李政宏,葉曉軍,楊 寧,袁 曉,柳 翠,李紅波
(華東理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,上海 200237)
隨著國家531光伏新政的出臺(tái),光伏行業(yè)正處在從補(bǔ)貼依賴向逐漸實(shí)現(xiàn)平價(jià)轉(zhuǎn)變的新階段。本征薄層異質(zhì)結(jié)(HIT)太陽電池因其較高的光電轉(zhuǎn)換效率,強(qiáng)弱光響應(yīng),工藝溫度低及可薄片化等一系列優(yōu)勢(shì)[1],十分契合行業(yè)提效降本的宗旨。和傳統(tǒng)單晶硅同質(zhì)p-n結(jié)太陽電池相比,HIT太陽電池在非晶硅沉積鈍化前需要增加一道清洗工藝[2],這意味著HIT電池對(duì)襯底絨面質(zhì)量有更高的要求,對(duì)絨面優(yōu)劣的判定不能一味地只關(guān)注反射率這一個(gè)參數(shù)[3-4]。由于傳統(tǒng)同質(zhì)結(jié)太陽電池依靠擴(kuò)散工藝制結(jié),因而其p-n結(jié)一般位于硅片體內(nèi)距離表面幾百納米處,此時(shí)表面缺陷對(duì)p-n結(jié)的影響較小,而HIT電池是在硅片表面沉積多層超薄非晶硅形成異質(zhì)結(jié),因而硅片的表面即是異質(zhì)p-n結(jié)的界面,表面質(zhì)量直接影響電池性能。異質(zhì)結(jié)界面外延生長對(duì)電池有較大影響[5],制絨后的(001)晶向單晶硅表面布滿由4個(gè)(111)晶面構(gòu)成頂面的金字塔[6],其塔尖與塔底處的夾角十分尖銳,且四條棱也十分銳利,這會(huì)增大非晶硅沉積時(shí)外延生長的幾率。
Angermann等[7-9]采用濕化學(xué)方法來修飾形貌,其配方的主要成分為96%濃硫酸和30% H2O2,比例為1∶1,加熱到120 ℃反應(yīng)10 min,可以得到較好的平滑效果,但是高溫的濃硫酸溶液不適宜推廣到工業(yè)生產(chǎn)中。有團(tuán)隊(duì)將一定比例的HNO3, CH3COOH和HF混合溶液用于圓化金字塔結(jié)構(gòu)并除去留在表面上的金屬污染物,結(jié)果表明,10~15 s的刻蝕時(shí)間對(duì)于減弱i層中的應(yīng)力是十分有效的,同時(shí),此舉可以改善非晶硅沉積覆蓋率和界面接觸[10]。Singh等[11]應(yīng)用化學(xué)拋光試劑平滑金字塔尖峰和谷底,使表面為中/大型金字塔(5~8 μm)絨面的太陽電池的開路電壓提高45~63 mV。Yang等[12]采用HF/HNO3/H2SO4混合溶液實(shí)現(xiàn)絨面金字塔平滑化,發(fā)現(xiàn)平滑效果有助于減少電池紅外光透射損失。Moldovan等[13]從成本和工藝角度出發(fā),在酸性體系中通入臭氧實(shí)現(xiàn)金字塔圓化。周浪等[14]在HNO3(65%)∶HF(48%)∶H2O∶CH3COOH(99%)=1∶3∶2∶0.5(體積比)混酸體系下鍍硅片進(jìn)行圓化處理,定量描述了圓化程度,及其與反射率和鈍化效果的關(guān)系。大多數(shù)課題組均采用酸性體系化學(xué)拋光法來修飾絨面形貌[15-19],以改善鈍化質(zhì)量,但基于酸性體系的廢液處理相對(duì)復(fù)雜,希望能在堿性體系中實(shí)現(xiàn)類似的形貌修飾。本實(shí)驗(yàn)中應(yīng)用NaClO溶液對(duì)硅片進(jìn)行絨面形貌修飾處理,并研究其對(duì)HIT太陽電池的影響。
實(shí)驗(yàn)中用到的硅片是厚度為(180±10)μm的標(biāo)準(zhǔn)太陽電池用n型金剛線切(100)單晶硅片(156.7 mm×156.7 mm),其電阻率約1~3 Ω·cm。先用丙酮和酒精分別對(duì)樣品超聲清洗去除表面有機(jī)沾污和雜質(zhì),接著放入80 ℃ 10wt% NaOH溶液中去除表面損傷層,再在80 ℃下,用常規(guī)堿性制絨劑(1.5wt% NaOH,1vol% 添加劑)反應(yīng)15 min在表面制得金字塔結(jié)構(gòu)絨面,最后用激光劃片機(jī)制成30 mm×30 mm的正方形樣品。用NaClO溶液對(duì)硅片進(jìn)行絨面形貌修飾處理,配置濃度為10% NaClO溶液,加熱,將已做表面織構(gòu)的硅片樣品用超純水洗凈,浸入NaClO溶液中,一段時(shí)間后取出,用超純水反復(fù)沖洗干凈,最后用壓縮空氣吹干,待用。
