孟建軍23 白 歡 楊 杏
(1.蘭州交通大學(xué) 機(jī)電工程學(xué)院,甘肅 蘭州 730070; 2.蘭州交通大學(xué) 機(jī)電技術(shù)研究所,甘肅 蘭州 730070;3.甘肅省物流及運(yùn)輸裝備信息化工程技術(shù)研究中心,甘肅 蘭州 730070;4.西安鐵路職業(yè)技術(shù)學(xué)院 牽引動(dòng)力學(xué)院,陜西 西安 710014)
鐵磁材料在交變磁場(chǎng)的作用下長(zhǎng)度和體積發(fā)生微小應(yīng)變的現(xiàn)象稱為磁致伸縮效應(yīng)。磁致伸縮系數(shù)高于10-3的材料叫作超磁致伸縮材料(Giant Magnetostrictive Material,GMM),超磁致伸縮作動(dòng)器(Giant Magnetostrictive Actuator,GMA)是其重要應(yīng)用領(lǐng)域之一[1]。超磁致伸縮作動(dòng)器的位移是對(duì)其測(cè)量和控制的主要物理量之一,而該位移在微米級(jí),因此對(duì)其精確測(cè)量至關(guān)重要。在位移的測(cè)量方法中,最早采用應(yīng)變片和惠斯通電橋的電阻法,這種方法已經(jīng)較少采用。邁克爾遜激光干涉儀發(fā)展至今,已經(jīng)廣泛應(yīng)用于長(zhǎng)度、位移、表面輪廓和表面粗糙度等的測(cè)量[1-3]。干涉儀的優(yōu)點(diǎn)是以光的波長(zhǎng)作為度量單位,具有很高的分辨率,為精確測(cè)量提供了有力的工具[4],被用于傳感器的標(biāo)定?;谏鲜鰞?yōu)點(diǎn),邁克爾遜干涉儀在振動(dòng)測(cè)量中得到了廣泛應(yīng)用[5]。但是,這種干涉儀也有其固有的局限性,分立元件邁克爾遜干涉儀有極高的環(huán)境條件和調(diào)整要求,對(duì)溫度、濕度、環(huán)境振動(dòng)、儀器變形和空氣擾動(dòng)敏感[6-7]。為了使參考光和測(cè)量光的光程相等,必須在光路中安裝反射鏡調(diào)節(jié)光路。此外,干涉光傳播中兩次經(jīng)過分光鏡,造成一定的能量損失,加之光學(xué)器件本身的損耗,導(dǎo)致干涉信號(hào)強(qiáng)度降低,對(duì)光電探測(cè)器的靈敏度提出了更高的要求,這不僅影響了測(cè)量精度,甚至導(dǎo)致測(cè)量失效[8-9]。此外,常用的條紋計(jì)數(shù)法還可以進(jìn)一步細(xì)分以提高測(cè)量精度。
本文結(jié)合工程應(yīng)用,采用全光纖干涉儀代替分立元件邁克爾遜干涉儀,借助高分辨率動(dòng)態(tài)信號(hào)采集卡對(duì)光電探測(cè)器的輸出信號(hào)采樣,在LabVIEW虛擬儀器軟件中用貝塞爾函數(shù)對(duì)干涉條紋細(xì)分處理以提高精度,設(shè)計(jì)了超磁致伸縮作動(dòng)器激光干涉位移測(cè)量系統(tǒng)。
激光是一種電磁波,用于振動(dòng)測(cè)量的激光近似平面光波。平面光波的波動(dòng)方程為
(1)
激光干涉原理示意圖如圖1所示,由激光器、分光棱鏡、參考鏡、測(cè)量鏡和探測(cè)器組成,參考鏡又稱定鏡,測(cè)量鏡也稱動(dòng)鏡,分光棱鏡為半透半反分光鏡。
為了測(cè)量位移,在被測(cè)物體與激光器的光路上安裝分光鏡,從激光器發(fā)出的激光經(jīng)過分光鏡反射至被測(cè)物體上的測(cè)量鏡,再由測(cè)量鏡反射,透過分光鏡進(jìn)入光電探測(cè)器,光程為l1。當(dāng)物體產(chǎn)生位移Δx時(shí),激光器與被測(cè)物體的光程變?yōu)閘1+Δx,對(duì)應(yīng)的波動(dòng)方程為
圖1 激光干涉原理示意圖
(2)
式中,y1為測(cè)量光的瞬時(shí)值。
