邢 晏,馮長(zhǎng)煥
(西華師范大學(xué)數(shù)學(xué)與信息學(xué)院,四川南充637000)
灰色系統(tǒng)理論是一種研究少數(shù)據(jù)、貧信息不確定性問(wèn)題的新方法,它以“部分信息已知、部分信息未知”的“小樣本、貧信息”不確定性系統(tǒng)為研究對(duì)象,灰色系統(tǒng)是指白色系統(tǒng)和黑色系統(tǒng)之間的數(shù)據(jù)系統(tǒng)。[1-2]灰色系統(tǒng)理論將隨機(jī)過(guò)程看作在一定范圍內(nèi)變化且與時(shí)間有關(guān)的灰色過(guò)程,將一切隨機(jī)變量看作在一定范圍內(nèi)變化的灰色量,采用灰色生成方法,將雜亂無(wú)章的原始數(shù)據(jù)整理成較強(qiáng)規(guī)律性的生成數(shù)列再作研究。[3-8]灰色預(yù)測(cè)理論作為灰色系統(tǒng)理論的重要部分,同時(shí)也是一種新的現(xiàn)代預(yù)測(cè)方法。[9]此方法具有預(yù)測(cè)精度高、所需原始信息少且計(jì)算過(guò)程簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn),是一種對(duì)含有不確定因素的系統(tǒng)進(jìn)行預(yù)測(cè)的方法,用生成模塊建立微分方程模型,通過(guò)少量的、離散的數(shù)據(jù)尋找規(guī)律,時(shí)效性較強(qiáng),比較適合“少數(shù)據(jù)建?!保?0]。
近年來(lái),普遍認(rèn)為GM系列模型預(yù)測(cè)比較接近實(shí)際,目前已廣泛應(yīng)用于社會(huì)、經(jīng)濟(jì)、科技等各大領(lǐng)域。然而,由于灰色理論體系本身還不夠完善,特別是GM(1,1)模型,作為灰色系統(tǒng)理論的核心,是基于解決實(shí)際問(wèn)題而產(chǎn)生的,該模型僅適用于具有較強(qiáng)指數(shù)規(guī)律的序列,對(duì)于一些擺動(dòng)較大的數(shù)據(jù),預(yù)測(cè)誤差往往較大,模型檢驗(yàn)常常不能通過(guò)。由此,對(duì)傳統(tǒng)GM(1,1)預(yù)測(cè)模型通過(guò)殘差修正建立灰色殘差模型進(jìn)行優(yōu)化,提高模型經(jīng)濟(jì)預(yù)測(cè)精度,具有一定的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。
設(shè)原始時(shí)間序列為X(0),滿足X(0)=(X(0)(1),X(0)(2),…,X(0)(n)),通過(guò)累加,即
生成新序列
GM(1,1)模型相應(yīng)的微分方程為
其中:a為發(fā)展系數(shù),b為內(nèi)生控制系數(shù)。
求解微分方程,得GM(1,1)預(yù)測(cè)模型
在GM(1,1)模型建立之后,一般要通過(guò)模型檢驗(yàn),檢驗(yàn)包括殘差檢驗(yàn)、關(guān)聯(lián)度檢驗(yàn)及后驗(yàn)差檢驗(yàn)等過(guò)程。
1.2.1 殘差檢驗(yàn)
由預(yù)測(cè)模型得到 X∧(1)(i) ,將其通過(guò)累減,即 X∧(1)(i)=X∧(0)(i) - X∧(0)(i - 1) 得到 X∧(0)(i) ,從而求出X(0)(i)與X∧(0)(i)的誤差序列:
1.2.2 關(guān)聯(lián)度檢驗(yàn)
首先,根據(jù)關(guān)聯(lián)系數(shù)的定義算出X∧(0)(i)序列與X(0)(i)序列的關(guān)聯(lián)系數(shù)。
定義1 關(guān)聯(lián)系數(shù)η(i)為
其中:
(1)令 Δ(0)(i)= X∧(0)(i) - X(0)(i)為第i個(gè)點(diǎn)X(0)與X∧(0)的絕對(duì)誤差。
(2)minΔ(0)(i)為第一級(jí)最小差,minminΔ(0)(i)為第二級(jí)最小差。同理,maxΔ(0)(i)為第一級(jí)最大差,maxmaxΔ(0)(i)為第二級(jí)最大差。
(3)分辨率 ρ∈ (0,1) ,通常取 ρ=0.5。
從實(shí)際經(jīng)驗(yàn)出發(fā),取ρ=0.5,當(dāng)r>0.6時(shí)達(dá)到滿意程度。
1.2.3 后驗(yàn)差檢驗(yàn)
(4)計(jì)算小誤差概率P=p{Δ(0)(i)-Δ-(0)< 0.674 5S1} 。
若令li= Δ(0)(i)-Δ-(0),S0=0.674 5S1,則 P=p{li< S0} ,預(yù)測(cè)精度等級(jí)[11]見(jiàn)表 1。
表1 預(yù)測(cè)精度等級(jí)
