趙智聰,靳江紅,王 慶,王妤甜
(1.首都經(jīng)濟(jì)貿(mào)易大學(xué) 管理工程學(xué)院,北京 100071; 2.北京市勞動(dòng)保護(hù)科學(xué)研究所,北京 100054)
安全儀表功能(Safety Instrumented Function,SIF)在保障化工等過程工業(yè)的安全性方面起著重要的作用。為有效保證SIF的可靠性和安全性,需要計(jì)算SIF的要求時(shí)危險(xiǎn)失效平均概率(Average Probability of Dangerous Failures on Demand,PFDavg),評(píng)估該系統(tǒng)的安全完整性等級(jí)(Safety Itegrity Level,SIL)。
目前,我國已經(jīng)發(fā)布了《電氣/電子/可編程電子安全相關(guān)系統(tǒng)的功能安全》(GB/T 20438—2017)[1],學(xué)者們針對(duì)功能安全的研究越發(fā)深入。國內(nèi)外學(xué)者針對(duì)安全儀表功能PFDavg計(jì)算進(jìn)行大量研究。張斌等[2]、李宏浩等[3]、李榮強(qiáng)等[4]、馬志國等[5]提出利用蒙特卡洛(Monte Carlo)、馬爾科夫(Markov)以及簡(jiǎn)化方程式等模型計(jì)算PFDavg的新方法;李軍麗等[6]、夏陽光等[7]、岑康等[8]利用動(dòng)態(tài)故障樹和FFTA-LOPA等模型對(duì)SIL驗(yàn)證方法進(jìn)行研究;王鍇等[9]、Chebila[10]、Mechri等[11]則對(duì)SIF共因失效分析進(jìn)行深入探索。陽憲惠等[12]以及Goble[13]提出利用β失效模型和故障樹模型計(jì)算安全儀表系統(tǒng)PFDavg的方法,雖建立了考慮共因失效的PFDavg計(jì)算模型,但由于β模型不能區(qū)分多重共因失效對(duì)SIF的影響,在對(duì)可能產(chǎn)生多重共因失效的SIF進(jìn)行PFDavg計(jì)算時(shí)誤差較大,有可能高估SIF的安全性。綜上所述,本文引入多故障沖擊模型(Multiple Error Shock Model,MESH)[14]分析多重共因失效對(duì)SIF的影響,并將其與故障樹方法相結(jié)合,建立可準(zhǔn)確計(jì)算SIF的PFDavg數(shù)學(xué)模型,并以某石化公司的安全儀表功能為例進(jìn)行驗(yàn)證。
設(shè)定失效率λ為常量,失效率概率密度函數(shù)服從指數(shù)分布。本文僅針對(duì)可修復(fù)系統(tǒng)的PFDavg計(jì)算進(jìn)行討論。
考慮共因失效的簡(jiǎn)單故障樹如圖1所示。
圖1 考慮共因失效的故障樹Fig.1 Fault tree considering common cause failure
假設(shè)無論其他元件在[0,t]上處于何種狀態(tài),各單獨(dú)元件在時(shí)刻t的失效概率均是與之相互獨(dú)立的,通過故障樹邏輯關(guān)系可知,系統(tǒng)失效概率計(jì)算如式(1)所示:
PSF(t)=PC(t)+PA(t)PB(t)-PC(t)PA(t)PB(t)
(1)
式中:Pi(t)為元件i在t時(shí)刻的瞬時(shí)失效率,i即SF,A,B,C。
系統(tǒng)的瞬時(shí)不可用率計(jì)算如式(2)所示:
USF(t)=UC(t)+UA(t)UB(t)-UA(t)UB(t)UC(t)
(2)
式中:Ui(t)為元件i在t時(shí)刻的瞬時(shí)不可用率,i即SF,A,B,C。
《電氣/電子/可編程電子安全相關(guān)系統(tǒng)的功能安全第6部分:GB/T 20438.2和GB/T 20438.3的應(yīng)用指南》(GB/T 20438.6—2017)[15]中定義PFDavg為系統(tǒng)的平均不可用率。根據(jù)PFDavg定義,PFDavg(T)計(jì)算如式(3)所示:
(3)
式中:PFDavg(T)為SIF在[0~T]時(shí)間內(nèi)的要求時(shí)危險(xiǎn)失效平均概率;MDT(t)為SIF在[0~T]時(shí)間內(nèi)的平均不工作時(shí)間。
瞬時(shí)不可用率U(t)定義為:“1個(gè)元件在時(shí)刻t不能夠正常工作的概率?!彼?,以元件在時(shí)刻t的失效概率為指標(biāo)衡量系統(tǒng)的瞬時(shí)不可用性。由于失效概率服從指數(shù)分布,則元件在t時(shí)刻的失效概率計(jì)算如式(4)所示:
P(t)=1-e-λt
(4)
式中:λ為元件失效率;P(t)為元件在t時(shí)刻的失效概率;
由于λ通常小于10-41/h,當(dāng)λ較小時(shí),根據(jù)泰勒展開式可以得到元件失效概率近似計(jì)算公式,如式(5)所示:
P(t)=λt
(5)
則PλDD(t),PλDU(t)計(jì)算公式如式(6)~(7)所示:
PλDD(t)=λDD×MTTR
(6)
PλDU(t)=λDU×TI
(7)
