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淺談精密測(cè)量技術(shù)現(xiàn)狀及發(fā)展

2020-02-03 09:32楊社強(qiáng)
科技風(fēng) 2020年1期
關(guān)鍵詞:發(fā)展趨勢(shì)現(xiàn)狀

摘?要:精密測(cè)量技術(shù)是一門重要的技術(shù)科學(xué),更是我國(guó)制造業(yè)等領(lǐng)域中不可或缺的組成部分。針對(duì)現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀及特征進(jìn)行簡(jiǎn)要論述,并指出精密測(cè)量技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)。

關(guān)鍵詞:精密測(cè)量技術(shù);現(xiàn)狀;發(fā)展趨勢(shì)

1?緒論

現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)在我國(guó)的科學(xué)技術(shù)發(fā)展中起著非常重要的作用,它的發(fā)展水平及在各領(lǐng)域的應(yīng)用程度更是衡量我國(guó)制造業(yè)技術(shù)水平以及提高核心競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵因素。

2?精密測(cè)量技術(shù)的現(xiàn)狀

精密測(cè)量技術(shù)是一門綜合性的交叉學(xué)科,就精密測(cè)量技術(shù)的發(fā)展大致可以分為以下三個(gè)方面:數(shù)字化測(cè)量技術(shù)、微納米測(cè)量技術(shù)以及圖像識(shí)別測(cè)量技術(shù)。

數(shù)字化測(cè)量技術(shù)是數(shù)字化制造業(yè)中的關(guān)鍵組成部分,它的主要特點(diǎn)一般以量化特征的數(shù)字量進(jìn)行描述并給出模擬量。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)[1]的發(fā)展作為數(shù)字化測(cè)量技術(shù)中典型代表,多測(cè)頭的集成打破了原有測(cè)量系統(tǒng)格局。最新相關(guān)研究中陳寧針對(duì)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量誤差進(jìn)行分析,提出有效的處理方法。Wei?Xuan等人提出了一種基于CNC測(cè)量中心的新型一維偽像的幾何誤差測(cè)量方法,用于識(shí)別測(cè)量位置誤差和角度誤差。Li,XH提出了一種自主開發(fā)的微角度傳感器的測(cè)量方法,建立了一種綜合誤差模型的逐步識(shí)別方法。Mian,SH通過(guò)研究可用于評(píng)估形狀誤差的各種樣本大小和不同分布的點(diǎn)分布算法,對(duì)樣品采樣策略進(jìn)行優(yōu)化。數(shù)字化測(cè)量技術(shù)在現(xiàn)代雷達(dá)中的應(yīng)用可以實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)物體測(cè)距的精確定位測(cè)量,在礦山工程測(cè)量中可以對(duì)資源進(jìn)行精確定位,保證安全的問(wèn)題。目前,數(shù)字化測(cè)量技術(shù)不斷發(fā)展仍然存在測(cè)量?jī)x器的自身安裝誤差、測(cè)繪過(guò)程中錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的采集不能及時(shí)得知、測(cè)量精度不高等問(wèn)題。

微/納米測(cè)量技術(shù)是現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)向微小領(lǐng)域發(fā)展的典型代表。20世紀(jì)80年代的十大科技之一掃描隧道顯微鏡空間分辨率可達(dá)納米級(jí),第一次實(shí)現(xiàn)了納米精度的三維物體形貌測(cè)量。現(xiàn)代微納米測(cè)量技術(shù)的相關(guān)研究而言,朱吳樂(lè)等人對(duì)復(fù)雜微結(jié)構(gòu)物體的三維數(shù)據(jù)精確測(cè)量進(jìn)行研究,開發(fā)了一種適用于超精密金剛石機(jī)床的在位測(cè)量?jī)x器。陶宇峰等人通過(guò)研究單模單外腔和雙模雙外腔激光器的光震蕩特性,研制了新型的自混合干涉系統(tǒng),測(cè)量精度較高。劉永俊等人提出了一種基于特征匹配的亞像素級(jí)位移測(cè)量方法,并在高精度納米平臺(tái)及相關(guān)系統(tǒng)中驗(yàn)證提出方法的有效性。Tian,J對(duì)多功能觸控輪廓分析系統(tǒng)進(jìn)行結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),用于表征物體微/納米級(jí)表面特性。Picard?L提出了一種用于量子氣體顯微鏡圖像測(cè)量分析新方法[2]。余慧娟等人對(duì)內(nèi)控試樣的高分辨率三維測(cè)量進(jìn)行研究,提出了一種三維納米諧振觸發(fā)的方法。作為21世紀(jì)重要的科學(xué)技術(shù)之一,微/納米測(cè)量技術(shù)是現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)的重要研究?jī)?nèi)容。

