關(guān)鍵詞: 分子共平面性;二維共軛聚合物;給體-受體;阻變均一性;有機(jī)憶阻器
中圖分類號: O69;TB34;O633.21 文獻(xiàn)標(biāo)志碼: A
憶阻器是一種在外場刺激后會(huì)發(fā)生非易失性阻變的新型電子器件[1, 2],憑借其簡單的三明治結(jié)構(gòu),可以實(shí)現(xiàn)亞納米以下的微縮集成[3-5],該器件兼具DRAM 的超快讀寫速度和Flash 的超長時(shí)間存儲(chǔ)優(yōu)勢[6-10]。無機(jī)憶阻器具有較長的使用壽命和優(yōu)異的穩(wěn)定性,但較大的開啟電壓導(dǎo)致器件工作時(shí)產(chǎn)生很高熱量,影響器件性能和壽命[11-13]。有機(jī)憶阻器具有優(yōu)良的生物相容性、機(jī)械柔性與延展性、可大規(guī)模制備等優(yōu)點(diǎn), 然而聚合物分子鏈之間的扭轉(zhuǎn)和纏結(jié)會(huì)導(dǎo)致其薄膜的局部缺陷,影響載流子的輸運(yùn),從而降低憶阻器的均一性和穩(wěn)定性[14-18]。因此,通過優(yōu)化材料結(jié)構(gòu)、減少器件缺陷獲得高性能有機(jī)憶阻器十分必要[19, 20]。
研究人員提出多種策略來優(yōu)化器件以獲得性能優(yōu)異的憶阻器件,Chen 等[21] 通過二維共軛策略合成出基于苯并二噻吩的給體-受體型聚合物,獲得了陣列制備良率高達(dá)90% 的有機(jī)憶阻器。在傳統(tǒng)的一維共軛聚合物骨架中引入共軛側(cè)基形成的二維共軛聚合物,提高了π 電子的離域程度,增強(qiáng)了層間堆積作用,有利于改善器件的電荷傳輸行為。此外,Lu 等[22] 設(shè)計(jì)的多種聚酰亞胺,通過調(diào)節(jié)器件薄膜表面形貌,獲得了高導(dǎo)電性和低操作電壓的憶阻器。Huang 等[23] 將 [6, 6]-苯基-C61-丁酸異甲酯與聚(3-己基噻吩)共混獲得異質(zhì)結(jié)憶阻器,通過這種方式有效降低了器件的操作電壓。這一系列策略是從結(jié)晶、薄膜形貌和材料摻雜的物質(zhì)凝聚態(tài)層面優(yōu)化憶阻器性能,而非在更低尺度——分子層面上進(jìn)行器件優(yōu)化。
本文設(shè)計(jì)并合成了兩種新型給體-受體型二維共軛聚合物,并研究了分子共平面性對于阻變性能的影響。通過Stille 偶聯(lián)反應(yīng)合成出聚{4,8-雙(5-己基-2-噻吩)-苯并[1,2-b:4,5-b’] 二噻吩-6,7-雙苯基[1,2,5] 噻二唑[3,4-g]喹喔啉}(pBDTT-PTQx)和聚{4,8-雙(5-己基-2-噻吩)-苯并[1,2-b:4,5-b’] 二噻吩-苯丙[1,2-c:4,5-c'] 雙[1,2,5] 噻二唑}(pBDTT-BBT)。通過旋涂薄膜法和磁控濺射法將兩種聚合物制備成薄膜和器件,以對照實(shí)驗(yàn)的方式研究了兩種聚合物的結(jié)構(gòu)、形貌和電學(xué)性能。結(jié)果表明,從分子設(shè)計(jì)層面進(jìn)行共平面性優(yōu)化的pBDTT-BBT 相較于pBDTT-PTQx,可以制備出更加均一平整的有機(jī)薄膜, Au/pBDTT-BBT/ITO 器件表現(xiàn)出更為優(yōu)異的開/關(guān)電壓分布和穩(wěn)定的阻態(tài)保持特性。開/關(guān)電壓擾動(dòng)系數(shù)分別為9.4% 和6.7%,高/低阻態(tài)的擾動(dòng)系數(shù)分別為13.7% 和9.4%。本工作報(bào)道的分子共平面性優(yōu)化策略對于改善有機(jī)憶阻器的均一性和穩(wěn)定性具有一定指導(dǎo)意義。
