陳郁蔥 譚小兵 王 宜
(廣東福田電器有限公司 佛山 528000)
在目前的電工行業(yè)里,鋁或銅及其合金因其優(yōu)異的導(dǎo)電導(dǎo)熱等特性而被廣泛應(yīng)用。許多電工產(chǎn)品(插座和排插等)的接線端子主要采用鐵端子(里面有一個(gè)銅片插套)或者銅端子,外接導(dǎo)線主要有銅線和鋁線。作為金屬材料,銅導(dǎo)線和鋁導(dǎo)線雖然具有較好的耐大氣腐蝕性,但由于大氣環(huán)境的嚴(yán)酷性,特別是在潮濕環(huán)境或海洋大氣中,銅導(dǎo)線和鋁導(dǎo)線的耐蝕性明顯下降。同時(shí),接線端子和導(dǎo)線的連接使得兩者之間存在電勢差,形成電化學(xué)腐蝕,加劇了導(dǎo)線的損壞。因此,在接線端子和導(dǎo)線的接觸部位電阻往往較大,容易出現(xiàn)溫升過高和能量損耗大等現(xiàn)象,以致導(dǎo)線在高溫時(shí)容易發(fā)生蠕變,影響導(dǎo)線的載流能力,從而損毀導(dǎo)線,造成斷電事故。
本文采用連續(xù)鹽霧試驗(yàn)?zāi)M接線端子和導(dǎo)線在潮濕空氣中長期使用后的腐蝕行為,并做了接線端子兩邊導(dǎo)線的溫升測試,研究不同連接方式的導(dǎo)線和端子在大氣環(huán)境下的腐蝕情況和溫升變化,為現(xiàn)實(shí)生活中的導(dǎo)線連接方式提供理論依據(jù)和實(shí)踐指導(dǎo)作用。
對(duì)于載流部件而言,載流件損耗的能量幾乎全部轉(zhuǎn)換為熱能,其中一部分散失在周圍介質(zhì)中,另一部分則使導(dǎo)線升溫。當(dāng)導(dǎo)線溫度超過某一極限值后,機(jī)械強(qiáng)度明顯降低,影響其載流能力,與之聯(lián)結(jié)或相鄰的非載流體也將不同程度地受損,最后導(dǎo)致供電系統(tǒng)損壞。
由焦耳熱計(jì)算公式:Q=I2Rt可知,導(dǎo)體的溫升是與電阻值成正比,電阻值與接觸面積和導(dǎo)體材質(zhì)(銅或者鋁導(dǎo)線)有關(guān)。在接線端子和導(dǎo)線連接處,由于大氣環(huán)境和介質(zhì)間的電勢差,使得接線端子和導(dǎo)線容易受到腐蝕,導(dǎo)致兩者間的接觸電阻發(fā)生變化,從而影響其溫升和使用壽命。
本文采用的試驗(yàn)材料為普通(橫截面積為2.5 mm2的硬導(dǎo)線)的銅導(dǎo)線和鋁導(dǎo)線、鐵端子、銅端子、絕緣套件和銅片等,試驗(yàn)前先用去離子水和無水乙醇清洗表面油污和雜質(zhì)后,冷風(fēng)吹干。利用鹽霧試驗(yàn)箱,按照國家標(biāo)準(zhǔn),采用連續(xù)噴霧方式對(duì)材料進(jìn)行中性鹽霧試驗(yàn),設(shè)定NaCl鹽霧的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為(5±0.5)%,pH為6.5-7.2,試驗(yàn)箱溫度為(35±1)℃。鹽霧腐蝕四天(96 h)后,去離子水清洗腐蝕樣品,自然干燥后,觀察其表面形貌。
截取四條3 m長的普通銅導(dǎo)線和鋁導(dǎo)線,在中間1.5 m處剝線50-60 mm,用斜口鉗剪開成兩半,中間用鐵端子或銅端子連接,放入鹽霧試驗(yàn)箱做腐蝕試驗(yàn),按照國家標(biāo)準(zhǔn),采用連續(xù)噴霧方式對(duì)材料進(jìn)行中性鹽霧試驗(yàn)四天(96 h)后,自然干燥,做溫升測試,總負(fù)載為1 200 W的白熾燈。同時(shí),做一組未做腐蝕試驗(yàn)組的溫升測試作對(duì)比。圖1所示,為負(fù)載溫升試驗(yàn)裝置圖和溫升測量接線圖。
