曾江萍, 李小莉, 張楠*, 王家松, 魏雙, 王娜
(1.中國地質(zhì)調(diào)查局天津地質(zhì)調(diào)查中心, 天津 300170;2.中國地質(zhì)科學(xué)院地球物理地球化學(xué)勘查研究所, 河北 廊坊 065000)
凡是含鋰的云母中,均含有一定數(shù)量的氟,鋰的含量越高,氟的含量也越高。在焙燒鋰云母礦物時(shí),含氟量對鋰的溶出率有很大的影響,氟含量低時(shí)鋰的浸出率高,即鋰的溶出率隨著氟含量的增加而逐步下降[1]。徐盛明等[2]指出,鋰云母氯化鈉加壓浸出工藝中隨著鋰云母脫氟率的提高,鋰的浸出率也相應(yīng)提高,焙燒脫氟是提高鋰浸出率的重要手段。所以控制氟含量在工業(yè)應(yīng)用中尤為重要,準(zhǔn)確測定鋰云母中的氟含量能夠?yàn)榇_定焙燒過程的工藝條件、設(shè)備參數(shù)及成本提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)依據(jù)。目前,測定氟的方法主要有離子選擇電極法[3-6]、分光光度法[7-9]和離子色譜法[10-12]。離子選擇電極法被廣泛應(yīng)用于測定各種樣品中的氟,氟含量測定范圍在0.02%~2%之間,具有操作簡易、選擇性強(qiáng)、靈敏度高和適用范圍寬等優(yōu)點(diǎn),是測定氟最常用的方法,但是樣品前處理過程繁瑣、耗時(shí)長且空白值高。分光光度法的前處理同樣繁瑣,并且線性范圍較窄,靈敏度也不高;離子色譜法的準(zhǔn)確度高、檢出限低、重復(fù)性好,但只適合低含量氟的測定,并且對樣品基體的要求較高。
與上述幾種方法相比,X射線熒光光譜法(XRF)具有樣品前處理簡單、準(zhǔn)確度高、不需要分離富集、分析快速等特點(diǎn),被應(yīng)用于銅礦石[13]、螢石[14-15]、磷礦石[16-17]、地質(zhì)樣品[18]等礦石礦物中氟的測定,國外也報(bào)道了采用XRF法測定氟[19-21],但用于分析鋰云母中的氟未見報(bào)道。
應(yīng)用XRF法分析時(shí),采用熔融法制樣,氟在高溫下易揮發(fā),熔劑的稀釋也會(huì)使氟的熒光強(qiáng)度降低,使測定誤差增大。很多文獻(xiàn)已證明采用粉末壓片制樣XRF法進(jìn)行氟的測定是可行的。例如,張勤等[18]和肖德明等[22]采用粉末壓片XRF法測定了地質(zhì)樣品中的低含量氟,分析結(jié)果與推薦值符合較好;唐夢奇等[13]采用粉末壓片XRF法測定了銅礦石實(shí)際樣品中的氟,測定結(jié)果與氟離子選擇電極法基本一致。這些文獻(xiàn)中的氟含量都較低,在0.03%~0.24%之間。對于氟含量高的樣品,如磷礦石、鉬礦石和鎢礦石等,粉末壓片制樣也一樣適用。例如,王毅民等[16]將200目磷礦石樣品制成圓片,采用粉末壓片XRF法測定氟的含量得到了滿意的結(jié)果;李清彩等[23]采用粉末壓片XRF法測定鉬礦石中9種元素,氟的測定結(jié)果與氟離子選擇電極法吻合。而鋰云母中氟的含量一般較高,通常在1.36%~8.71%之間[24],本文正是發(fā)揮了XRF的優(yōu)點(diǎn),開展了粉末壓片XRF法測定鋰云母中氟的研究。
Axios波長色散X射線熒光光譜儀(荷蘭帕納科公司),主要工作條件為:最大功率4.0kW,最大激發(fā)電壓60kV,最大電流125mA,超尖銳銠靶X光管,高透過率,SuperQ 4.0D軟件。
氟元素的XRF測量條件見表1。
BP-1型粉末壓樣機(jī)(丹東北苑儀器設(shè)備有限公司),最大壓力100kPa。
表1氟元素的XRF測量條件
Table 1 Measurement condition of fluorine determined by XRF
工作參數(shù)測量條件工作參數(shù)測量條件譜線F Kα準(zhǔn)直器550μm晶體PX12θ43.5834°探測器Flow扣除背景4.1878電壓30kVPHD1 LL15電流120mAPHD1 UL78
在XRF分析中,校準(zhǔn)樣品應(yīng)與分析樣品在礦物結(jié)構(gòu)、顆粒度和化學(xué)組成方面具有相似的類型,且待測元素應(yīng)具有足夠?qū)挼暮糠秶秃线m的含量梯度。目前尚沒有鋰云母的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),但鋰云母是最常見的鋰礦物,為此本研究用鋰礦石一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)GBW07152、GBW07153以及用GBW07152和 GBW07153按不同質(zhì)量比配制而成的校準(zhǔn)物質(zhì)。此外,將氟化鈉基準(zhǔn)物質(zhì)與GBW07153按不同質(zhì)量比混合制成校準(zhǔn)物質(zhì)。試驗(yàn)中,人工配制的校準(zhǔn)物質(zhì)共18個(gè),其中用GBW07152和 GBW07153按不同質(zhì)量比配制的校準(zhǔn)物質(zhì)12個(gè),用氟化鈉基準(zhǔn)物質(zhì)與GBW07153按不同質(zhì)量比配制的校準(zhǔn)物質(zhì)6個(gè)。試驗(yàn)中校準(zhǔn)曲線氟的含量范圍為0.677%~9.14%。
