李健 陳芳兵 王 英 袁慕潔 李 鋒 柏娜
與傳統(tǒng)的金屬烤瓷修復體相比,氧化鋯全瓷冠存在更高的修復失敗率,由于氧化鋯基底與飾瓷的結(jié)合力低,飾瓷崩脫成為修復失敗的主要原因。張廣野等對氧化鋯烤瓷冠和金屬烤瓷冠進行了2~7年的臨床效果觀察,結(jié)果顯示氧化鋯全瓷冠崩的瓷率為12.62%,金屬烤瓷冠的崩瓷率為5.79%[2]。崩瓷的原因較多且存在爭議,主要包括飾瓷對氧化鋯內(nèi)冠的潤濕性差、兩者的熱膨脹系數(shù)不協(xié)調(diào)、兩者之間很難形成化學結(jié)合、兩者之間的斷裂韌性和彈性模量失配、氧化鋯內(nèi)冠導熱性差等[3-5]。為了應對這一問題,目前提出的解決方案主要包括:噴砂、硅涂層處理、增加內(nèi)襯等[6]。對于上述處理方案,或是存在爭議,或是成本過高,因此需要尋找一種有效且經(jīng)濟的處理方法來增強氧化鋯與飾面瓷的結(jié)合強度。
等離子體被稱為固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)之外的“物質(zhì)第四態(tài)”。等離子體來源于氣體,在一定的外界作用下產(chǎn)生“電離”而形成。根據(jù)溫度進行分類,可將等離子體可分為高溫等離子體、低溫等離子體。低溫等離子體技術(shù)是一種新型材料表面處理手段,其富含高能電子及激發(fā)態(tài)的離子、原子、分子、自由基等諸多活性粒子,在與物質(zhì)的相互作用中可以產(chǎn)生許多特殊的物理和化學效應,高能電子可使分子激發(fā)、電離或斷裂成自由基碎片,某些離子、原子可對材料表面產(chǎn)生一定的刻蝕作用,還有一些原子和自由基會在材料表面形成沉積層[8,9]。低溫等離子體在口腔醫(yī)學領(lǐng)域的應用主要包括:根管消毒、牙美白、抑制癌細胞、口腔材料的表面處理[10]。目前,已有研究發(fā)現(xiàn)低溫等離子體處理可以增強氧化鋯與樹脂、純鈦與飾瓷結(jié)合強度[11,12]。有了上述理論及實踐基礎(chǔ),我們嘗試使用低溫等離子體處理氧化鋯,以增強氧化鋯基底冠與飾瓷的結(jié)合強度。
1.1 材料與設(shè)備
1)氧化鋯試件(愛迪特科技股份有限公司,中國);2)氧化鋯陶瓷研磨器(上海道邦磨料磨具有限公司,中國)。3)MULTIMAT C型烤瓷爐(DENTSPLY公司,美國);4)DEKEMA氧化鋯燒結(jié)爐(DEKEMA Service GmbH 公司,美國);5)MH-5040噴砂機(銘輝噴砂機械有限公司,中國);6)AS400型低溫等離子體發(fā)生裝置(Plasmatreat GmbH公司,德國);7)JY-PHB型動態(tài)接觸角測定儀(承德優(yōu)特檢測儀器制造有限公司,中國);8)Dimension Icon型原子力顯微鏡(Bruker公司,美國);9)Phenom Pro型掃描電子顯微鏡(Phenom公司,德國);10)Nexsa?X型X射線光電子能譜分析儀(賽默飛世爾科技公司,美國);11)氧化鋯內(nèi)冠飾面瓷粉(則武株式會社,日本);12)AGS萬能材料試驗機(SHIMADZU公司,日本);13)KQ-50E型超聲波清洗器(昆山市超聲儀器有限公司,中國)。
1.2 氧化鋯試件制備
