(shí)濺射氣體[7],濺射功率、氧分壓[5],氣流強(qiáng)度、襯底溫度、摻雜濃度[8-9],退火時(shí)間及環(huán)境[10]等因素有關(guān)。本文以鋅鋁合金為濺射靶,采用直流磁控濺射的方法,制備ZAO薄膜,研究不同氧氣濃度條件下ZAO薄膜的結(jié)構(gòu)及光電性質(zhì)。

1 實(shí)驗(yàn)

采用直流反應(yīng)濺射的方法,制備ZAO薄膜,鋅鋁合金為靶材(含鋁質(zhì)量分?jǐn)?shù)2 %),氬氣(99.999 %)為濺射氣體,氧氣(99.995%)為反應(yīng)氣體,本底真空為6.5×10-4Pa, K9玻璃基底,基底溫度250 ℃,靶到基底的距離為70 mm。濺射時(shí)先通氬氣預(yù)濺以清潔靶面,待輝光穩(wěn)定之后,通入氧氣進(jìn)行反應(yīng)預(yù)濺,輝光再次穩(wěn)定后開始濺射。由于氧氣比氬氣更易電離,隨著通氧量增加電壓會(huì)很快下降,電流迅速升高。

用JSM-6490LV型掃描電子顯微鏡分析表面形貌及其成份, DX-2600型X射線衍射儀(射線源為CuKê, λ=0.154 184 nm)分析晶體結(jié)構(gòu), D41-3型四探針測(cè)試儀測(cè)方阻, UV-1700型分光光度計(jì)測(cè)透射率, SE850型橢圓偏振儀測(cè)厚度。

2 結(jié)果與討論

2.1 氧氣濃度對(duì)ZAO結(jié)構(gòu)、形貌的影響

圖1是氧氣濃度為12%時(shí)樣品的EDS成份圖譜。圖譜中Zn, O, Al的峰比較明顯,說明所制備薄膜主要成分是以這三種元素,純度高,鋁元素被有效的摻進(jìn)。

圖1 EDS成份圖

X射線衍射譜(圖2)顯示了纖鋅礦氧化鋅的(002)面和(004)面峰位而未出現(xiàn)氧化鋁的特征峰,且(002)面的峰很強(qiáng)。這說明所制備的ZAO薄膜形成的是纖鋅礦ZnO結(jié)構(gòu),并且沿(002)面擇優(yōu)生長(zhǎng)。與標(biāo)準(zhǔn)纖鋅礦ZnO(﹟ 65-3411)的XRD圖譜相比峰位衍射角右移,衍射角變大,根據(jù)布喇格(Bragg)衍射公式:

式中n為整數(shù), λ入射波波長(zhǎng), d晶面間距, θ為衍射角??梢姡苌浣亲兇?,晶面距減小(如表1)。這是由于Al3+(r=0.072 nm)對(duì)ZnO晶格中Zn2+(r=0.053 nm)的取代, Al3+半徑比Zn2+半徑小發(fā)生晶格畸變所形成的[5-6,8],晶體中沿c軸方向存在應(yīng)力也說明了這一點(diǎn)[5,8]。因此, 所制備薄膜的結(jié)構(gòu)是ZnO的纖鋅礦結(jié)構(gòu), Al3+替位式取代了結(jié)構(gòu)中的Zn2+。

圖2還顯示了氧氣濃度10 %時(shí)(002)面衍射峰的強(qiáng)度很小, 12 %時(shí)強(qiáng)度最強(qiáng),隨著氧氣濃度進(jìn)一步增加,隨之下降,晶粒也表現(xiàn)為先增大后減小趨勢(shì)(表1)。其原因是:氧氣濃度小時(shí),濺射室內(nèi)濺射出的反應(yīng)鋅粒子與氧反應(yīng)粒子的接觸幾率相對(duì)較小,晶粒難以長(zhǎng)大,容易形成非化學(xué)計(jì)量比的、結(jié)構(gòu)缺陷較多的ZAO薄膜;其它濺射條件不變,隨著氧氣濃度的增加,各反應(yīng)粒子充裕,反應(yīng)充分結(jié)晶性得到改善;但是隨著氧氣濃度的增加,極間電壓迅速下降,濺射出的反應(yīng)鋅原子能量較低,在基片上的移動(dòng)性差,導(dǎo)致成膜粒子來不及長(zhǎng)大就聚集成膜,結(jié)晶性下降,晶粒變小[11-12]。

圖2 不同氧氣濃度ZnO∶Al薄膜的XRD譜

表1 標(biāo)準(zhǔn)氧化鋅(#65-3411)與不同氧氣濃度時(shí)ZAO薄膜的XRD數(shù)據(jù)

與之對(duì)應(yīng),材料的表面形貌的不同也可以作相應(yīng)解釋。如圖3所示,氧氣濃度小時(shí)材料表面的孔小而淺,氧濃度越大孔大而深。由此可見,適當(dāng)?shù)难鯕鉂舛葘?duì)ZAO膜的結(jié)晶、形貌有很大的影響。

