張慧君
(航空工業(yè)北京長城計量測試技術(shù)研究所,北京 100095)
基于法布里-珀羅(Fabry-Perot,F(xiàn)-P)干涉原理的光纖壓力傳感器是目前應(yīng)用較為廣泛的一類光纖傳感器[1-3],其抗電磁干擾能力強、動態(tài)響應(yīng)高、耐溫性能好,能夠滿足多種場合的動態(tài)壓力測試需求,國內(nèi)外機構(gòu)已開展相關(guān)研究。如,國內(nèi)工程兵科研三所研制的F-P 光纖爆炸壓力傳感器,性能好,響應(yīng)快,成功應(yīng)用于爆炸沖擊波壓力測量[4-5];美國弗吉尼亞理工大學[6]、Luna Innovations公司[7]和英國的Oxsensis 公司[8-9]分別研制了F-P 高溫光纖壓力傳感器,最高工作溫度可達1000℃,并在發(fā)動機動態(tài)壓力測量中取得了良好的效果。
對于一般的F-P 腔光纖壓力傳感器而言,F(xiàn)-P干涉腔可由兩個或多個反射面構(gòu)成。但當存在多個反射面時,傳感器的輸出為復(fù)合F-P 腔干涉光譜[10-12],信號解調(diào)的速度及精度均會受到影響,在一定程度上限制了其在動態(tài)測試領(lǐng)域的應(yīng)用。
本文研究了一種膜片式光纖動態(tài)壓力傳感器,通過機械研磨的方式消除了膜片外表面產(chǎn)生的反射光影響,操作簡單、方便、有效,解決了由多個反射面帶來的光譜復(fù)雜問題。研磨后的傳感器靈敏度一致性可控、性能良好,滿足動態(tài)壓力的測量需求。
如圖1 所示,光纖壓力傳感器主要包括膜片、基底和光纖三部分,膜片和基底由MEMS技術(shù)批量制作而成,膜片材料為硅,基底材料為玻璃。光纖由基底底部的通孔穿入,光纖端面與膜片表面構(gòu)成F-P干涉腔。當外界壓力作用在膜片時,膜片產(chǎn)生形變,F(xiàn)-P腔的腔長隨之發(fā)生變化,進而引起干涉信號變化。通過探測干涉信號的變化,可得到外界壓力的大小。
圖1 膜片式光纖壓力傳感器示意圖Fig.1 Schematic diagram of diaphragm-type optical fiber dynamic pressure sensor
通常MEMS加工技術(shù)得到的膜片內(nèi)外表面均為鏡面。因此,入射光會在光纖端面S1、膜片內(nèi)表面S2、膜片外表面S3三個界面上分別發(fā)生反射,反射光之間彼此發(fā)生干涉,最后返回到光纖的是復(fù)合FP腔的干涉信號。復(fù)合F-P腔的反射率R表示為[13]
其中,
式中:r1,r2,r3分別為S1,S2,S3界面的反射系數(shù);t1,t2,t3分別為S1,S2,S3界面的透射系數(shù);φ1,φ2分別為光經(jīng)過空氣腔、硅腔的相位差;d1,d2分別為空氣腔、硅腔的腔長,μm;n1,n2分別為空氣、硅的折射率;λ為入射光的波長,nm。
當膜片外表面S3為磨砂面時,入射光不會在S3面發(fā)生反射,由光纖端面S1與膜片內(nèi)表面S2形成單一的F-P腔。根據(jù)F-P干涉儀的基本理論,其反射率R表示為
由式(6)可知,F(xiàn)-P 腔的反射率與各反射面的反射系數(shù)、透射系數(shù)、F-P腔腔長及光源波長均有關(guān)。假設(shè)d1=100 μm,d2=30 μm,根據(jù)式(1)和式(6),可以分別得到復(fù)合F-P腔和單一F-P腔的理論光譜,如圖2所示。
圖2 復(fù)合F-P腔和單一F-P腔的理論光譜Fig.2 Theoretical spectra of composite F-P cavity and single F-P cavity
由圖2可以看出,與單一F-P腔相比,復(fù)合FP 腔的輸出光譜更為復(fù)雜,由此可知,復(fù)合F-P 腔傳感器的動態(tài)解調(diào)難度更大。因此,在傳感器的制作過程中,將對膜片的外表面進行粗化處理,以消除膜片外表面反射光的影響。
根據(jù)彈性力學原理,傳感器的壓力靈敏度Y為