圖像識(shí)別測(cè)量技術(shù)是現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)中的重要研究課題。最初,在1941年出現(xiàn)了模式識(shí)別的測(cè)量方法,在物體平面的識(shí)別和分析中進(jìn)行應(yīng)用,物體三維輪廓的圖像識(shí)別測(cè)量方法由早期的干涉法、穆爾高線法開始取得不斷發(fā)展,出現(xiàn)了全息照相測(cè)量技術(shù)和計(jì)算全息測(cè)量技術(shù)。圖像識(shí)別測(cè)量技術(shù)的相關(guān)研究中,王延忠等人就螺旋錐齒輪的齒面測(cè)量問(wèn)題,利用圖像識(shí)別測(cè)量技術(shù),檢測(cè)齒面加工誤差并對(duì)加工參數(shù)進(jìn)行修正。齊超等人提利用圖像識(shí)別的測(cè)量技術(shù),并開發(fā)了一套適用于橋梁裂縫識(shí)別與測(cè)量的軟件。徐東昊等人利用圖像識(shí)別的測(cè)量技術(shù),根據(jù)圖像像素距離和特征長(zhǎng)度的比例確定被測(cè)目標(biāo)位移,進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè),保證吊裝安全性。王天正等人提出了基于圖像識(shí)別技術(shù)的空間小位移測(cè)量方法。針對(duì)多傳感器測(cè)量系統(tǒng)中數(shù)據(jù)信息的融合與校準(zhǔn)問(wèn)題,Gong?M提出了一種基于高斯過(guò)程回歸的立體視覺(jué)三維測(cè)量法,對(duì)數(shù)據(jù)的處理引入優(yōu)化模型有效提高測(cè)量精度。針對(duì)金剛石顆粒測(cè)量中識(shí)別率低的問(wèn)題,曹建提出了采用圖像識(shí)別測(cè)量方法,通過(guò)利用對(duì)采集圖像的輪廓檢測(cè)、提取和計(jì)算的方法提高測(cè)量的精度。針對(duì)車輪運(yùn)動(dòng)測(cè)量方法耗時(shí)、測(cè)量精度低的問(wèn)題,吳佳巍通過(guò)利用圖像識(shí)別技術(shù)實(shí)現(xiàn)了對(duì)車輪6D運(yùn)動(dòng)測(cè)量,為車輪的運(yùn)動(dòng)過(guò)程提供新的測(cè)量方法。Guo,J提出了一種基于視覺(jué)測(cè)量的攝像機(jī)校準(zhǔn)技術(shù),提高圖像識(shí)別的測(cè)量精度。圖像識(shí)別測(cè)量技術(shù)在測(cè)量振動(dòng)方面的測(cè)量,Durand-Texte?T提出了一種單相機(jī)單軸的視覺(jué)測(cè)量方法[3],為當(dāng)前的視覺(jué)振動(dòng)測(cè)量提出新的方法。圖像識(shí)別測(cè)量技術(shù)而言,雖具有較為廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,但仍存在測(cè)量精度不高的問(wèn)題,且作為人工智能的一個(gè)重要領(lǐng)域,也更是值得我們的高度關(guān)注。

3?精密測(cè)量技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)

現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)大致可以歸納為以下幾點(diǎn):(1)精密測(cè)量技術(shù)的精度在納米級(jí)方向?qū)⒌玫竭M(jìn)一步的發(fā)展,不斷提高精密測(cè)量分辨率。(2)圖像識(shí)別測(cè)量技術(shù)等其他先進(jìn)技術(shù)的應(yīng)用,使得當(dāng)前精密測(cè)量中非接觸式測(cè)量技術(shù)得到更加廣泛的應(yīng)用、測(cè)量精度更高。(3)多傳感器融合作為精密測(cè)量技術(shù)中信息獲取的有效方法,將更高效提高測(cè)量信息的準(zhǔn)確性。

4?結(jié)語(yǔ)

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,我國(guó)的現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)將有著更加廣泛的應(yīng)用,向著更高精度、更高可靠性方向發(fā)展。

參考文獻(xiàn):

[1]陳寧.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量誤差及處理探析[J].儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化與計(jì)量,2019(04):42-43.

[2]Picard?L?R?B,Mark?M?J,F(xiàn)erlaino?F,et?al.Deep?Learning-Assisted?Classification?of?Site-Resolved?Quantum?Gas?Microscope?Images[J].arXiv?preprint?arXiv:1904.08074,2019.

[3]Durand-Texte?T,Melon?M,Simonetto?E,et?al.Single-camera?single-axis?vision?method?applied?to?measure?vibrations[J].Journal?of?Sound?and?Vibration,2020,465:115012.

作者簡(jiǎn)介:楊社強(qiáng)(1993-),男,河南洛陽(yáng)人,碩士,研究方向:機(jī)械工程。

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