1 實(shí)驗(yàn)部分
1.1 原料和試劑
2-己基噻吩、苯并[1,2-b: 4,5-b'] 二噻吩- 4,8 -二酮、正丁基鋰、氯化亞錫、三甲基氯化錫、5,6-二硝基-4,7-二溴-2,1,3-苯并噻二唑、聯(lián)苯甲酰、四(三苯基膦)鈀(Pd(PPh3)4)、4,8-二溴苯并[1,2-c:4,5-c’] 雙[1,2,5] 噻二唑:分析純,上海畢得醫(yī)藥科技有限公司;甲苯:液相色譜純,上海阿拉丁生化科技股份有限公司。
1.2 測試與表征
核磁共振氫譜(1H-NMR)測試采用 Bruker 500 MHz 核磁共振儀(AVANCE Ⅲ HD 500)在室溫下進(jìn)行;熱學(xué)性能分析使用美國TA 儀器公司的Discovery TGA550 型熱重分析儀;凝膠滲透色譜儀使用日本東曹公司儀器;紫外-可見分光光度計(jì)使用美國Thermo Fisher 公司儀器,將聚合物配制成10?5 mol/L 的甲苯溶液,對溶液和薄膜進(jìn)行紫外-可見吸收(UV-Vis)光譜測試;電化學(xué)工作站為上海辰華儀器公司CHI600 E 系列產(chǎn)品,采用循環(huán)伏安法(CV)在室溫條件下測試兩種聚合物的電化學(xué)性質(zhì),以0.1 mol/L 六氟磷酸四丁基銨(Bu4NPF6)的乙腈溶液作電解質(zhì),將甲苯溶液滴涂在玻碳電極上形成薄膜作為工作電極,鉑絲為對電極,Ag/AgCl 電極作為參比電極進(jìn)行測試;器件測試采用Keithley-4200 A 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀。
1.3 材料合成
1.3.1 2,6-雙(三甲基錫)-4,8-雙(5-己基-2-噻吩)-苯并[1,2-b:4,5-b’] 二噻吩(M1)及4,9-二溴-6,7-雙苯基[1,2,5]噻二唑-[3,4-g] 喹喔啉(M2)的合成 參考文獻(xiàn)[24,25]。反應(yīng)方程式見圖1。
1.3.2 pBDTT-PTQx 合成 將M2(250 mg, 0.5 mmol)與M1(425 mg, 0.5 mmol)加入至超干甲苯中,氮?dú)獗Wo(hù)下加入四(三苯基膦)鈀(25 mg),在110 ℃ 下避光反應(yīng)48 h。反應(yīng)結(jié)束后,用甲醇沉降并收集沉淀物,依次用正己烷和丙酮索氏提取出寡聚物,最后用三氯甲烷索氏提取出聚合物,旋蒸得到黑色的固體pBDTT-PTQx(291 mg, 產(chǎn)率65.5%)。 1H-NMR (400 MHz, 氘代THF) δ: 8.03(b, 4 H), 7.59~7.30(m, 8 H), 6.80(b, 2 H), 2.88~0.8(m, 32 H); Mn=8 539, Mw=12 701, Mw/Mn=1.47; Td5%=370 ℃(氮?dú)夥諊7磻?yīng)方程式見圖1。
1.3.3 pBDTT-BBT 的合成 聚合方法與pBDTT-PTQx 合成相似,最后得到黑色的固體pBDTT-BBT(265 mg,產(chǎn)率71.4%)。1H-NMR (400 MHz, CDCl3) δ: 7.59~7.30 (m, 4 H), 6.80 (b, 2 H), 2.81~0.88 (m, 32 H); Mn=19 349,Mw=50 833, Mw/Mn=2.63; Td5%=480 ℃(氮?dú)夥諊7磻?yīng)方程式見圖1。