從圖2可知,每個(gè)金屬件單獨(dú)做鹽霧試驗(yàn)時(shí),只有(鐵螺絲+銅端子)組件和單獨(dú)的鐵螺絲時(shí),發(fā)生局部微小腐蝕現(xiàn)象,其余金屬件(鐵端子、銅端子、銅螺絲、銅線、鋁線和銅片)未發(fā)現(xiàn)腐蝕生銹現(xiàn)象,說明采用的鐵端子和銅端子組件耐鹽霧腐蝕性能較好。
本實(shí)驗(yàn)采用銅端子作為連接導(dǎo)線(一般導(dǎo)線不接觸)的支撐體,由于其良好的導(dǎo)電性,銅端子作為導(dǎo)線的載流體和連接體,而螺絲采用鐵材質(zhì)和銅材質(zhì),由導(dǎo)電性的容易程度來說,螺絲只作為導(dǎo)線的固定作用,不作載流體分析。
圖1 負(fù)載溫升試驗(yàn)裝置圖和溫升測量接線圖
圖2 金屬件鹽霧腐蝕后的表面情況
表1 溫升測試結(jié)果:溫升變化值
如表1數(shù)據(jù)所示,鹽霧腐蝕試驗(yàn)前后,銅導(dǎo)線的溫升普遍比鋁導(dǎo)線低,這是因?yàn)殂~的最外層只有一個(gè)電子,銅原子是面心立晶格結(jié)構(gòu),空間利用率最高,在銅原子之間形成金屬鍵的時(shí)候,單位體積內(nèi)的自由電子多,這個(gè)電子就很容易成為自由電子,導(dǎo)致其導(dǎo)電性比鋁好。不管是何種接線方式,由于相連處的導(dǎo)體介質(zhì)不同,自由電子移動(dòng)速率有差別,故連接處溫升都比導(dǎo)線處的溫升大。
從腐蝕前后的溫升對(duì)比得知,對(duì)于(銅端子+鋁導(dǎo)線)組件來說,導(dǎo)線與端子相連接處溫升變化最大,這是由于鋁導(dǎo)線表面腐蝕嚴(yán)重,點(diǎn)蝕坑較多,截面積減小,電阻升高。而對(duì)于(銅端子+銅導(dǎo)線)組件來說,腐蝕后的溫升較腐蝕前的溫升變化不大,這是由于導(dǎo)線表面和端子內(nèi)部均無腐蝕現(xiàn)象。
對(duì)于鐵螺絲或者銅螺絲固定導(dǎo)線的方式,從數(shù)據(jù)中可知,采用鐵螺絲固定時(shí),腐蝕后的溫升較高,這是因?yàn)殍F螺絲容易與銅端子或銅導(dǎo)線發(fā)生小部分腐蝕,表面電阻升高所致。
從圖3可知,對(duì)于(銅端子+鋁導(dǎo)線)組件來說,鋁導(dǎo)線與銅柱的相接處布滿了白色的腐蝕產(chǎn)物,輕輕一碰就會(huì)掉落;清理干凈后,發(fā)現(xiàn)鋁導(dǎo)線表面出現(xiàn)大面積的點(diǎn)蝕坑現(xiàn)象。并且,采用鐵螺絲固定導(dǎo)線時(shí),鐵螺絲在銅端子外部腐蝕嚴(yán)重,采用銅螺絲時(shí),螺絲和銅端子無腐蝕現(xiàn)象產(chǎn)生。
而對(duì)于(銅端子+銅導(dǎo)線)組件來說,銅導(dǎo)線和銅柱的連接處無腐蝕現(xiàn)象,但采用鐵螺絲固定導(dǎo)線時(shí),螺絲與銅柱的連接處腐蝕生銹,對(duì)銅導(dǎo)線的腐蝕產(chǎn)生一點(diǎn)影響;當(dāng)采用銅螺絲固定導(dǎo)線時(shí),整個(gè)導(dǎo)電介質(zhì)無腐蝕現(xiàn)象。