假設(shè)被測(cè)物體以振幅Xm、頻率ω0、時(shí)間t、位移x=Xmsinω0t的簡(jiǎn)諧振動(dòng)對(duì)光波振動(dòng)的相位進(jìn)行調(diào)制,波動(dòng)方程和光強(qiáng)分別為
(3)
(4)
式中,I1為測(cè)量光的光強(qiáng)。
盡管物體的振動(dòng)起到了相位調(diào)制的作用,但是這種調(diào)制方法的載波仍然是光波,而光波的頻率高達(dá)105GHz,光電探測(cè)器無法達(dá)到如此高的頻率響應(yīng)[10]。
為了實(shí)現(xiàn)振動(dòng)信號(hào)的光波解調(diào),激光器發(fā)出的同一激光束經(jīng)分光鏡透射到參考鏡,然后再經(jīng)分光鏡反射進(jìn)入光電探測(cè)器,光程為l0,其波動(dòng)方程為
(5)
式中,y0為參考光的瞬時(shí)值,參考光和測(cè)量光兩者光源相同,振幅相等。因混頻產(chǎn)生激光干涉,干涉條紋的光強(qiáng)為
(6)
式中,I為干涉條紋的光強(qiáng)。
干涉后的光強(qiáng)中,消去了高頻項(xiàng)ωt,光電探測(cè)器能夠響應(yīng)振動(dòng)位移的相位調(diào)制信號(hào)。
為了克服空氣受環(huán)境條件影響所導(dǎo)致的空氣光程差的變化,本測(cè)量系統(tǒng)采用全光纖干涉儀。全光纖邁克爾遜干涉儀示意圖如圖2所示,包括激光器、偏振器、3 dB耦合器、檢偏器、探測(cè)器、參考臂和測(cè)量臂。用3 dB耦合器(分光比50∶50,插入損耗3 dB)代替分光鏡,光纖代替了空氣光程,以敏感光纖作為相位調(diào)制元件。激光束經(jīng)偏振器起偏后進(jìn)入耦合器分為兩束,由參考臂和測(cè)量臂反射回來后進(jìn)入檢偏器。這種全光纖結(jié)構(gòu)不僅消除了諸多環(huán)境條件敏感因素干擾的影響,而且避免了測(cè)量前須光路校準(zhǔn)、角度垂直等費(fèi)時(shí)煩瑣的準(zhǔn)備工作,擴(kuò)大了干涉儀的使用范圍,應(yīng)用延伸到許多傳統(tǒng)干涉儀的禁區(qū),適用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
圖2 全光纖邁克爾遜干涉儀示意圖
硬件方案示意圖如圖3所示,由作動(dòng)器、驅(qū)動(dòng)電源、接口電路、數(shù)字和模擬信號(hào)發(fā)生模塊、計(jì)算機(jī)和激光干涉儀組成。作動(dòng)器由驅(qū)動(dòng)電源驅(qū)動(dòng),產(chǎn)生振幅和頻率可調(diào)的簡(jiǎn)諧振動(dòng),測(cè)量角棱鏡安裝在作動(dòng)器輸出桿表面反射干涉儀發(fā)出的激光束。驅(qū)動(dòng)電源主要由全隔離整流模塊、交流負(fù)反饋模塊和IGBT模塊組成,產(chǎn)生幅值和頻率穩(wěn)定的功率脈沖。接口電路進(jìn)行電平轉(zhuǎn)換和信號(hào)放大,輸出脈沖信號(hào)和電壓信號(hào),是連接驅(qū)動(dòng)電源和信號(hào)發(fā)生模塊的轉(zhuǎn)換電路。
圖3 硬件方案示意圖
數(shù)字和模擬信號(hào)發(fā)生模塊通過USB接口連接計(jì)算機(jī),由計(jì)算機(jī)控制產(chǎn)生幅值固定、頻率可調(diào)的脈沖信號(hào),以及高低可以調(diào)節(jié)的電壓信號(hào),但其沒有足夠的驅(qū)動(dòng)能力,因此需由接口電路進(jìn)行轉(zhuǎn)換。干涉儀產(chǎn)生的拍頻信號(hào)和測(cè)量信號(hào)雙通道輸入至動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)采集模塊。