◎劉悅 董政鑫 郭建達(dá) 陳沖
隨著對大功率、散熱、抗干擾器件的要求越來越高,以GaN為代表的第三代半導(dǎo)體材料登上了舞臺,它們共同的特點即是禁帶寬度大,抗輻照能力強(qiáng),熱穩(wěn)定性好、化學(xué)穩(wěn)定性好,加上良好的散熱性,使得第三代半導(dǎo)體在大功率及特殊環(huán)境下的應(yīng)用前景十分廣闊。
自然界中,我們將材料按其導(dǎo)電性能分為三類,分別是導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體,與導(dǎo)體和絕緣體相比,半導(dǎo)體具有特殊的電學(xué)性質(zhì),其電阻率受材料自身純度,外界溫度,輻射等強(qiáng)烈影響,固體物理中的能帶理認(rèn)為導(dǎo)體中的電子未能填充滿其所在整個允帶,允帶中的電子可以在外加電場的作用下,產(chǎn)生定向移動,進(jìn)而改變自身在K 空間中的能量狀態(tài),半導(dǎo)體和絕緣體其允帶中充滿了電子,電子雖然在外加電場中發(fā)生移動,但從整體來看其在K 空間中能量狀態(tài)沒有發(fā)生變化,所以對外不顯電性,同時,由于半導(dǎo)體的禁帶寬度較小,在外加光照或電流能能量注入的情況下,部分電子可以獲得能量跨越禁帶寬度,進(jìn)入上層允帶,這樣上下兩個允帶都有“空余位置”供電子用來移動,其性質(zhì)趨近于導(dǎo)體性質(zhì),K 空間中的能量狀態(tài)可以發(fā)生改變,半導(dǎo)體對外顯示導(dǎo)電性質(zhì)。絕緣體由于禁帶寬度過大,所以很難改變其導(dǎo)電的性質(zhì),綜上,我們可知半導(dǎo)體的這種可調(diào)制的導(dǎo)電性,具有重要的研究意義。
目前,半導(dǎo)體材料主要分為三代,第一代半導(dǎo)體材料主要以Si、Ge 半導(dǎo)體材料為主,Ge 半導(dǎo)體材料由于的高溫和抗輻射性能較差,上世紀(jì)60 年代后期Si 逐漸成為第一代半導(dǎo)體的代表,第二代半導(dǎo)體材料主要是指化合物半導(dǎo)體,如GaAs、InSb 為代表的二元化合物半導(dǎo)體,其中GaAs 為直接帶系半導(dǎo)體,其導(dǎo)帶底和價帶頂都位于K 空間的原點位置,且禁帶寬度僅為1.43 電子伏,這些性質(zhì)非常利于GaAs 的光學(xué)應(yīng)用,以GaAs 為代表的第二代半導(dǎo)體主要用于制作高性能的毫米波、微波或光電子器件。第三代半導(dǎo)體主要指的是以GaN,SiC,InN 化合物為代表的寬禁帶材料,相比于第二代半導(dǎo)體,其具有高電子遷移率,高電子濃度,耐高溫,抗輻射等優(yōu)點,更適宜于制作高溫、高頻以及大功率器件,目前,實驗測得GaN 材料的結(jié)構(gòu)主要有以下三種,分別是纖鋅礦結(jié)構(gòu)、閃鋅礦結(jié)構(gòu)以及鹽礦結(jié)構(gòu),在常溫常壓下,GaN主要以閃鋅礦和纖鋅礦的結(jié)構(gòu)存在。
由于第三代GaN 材料本身具有以上的優(yōu)勢特性,隨著1993年第一只GaN HEMT 器件問世,GaN HEMT 也成為了GaN 材料除光電器件外的另一個重要的發(fā)展方向,其在射頻電子器件和功率電子器件方面的產(chǎn)值也在不斷增加。由于AlGaN/GaN 異質(zhì)結(jié)材料具有高的擊穿場強(qiáng),高的二維電子氣密度,較高的電子遷移率,同時生長GaN 的SiC 襯底具有十分優(yōu)異的導(dǎo)熱性能,制作出的器件具有很好的可靠性,AlGaN/GaN 異質(zhì)結(jié)材料使固態(tài)微波功率器件的發(fā)展邁出了新的一步,由于擊穿場強(qiáng)很大,使它能承載更高的偏壓,高的2DEG 密度和電子飽和速度能提供更大的電流,因而能獲得更大的功率。目前,Si 和基于GaAs 的HEMTs、HBTs 占領(lǐng)這該領(lǐng)域大部分的市場,它們工藝更加成熟,因此更為人們所熟知。另外一些化合物半導(dǎo)體,如InP,在一些特殊的高頻段。不過,在高頻大功率應(yīng)用中,GaAs 有2 個主要的缺點,即臨界電場小、熱導(dǎo)率低。GaAs 襯底比Si 價格昂貴許多,并且生長更難控制,熱導(dǎo)率表現(xiàn)不好,相比之下,GaN 在Si 襯底上生長已經(jīng)實現(xiàn),而且GaN 的臨界電場比GaAs 幾乎要大一倍,將能在更大電壓下工作。SiC MESFETs 的優(yōu)勢在于其襯底優(yōu)異的導(dǎo)熱能力,但是它的電子遷移率很低。而且,SiC 襯底非常昂貴,尺寸還做不大,并且包含微觀缺陷,影響了器件的產(chǎn)量。SiGe HBTs 自從IBM提升了它的工藝并開始提供8 英寸的生產(chǎn)線之后就備受重視,而SiGe HBTs 也確實在很多微波應(yīng)用和混合信號產(chǎn)生方面有很好的性能,并且花費(fèi)不多就解決了一些以前在Si 平臺上無法解決的問題。可是SiGe HBTs 器件結(jié)構(gòu)依然是小功率的結(jié)構(gòu),它依靠減少少數(shù)載流子的基區(qū)輸運(yùn)時間來達(dá)到高頻,這意味著減薄基區(qū)厚度,并且利用Ge 的濃度分布產(chǎn)生一個加速電場,幫助電子穿越基區(qū)。然而在大功率中,集電區(qū)必須變得更厚,這又增加了集電區(qū)渡越時間,使得Si、Ge HBT 在高頻大功率上受到限制。Si LDMOS(橫向擴(kuò)散金屬氧化物半導(dǎo)體)以其價格優(yōu)勢,占據(jù)了絕大部分功率放大器的市場,不過由于它的工作頻率、擊穿電壓和功率密度的局限性,其發(fā)展受到限制,實際上,我們希望所制造出的器件具有以下的優(yōu)點:具有高的輸出阻抗,即要求緩沖層漏電要?。灰懈叩膿舸╇妷?;跨導(dǎo)要高,而且應(yīng)與柵壓保持較好的線性關(guān)系,即柵控制能力要強(qiáng);歐姆接觸電阻要小,不應(yīng)大于溝道電阻;夾斷特性要好,關(guān)態(tài)電流越小越好,至少要比開態(tài)電流小3 個數(shù)量級;截止頻率要高,不僅fT 和fmax 要高,而且要在較大的電壓、電流范圍內(nèi)不會退化;器件還應(yīng)具有良好的散熱能力,因此,AlGaN/GaN HEMT 有著獨(dú)特的優(yōu)勢。
隨著以GaN 材料為代表的第三代半導(dǎo)體的深入研究,其應(yīng)用范圍越來越廣泛,我國第三代半導(dǎo)體材料的研究起步較晚,相對國外先進(jìn)國家技術(shù)水平仍處于較低水平,應(yīng)當(dāng)著力發(fā)展。