對(duì)于(銅端子+鋁導(dǎo)線)組件來說,由于鋁原子自身的晶界和沉淀相缺陷以及發(fā)生的電化學(xué)腐蝕和氧化還原反應(yīng),容易使鋁導(dǎo)線受到點(diǎn)蝕攻擊,鋁導(dǎo)線表面的致密氧化膜γ-Al2O3遭到破壞,腐蝕介質(zhì)穿過氧化膜與基體反應(yīng)產(chǎn)生腐蝕產(chǎn)物,γ-Al2O3容易轉(zhuǎn)變成γ-AlOOH和Al(OH)3。而Cl-加速了合金的腐蝕速率,在鋁合金表面的活性位置(如氧化膜不完整或材質(zhì)不均勻處)發(fā)生吸附,隨著時(shí)間的延長,吸附在表面的離子與氧化膜繼續(xù)發(fā)生化學(xué)反應(yīng),金屬表面上氧的吸附點(diǎn)被氯離子所替代,形成復(fù)雜氯的可溶絡(luò)合物,使氧化膜破壞,最后生成可溶于水的AlCl3,一碰就容易脫落。[1]而點(diǎn)蝕是一種腐蝕集中于金屬表面很小范圍且深入到金屬內(nèi)部的蝕孔腐蝕形態(tài),隨著腐蝕時(shí)間的延長,點(diǎn)蝕坑相互連通塌陷形成大的點(diǎn)蝕坑,導(dǎo)致鋁導(dǎo)線的強(qiáng)度較低,容易折斷。
對(duì)于(銅端子+銅導(dǎo)線)組件來說,采用銅螺絲固定導(dǎo)線時(shí),銅一般很難發(fā)生化學(xué)腐蝕。但當(dāng)采用鐵螺絲固定導(dǎo)線時(shí),由于鐵的金屬活潑性大于銅(鋁>鐵>氫>銅),在潮濕環(huán)境下,鐵螺絲和銅柱或銅導(dǎo)線之間存在電勢差,就會(huì)發(fā)生電化學(xué)腐蝕,且鹽霧氣氛的Cl-加速了合金的腐蝕效率,發(fā)生了化學(xué)反應(yīng),故在銅端子外部的鐵螺絲表面就會(huì)腐蝕生銹。
由以上現(xiàn)象可知,試驗(yàn)樣品的腐蝕程度為:鋁導(dǎo)線+銅端子(鐵螺絲)>鋁導(dǎo)線+銅端子(銅螺絲)>銅導(dǎo)線+銅端子(鐵螺絲)>銅導(dǎo)線+銅端子(銅螺絲)。相應(yīng)的溫升變化也跟腐蝕程度成正比,鋁導(dǎo)線+銅端子(鐵螺絲)組件腐蝕后的溫升變化最大,銅導(dǎo)線+銅端子(銅螺絲)組件腐蝕后的溫升變化最小。
本實(shí)驗(yàn)采用鐵端子作為連接導(dǎo)線的支撐體,由導(dǎo)電性的容易程度來說,鐵螺絲只用于固定導(dǎo)線,且鐵螺絲與導(dǎo)線接觸處用絕緣體隔開,故不作載流體分析。
圖3 Cu接線端子(螺絲:鐵左/銅右)與導(dǎo)線(上銅下鋁)鹽霧腐蝕后的表面情況
由表2第一行數(shù)據(jù)和圖4可知,當(dāng)采用絕緣體隔開導(dǎo)線,線與線的導(dǎo)電性完全由鐵端子這個(gè)載流體來實(shí)現(xiàn)。由數(shù)據(jù)可知,無論是銅線還是鋁線連接,鐵端子的溫升都比銅端子的高。這是因?yàn)殍F的電阻比銅或鋁大,耐腐蝕能力較差,易氧化生銹,造成的電流損失較大,導(dǎo)致鐵端子和導(dǎo)線的發(fā)熱量大,溫升高,容易損壞導(dǎo)線,降低導(dǎo)線的使用壽命。所以,鐵端子一般不做載流體。
由表2第二到四行的腐蝕前數(shù)據(jù)和圖4可知,當(dāng)兩導(dǎo)線相接觸或采用銅片時(shí),介質(zhì)的導(dǎo)電性由導(dǎo)線或銅片決定,溫升變化較小。采用銅片做載流體時(shí),溫升變化最小,這是因?yàn)殂~片與導(dǎo)線的接觸面積較大,可移動(dòng)的自由電子較多,故導(dǎo)電性好,溫升小,而導(dǎo)線接觸時(shí),接觸面積較小,且有界面電阻,故溫升較大。