1.4 Au/Polymer/ITO器件制備
將1 cm×1 cm 的ITO 導(dǎo)電玻璃基底在水、乙醇和丙酮中依次超聲清洗15 min,用氮?dú)獯蹈桑⒂醚鯕獾入x子體對基底處理3 min 以保證薄膜與襯底的接觸性和成膜均勻性。將兩種材料配制成5 mg/mL 的甲苯溶液,過濾后取50 μL 溶液旋涂在ITO 導(dǎo)電玻璃上,將涂膜的ITO 玻璃放入70 ℃ 真空烘箱過夜。最后以磁控濺射的方法在薄膜上濺射Au 頂電極,即得到Au/Polymer/ITO 器件。
1.5 理論計(jì)算
通過密度泛函理論對合成材料進(jìn)行模擬計(jì)算,得到優(yōu)化構(gòu)型和電子結(jié)構(gòu),包括偶極矩、表面靜電勢(ESP)以及聚合物單元的最高已占據(jù)分子軌道(HOMO)能級(EHOMO)和最低未占據(jù)分子軌道(LUMO)能級(ELUMO)。
2 結(jié)果與討論
2.1 UV-Vis 光譜
圖2 為聚合物溶液和薄膜樣品的UV-Vis 譜圖。pBDTT-PTQx 甲苯溶液的吸收峰位于384.9 nm 和798.0 nm 處,短波長處的吸收峰歸屬于共軛分子上電子的π-π*躍遷,長波段處吸收峰則屬于分子內(nèi)電荷轉(zhuǎn)移效應(yīng)。薄膜狀態(tài)吸收峰較溶液狀態(tài)發(fā)生細(xì)微變化,長波長處吸收峰由798.0 nm 處紅移至858.0 nm 處,且峰形變寬,表明聚合物主鏈堆積變得更為緊密,給體-受體單元之間的電荷轉(zhuǎn)移效應(yīng)增強(qiáng)。pBDTT-BBT 甲苯溶液的吸收峰分別為357.0 nm 處的π-π*躍遷吸收峰和875.0 nm 處的分子內(nèi)電荷轉(zhuǎn)移效應(yīng)吸收峰。pBDTT-BBT在薄膜狀態(tài)下的短波長吸收峰無變化,長波段處吸收峰由875.0 nm 紅移至917.0 nm 處,紅移了42.0 nm,表明在薄膜狀態(tài)下分子聚集程度更強(qiáng)。
根據(jù)計(jì)算, pBDTT-PTQx 和pBDTT-BBT 的HOMO/LUMO 能級分別為?5.85 eV/?4.17 eV 和?5.62 eV/?4.04 eV, pBDTT-PTQx 的帶隙(1.68 eV)要大于pBDTT-BBT 的(1.58 eV),表明pBDTT-BBT 中的電荷受到激發(fā)后更容易從給體單元轉(zhuǎn)移到受體單元,相應(yīng)的阻變器件開啟電壓較小。
2.3 薄膜形貌測試
將聚合物的甲苯溶液在ITO 導(dǎo)電玻璃上進(jìn)行旋涂,得到了厚度均一的薄膜,器件結(jié)構(gòu)示意圖如圖4(a)所示。通過原子力顯微鏡(AFM)測得了器件薄膜厚度(ΔH)約為210 nm(圖4(b)),對比兩種材料制備薄膜的表面粗糙度(RMS),得到pBDTT-PTQx 的薄膜表面均方粗糙度為2.56 nm(圖4(c)),pBDTT-BBT 薄膜均方粗糙度為1.71 nm(圖4(d))。由于pBDTT-BBT 的分子共平面性更好,使分子層堆積更為緊密,宏觀表現(xiàn)為薄膜粗糙度更小。平整的薄膜表面更有利于載流子的輸運(yùn),從而使器件獲得更穩(wěn)定的阻變特性。
2.4 材料阻變性能測試