1.2.1 氧化鋯試件切割、燒結(jié)、拋光和噴砂 依據(jù)氧化鋯烤瓷冠生產(chǎn)流程制備試件,使用低速鋸切割牙科氧化鋯圓盤,制備100 片氧化鋯試件(20 mm×10 mm×3 mm),在結(jié)晶爐中燒結(jié)后備用(型號:愛迪特-賽瓷內(nèi)冠;燒結(jié)后密度≥6.0 g/cm3;燒結(jié)后抗彎強度≥1300 MPa;燒結(jié)后斷裂韌性:5 MPa·m 1/2;燒結(jié)后硬度:12.5 GPa)。燒結(jié)后,將試件的一面標記為烤瓷面,將細粒度氧化鋯研磨車針(道邦,CD2124)裝配到牙科慢速手機上,對烤瓷面打磨拋光,以統(tǒng)一試件表面粗糙度(拋光15 s,烤瓷面與車針側(cè)面母線平行)。拋光后,對試件烤瓷面進行噴砂處理,噴嘴與烤瓷面相距10 mm,角度45°,使用110 μm的氧化鋁顆粒,在0.3 MPa的壓力下均勻噴砂15 s,噴砂后在無水酒精、雙蒸水中先后超聲清洗10 min(超聲頻率:40 kHz,功率50 W,溫度30℃),氣槍吹干。
1.2.2 低溫等離子體處理 噴砂后的試件隨機分為5組,對烤瓷面進行低溫等離子體處理,A組-不做處理,B組-壓縮空氣低溫等離子體,C組-N2低溫等離子體,D組-O2低溫等離子體,E組-95%Ar+5%O2低溫等離子體。將待處理的氧化鋯試件放置于等離子體噴嘴下方,試件中心正對噴嘴,二者相距25 mm,依次噴射低溫等離子體處理試件,更換氣體時,先空噴10 s清洗內(nèi)腔和噴嘴中的殘余氣體。(等離子體處理參數(shù):點處理,電壓320 V,電流20 A,頻率20 kHz,處理時間60 s)
1.3 表面水接觸角測量 每組選取3片試件依次放置于水接觸角分析儀,采用靜滴法在試件上滴加2 μl去離子水,待水滴接觸材料表面30 s后,拍照并測量水接觸角θ的數(shù)值,依此來檢測低溫等離子體處理對于氧化鋯表面潤濕性的影響。如圖1所示,接觸角θ越小,材料的表面親水性越好。
圖1 固體表面水接觸角
1.4 表面形貌觀察 每組選取2片試件,使用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察氧化鋯試件的表面形貌,觀察低溫等離子體處理后氧化鋯試件的表面形貌變化。
1.5 表面粗糙度(roughness of surface,Ra)每組選取3個試件,使用原子力顯微鏡(AFM)觀察氧化鋯試件的表面形貌,并檢測試件的表面粗糙度Ra,如圖2所示,從每片試件的掃描區(qū)(20 μm×20 μm)中選取5個區(qū)域(5 μm×5 μm)檢測表面粗糙度,平均值作為該試件的表面粗糙度,并計算每組試件的平均表面粗糙度。
圖2 每片平均表面粗糙度測試區(qū)選擇方法
1.6 表面元素分析 每組選取3片試件,使用X射線光電子能譜分析儀(XPS)對氧化鋯試件進行表面元素分析,對比低溫等離子體處理后的氧化鋯表面C、O元素及化學鍵的變化。
1.7 氧化鋯試件烤瓷 使用塑料空心管(內(nèi)徑5 mm,厚度2 mm)和牙科樹脂制作烤瓷模具(如圖3,體瓷堆塑區(qū)高度2 mm,直徑5 mm),每組選取10片試件,將模具與氧化鋯試件貼合在一起。使用無菌水調(diào)制瓷粉(瓷粉1 g:液體0.37 g),將粉漿置入模具中體瓷堆塑區(qū),待粉漿晾干成形后取下模具,放入烤瓷爐中烘干、燒結(jié)。
圖3 烤瓷模具