由表2第二行的腐蝕后數(shù)據(jù)和圖4可知,當(dāng)不加銅片時(shí),(鐵端子+鋁導(dǎo)線)組件腐蝕后的溫升較腐蝕前的溫升變化不大,這是因?yàn)閷?dǎo)線表面和端子內(nèi)部均無腐蝕現(xiàn)象。而(鐵端子+銅導(dǎo)線)組件腐蝕后的溫升變化比較大,這是由于鐵端子與銅導(dǎo)線發(fā)生部分腐蝕,因銅導(dǎo)線表面腐蝕物不導(dǎo)電而造成導(dǎo)線接觸不良,界面電阻增大,發(fā)熱量增大,導(dǎo)致溫升變化較大。
由表2第三、四行的腐蝕后數(shù)據(jù)和圖4可知,當(dāng)加銅片時(shí),溫升變化與銅端子與導(dǎo)線連接時(shí)的溫升現(xiàn)象大體一致。對(duì)于(銅片+鋁導(dǎo)線)組件來說,導(dǎo)線與銅片相連接處的溫升變化最大,這是由于鋁導(dǎo)線表面腐蝕嚴(yán)重,點(diǎn)蝕坑較多,截面積減小,且銅片與鐵端子發(fā)生化學(xué)腐蝕后生銹,故連接處的電阻變大,溫升變大。而對(duì)于(銅片+銅導(dǎo)線)組件來說,腐蝕后的金屬件溫升略有變大,這是由于導(dǎo)線表面和銅片接觸處無腐蝕現(xiàn)象,銅片與鐵端子發(fā)生化學(xué)腐蝕后生銹導(dǎo)致的。
由以上現(xiàn)象可知,鐵端子因溫升較高,不適合單獨(dú)做載流體;只有采用導(dǎo)線接觸或者銅片做載流體時(shí),導(dǎo)線溫升變化才會(huì)降低。當(dāng)采用銅片做載流體時(shí),不適合接鋁線,因?yàn)殇X導(dǎo)線容易與銅片發(fā)生電化學(xué)腐蝕,產(chǎn)生點(diǎn)蝕坑,使截面積變小,電阻變大,發(fā)熱量增大,導(dǎo)致溫升變化較大。
1)當(dāng)鋁導(dǎo)線和銅端子或銅片接觸時(shí),容易發(fā)生電化學(xué)腐蝕,導(dǎo)致溫升變化很大,兩者之間存在惡性破壞循環(huán),容易使鋁導(dǎo)線因點(diǎn)蝕而導(dǎo)致鋁線強(qiáng)度降低,甚至斷裂,從而發(fā)生斷電事故;而鋁導(dǎo)線跟鋁導(dǎo)線接觸通電時(shí),基本無腐蝕現(xiàn)象,溫升變化不大。所以,應(yīng)避免接鋁導(dǎo)線時(shí),有銅材質(zhì)相接觸,損壞鋁導(dǎo)線。而現(xiàn)階段市面上大多電工產(chǎn)品采用銅端子,考慮到實(shí)際使用,建議用戶使用銅導(dǎo)線連接。
表2 溫升測試結(jié)果:溫升變化值
圖4 Fe接線端子(接線方式同表2)與導(dǎo)線(左銅右鋁)鹽霧腐蝕后的表面情況
2)當(dāng)銅導(dǎo)線與銅端子相連接時(shí),采用鐵螺絲,螺絲會(huì)與銅柱發(fā)生腐蝕作用,而銅導(dǎo)線與鐵端子相連接時(shí),導(dǎo)線會(huì)與鐵端子發(fā)生腐蝕作用,導(dǎo)致溫升發(fā)生變化。所以,應(yīng)避免接銅導(dǎo)線時(shí),有鐵材質(zhì)接觸,損壞銅導(dǎo)線。但由于鐵材質(zhì)較銅材質(zhì)成本低,因此大多數(shù)廠家會(huì)選擇鐵螺絲,這也是導(dǎo)致電工產(chǎn)品在使用過程中損壞的原因之一。
3)由實(shí)驗(yàn)結(jié)果和文獻(xiàn)查詢可建議,在高溫且潮濕或有腐蝕性氣體的環(huán)境中,對(duì)于接線端子和導(dǎo)線的連接處,通常需要在連接處鍍錫處理或者涂抹導(dǎo)電膏以及選用同材質(zhì)的緊固螺絲,來防止銅或鋁氧化或發(fā)生電化學(xué)腐蝕,且能增加接觸面積,降低連接處的電阻和能量損耗,提高導(dǎo)線的使用壽命。