若殘差檢驗(yàn)、關(guān)聯(lián)度檢驗(yàn)及后驗(yàn)差檢驗(yàn)均能合格,則可以用GM(1,1)模型進(jìn)行預(yù)測(cè)。否則,說(shuō)明GM(1,1)模型檢驗(yàn)不合格或精度不理想。為此,可對(duì)GM(1,1)模型進(jìn)行殘差修正,從而提高預(yù)測(cè)精度。
由原始序列X(0)建立的GM(1,1)模型
X(1)={X(1)(1),X(1)(2),…,X(1)(n)} ,得到預(yù)測(cè)序列
定義殘差l(0)(j)=X(1)(j)-X∧(1)(j),則與X(1)及X∧(1)對(duì)應(yīng)的殘差序列為
建立l(1)相應(yīng)的GM(1,1)模型
由此,得到經(jīng)過(guò)殘差修正的GM(1,1)原始序列預(yù)測(cè)模型
表2為我國(guó)2012—2018年國(guó)內(nèi)生產(chǎn)總值GDP總量資料?,F(xiàn)根據(jù)資料建立GM(1,1)預(yù)測(cè)模型,分析今后短期發(fā)展趨勢(shì),可為相關(guān)政策的制定提供一定的參考。
表2 我國(guó)2012—2018年國(guó)內(nèi)生產(chǎn)總值GDP總量情況(單位:萬(wàn)億元)
首先,令原始序列為
則累加生成序列
故 a=- 0.083 863 06,b=51.837 434 9。
從而GM(1,1)預(yù)測(cè)模型微分方程為
由原始序列平均值X-(0)=73.330,計(jì)算原始序列標(biāo)準(zhǔn)差為
并有
所有ek都小于S0,故P=1,C < 0.35,后驗(yàn)差檢驗(yàn)通過(guò)。
由GM(1,1)預(yù)測(cè)模型可知
可見(jiàn),相對(duì)誤差序列中有的相對(duì)誤差較大,殘差檢驗(yàn)不通過(guò)。
對(duì)于關(guān)聯(lián)度檢驗(yàn),min Δ(k)}{ =0,max Δ(k)}{ =0.72。
由于只有兩個(gè)序列,故不再找第二級(jí)最差
可見(jiàn),利用通常GM(1,1)模型檢驗(yàn)不過(guò)關(guān),下面進(jìn)行模型殘差修正。
對(duì)上式求導(dǎo),[∧l(1)(k+1)]'=0.536 7e0.0269k,得到經(jīng)過(guò)殘差修正后的 GM(1,1) 預(yù)測(cè)模型∧X(1)(k+1)=672.160 003e0.08386306k- 618.120 003+ λ(k - 1)0.536 7e0.0269(k-1)。
修正后,模型精度有較大提高,見(jiàn)表3。
綜上可得,我國(guó)國(guó)內(nèi)生產(chǎn)總值GDP總量預(yù)測(cè)值2021年為X(1)(10)-X(1)(9)=115.03萬(wàn)億元。同理,2020年為105.78萬(wàn)億元,2019年預(yù)測(cè)值為97.27萬(wàn)億元。
可見(jiàn),灰色殘差修正的GM(1,1)模型預(yù)測(cè)精度較高,能夠作為一種有效工具進(jìn)行預(yù)測(cè)。
表3 GM(1,1)預(yù)測(cè)模型修正前、后的殘差比較
用經(jīng)過(guò)殘差修正后的GM(1,1)模型來(lái)預(yù)測(cè)國(guó)內(nèi)生產(chǎn)總值GDP總量:
當(dāng) k=7時(shí),X(1)(8)=591.50(萬(wàn)億元);
當(dāng) k=8時(shí),X(1)(9)=697.28(萬(wàn)億元);
當(dāng) k=9 時(shí),X(1)(10)=812.31(萬(wàn)億元)。
普通灰色GM(1,1)模型僅描述服從指數(shù)變化的過(guò)程,預(yù)測(cè)精度較低,當(dāng)檢驗(yàn)不能通過(guò)可對(duì)灰色預(yù)測(cè)值進(jìn)行殘差修正,通過(guò)灰色殘差模型預(yù)測(cè)精度明顯提高,從而較好滿足我國(guó)國(guó)內(nèi)生產(chǎn)總值GDP總量的預(yù)測(cè)需要,為宏觀經(jīng)濟(jì)政策的制定提供一定參考。由于灰色預(yù)測(cè)模型具有“小樣本、貧信息”特點(diǎn),只適合于短期預(yù)測(cè)。在實(shí)際運(yùn)用中,要注意把握建模的時(shí)間序列參考元素,構(gòu)造動(dòng)態(tài)的灰色GM(1,1)殘差模型,更好地提高模型的適用性與精確性。此外,由于數(shù)據(jù)選取、數(shù)據(jù)處理、修正對(duì)象和修正方法等因素不同,所建立殘差模型的復(fù)雜程度、預(yù)測(cè)精度也有一定差別,而采用殘差直接建模一次還原的算法,都具有復(fù)雜程度低、預(yù)測(cè)誤差小等優(yōu)點(diǎn)。