動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)采集模塊采用PCI接口與計(jì)算機(jī)連接,同步數(shù)據(jù)采集所需的同步信號(hào)由數(shù)字和模擬信號(hào)發(fā)生模塊提供,干涉儀輸出的交流信號(hào)在動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)采集模塊內(nèi)部經(jīng)放大、整形后同步采樣,由LabVIEW軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)運(yùn)算處理。
激光邁克爾遜干涉儀選用丹麥B&K公司的LDV8329,動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)采集模塊采用臺(tái)灣凌華科技的PCI-9527,數(shù)字和模擬信號(hào)發(fā)生模塊采用USB-1902。
邁克爾遜干涉儀中,參考光波和測(cè)量光波具有相同的幅值和頻率,測(cè)量光波的相位由于物體振動(dòng)被調(diào)制而與參考光波產(chǎn)生相位差,因此,這是一種典型的零差測(cè)振法。
在本測(cè)量系統(tǒng)中,超磁致伸縮作動(dòng)器以x=Xmsin(ω0t+φ0)作簡(jiǎn)諧振動(dòng),其中φ0為初相位。靜止時(shí)光程l0與l1相等。測(cè)量光的瞬時(shí)光程為
l1=l0+Xmsin(ω0t+φ0)
(7)
這說明測(cè)量光的光程隨著振動(dòng)在變化,干涉系統(tǒng)的瞬時(shí)光強(qiáng)為
(8)
光電探測(cè)器輸出的交流電壓信號(hào)為
(9)
式中,U、u分別為交流電壓信號(hào)幅值和瞬時(shí)值。
(10)
由此可見,作動(dòng)器的位移Xm與干涉條紋的個(gè)數(shù)n存在線性關(guān)系。把簡(jiǎn)諧振動(dòng)信號(hào)經(jīng)過整形后作為計(jì)數(shù)器的門控制信號(hào),觸發(fā)計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù),一個(gè)周期內(nèi)的計(jì)數(shù)值n,代入式(10)計(jì)算得到作動(dòng)器的位移Xm,這種方法稱為干涉條紋計(jì)數(shù)法[11]。
數(shù)據(jù)采集采用音頻、聲學(xué)和振動(dòng)專業(yè)測(cè)試的24位高性能同步動(dòng)態(tài)信號(hào)采集卡PCI-9527,采樣率為432 kS/s,交流耦合輸入模式,編程輸入范圍-10~+10 V。數(shù)據(jù)采集卡的模擬信號(hào)輸入端同步采集光電探測(cè)器輸出的交流電信號(hào),由LabVIEW軟件用貝塞爾函數(shù)法進(jìn)行分析處理。
超磁致伸縮作動(dòng)器簡(jiǎn)諧振動(dòng)的位移表達(dá)式為x=Xmsin(ω0t+φ0),對(duì)應(yīng)光電探測(cè)器輸出的電流信號(hào)為
(11)
第一類n階貝塞爾函數(shù)Jn(x)為[12]
(12)
式中,n為貝塞爾函數(shù)的階;a為正整數(shù);m為1~+a的正整數(shù)。第一類貝塞爾函數(shù)曲線圖如圖4所示。
圖4 第一類貝塞爾函數(shù)曲線圖
由圖4可知各階曲線的零點(diǎn)互不重合,同階相鄰的零點(diǎn)之間總包含不同階的零點(diǎn),幅值隨時(shí)間呈衰減趨勢(shì)。利用貝塞爾函數(shù)展開式(10),其中
(13)
(14)
計(jì)算機(jī)處理數(shù)據(jù)時(shí),如果xnm表示Jn(x)的n階第m個(gè)零點(diǎn),則用下列近似公式計(jì)算貝塞爾函數(shù)的零點(diǎn)。
(15)
(16)
B=4m2
(17)
C=7B-31
(18)
