呂小偉
(上海美維電子有限公司,上海 201600)
隨著電子產(chǎn)品的持續(xù)發(fā)展,薄而小的設計已經(jīng)成為當前消費類電子產(chǎn)品發(fā)展的標桿方向,目前公司的核心客戶Hxx的產(chǎn)品已經(jīng)95%以上設計為選擇性鎳金產(chǎn)品,此類產(chǎn)品的ENIG(化學鎳金)和OSP(有機保焊膜)間距已經(jīng)從原先的0.30 mm~0.35 mm降低到現(xiàn)在的0.20 mm~0.25 mm,這樣的設計直接導致此前批量應用的選擇性濕膜工藝無法使用。因為客戶剛標中有著明確的上金要求(見圖1所示),所以需要導入二次干膜選化工藝,然而在導入二次干膜的階段,出現(xiàn)了嚴重的金面表觀缺陷,其中尤其以“金面孔口發(fā)白”和“非金位上金”兩大缺陷居首(見圖2所示),嚴重影響了正常生產(chǎn)出貨及公司品質報廢,亟須立即系統(tǒng)性改善優(yōu)化并達到量產(chǎn)可行性的目的。
圖1 客戶剛標的升級要求
圖2 二次干膜法后的金面表觀缺陷
針對二次干膜板阻焊至ENIG后的工藝流程說明如圖3所示。
圖3 二次干膜選化工藝流程
針對此類二次干膜工藝板ENIG后金面、孔口發(fā)白,小組內(nèi)成員進行了各因子貢獻度評分及柏拉圖分析,結果如圖4。
圖4 金面發(fā)白柏拉圖
通過評分柏拉圖顯示權重80%因子在“金缸循環(huán)量過大”至“UV與ENIG藥水不匹配”之間,但從“金缸循環(huán)量過大”至“金缸pH過低”之間因子均為產(chǎn)線檢查或缺陷板看板可以直接確認,因此僅需對柏拉圖前三大因子安排簡單實驗確認,排查匯總如表1所示。ENIG板在UV后易形成金面發(fā)白的原理是UV過程中油墨中的S元素釋放出來會導致鎳沉積異常。
表1 金面發(fā)白原因排查匯總表
通過了以上一系列原因分析排查,已經(jīng)初步確認到二次干膜板ENIG后的金面發(fā)白原因,以下將會安排系統(tǒng)實驗進行優(yōu)化改善確認。
從表2測試結果看藥水調(diào)整無法杜絕,故判定藥水方面無可行的改善方案,需要繼續(xù)尋找其他改善方案。
表2 ENIG主線藥水調(diào)整測試結果
鑒于目前的藥水體系無法變更并對發(fā)白無法杜絕,同時增加UV后對非金位上金有明顯的改善,通過圖5分析計劃通過提高烘板溫度替代UV,同時確認ENIG后發(fā)白、非金位上金兩大缺陷。
圖5 UV固化原理分析
鑒于遇上的分析可提高烘板溫度來替代UV,同時確認ENIG后發(fā)白、非金位上金兩大缺陷,以下的改善實驗將會安排取消UV并采用高溫烘烤替代。
2.3.1 改善前后的實驗數(shù)據(jù)收集
從圖6統(tǒng)計的改善前后數(shù)據(jù)來看,使用140 ℃、15 min替代原先的中低溫烘烤+UV后缺陷率有了明顯的下降,后續(xù)將會安排批量驗證。
圖6 UV 與熱烘烤的實驗板金面表觀缺陷比例
2.3.2 改善前后的實驗數(shù)據(jù)有效性檢驗
(1)“提高烘板溫度”對比“UV”金面發(fā)白的改善效果確認,如圖7所示。
圖7 金面發(fā)白的改善效果
結論:檢驗確認需要樣本量3 set(min),實際收集了9906 set,樣本量足夠,檢驗確認P value=0<0.05,拒絕原假設,接受備用假設,即提高烘板溫度后金面發(fā)白較先前UV流程要降低 。
(2)“提高烘板溫度” 對比“UV”非金位上金的改善效果確認,如圖8所示。
圖8 非金位上金的改善效果
結論:檢驗確認需要樣本量2478 set(min),實際收集了9906 set,樣本量足夠,檢驗確認P value=0<0.05,拒絕原假設,接受備用假設,即提高烘板溫度后非金位上金較先前UV流程要降低且有效。
從以上實驗確認提高烘板溫度對比UV的有效性檢驗結果來看,使用高溫烘烤替代UV固化不但解決了ENIG后金面發(fā)白問題,而且非金位上金也有明顯的改善,內(nèi)部安排批量推廣驗證有效性,原始數(shù)據(jù)及具體假設檢驗結果如圖9所示。
圖9 UV vs 熱烘烤的批量板金面表觀缺陷比例
從以上批量測試統(tǒng)計的改善數(shù)據(jù)來看,使用140 ℃、15 min替代原先的中低溫烘烤+UV后金面表觀缺陷率有了明顯的下降,可以有效地改善降低金面表觀缺陷。
改善后的直接經(jīng)濟效益評估數(shù)據(jù)見圖10所示。
圖10 改善后的直接經(jīng)濟效益評估
(1)簡化了二次干膜UV固化流程,縮短了干膜后ENIG前的熱烘烤固化時間,總體提高了生產(chǎn)效率,使二次干膜選化工藝產(chǎn)品的生產(chǎn)周期加快;
(2)改善降低了二次干膜選化工藝產(chǎn)品的金面發(fā)白和非金位上金的缺陷率,從而降低了FQC的檢查和維修成本;
(3)提高了準時交貨率,間接為公司贏得了客戶端的信譽度;
(4)改善后未收到過此類客戶的類似金面表觀缺陷投訴。
經(jīng)過上述研究與改善,最終結論如下。
(1)二次干膜選化工藝產(chǎn)品采用中低溫熱烘烤+UV可以降低非金位上金的金面表觀缺陷;
(2)二次干膜熱固化溫度提升到140 ℃不但可以讓二次干膜有效固化來避免ENIG的攻擊,同時可以取消UV固化流程,從而避免UV后的有機副產(chǎn)物,批量應用驗證可行;
(3)中磷ENIG藥水無法避免UV后的副產(chǎn)物導致發(fā)白問題,后續(xù)研究高磷ENIG藥水的匹配性。