式中:Δd為膜片的形變量,nm;ΔP為壓力的變化量,kPa;h為膜片的厚度,nm;E為硅材料的楊氏模量,1.3×108kPa;r為膜片的有效半徑,nm;μ為硅材料的泊松比,0.28。
通常膜片的最大形變量不能超過膜片厚度的30%[14],即Δdmax<0.3 h。因此,由式(7)可得最大壓力變化量ΔPmax,從而確定傳感器的量程。圖3為不同有效半徑下膜片厚度與最大壓力變化量之間的關(guān)系??梢钥闯?,同一有效半徑下,膜片的最大耐受壓力隨著膜片厚度的增加而不斷增大。
圖3 膜片厚度與最大壓力變化量的關(guān)系Fig.3 Relationship between diaphragm thickness and maximum pressure variation
此外,傳感器的動態(tài)特性由膜片的固有頻率決定,膜片的固有頻率fmn為
式中:αmn為膜片振動模式的一個常數(shù);w為膜片材料的質(zhì)量密度,kg/m3。
根據(jù)式(8)得到不同有效半徑下膜片的一階固有頻率與膜厚的關(guān)系,如圖4 所示。由圖4 可以看出,同一有效半徑下,膜片越厚,膜片的一階固有頻率越高。實際應(yīng)用時,應(yīng)結(jié)合壓力測量范圍及動態(tài)性能要求進行傳感器參數(shù)的設(shè)計,傳感器的最大使用頻率一般不超過其一階固有頻率的1/5。
圖4 膜片的一階固有頻率與膜厚的關(guān)系(m=n=0)Fig.4 Relationship between first-order natural frequency and thickness of the diaphragm(m=n=0)
采用CO2激光加工的方式完成傳感器的焊接。激光焊接系統(tǒng)主要包括CO2激光器、微位移平臺、CCD 顯微攝像機、光纖解調(diào)儀等部分組成,如圖5所示。首先,夾持并固定傳感器各組件,利用微位移平臺調(diào)節(jié)其相對位置;然后,將處理好的光纖穿入基底的中心孔中,根據(jù)光纖解調(diào)儀顯示的實時監(jiān)測信號,調(diào)整傳感器腔長值;最后,設(shè)置激光器參數(shù),發(fā)射一定功率的激光,完成傳感器的焊接。
圖5 激光焊接系統(tǒng)示意圖Fig.5 Schematic diagram of laser welding system
為得到單一的F-P腔,采用研磨方式對膜片外表面進行粗化加工。首先,將傳感器裝夾在光纖研磨機的專用夾具上,傳輸光纖與光纖解調(diào)儀相連;然后,設(shè)置研磨參數(shù),對膜片進行研磨,直至傳感器輸出光譜滿足要求;最后,對膜片外表面進行清洗,完成研磨。光纖研磨機常用的研磨紙粗糙度分別為30,9,1 μm三種,研磨紙的粗糙度直接影響膜片的粗化效果。由于膜片本身厚度較小,使用30 μm的研磨紙時,膜片易破損;而使用1 μm的研磨紙時,研磨效率較低;因此,選取9 μm 的研磨紙對膜片外表面進行研磨,并在研磨過程中對傳感器光譜進行實時監(jiān)測,從而更好地控制研磨質(zhì)量。
若研磨不充分,膜片外表面依然存有部分反射率,峰值強度大小不一,傳感器光譜如圖6(a)所示;當研磨充分時,傳感器光譜如圖6(b)所示,干涉條紋近似于標準余弦形式輸出曲線,各個峰值強度比較一致,此時膜片外表面反射的影響已基本消除。
圖6 膜片表面處理后的傳感器光譜圖Fig.6 Sensor spectrum after surface treatment of diaphragm
為了提高研磨工藝的一致性,對研磨轉(zhuǎn)速和研磨時間等關(guān)鍵參數(shù)進行研究,得到了最佳研磨參數(shù):研磨轉(zhuǎn)速約為50 r/min,研磨時間不超過20 s。在最佳研磨工藝下,膜片研磨質(zhì)量得到了有效保證。對研磨前后的膜片外表面進行顯微觀測,如圖7 所示。研磨前,膜片的外表面為光滑鏡面,粗糙度約為40 nm。研磨后,膜片外表面粗糙度增大,由鏡面變?yōu)槟ド懊?,但均勻性仍較好,無破損現(xiàn)象。