圖1 HIT太陽電池結(jié)構(gòu)圖Fig.1 Structure diagram of HIT solar cell
用改良的RCA清洗工藝[20]對(duì)形貌修飾后的樣品進(jìn)行表面清潔,目的是去除樣品表面殘留的有機(jī)沾污,金屬離子和因長時(shí)間暴露在空氣中而氧化生成的SiO2。用等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法(PECVD)在樣品兩側(cè)分別沉積非晶硅層(a-Si∶H),應(yīng)用反應(yīng)等離子沉積技術(shù)(RPD)在樣品的兩側(cè)各沉積摻鎢氧化銦(In2O3∶W,IWO)層。用電阻蒸發(fā)式鍍膜機(jī)在電池兩側(cè)分別沉積銀作電極,最后,在200 ℃的恒溫退火爐中退火40 min,空氣冷卻,HIT太陽電池制備完成,每次制備電池的過程均放入2片已制絨但未做絨面形貌修飾的硅片樣品作為基準(zhǔn)參照陪片,制成的HIT電池的具體結(jié)構(gòu)如圖1所示。
用Bentham PVE300測(cè)量樣品絨面形貌修飾前后的表面光反射率,鈍化后樣品的外量子效率及表面光反射率;用Zeiss Ultra Plus場發(fā)射掃描電子顯微鏡觀察樣品表面和截面的微觀形貌結(jié)構(gòu);用Sinton WCT-120測(cè)量鈍化后樣品少數(shù)載流子壽命;用Newport Oriel Sol2A級(jí)太陽光模擬器對(duì)太陽電池進(jìn)行J-V性能測(cè)試(STC條件下,25 ℃,AM1.5,1000 W/m2),測(cè)試區(qū)域的尺寸為20 mm×20 mm。
3.1.1 絨面形貌修飾后襯底形貌與反射率
圖2是用場發(fā)射掃描電子顯微鏡觀察得到的單晶硅片經(jīng)常規(guī)制絨和70 ℃下,在10% NaClO溶液中修飾不同時(shí)間后的截面形貌。
圖2 形貌修飾不同時(shí)間后樣品絨面形貌的SEM照片F(xiàn)ig.2 SEM images of samples after different time of morphology modification
從整體來看,隨著修飾時(shí)間的增加,金字塔的塔底溝壑處不再尖銳,取而代之的是較平滑圓潤的谷底,如圖中方框區(qū)域所示。同時(shí)金字塔的棱邊有輕微的弧度,這表明形貌修飾作用在金字塔表面不是均勻發(fā)生的,總體是塔尖和塔底稍快,金字塔側(cè)面的反應(yīng)稍慢,原本的正四面體形金字塔在向“錐形”轉(zhuǎn)變,金字塔的四個(gè)頂面之間過渡更圓滑。由于低濃度堿與硅的各向異性反應(yīng)特點(diǎn),其在(100)面和(110)面的反應(yīng)速率遠(yuǎn)大于(111)面,在塔尖區(qū)域,當(dāng)NaOH腐蝕完硅片表面的SiO2時(shí),暴露在溶液中的Si仍是(111)面的,與NaOH幾乎不反應(yīng)。而對(duì)于塔底,當(dāng)NaOH腐蝕完樣品表面的SiO2后,暴露在液相中的Si會(huì)與NaOH直接反應(yīng),NaClO的存在又一定程度上抑制了Si直接和NaOH反應(yīng),較大離子半徑的ClO-會(huì)阻礙OH-和水分子的介入,因此實(shí)驗(yàn)過程中有一定數(shù)量的氣泡產(chǎn)生,氣泡極小且穩(wěn)定,NaOH在向下腐蝕的過程中會(huì)拓寬金字塔間的邊界。
分別測(cè)量上述五組樣品的表面反射率(300~1180 nm波段),選取其中400~1100 nm波長范圍,算出其平均反射率RF,結(jié)果如圖3所示。隨著絨面形貌修飾時(shí)間的增加,樣品表面的反射率基本呈線性增大,從最初的12.48%增大至13.79%,這是由絨面金字塔形貌改變引起的對(duì)光二次反射和三次反射的減少所致。
圖3 樣品表面反射率隨絨面形貌修飾時(shí)間變化(圖中直線為最小二乘法擬合結(jié)果)Fig.3 Reflectivity changes with mophology modification time (The straight line represents the result of a linear fit)