采用半導(dǎo)體參數(shù)儀對器件Au/Polymer/ITO 進(jìn)行直流I-V 掃描,結(jié)果見圖5。測試過程中,掃描電壓步長為0.02 V,限制電流為1 mA,首先對Au/pBDTT-PTQx/ITO 施加0 ~ +2 V 的正向電壓,在+0.5 V 附近器件由高阻態(tài)(HRS)突變?yōu)榈妥钁B(tài)(LRS),+0.5 V 為該器件的開啟電壓,器件由HRS 轉(zhuǎn)化為LRS 的過程可以視作是寫入(開)過程,器件開/關(guān)比為100 (圖5(a))。回掃過程電流保持不變,表明器件具有非易失性。隨后對該器件進(jìn)行對稱的負(fù)電壓掃描,在0~?2 V 的掃描過程中,器件在?1 V 附近由LRS 變?yōu)镠RS,該過程為擦除(關(guān))過程,在回掃過程中,器件維持高阻態(tài)。為測試器件的阻態(tài)保持性,對“寫入”和“擦除”后的器件進(jìn)行讀電壓(0.01 V)刺激,如圖5(b) 所示,在每20 s 施加讀電壓的頻率下,經(jīng)過104 s 的測試,器件的高/低阻態(tài)十分穩(wěn)定,開/關(guān)比也保持100 不變,這表明該材料具有持久的非易失性數(shù)據(jù)存儲(chǔ)能力。該器件實(shí)現(xiàn)了100 圈循環(huán)測試,測試過程中,每一圈循環(huán)都能夠?qū)崿F(xiàn)寫入與擦除的完整過程,且高/低阻態(tài)的波動(dòng)性較小。
器件Au/pBDTT-BBT/ITO 的測試結(jié)果如圖5(c) 所示。器件的開電壓和關(guān)電壓分別為+0.5 V 和?0.8 V,對該器件進(jìn)行100 圈循環(huán)測試后得到了重復(fù)性非常好的直流掃描I-V 曲線。圖5(d) 為器件Au/pBDTT-BBT/ITO的高/低阻態(tài)時(shí)間保持曲線,經(jīng)過104 s 不間斷讀電壓(0.01 V)刺激后,高/低阻態(tài)保持不變,開/關(guān)比為10,滿足數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的需求。
對比pBDTT-PTQx 和pBDTT-BBT 器件的阻變性能,兩者都有十分明顯的雙穩(wěn)態(tài)阻變特性,由于分子偶極矩的原因, pBDTT-PTQx 的開/關(guān)比更大( pBDTT-PTQx 和pBDTT-BBT 的偶極矩分別為3.01 Debye 和2.00 Debye)。更為重要的是,由于分子結(jié)構(gòu)的共平面性的差異,pBDTT-BBT 的阻變行為更加均一穩(wěn)定。在直流掃描I-V 特性曲線中,pBTDD-BBT 的曲線較為緩和,這表明微觀載流子在輸運(yùn)過程中遇到更少阻礙。
圖6(a, b) 統(tǒng)計(jì)了器件的開/關(guān)電壓分布,并根據(jù)公式(4)計(jì)算出擾動(dòng)率( )。pBDTT-PTQx 的開/關(guān)電壓分布范圍達(dá)到1 V 左右,開/關(guān)電壓的隨機(jī)性很大,開/關(guān)電壓的擾動(dòng)系數(shù)分別為36.5% 和25.2%;而分子平面性更優(yōu)的pBDTT-BBT 的開/關(guān)電壓分布收窄,其開電壓主要分布在+0.6~+0.7 V,關(guān)電壓主要分布在?0.7~?0.8 V,擾動(dòng)系數(shù)降低至9.4% 和6.7%,并且操作電壓小于±1 V,這能大大降低實(shí)際應(yīng)用時(shí)的功耗。圖6(c, d)統(tǒng)計(jì)了器件循環(huán)100 圈時(shí)的高/低阻值分布,同樣根據(jù)公式 (4) 計(jì)算出擾動(dòng)率,pBDTT-PTQx 的高阻態(tài)擾動(dòng)系數(shù)為15.6%,低阻態(tài)擾動(dòng)系數(shù)為10.4%; pBDTT-BBT 高阻態(tài)擾動(dòng)系數(shù)為13.7%,低阻態(tài)擾動(dòng)系數(shù)為9.4%,該結(jié)果表明共平面性更好的分子憶阻器件在循環(huán)測試時(shí),阻態(tài)的均一性也更加出色。