1.8 剪切粘接強度檢測(shear bond strength,SBS)每組隨機選取8片烤瓷試件,使用萬能材料試驗機進行SBS檢測,將氧化鋯烤瓷試件放入固定裝置中,使刀刃長軸與鋯瓷結(jié)合面平行,刀刃與飾瓷的接觸點距離鋯瓷結(jié)合面0.5 mm,刀刃下降速度設(shè)置為1 mm/min,記錄飾瓷脫落所需的最大負荷F,利用游標卡尺測量飾瓷鋯-瓷結(jié)合面的直徑,計算鋯-瓷粘接面積(19.625 mm2)。根據(jù)公式P=F/S,計算出氧化鋯-飾瓷結(jié)合強度。(P:剪切力強度值,MPa;F:飾瓷脫落時的最大負荷讀數(shù),N;S:粘接面積,mm2)
1.9 瓷剝脫面的表面形貌觀察SBS檢測結(jié)束后,飾瓷層從氧化鋯試件表面剝脫,每組選取4片試件,掃描電子顯微鏡(SEM)觀察試件瓷剝脫面的情況,我們將鋯-瓷結(jié)合破壞模式分為兩種,氧化鋯基底暴露區(qū)的破壞模式為粘接破壞,飾瓷覆蓋區(qū)為內(nèi)聚破壞,Image J軟件測量每組氧化鋯基底暴露區(qū)的平均面積,計算兩種破壞模式的比例。
1.10 鋯-瓷結(jié)合橫斷面的電鏡觀察 每組選取2個試件,用高速車針將烤瓷試件截斷,暴露鋯-瓷結(jié)合橫斷面,依次使用500目、1000目、1500目、2000目砂紙、拋光絨輪打磨截斷面,打磨完成后將試件放入無水酒精、雙蒸水中超聲蕩洗5 min(超聲頻率:40 kHz,功率50 W,溫度30℃),氣槍吹干后使用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察鋯-瓷結(jié)合橫斷面。
1.11 統(tǒng)計學方法SPSS進行統(tǒng)計學分析,用均數(shù)±標準差(±s)描述水接觸角θ、平均粗糙度Ra、鋯-瓷結(jié)合強度、氧化鋯基底暴露平均面積,使用單因素方差分析比較組間差異,按照α=0.05水準判斷結(jié)果。
2.1 表面水接觸角測量 各實驗組接觸角如圖4所示,B、C、D、E組(壓縮空氣、N2、O2、95%Ar+5%O2)的表面水接觸角均顯著小于A組(對照組)的表面接觸角,差別有統(tǒng)計學意義(P<0.05),說明四種低溫等離子體的表面處理均可增加氧化鋯的表面親水性。
圖4 氧化鋯表面水接觸角
表1 各組氧化鋯表面水接觸角(n=3)
2.2 表面形貌觀察 各實驗組表面形貌掃描電鏡照片如圖5所示,經(jīng)噴砂處理后各組氧化鋯表面呈現(xiàn)粗糙樣貌,與A組對比,發(fā)現(xiàn)4種低溫等離子處理后的表面形貌無明顯改變。
2.3 表面粗糙度(roughness of surface,Ra)AFM檢測后進行統(tǒng)計學分析(表2),結(jié)果顯示各組試件平均表面粗糙度無統(tǒng)計學差異,結(jié)合SEM、AFM照片(圖5、圖6),說明低溫等離子體對氧化鋯表面形貌無明顯影響。
圖5 SEM觀察氧化鋯表面形貌
圖6 AFM觀察氧化鋯表面形貌
表2 各組平均表面粗糙度Ra(n=3)
2.4 表面元素分析 各實驗組表面元素XPS峰值變化如圖7、8所示,B、C、D、E組(壓縮空氣、N2、O2、95%Ar+5%O2)與A組相比,C 元素明顯降低(P<0.05),C-C鍵、C-O鍵、羧基(COO-)減少,O元素明顯提高(P<0.05),羥基(-OH)、Zr-O鍵增加。如表3、圖9所示,B、C、D、E組的C/O比例明顯低于A組,差別有統(tǒng)計學意義。