圖7 膜片外表面顯微圖Fig.7 Micrograph of outer surface of diaphragm
光纖壓力傳感器的主要組件為玻璃基材料,為提高傳感器的環(huán)境適應(yīng)性,可根據(jù)不同的測試需求,對傳感器進行金屬化封裝。圓柱式封裝結(jié)構(gòu)如圖8所示。傳感器的壓力敏感結(jié)構(gòu)位于封裝結(jié)構(gòu)的內(nèi)部,膜片位于最前端,感知外界壓力。傳感器后端利用軟管對光纖進行保護,并用少量膠粘劑進行固定,減小光纖彎折對傳感器信號質(zhì)量的影響。
圖8 傳感器金屬化封裝Fig.8 Metallization package of the sensor
對傳感器進行實驗室環(huán)境下的靜態(tài)壓力標定[15]。將傳感器放置于密封的壓力容器中,壓力容器通過管路與標準壓力發(fā)生器相連,傳感器的傳輸光纖從壓力容器出口引出并連接至光纖解調(diào)儀。調(diào)節(jié)標準壓力發(fā)生器,從常壓開始,以40 kPa為一級,升壓至200 kPa(表壓),依次記錄各壓力點下的正行程輸出值;之后,再以40 kPa 為一級,降低壓力至常壓,倒序記錄各壓力點下的反行程輸出值。正行程和反行程標定往返一次為1 個循環(huán),重復(fù)3 個循環(huán)。圖9 是傳感器正反行程的腔長-壓力變化曲線,可以看出,傳感器的正反行程曲線基本重合,數(shù)據(jù)重復(fù)性好。對該曲線進行線性擬合,R2≈0.9999。
圖9 傳感器腔長-壓力變化曲線Fig.9 Cavity length-pressure curve of the sensor
此外,對使用最佳研磨參數(shù)加工的一批傳感器進行壓力標定,以評價研磨工藝的一致性,結(jié)果如表1 所示。傳感器的壓力靈敏度均為2.91 nm/kPa左右,且腔長-壓力變化曲線的線性較好,測量誤差小于等于0.5%FS。由此表明,研磨工藝一致性可控,可批量進行膜片粗化處理。
表1 傳感器測試結(jié)果Tab.1 Test results of sensors
利用正弦壓力校準裝置對傳感器進行動態(tài)壓力標定[16]。正弦壓力校準裝置產(chǎn)生按正弦規(guī)律變化的壓力,標準壓力傳感器和被測壓力傳感器對稱安裝在正弦壓力發(fā)生器主機壓力室的兩側(cè),兩者同時測量正弦變化的壓力,通過比較標準壓力傳感器與被測壓力傳感器的輸出,可得到被測壓力傳感器的頻率響應(yīng)特性。
膜片式動態(tài)壓力傳感器所設(shè)計的固有頻率約為300 kHz,通常對60 kHz 以下的壓力信號有較好的響應(yīng),但受到光纖解調(diào)儀采樣頻率20 kHz 的限制,故在20~2500 Hz 頻率范圍內(nèi)進行傳感器的動態(tài)標定試驗。選擇20,500,1000,1500,2000,2500 Hz 作為標定頻率點,記錄各頻率點下傳感器的輸出值。結(jié)果表明:在20~2500 Hz 內(nèi),傳感器的幅值靈敏度相對誤差優(yōu)于±10%,能夠滿足動態(tài)壓力的測量需求。表2為傳感器在不同頻率下的幅值靈敏度相對誤差。
表2 傳感器的幅值靈敏度相對誤差Tab.2 Amplitude sensitivity relative errors of sensor
研制了一種膜片式光纖動態(tài)壓力傳感器,通過機械研磨膜片外表面的方法得到了單一的F-P干涉腔,滿足了動態(tài)壓力測量對傳感器光譜信號的要求。該方法操作簡單,一致性好,可以用于批量傳感器的粗化處理。對傳感器進行了0~200 kPa(表壓)的靜態(tài)壓力標定和20~2500 Hz 的動態(tài)壓力標定,試驗結(jié)果表明,傳感器性能良好,其靜態(tài)測量誤差小于等于0.5%FS,幅值靈敏度相對誤差優(yōu)于±10%,能夠進行動態(tài)壓力的測量。在后續(xù)工作中,可開展動態(tài)壓力測試的實際應(yīng)用研究,從而進一步驗證傳感器性能。