稱取經(jīng)105℃烘干2h的樣品2.0g,放入制樣模具內(nèi),采用低壓聚乙烯鑲邊墊底,在40MPa壓力下保持25s加壓成型,制成Ф40mm的圓片,放入干燥器中保存?zhèn)溆茫齒RF分析。
基體效應(yīng)是XRF分析中普遍存在的問題,是試樣中元素間相互吸收、增強(qiáng)效應(yīng)和物理化學(xué)效應(yīng)對待測元素特征X射線強(qiáng)度的影響。本法采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)校正基體效應(yīng)和譜線干擾。使用的帕納科SuperQ軟件綜合數(shù)學(xué)校正公式為:
式中:Ci為未知樣品中分析元素i的含量;Di為分析元素i校準(zhǔn)曲線的截矩;Lim為干擾元素m對分析元素i的譜線重疊干擾校正系數(shù);Zm為干擾元素m的含量或計(jì)數(shù)率,Ei為分析元素i校準(zhǔn)曲線的斜率;Ri為分析元素i的計(jì)數(shù)率;N為共存元素的數(shù)目;i、j和k分別為分析元素、共存元素和干擾元素;Zj、Zk為共存元素的含量或計(jì)數(shù)率;α、β、δ、γ為校正基體效應(yīng)的因子。
本試驗(yàn)選擇F Kα為測量線,而Fe Kα與Mn Kα是產(chǎn)生干擾的主要譜線,因此在測定氟時(shí)需扣除Fe和Mn的干擾。
元素的檢出限(LOD)為3倍背景信號波動(dòng)的標(biāo)準(zhǔn)偏差所對應(yīng)的含量,按以下公式計(jì)算方法檢出限。
式中:m為單位含量計(jì)數(shù)率;Ib為背景計(jì)數(shù)率;tb為背景計(jì)數(shù)時(shí)間(s)。
計(jì)算得到本方法測定氟的檢出限為46±4μg/g,與李清彩等[23]采用粉末壓片制樣XRF法得到的檢出限相近。由于粉末壓片法是直接將樣品粉末壓制成型,不用稀釋樣品,因此測定的靈敏度高,檢出限明顯低于前人熔融制樣方法的檢出限(420μg/g[17]、1121μg/g[25])。
按本法對鋰礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)GBW07152重復(fù)制備10個(gè)樣片,按表1中的測量條件對10個(gè)樣片進(jìn)行測定,計(jì)算方法精密度;用其中一個(gè)樣片重復(fù)測定10次,將測定結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì),計(jì)算儀器精密度。根據(jù)計(jì)算,方法精密度為1.03%,儀器精密度為0.80%,方法精密度與儀器精密度均優(yōu)于王祎亞等[25]采用熔融法測定的指標(biāo)(方法精密度為4.11%,儀器精密度為5.25%)。
選用未參加回歸的人工配制標(biāo)樣(GBW07152和 GBW07153按不同質(zhì)量比配制而成)進(jìn)行正確度驗(yàn)證,其測定結(jié)果與認(rèn)定值符合。將2個(gè)鋰云母實(shí)際樣品按照本法測定氟,同時(shí)采用氟離子選擇電極法進(jìn)行測定,結(jié)果見表2(氟離子選擇電極法測定值為測定10次的平均值),可見本法的測定值與氟離子選擇性電極法基本一致,相對偏差小于2%。
校準(zhǔn)曲線的線性用均方根(RMS)表示,RMS值越小說明線性越好。用本法測定氟的RMS值為0.02668,校準(zhǔn)曲線的相關(guān)系數(shù)為0.9997。
表2分析結(jié)果對照
Table 2 Comparison of analytical results
樣品氟含量(%)本法測定值認(rèn)定值或參考值相對偏差(%)混合標(biāo)樣12.562.520.79混合標(biāo)樣21.231.261.60實(shí)際樣品14.634.690.64實(shí)際樣品21.020.990.99
注:實(shí)際樣品1、2的參考值是氟離子選擇電極法的測定值。
采用粉末直接壓片制樣,波長色散X射線熒光光譜法測定了鋰云母中的氟,本方法操作簡單、制樣效率高,避免了采用氟離子選擇電極法程序繁瑣和試劑浪費(fèi)的問題。選取鋰礦石一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)作為校準(zhǔn)樣品建立標(biāo)準(zhǔn)曲線,減小了礦物效應(yīng)影響,采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法校正基體干擾和譜線重疊干擾,得到了滿意的精密度,檢出限低至46μg/g。該方法可以分析鋰云母中0.68%~9.14%的氟,線性范圍較寬。
由于氟的X射線穿透能力很低,分析時(shí)測量的只是圓片表面的一薄層,因此在制樣過程中和樣品保存時(shí)要特別小心,不要使測量面受到污染,樣片制成后應(yīng)在干燥器中保存,并且盡快測量。氟化鈉基準(zhǔn)物質(zhì)也易吸潮,烘干后必須存放在干燥器中,稱量時(shí)應(yīng)盡量縮短稱樣時(shí)間。