圖7 各組C元素、C-C、C-O、COO-的變化
圖8 各組O元素、Zr-O、-OH的變化
圖9 各組氧化鋯表面C、O元素比例
表3 各組氧化鋯表面C、O元素含量(n=3)
2.5 剪切粘接強度試驗(shear bond strength,SBS)各實驗組SBS試驗結(jié)果如表4、圖10所示,C、E組(N2、95%Ar+5%O2)的鋯-瓷結(jié)合強度大于A組(對照組),差別有統(tǒng)計學意義(P<0.05),而B、D組(壓縮空氣、O2)與A組的差別無統(tǒng)計學意義,說明N2、Ar-O2低溫等離子體處理可以增強鋯-瓷結(jié)合強度,壓縮空氣、O2低溫等離子體對鋯-瓷結(jié)合強度無明顯作用。
表4 各組氧化鋯烤瓷試件鋯-瓷結(jié)合強度(n=8)
圖10 各組氧化鋯烤瓷試件鋯-瓷結(jié)合強度
2.6 試件瓷剝脫面的表面形貌觀察 圖11顯示了各組瓷剝脫面的表面形貌,通過Image J軟件分析,可見C、E組(N2、95%Ar+5%O2)氧化鋯基底暴露區(qū)面積明顯小于A組(對照組),差別有統(tǒng)計學意義,B、D組(壓縮空氣、O2)與A組無明顯差別(P>0.05)。如表5所示,C、E組(N2、95% Ar+5% O2)的內(nèi)聚破壞/粘接破壞比例高于A組(對照組),差別有統(tǒng)計學意義,B、D組(壓縮空氣、O2)的內(nèi)聚破壞/粘接破壞比例與A組無明顯差別(P>0.05)。
表5 各組氧化鋯基底暴露面積、破壞模式比例(n=4)
圖11 SEM觀察氧化鋯瓷剝脫面
2.7 鋯-瓷結(jié)合橫斷面的電鏡觀察 鋯-瓷結(jié)合橫斷面的電鏡觀察顯示(圖13),各組的氧化鋯與飾瓷之間均緊密貼合,無明顯裂隙,但對照組靠近結(jié)合界面的飾瓷區(qū)存在較多氣泡,可能是低溫等離子體增加了氧化鋯表面親水性,使飾瓷粉漿更好的鋪展于氧化鋯表面。
圖13 SEM觀察鋯-瓷結(jié)合橫斷面
圖12 各組氧化鋯烤瓷試件鋯-瓷結(jié)合破壞模式
通過上述研究,我們發(fā)現(xiàn)N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體處理氧化鋯表面,可以增強氧化鋯-飾瓷結(jié)合強度。
SEM、AFM檢測發(fā)現(xiàn),低溫等離子體處理后氧化鋯表面形貌未見明顯改變,且各低溫等離子體處理組之間也無明顯差異。在SEM視野下,低溫等離子體處理后的氧化鋯表面依然呈現(xiàn)粗糙均勻形態(tài),且無新的裂隙,通過AFM對氧化鋯平均表面粗糙度進行檢測,結(jié)果表明各組之間的差別無統(tǒng)計學意義,以上結(jié)果說明60 s處理對氧化鋯試件表面無明顯粗化作用。廖宇等應用98%He+2%O2低溫等離子體處理氧化鋯10 s,激光三維形貌測量顯微鏡和SEM觀察未發(fā)現(xiàn)氧化鋯試件表面形態(tài)改變[13]。Liu等應用Ar、O2、CF4低溫等離子對氧化鋯進行30 s處理,SEM觀察發(fā)現(xiàn)處理后氧化鋯表面形貌無明顯變化[14]。還有研究運用Ar、O2、N2低溫等離子體處理氧化鋯120 s,并檢測氧化鋯表面平均粗糙度,也發(fā)現(xiàn)處理氧化鋯后表面形貌無明顯變化[11]。此外,陳芳兵等運用低溫等離子體處理經(jīng)微弧氧化后的鈦片,SEM觀察發(fā)現(xiàn)處理前后鈦片表面結(jié)構(gòu)未出現(xiàn)明顯改變[15]。結(jié)合上述研究,說明短時間的低溫等離子體處理對材料的表面形貌無明顯影響。但是相關(guān)研究的試件大多經(jīng)過噴砂處理,不能排除噴砂對于表面形貌變化的掩蓋作用,且所用等離子體的種類及參數(shù)相近,缺乏對比性。