其中:xi為每一個(gè)循環(huán)的開/關(guān)電壓值, 為所有循環(huán)的開/關(guān)電壓平均值,n 為循環(huán)的圈數(shù), 為開/關(guān)電壓的標(biāo)準(zhǔn)偏差。
2.5 分子理論計(jì)算
為了研究兩種聚合物不同阻變行為的深層原因,借助Gaussian 軟件對其進(jìn)行了密度泛函理論計(jì)算模擬,得到了最優(yōu)分子構(gòu)型、靜電勢分布和前線軌道能級。根據(jù)分子最優(yōu)構(gòu)型的給體-受體連接鍵的二面角可以看出,BDTT 與PTQx 間鍵角為?160.92°,BDTT 與BBT 單元之間鍵角為?179.27°,pBDTT-BBT 共軛區(qū)域較大,官能團(tuán)位阻較小,分子共平面性更為出色,在宏觀上可以制備較低粗糙度的器件薄膜,利于載流子輸運(yùn),從而獲得穩(wěn)定的阻變特性曲線和相對固定開/關(guān)電壓。從分子靜電勢圖可以看出,BDTT 單元呈紅色,為負(fù)電勢區(qū)域,具有富電子特性,在聚合物分子體系中充當(dāng)給體單元。PTQx 和BBT 單元呈綠色,為正電勢區(qū)域,該單元易得到電子,在聚合物分子體系中作為受體單元。根據(jù)前線軌道能級計(jì)算,pBDTT-PTQX 的HOMO/LUMO 能級分別為?4.95 eV/?3.09 eV,帶隙為1.86 eV;pBDTT-BBT 的HOMO/LUMO 能級分別為?5.05 eV/?3.47 eV,帶隙為?1.58 eV,帶隙大小會(huì)影響器件阻變發(fā)生的難易程度,較低的帶隙有利于器件在低電壓下工作,降低器件能耗。從分子前線軌道能級圖(圖7)可以直觀看出,當(dāng)分子處于HOMO 能級時(shí),電荷主要分布在BDTT 給體單元上,經(jīng)過電場激發(fā)后,電荷轉(zhuǎn)移至BBT 和PTQx 受體單元上,分子內(nèi)的電荷轉(zhuǎn)移構(gòu)建起聚合物內(nèi)部的導(dǎo)電通路,使器件由原本的高阻態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榈妥钁B(tài)。
3 結(jié)論
(1)采用分子共平面性優(yōu)化策略改善了有機(jī)憶阻器的阻變特性,通過Stille 偶聯(lián)法合成得到兩種新型二維共軛給體-受體型聚合物并制備成器件Au/pBDTT-PTQx/ITO 和Au/pBDTT-BBT/ITO。
(2)兩種聚合物均具有高魯棒性的Flash 型阻變行為,可循環(huán)擦寫100 圈以上,保持時(shí)間在104 s 以上。
(3)Au/pBDTT-PTQx/ITO 開/關(guān)比為100,開/關(guān)電壓擾動(dòng)系數(shù)分別為36.5% 和25.2%,高/低阻態(tài)的擾動(dòng)系數(shù)分別為10.4% 和15.6%。Au/PBDTT-BBT/ITO 開/關(guān)比為10,開/關(guān)電壓擾動(dòng)系數(shù)分別為9.4% 和6.7%,高/低阻態(tài)的擾動(dòng)系數(shù)分別為13.7% 和9.4%。分子共平面性的優(yōu)化策略提升器件開/關(guān)比和高/低阻態(tài)保持的穩(wěn)定性和均一性。