3.1.2 絨面形貌修飾對(duì)鈍化效果的影響
非晶硅沉積鈍化后,選取絨面形貌修飾時(shí)間為0 min和45 min的硅片樣品,用WCT-120分別測(cè)量其少子壽命,如圖4所示,測(cè)量得到修飾45 min的樣品的少子壽命為422.64 μs,高于0 min時(shí)測(cè)得的121.53 μs,這表明在相同的鈍化工藝下,絨面形貌修飾后,硅片的界面質(zhì)量有所提高。產(chǎn)生這樣結(jié)果一方面是由于形貌修飾后樣品的比表面積減小,另一方面是由于絨面的谷底和棱邊等區(qū)域變得相對(duì)較圓滑,有效減少了外延的發(fā)生,使沉積的非晶硅層更均勻。此外還測(cè)量得到了兩組硅片樣品sun-impliedVoc,如圖5所示。在標(biāo)準(zhǔn)光強(qiáng)下,絨面形貌修飾后的樣品的數(shù)值0.725 V高于未做修飾處理的樣品(0.660 V),這也證明了形貌修飾處理后,硅片樣品表面復(fù)合速率降低。
圖4 形貌修飾前后少子壽命Fig.4 Comparison of minority carrier lifetime before and after topography modification
圖5 形貌修飾前后暗態(tài)VocFig.5 Comparison of sun-implied Voc plots before and after topography modification
3.1.3 絨面修飾對(duì)電池性能影響
圖6是絨面修飾時(shí)間為0 min和45 min樣品制成的HIT太陽電池的反射率和外量子效率對(duì)比圖,修飾45 min后,硅片表面平均反射率(3.52%)較未進(jìn)行形貌修飾樣品(3.32%)略微提高,主要差別集中在短波段,中長波段的反射率基本相同。由于EQE受到表面反射率和載流子復(fù)合雙重影響,中長波段樣品表面形貌修飾前后反射率基本不變,但表面形貌修飾45 min后載流子復(fù)合降低,因此中長波段EQE整體提高。對(duì)于短波段而言,表面形貌修飾帶來的短波增益受到增大的反射率的抑制,形貌修飾后短波EQE基本不變。對(duì)量子效率進(jìn)行積分就可以得到被測(cè)太陽電池的短路電流密度,其中Jsc(0 min)為37.28 mA/cm2,Jsc(45 min)為39.52 mA/cm2。
圖6 絨面修飾時(shí)間為45 min的HIT太陽電池和未做形貌修飾的電池的的反射率和外量子效率Fig.6 Reflectivity and EQE of HIT solar cells solar cells after 45 min of morphology modification and without modification
圖7 絨面形貌修飾時(shí)間為45 min的HIT太陽電池和未做形貌修飾的電池的J-V特性曲線及參數(shù)Fig.7 J-V curves and parameters of HIT solar cells after 45 min of morphology modification and without modification
分別測(cè)量兩組HIT電池的J-V特性曲線,如圖7所示。從圖上看,形貌修飾時(shí)間為45 min樣品制成的HIT電池的開路電壓、短路電流、填充因子和能量轉(zhuǎn)換效率均有不同程度的提升,開路電壓從656.3 mV提升至699.8 mV的主要原因是,較圓潤的金字塔減少了外延生長的發(fā)生,使非晶硅沉積時(shí)更均勻,提升了鈍化層質(zhì)量,減少了表面和界面的復(fù)合損失,而短路電流和填充因子的改變主要和電極有關(guān),由于本實(shí)驗(yàn)采用了蒸發(fā)鍍膜技術(shù)來制作電極,且正面柵線高度約2 μm,背面電極厚度約1 μm,而表面絨面的高度在幾百納米至幾個(gè)微米不等,由于絨面形貌修飾45 min后的金字塔過渡性更好,因而其電極的蒸鍍效果較好,獲得了較好的歐姆接觸,接觸電阻較小,所以表現(xiàn)出較高的短路電流和填充因子。這里還要補(bǔ)充一點(diǎn),由于條件有限,制備的電極的正面細(xì)柵的寬度為100 μm,其高寬比遠(yuǎn)低于用絲網(wǎng)印刷工藝制備的電極[21],致使電池存在較高的串聯(lián)電阻,F(xiàn)F較低,同時(shí)附帶電流損失。此外,正面細(xì)柵較寬(實(shí)測(cè)160 μm)和柵線間距較窄都會(huì)對(duì)太陽電池產(chǎn)生明顯的遮蔽效果,造成電池表面的受光面積減小,直接導(dǎo)致了J-V測(cè)試中Jsc偏小,而用量子效率計(jì)算所得的電流密度較大。以上三者的不同程度的提升最終都體現(xiàn)在能量轉(zhuǎn)換效率上,絨面形貌修飾45 min后制成的太陽電池的轉(zhuǎn)換效率比未做修飾處理的高約1.8%。