XPS檢測發(fā)現(xiàn),低溫等離子體處理后氧化鋯表面C元素明顯降低,C-C鍵、C-O鍵、羧基(COO-)減少,O元素明顯提高,羥基(-OH)、Zr-O鍵增多。Valverde等運用Ar低溫等離子體處理氧化鋯,XPS分析顯示處理后C元素相對含量減少了14%,O元素相對含量增加了20%,Ar等離子體射流處理10 s后,氧化鋯表面能增加到43.77 MJ/m2,對照組僅為27.85 MJ/m2,親水性得到明顯改善[16]。Akio Noro等也發(fā)現(xiàn)低溫等離子體處理可使氧化鋯表面C元素減少,增加氧化鋯表面清潔度[17]。低溫等離子體富含的高能電子可以打破氧化鋯表面的C-O鍵、C-C鍵、C-OH鍵,引發(fā)電子氧化,從而起到表面活化及表面清潔作用[18],處理后可在材料表面引入含有羥基(-OH)的活性官能團,增加材料的親水性[19],并且這些效應在有機材料或惰性無機材料表面都可發(fā)生[20]。朱楨健的研究也指出,羥基自由基在提高氧化鋯表面親水性中起著重要作用,低溫等離子體中活性物質(zhì)和高能粒子能夠清除氧化鋯表面污染物,降低疏水基團(-CH2)相對含量,提高含氧化學基團(C=O)相對含量[21]。通過觀察氧化鋯表面水接觸角,我們發(fā)現(xiàn)低溫等離子體處理后氧化鋯表面水接觸角明顯減小,表明低溫等離子體可明顯增加氧化鋯表面親水性,這也印證了本研究的XPS分析結(jié)果及上述研究的結(jié)果和觀點。不僅如此,有研究發(fā)現(xiàn)低溫等離子體處理后,氧化鋯表面較強的親水性可保持長達五分鐘之久,這一特點明顯拓寬了低溫等離子體的應用范圍[22]。
SBS測試結(jié)果表明,C、E組(N2、95%Ar+5%O2)的鋯-瓷結(jié)合強度大于A組(對照組),差別有統(tǒng)計學意義(P<0.05),而B、D組(壓縮空氣、O2)與A組的差別無統(tǒng)計學意義。Ji等研究發(fā)現(xiàn)Ar低溫等離子體處理氧化鋯可增強鋯-瓷結(jié)合強度[23],Liu等的研究也印證了Ar低溫等離子體對鋯-瓷結(jié)合強度的增強作用,其同時也發(fā)現(xiàn)O2低溫等離子體會削弱鋯-瓷結(jié)合強度[14]。通過SEM觀察氧化鋯試件瓷剝脫面,可見C、E組氧化鋯基底暴露區(qū)明顯少于對照組(P<0.05),說明斷裂大多發(fā)生在飾瓷層內(nèi)部,鋯-瓷結(jié)合破壞模式主要為內(nèi)聚破壞,而B、D組的氧化鋯基底暴露區(qū)占比與對照組的差別無統(tǒng)計學意義。通過SEM觀察鋯-瓷結(jié)合橫斷面,我們發(fā)現(xiàn)各組氧化鋯與飾瓷之間均緊密貼合,無明顯裂隙,但對照組靠近結(jié)合界面的飾瓷區(qū)存在較多氣泡,這可能是因為低溫等離子體處理可增強氧化鋯試件的表面親水性,飾瓷粉漿更好地鋪展于氧化鋯表面。上述實驗結(jié)果表明,N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體可以增強鋯-瓷結(jié)合強度。