D=83B2-982B+3779
(19)
E=6949B3-153855B2+1585743B-6277237
(20)
用近似式(15)~式(19)計(jì)算n階第m個(gè)零點(diǎn),貝塞爾函數(shù)的零點(diǎn)Jn(xnm)=0,如表1所示。
軟件流程圖如圖5所示。軟件開始運(yùn)行,首先進(jìn)行系統(tǒng)初始化,初始化過程包括:波長(zhǎng)設(shè)定、輸入通道設(shè)置、輸入耦合方式設(shè)置、模擬輸入范圍程序控制和采樣率設(shè)置。系統(tǒng)默認(rèn)激光波長(zhǎng)為0.6328 μm,波長(zhǎng)可以通過軟件設(shè)置,以提高軟件的通用性。初始化完成后,執(zhí)行零點(diǎn)校準(zhǔn),消除電路靜態(tài)噪聲對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。參數(shù)設(shè)置包括頻率設(shè)定和電流設(shè)定,設(shè)定驅(qū)動(dòng)電源的輸出電流,實(shí)現(xiàn)輸出電流在1~30 A的范圍內(nèi)以步長(zhǎng)0.1 A步進(jìn)調(diào)節(jié),控制作動(dòng)器的輸出位移,頻率設(shè)定控制驅(qū)動(dòng)電源的開關(guān)頻率在1~400 Hz范圍內(nèi)以步長(zhǎng)0.1 Hz連續(xù)可調(diào),從而改變加在作動(dòng)器的功率脈沖,使作動(dòng)器驅(qū)動(dòng)線圈產(chǎn)生交變磁場(chǎng),按設(shè)定的頻率作簡(jiǎn)諧振動(dòng)。系統(tǒng)啟動(dòng)、延時(shí)等待,驅(qū)動(dòng)作動(dòng)器的開關(guān)電源電流和頻率從暫態(tài)過程進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài)需要一個(gè)過渡過程,這個(gè)過程需要控制頻率,特別是電流的上升率,避免作動(dòng)器電流上升速度過快造成開關(guān)電源瞬間過載,對(duì)電源和負(fù)載帶來過大沖擊甚至過載損壞。
表1 貝塞爾函數(shù)的零點(diǎn)Jn(xnm)=0
圖5 軟件流程圖
作動(dòng)器電流和頻率穩(wěn)定后,定時(shí)器立即觸發(fā),定時(shí)開始;光電探測(cè)器輸出的電信號(hào)由LabVIEW軟件濾波,抑制交流信號(hào)中疊加的高頻分量,保留低頻分量;數(shù)據(jù)采集按照設(shè)定的采樣率對(duì)振動(dòng)的位移信號(hào)進(jìn)行同步采樣,以時(shí)間序列把每一個(gè)采樣點(diǎn)保存到映射的寄存器中,進(jìn)行后續(xù)處理;貝塞爾函數(shù)0、1、2階對(duì)應(yīng)的5個(gè)零點(diǎn)記錄在一個(gè)二維表中,按照3.2節(jié)所述的數(shù)據(jù)處理算法以固定周期查找函數(shù)表,計(jì)算貝塞爾函數(shù)值;瞬時(shí)位移測(cè)量本身需要的時(shí)間很短,但是,作動(dòng)器的簡(jiǎn)諧振動(dòng)在實(shí)際的工作環(huán)境下不可避免地受到外界各種擾動(dòng)的影響,瞬時(shí)測(cè)量的位移數(shù)據(jù)無疑是不穩(wěn)定的,隨著測(cè)量時(shí)間的增加,樣本函數(shù)的數(shù)量也相應(yīng)增加,測(cè)量結(jié)果無限趨近數(shù)學(xué)期望,最終得到數(shù)據(jù)可靠的作動(dòng)器位移值;定時(shí)器觸發(fā)到一個(gè)測(cè)量步驟完成,自動(dòng)判斷定時(shí)器是否溢出,選擇程序運(yùn)行進(jìn)入下一個(gè)循環(huán)或結(jié)束。