圖3 氧氣濃度10 %, 12 %, 15 % ZnO∶Al薄膜的SEM圖片

2.2 氧氣濃度對(duì)ZAO薄膜電阻率的影響

作為透明導(dǎo)電薄膜,電導(dǎo)率是衡量薄膜優(yōu)劣的重要參數(shù)。由σ=nеμ知:電導(dǎo)率(σ)是載流子濃度(n)和遷移率(μ)的函數(shù), ZAO薄膜中起導(dǎo)電作用的載流子主要源于氧空位、間隙鋅(Vo, Zni)和替位式摻雜Al3+濃度[13-14];載流子的遷移率依賴于各種散射機(jī)制(離化雜質(zhì)散射,晶粒間界散射,晶格振動(dòng)散射)和材料溫度[6]。可見,薄膜的結(jié)晶性越好,越有利于提高載流子的遷移率從而減小薄膜的電阻率。

圖4是不同的氧氣濃度與ZAO薄膜電阻率關(guān)系曲線。曲線表明:隨著氧氣濃度的增加,薄膜的電阻率表現(xiàn)為先減小,后增大的。氧氣濃度12%時(shí)方阻最小(5.74 Ω/□),橢偏儀測(cè)得此ZAO薄膜厚度為640 nm,由方塊電阻的定義:

式中ρ為薄膜電阻率, t為薄膜厚度。算得薄膜電阻率為3.67×10-4Ω?cm;當(dāng)氧氣濃度過低時(shí),薄膜中存在嚴(yán)重的氧空位使薄膜呈現(xiàn)類金屬色(灰暗色)。同時(shí),薄膜中殘余應(yīng)力過大,會(huì)擾亂晶格排列的周期性而惡化薄膜質(zhì)量(由2.1知薄膜的結(jié)晶性差);當(dāng)氧氣濃度不斷升高到某一最佳值(12 %)時(shí),氧空位濃度變得適中,而且替位Al也最大限度的發(fā)揮了施主作用。薄膜的結(jié)晶性也得到改善(根據(jù)2.1分析),因而電阻不斷下降到最小值(2.16×10-4Ω?cm)。進(jìn)一步增加氧氣濃度①有利于本征氧化鋅的形成,但減少了氧空位, ②由于鋁的摻入,鋁元素更易被氧化,形成氧化鋁結(jié)構(gòu),失去摻雜效果而且會(huì)成為載流子的散射中心。因此,薄膜的電阻率迅速增大(n和μ都減少)。因此,適當(dāng)?shù)难鯕鉂舛仁侵苽渚哂辛己脤?dǎo)電性的ZAO薄膜的關(guān)鍵。

圖4 不同氧氣濃度下ZnO∶Al薄膜的電阻率

2.3 氧氣濃度對(duì)ZAO薄膜透過率的影響

寬禁帶是透明導(dǎo)電薄膜的另一顯著特征,從而保證了其對(duì)近紅外和可見光部分的透明性。本征氧化鋅的禁帶寬度在3.35 eV附近[15],并且隨著薄膜中載流子的增加,吸收邊向短波方向移動(dòng),出現(xiàn)禁帶變寬的BM效應(yīng)[6,8,10]。

圖5是不同氧氣濃度薄膜的透過率曲線。該圖表明在本實(shí)驗(yàn)條件下所制備的ZAO薄膜在可見光部分(400 nm~800 nm)的平均透過高于90 %,優(yōu)于文獻(xiàn)[5-6,8,10]中報(bào)道。氧氣濃度越小,透過波長(zhǎng)限越短,如10%的氧氣濃度時(shí)350 nm附近還有20%左右的透過率??梢姽饧敖t外部分透過率的波動(dòng)源于因膜厚變化引起的干涉效應(yīng)或入射光與薄膜厚度之間的相互作用引起的干涉效應(yīng)。

可見光部分,透射率T可表示為[16]:

R是反射率, d是膜厚, λ是波長(zhǎng)。可見T是周期性函數(shù),厚度一定時(shí), T隨入射光波長(zhǎng)周期性變化;一定的波長(zhǎng)范圍內(nèi),膜厚越大, T的波動(dòng)越明顯。

圖5 不同氧氣濃度下ZAO薄膜的透過率

3 結(jié)論

利用直流磁控濺射法制備了ZAO透明導(dǎo)電薄膜。實(shí)驗(yàn)表明適當(dāng)?shù)难鯕鉂舛仁侵苽渚哂袃?yōu)良光電性能的ZAO薄膜的關(guān)鍵。隨著氧氣濃度的增加薄膜的結(jié)晶性、電阻率均出現(xiàn)最佳值,對(duì)透過率的影響主要表現(xiàn)在吸收限上,氧氣濃度越小吸收限向短波移動(dòng)。綜合各因素氧氣濃度12 %最適, 所制備ZAO薄膜具有沿c軸擇優(yōu)生長(zhǎng)性,表面形貌良好,最小電阻率達(dá)3.67×10-4Ω?cm,可見光部分平均透過率高于90 %。

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