王曰輝,張曉飛,李紅紅,胡晉鈺,李剛
太原重工股份有限公司齒輪傳動(dòng)分公司 山西太原 030024
滲碳淬火圓柱漸開線齒輪磨齒后,公法線已達(dá)到零件圖樣下差要求,發(fā)現(xiàn)漸開線可用齒根圓直徑不足。圖樣要求漸開線起始圓直徑<540.74mm,實(shí)測左齒面為φ542.73mm,右齒面為φ541mm,均不滿足圖樣技術(shù)要求[1-3]。
常見圓柱漸開線滲碳淬火齒輪制造工藝流程為滾齒(銑齒)→齒端倒角→滲碳淬火→精車→磨齒。本零件齒形粗加工采用銑齒工藝,如圖1所示。
圖1 銑齒加工
通過工序流程結(jié)合生產(chǎn)實(shí)際綜合分析,造成齒輪漸開線起始圓直徑不足的原因主要有齒形粗加工刀具設(shè)計(jì)及制造問題(滾刀或銑刀),滲碳淬火熱處理變形,滲碳后精車工序找正偏差,以及磨齒工序余量分配不均勻。
由于齒輪的特殊性,齒輪滲碳淬火過程中會發(fā)生如橢圓、錐變、翹曲及腰鼓等類的變形,將造成齒輪原加工基準(zhǔn)(內(nèi)孔及端面)無法繼續(xù)作為精加工基準(zhǔn)。由于齒部金屬切除效率低,齒部相對內(nèi)孔、端面余量較少,滲碳淬火后精車過程中,目前常采用的方法是應(yīng)用節(jié)圓棒齒部節(jié)圓找正。如果齒部節(jié)圓找正不合理或未按齒部節(jié)圓找正,疊加熱處理變形,會進(jìn)一步造成齒部余量不均勻,因此,在磨齒前余量分配過程中,左齒面、右齒面不同齒,以及同齒不同齒寬方向的余量分配狀況,可直接反映熱處理變形與滲碳淬火后的精車找正偏差。
分別對齒輪第1、8、16和24齒的左右兩側(cè)齒面沿齒寬方向靠近兩側(cè)齒端及中間進(jìn)行齒部余量分配,余量分配結(jié)果見表1。
表1 磨齒余量分配結(jié)果 (單位:mm)
從余量分配結(jié)果看,左齒面余量最大0.46mm(齒部留磨量0.40mm),最小0.26mm;右齒面余量最大0.40mm,最小0.26mm。對于同一齒,左齒面余量最大偏差0.11mm,右齒面最大偏差也是0.11mm。整體進(jìn)行余量分析,該零件熱處理變形及滲碳淬火后精車找正均滿足工藝設(shè)計(jì)要求。
齒形粗加工過程中,為了驗(yàn)證刀具設(shè)計(jì)及制造精度,一般應(yīng)留余量進(jìn)行檢測,但該零件齒形粗加工采用成形銑齒工藝,切削深度留余量后齒廓已不是漸開線形,無法通過齒檢儀衡量,如圖2所示。
圖2 銑齒切削深度留余量齒廓對比
為了驗(yàn)證齒形粗加工刀具設(shè)計(jì)及制造精度,并減少熱處理變形,考慮到滲碳淬火后精車找正偏差,以及磨齒余量分配不均勻等多種因素影響,制造同齒外圓直徑試驗(yàn)件(齒寬及內(nèi)孔直徑可以不一致),采用相同的刀具、相同的切削深度粗切齒形(切削深度應(yīng)到粗切齒形要求的公法線尺寸),按照公法線跨齒數(shù)測量要求,跨5齒銑2齒,方便測量公法線,切齒滿足要求后不經(jīng)滲碳淬火,直接磨齒至公法線要求值,試驗(yàn)件切齒形狀如圖3所示。
圖3 試驗(yàn)件切齒形狀
磨齒前對試驗(yàn)件銑齒精度進(jìn)行檢測,漸開線起始點(diǎn)直徑550.7m m,與設(shè)計(jì)值相吻合。對齒部進(jìn)行單齒余量分配,左齒面最大0.41m m,最小0.40mm,右齒面最大0.41mm,最小0.40mm,左右齒面余量均勻且與工藝設(shè)計(jì)一致。磨齒后使用磨齒機(jī)自帶檢測系統(tǒng)檢測,左齒面φ543mm,右齒面φ541mm,均與設(shè)計(jì)理論值不符,且不滿足圖樣技術(shù)要求。證明漸開線可用齒根圓不足的原因?yàn)榈毒咴O(shè)計(jì)制造問題,與滲碳淬火變形、精車找正偏差、磨齒余量分配不均勻均無關(guān)系。
經(jīng)過分析,造成該零件磨齒后齒輪漸開線可用齒根圓不足的原因應(yīng)為齒形粗加工刀具制造精度不滿足使用要求,將齒形粗加工刀具更換為滾刀,改為滾齒工藝,如圖4所示。
圖4 滾齒加工
磨齒后用齒檢儀進(jìn)行檢測,漸開線可用齒根圓直徑<540.74mm,滿足圖樣要求。
造成齒輪漸開線起始圓直徑不足的原因主要有齒形粗加工刀具設(shè)計(jì)及制造問題(滾刀或銑刀),滲碳淬火熱處理變形,滲碳后精車工序找正偏差,以及磨齒工序余量分配不均勻。成形銑齒工藝切削深度留余量后,齒廓形狀不再是漸開線形齒廓,無法通過齒檢儀檢測齒廓精度,需制造同齒外圓直徑試驗(yàn)件進(jìn)行驗(yàn)證。為排除滲碳淬火變形,精車找正偏差,以及磨齒余量分配不均因素的影響,粗切齒后直接磨齒至公法線要求,驗(yàn)證刀具設(shè)計(jì)及制造精度,但此方法增加額外成本。研究成形銑齒工藝切削深度留余量后齒廓形狀檢測是另一個(gè)值得研究的課題。