本研究證實N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體處理可以增強鋯-瓷結(jié)合強度,低溫等離子體處理60 s對氧化鋯表面形貌、表面粗糙度無明顯影響,但是可以降低C元素含量,使氧化鋯試件表面碳雜質(zhì)中的CC鍵、C-O鍵明顯減少;增加O元素含量,使親水性官能團羥基(-OH)含量明顯提升,并改變氧化鋯表面Zr-O鍵含量。我們推測低溫等離子體可能通過以下幾點增強鋯瓷結(jié)合強度:第一,低溫等離子體可能是通過在氧化鋯表面引入含氧極性基團,增加氧化鋯表面親水性,使飾瓷粉漿更加充分的浸潤在噴砂后的氧化鋯表面多孔結(jié)構(gòu)中;第二,同時低溫等離子體還具有一定的表面清潔作用,破壞氧化鋯表面碳雜質(zhì)中的C-C鍵、C-O鍵,可更好地清除影響鋯-瓷結(jié)合的表面雜質(zhì);第三,四種低溫等離子體均可明顯增加氧化鋯表面親水性,但是只有N2、95%Ar+5%O2組鋯-瓷結(jié)合強度的增幅有統(tǒng)計學意義,通過XPS結(jié)果可見,N2、95%Ar+5%O2組的Zr-O鍵的相對強度相近,而壓縮空氣組Zr-O鍵的相對強度高于N2、95%Ar+5%O2組,O2組、對照組Zr-O 鍵的相對強度卻低于N2、95%Ar+5%O2組,我們推測Zr-O鍵相對強度與鋯-瓷結(jié)合強度具有相關(guān)性。或者N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體可能在氧化鋯表面引入某些官能團,可與飾瓷發(fā)生化學反應,而O2低溫等離子體缺乏這種作用或者作用較弱??傊?,低溫等離子體在材料表面處理方面的機制十分復雜,涉及多種物理化學反應,尚需繼續(xù)深入研究低溫等離子體增強鋯-瓷結(jié)合的機制。
氧化鋯具有較強的化學惰性,飾瓷的主要成分為二氧化硅,從化學成分上看二者很難發(fā)生化學結(jié)合,氧化鋯與飾瓷的結(jié)合方式主要為機械嵌合和壓縮應力結(jié)合[24,25]。低溫等離子體是一種優(yōu)秀的材料表面處理方法,在與物質(zhì)的相互作用中可以產(chǎn)生許多特殊的物理和化學效應,在物質(zhì)表面引入各組官能團,且其處理作用僅局限于材料表面層,不會影響材料的固有特性,相比于熱酸蝕、激光、硅涂層等處理方式,低溫等離子體更加安全、便捷、經(jīng)濟。因此我們嘗試將低溫等離子體應用于增強鋯-瓷結(jié)合強度,期望通過低溫等離子體處理使氧化鋯與飾瓷之間發(fā)生化學結(jié)合,研究發(fā)現(xiàn)N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體處理可以增強鋯-瓷結(jié)合強度,但是增幅不大,我們認為可進一步研究其他種類等離子體對鋯-瓷結(jié)合的作用,并調(diào)整N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體的處理參數(shù),嘗試找到處理氧化鋯更好的氣體種類及處理參數(shù),以便今后將低溫等離子體運用到氧化鋯烤瓷冠的生產(chǎn)過程中,與傳統(tǒng)的噴砂結(jié)合使用來增強鋯-瓷結(jié)合強度。