式中:PλDD(t)為可檢測(cè)到的危險(xiǎn)失效概率;PλDU(t)為未檢測(cè)到的危險(xiǎn)失效概率;λDD為可檢測(cè)到的危險(xiǎn)失效率;λDU為未檢測(cè)到的危險(xiǎn)失效率;MTTR為平均修復(fù)時(shí)間;TI為檢驗(yàn)測(cè)試周期。
整個(gè)系統(tǒng)危險(xiǎn)失效的失效概率計(jì)算公式如式(8)所示:
PλD(t)=PλDD(t)+PλDU(t)=λDD×MTTR+λDU×TI
(8)
多故障沖擊模型的目標(biāo)是計(jì)算出每次沖擊造成1個(gè),2個(gè)或者多個(gè)元件失效的失效率。定義每次沖擊導(dǎo)致n個(gè)元件失效的失效率計(jì)算公式如式(9)~(11)所示:
(9)
(10)
M=P(1)+P(2)×2+P(3)×3+…P(n)×n
(11)
式中:λ(n)為每次沖擊導(dǎo)致n個(gè)元件失效的失效率;υ為沖擊率;n為元件數(shù);M為每次沖擊下故障元件的平均數(shù);P(n)為每次沖擊導(dǎo)致n個(gè)元件發(fā)生故障的概率,n=1,2,3,…,n;P(1)+P(2)+…P(n)=1。
以圖1中的系統(tǒng)為例。該系統(tǒng)包含2個(gè)元件,故n=2。設(shè)P(1)=a,P(2)=1-a。M的表達(dá)式如式(12)所示:
M=P(1)+P(2)×2=2-a
(12)
式中:a為每次沖擊導(dǎo)致1個(gè)元件發(fā)生故障的概率,a≤1。
由式(9)得到計(jì)算公式如式(13)~(16)所示:
(13)
(14)
(15)
(16)
(17)
(18)
計(jì)算得到該系統(tǒng)的瞬時(shí)不可用率計(jì)算公式如式(19)所示:
(19)
(20)
以某石化企業(yè)EO儲(chǔ)罐液位高聯(lián)鎖回路的執(zhí)行機(jī)構(gòu)為例進(jìn)行驗(yàn)證。該安全儀表功能執(zhí)行機(jī)構(gòu)整體表決模式為2oo2,其中執(zhí)行機(jī)構(gòu)組1表決模式為2oo2,執(zhí)行機(jī)構(gòu)組2表決模式為1oo1。
根據(jù)該SIF執(zhí)行機(jī)構(gòu)的系統(tǒng)架構(gòu)創(chuàng)建故障樹模型,如圖2所示。
圖2 執(zhí)行機(jī)構(gòu)失效故障樹Fig.2 Fault tree of final element failure
由圖2可知,閥門組A的瞬時(shí)不可用率計(jì)算公式如式(21)所示:
(21)
式中:UM4為閥門組A的瞬時(shí)不可用率;UX1為接口A的瞬時(shí)不可用率;UX2為電磁閥A的瞬時(shí)不可用率;UX3為球閥A的瞬時(shí)不可用率。
該企業(yè)MTTR為24 h,TI為5 a,該執(zhí)行機(jī)構(gòu)各元件失效率數(shù)據(jù)見表1。
表1 執(zhí)行機(jī)構(gòu)組A失效數(shù)據(jù)Table 1 Failure data of final element group A
將X1,X2,X3的失效率數(shù)據(jù)代入式(5),通過計(jì)算可以發(fā)現(xiàn),UX1UX2,UX1UX3,UX2UX3和UX1UX2UX3的值遠(yuǎn)小于UX1,UX2,UX3。則閥門組A的瞬時(shí)不可用率計(jì)算公式如式(22)所示:
UM4=UX1+UX2+UX3
(22)
同理,可得出整個(gè)執(zhí)行機(jī)構(gòu)瞬時(shí)不可用率表達(dá)式如式(23)所示:
(23)
UM1計(jì)算公式如式(24)所示:
(24)
PFDavg表達(dá)式如式(25)所示:
(25)
通過專家取值P(1)=0.95,P(2)=0.04,P(3)=0.01。
根據(jù)式(11)計(jì)算出M=1.06,將M,P(1),P(2),P(3),MTTR,TI以及表1中失效率數(shù)據(jù)代入式(25)得到該執(zhí)行機(jī)構(gòu)的PFDavg=3.58×10-2。采取相同的數(shù)據(jù),通過商業(yè)軟件exSILentia對(duì)該系統(tǒng)進(jìn)行計(jì)算,得到其PFDavg=1.32×10-2。由計(jì)算結(jié)果可知,由于本方法中的共因失效模型能有效考慮多重共因失效的影響,所以計(jì)算出的PFDavg大于采取傳統(tǒng)共因失效模型β模型的商業(yè)軟件計(jì)算出的數(shù)值,但二者都處于相同的量級(jí),證明此方法的先進(jìn)性和可行性。
1)結(jié)合故障樹方法和多故障沖擊模型,基于PFDavg的定義,建立能準(zhǔn)確計(jì)算存在多重共因失效SIF的PFDavg數(shù)學(xué)模型。
2)結(jié)合故障樹方法和MESH的PFDavg計(jì)算模型能簡(jiǎn)潔表明SIF各失效間的邏輯關(guān)系,并且,相比于馬爾可夫、可靠性框圖等傳統(tǒng)方法,能更準(zhǔn)確判斷SIF的安全性。
3)在分析多重共因失效對(duì)PFDavg的影響時(shí),每次沖擊導(dǎo)致元件失效的概率P對(duì)計(jì)算結(jié)果影響較大,如何能獲取更精確的P值還有待進(jìn)一步研究。
中國安全生產(chǎn)科學(xué)技術(shù)2021年4期