超磁致伸縮材料是作動(dòng)器的核心元件,超磁致伸縮作動(dòng)器的機(jī)械參數(shù)和驅(qū)動(dòng)電源的電氣參數(shù)如表2所示。驅(qū)動(dòng)電源輸出頻率1~400 Hz,步長(zhǎng)0.1 Hz,驅(qū)動(dòng)電流1~30 A,步長(zhǎng)0.1 A步進(jìn)調(diào)節(jié),作動(dòng)器在驅(qū)動(dòng)電源發(fā)出的功率脈沖激勵(lì)下,做簡(jiǎn)諧振動(dòng)。
表2 超磁致伸縮作動(dòng)器的機(jī)械參數(shù)和驅(qū)動(dòng)電源的電氣參數(shù)
施加一定頻率和電流的功率脈沖,使作動(dòng)器做簡(jiǎn)諧振動(dòng),用激光干涉法測(cè)量超磁致伸縮作動(dòng)器在不同頻率和電流下的位移,每個(gè)測(cè)量點(diǎn)記錄對(duì)應(yīng)的位移值,以分析頻率、電流與位移之間的關(guān)系。
不同頻率和電流下的超磁致伸縮作動(dòng)器位移值如表3所示。
表3 不同頻率和電流下的超磁致伸縮作動(dòng)器位移值
在1 Hz和50 Hz頻率點(diǎn),電流以0.1 A的步進(jìn)遞增,位移隨著電流的增大小幅增大;在100 Hz、200 Hz、300 Hz和400 Hz頻率點(diǎn),分別取電流1 A、5 A、10 A、20 A、30 A,位移隨著電流的增大而大幅增大,隨著頻率的增高也略有增大。測(cè)量結(jié)果表明,作動(dòng)器的位移與電流大致呈遞增的近似線性關(guān)系。
激光干涉儀的主要誤差源對(duì)測(cè)量系統(tǒng)的不確定度有直接影響,光電探測(cè)器輸出的電信號(hào)經(jīng)數(shù)據(jù)采集卡采樣也會(huì)存在誤差。 這些主要誤差源有:激光頻率不穩(wěn)定造成的光源誤差;測(cè)量光軸與反射鏡面不垂直引起的余弦誤差;動(dòng)態(tài)信號(hào)采集卡固有的轉(zhuǎn)換誤差。
(1) 光源誤差。
超磁致作動(dòng)器位移激光干涉法測(cè)量以光的波長(zhǎng)作為度量單位,由于激光頻率不穩(wěn)定而造成的波長(zhǎng)誤差為Δλ=±0.5×10-5μm,λ=0.6238 μm,光源誤差為
(2) 余弦誤差。
(3) 轉(zhuǎn)換誤差。
動(dòng)態(tài)信號(hào)采集卡程控模擬輸入范圍為-10~+10 V,絕對(duì)誤差為ε3±0.2 mV,其相對(duì)誤差為
測(cè)量系統(tǒng)相對(duì)誤差為
實(shí)際測(cè)量值與理論計(jì)算值對(duì)比如圖6所示。實(shí)際測(cè)量值和理論計(jì)算值之差與理論計(jì)算值相比較,得到測(cè)量系統(tǒng)實(shí)際的相對(duì)誤差為0.056%,說明實(shí)際測(cè)量相對(duì)誤差與理論計(jì)算相符,表明測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠。
圖6 實(shí)際測(cè)量值與理論計(jì)算值對(duì)比
采用全光纖激光干涉儀和高性能同步動(dòng)態(tài)信號(hào)采集卡,配合LabVIEW測(cè)試軟件,應(yīng)用貝塞爾函數(shù)的干涉條紋細(xì)分技術(shù)的超磁致伸縮作動(dòng)器激光干涉位移測(cè)量系統(tǒng),克服了分立元件邁克爾遜激光干涉儀環(huán)境要求高、調(diào)整繁瑣和易受干擾的缺點(diǎn)。與條紋計(jì)數(shù)法相比,貝塞爾函數(shù)法的測(cè)量精度更高,該系統(tǒng)適用于超磁致伸縮作動(dòng)器位移的實(shí)驗(yàn)研究和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量,可為微位移的測(cè)量提供一種參考方法。