反應(yīng)溫度對(duì)NaClO的水解和反應(yīng)速率都有一定的影響,為此,我們研究了不同反應(yīng)溫度對(duì)絨面修飾的影響。以不同溫度下,在10% NaClO溶液中形貌修飾45 min后的硅片為襯底制備HIT太陽電池,其電池性能參數(shù)如圖8所示。
從圖中可以看出,開路電壓Voc隨溫度的升高而增大,其中,50 ℃到60 ℃的增幅最大,當(dāng)溫度超過60 ℃時(shí),開路電壓的增幅放緩,這是因?yàn)殡S著絨面形貌修飾程度的增加,界面質(zhì)量越來越高,表面復(fù)合越來越少,越來越接近理想狀態(tài),Voc也越來越接近impliedVoc,這表明被NaClO溶液修飾過的樣品的表面形貌更適合HIT電池。填充因子也隨著溫度的升高而增大,F(xiàn)F的提升由兩部分原因造成,一部分是由于表面復(fù)合的降低,另一部分則是由于絨面形貌的改變,金字塔過渡性更好,其電極的蒸鍍效果較好,因而獲得了較好的歐姆接觸,降低了接觸電阻。電流密度隨反應(yīng)溫度的升高先增大后減小。本實(shí)驗(yàn)中,影響電流密度的因素主要有兩個(gè),一是硅片表面反射率影響的光學(xué)損失,另一個(gè)是由電極帶來的電路損失。50 ℃組的硅片和60 ℃組相比,兩者鈍化后的反射率相差不大,見表1,此時(shí),由于60 ℃有較好的歐姆接觸,因而其電流密度稍大。60 ℃組和70 ℃組比較,硅片的反射率有了一定的提高,此時(shí)電池的光學(xué)損失不可忽略不計(jì),而由于電極接觸減少的電路損失不足以彌補(bǔ)這部分光學(xué)損失,因而整體表現(xiàn)出電流密度的下降。比較70 ℃和80 ℃的情況,由于光學(xué)損失進(jìn)一步增大,而此時(shí)電極接觸帶來的正效應(yīng)越來越弱,因此這一段的電流密度下降幅度高于60~70 ℃。綜合電性能參數(shù),反應(yīng)溫度為70 ℃時(shí),HIT太陽電池的效率最高,為12.02%。此外,還可以看出上述太陽電池的能量轉(zhuǎn)換效率均高于未形貌修飾的太陽電池(η=10.16%),由此可見,用NaClO溶液對(duì)硅片進(jìn)行形貌修飾的工藝窗口較寬。
圖8 不同溫度下,10% NaClO形貌修飾45 min制成的 HIT太陽電池電性能參數(shù)Fig.8 Parameters of HIT solar cells with textured substrates modified 45 min by 10% NaClO at different temperatures
Temperature/℃50607080Reflectivity/%2.3402.4292.5663.164
本文采用NaClO溶液這一堿性體系對(duì)硅片進(jìn)行絨面形貌修飾,研究其對(duì)硅片表面形貌及HIT太陽電池電性能的影響。結(jié)果表明,在NaOH的各向異性反應(yīng)和NaClO的氧化反應(yīng)的共同作用下,金字塔結(jié)構(gòu)由尖銳的四面體向較圓滑的“錐形”轉(zhuǎn)變,雖然其頂部仍是尖狀,但其底部變得平滑圓潤。隨著形貌修飾時(shí)間的增加,樣品表面的反射率基本呈線性增大,從原先的12.48%升高至13.79%,沉積非晶硅鈍化膜后,相較于未修飾硅片,NaClO修飾后硅片少子壽命明顯提高,達(dá)到422.64 μs,這表明在相同的鈍化工藝下,絨面形貌修飾有效改善了界面鈍化質(zhì)量,從而實(shí)現(xiàn)電池電性能的提升。樣品絨面形貌修飾45 min后,開路電壓從656.3 mV升高至699.8 mV,電池轉(zhuǎn)換效率提高1.8%。此外,反應(yīng)溫度同樣會(huì)對(duì)絨面修飾產(chǎn)生影響,進(jìn)而影響電池的電性能,基于70 ℃,10% NaClO溶液,45 min的絨面修飾條件下制備的HIT太陽電池轉(zhuǎn)換效率達(dá)到最高,為12.02%。