劉 剛,陳 葵,邵陽康,武 斌,紀(jì)利俊,吳艷陽,朱家文
(華東理工大學(xué)化學(xué)工程研究所,上海200237)
目前工業(yè)上凈化磷酸的主要方法為溶劑萃取法,此方法對金屬陽離子的去除效率較高,但對陰離子分離效率較低,理論上和技術(shù)上均不能滿足制備高純度磷酸的要求,同時該方法溶劑消耗大、環(huán)境污染大[1-2]。層熔融結(jié)晶被公認(rèn)為是一種環(huán)境友好、分離效率高的純化技術(shù),具有能耗低、無附加溶劑、無污染等優(yōu)點,已廣泛用于超純化學(xué)品、離子液體凈化、食品加工等領(lǐng)域[3-5]。在層熔融結(jié)晶的過程中,利用物質(zhì)熔點的差異,被純化物質(zhì)在冷卻壁上逐漸結(jié)晶,從而實現(xiàn)與熔體中雜質(zhì)的分離[6],過程的傳熱和傳質(zhì)是制約純化效率的主要因素。姜曉濱[7]使用降膜層熔融結(jié)晶(FFMC)制備高純度磷酸,研究了晶層生長過程的宏觀動力學(xué),在假設(shè)晶層和液膜的固液界面溫度等于結(jié)晶溫度的前提下,建立了降膜結(jié)晶動力學(xué)模型,但此模型并未考慮到液膜對晶層的沖刷作用;另外,姜曉濱[7]還研究了磷酸靜態(tài)層熔融結(jié)晶過程(SMC),經(jīng)過結(jié)晶、發(fā)汗兩個過程,由質(zhì)量分?jǐn)?shù)為85%的食品級磷酸制備得88%~90%的高純度磷酸。由于磷酸溶液高黏度的特性,無論SMC還是FFMC均很難產(chǎn)生厚度均一的初始晶層,不均勻的初始晶層會降低層熔融結(jié)晶過程中的傳熱和傳質(zhì)效率,影響純化效率。
本文使用動態(tài)層熔融結(jié)晶聯(lián)合重結(jié)晶的方法制得了厚度均一的初始晶層,改善了傳熱和傳質(zhì)效率,為進(jìn)一步研究磷酸層熔融結(jié)晶過程的晶體生長和雜質(zhì)分離提供了可靠的基礎(chǔ)。磷酸晶體的純化純度主要取決于晶層生長速度[8],在結(jié)晶過程中具體表現(xiàn)為晶層生長速度與熔體濃度,晶層溫度和冷卻速度的關(guān)系,對于這部分內(nèi)容的研究構(gòu)成本研究的重點。在本研究中,動態(tài)層熔融結(jié)晶過程是在以指型冷卻管外表面作為冷卻表面的結(jié)晶器中通過逐步冷凍的方法來實現(xiàn)的。在初始均一晶膜的基礎(chǔ)上,研究了操作參數(shù)對晶層生長、晶層傳熱和雜質(zhì)包覆的影響。研究結(jié)果為工業(yè)結(jié)晶器的設(shè)計和磷酸熔融結(jié)晶的工業(yè)放大應(yīng)用提供了數(shù)據(jù)支持。
晶層生長速率為單位時間磷酸晶層的厚度變化:
式中:G為生長速率,m/s;Δs為晶層厚度變化量,m;Δt為時間間隔,s。
晶層有效導(dǎo)熱系數(shù)可采用傳熱系數(shù)法計算,層熔融結(jié)晶體系可分為指型冷卻管、晶層、熔體3個部分。指型冷卻管側(cè)的傳熱系數(shù)hc使用Dittus-Boelter公式計算:
式中:λ 為冷卻介質(zhì)的熱導(dǎo)率,W(m·℃);d為冷卻管的內(nèi)徑,m。
熔體側(cè)的傳熱系數(shù)hm由Gnielinski公式計算:
式中: f=(1.82 lg Re-1.64)-2; φ=(Pr/Prw)0.11,為熔體的平均熱導(dǎo)率,其中Prw為冷卻管玻璃壁的普蘭特數(shù);D、dcr分別為冷卻管的外徑(28.25 mm)和晶層厚度;l表示冷卻管的長度,50 mm。
冷卻管中冷卻介質(zhì)的熱流量qc可以由下式表示:
式中:mc、cp、Tout和 Tin分別表示冷卻介質(zhì)的流量(kg/s)、比定壓熱容[J/(kg·℃)]、出口溫度(℃)和進(jìn)口溫度(℃)。
總傳熱系數(shù)K可由LMTD和晶層表面積S定義:
其中,LMTD為熔體和冷卻介質(zhì)之間的對數(shù)平均溫差,可由下式計算:
式中:Tm為熔體的溫度(℃),在結(jié)晶過程中保持不變。晶層表面積S可由測量的晶層厚度計算:
最后,晶層有效導(dǎo)熱系數(shù)λcr可由hc、hm和K聯(lián)合計算得到:
式中:dw為冷卻管的壁厚,1.5 mm;λw為冷卻管玻璃壁的導(dǎo)熱系數(shù),1.2 W/(m·℃);dm為玻璃壁的對數(shù)平均直徑,26.62 mm。
在層熔融結(jié)晶過程中,雜質(zhì)的分配系數(shù)定義為晶層中雜質(zhì)濃度和熔體中雜質(zhì)濃度之比。
式中:k是雜質(zhì)分配系數(shù);xi,cr是雜質(zhì)i在晶層中的濃度,mol/g;xi,m是雜質(zhì) i在熔體中的濃度,mol/g。 在層熔融結(jié)晶過程中,通常認(rèn)為雜質(zhì)在熔體中的濃度是不變的,這是因為熔體的雜質(zhì)含量非常小。所以,雜質(zhì)的分配系數(shù)可看作是晶體中雜質(zhì)離子濃度和熔體中初始雜質(zhì)離子濃度的比率。
磷酸原料為AR級磷酸,實驗所需的不同濃度的磷酸溶液通過去離子水稀釋而獲得;雜質(zhì)離子F-由AR級的氟化銨配制加入。
實驗裝置見圖1,結(jié)晶器是由一個指型冷卻管(玻璃管)和一個帶有夾套的玻璃槽組成,冷卻管浸入玻璃槽中,其外表面作為冷卻壁用于結(jié)晶。槽中的磷酸熔體通過磁力攪拌子進(jìn)行攪拌。兩個恒溫槽分別用于控制冷卻管和玻璃槽的溫度。各個測溫點的溫度使用溫度計測量,精度為±0.1℃。使用相機(jī)以固定的角度拍攝晶體層圖像,分析獲得晶體層的厚度,晶層厚度測量的精度為0.05 mm。
向玻璃槽中注入磷酸,打開磁力攪拌器,將玻璃槽的溫度維持在25.0℃,當(dāng)熔體溫度恒定時,將冷卻管冷卻到10℃。當(dāng)體系溫度達(dá)到穩(wěn)定時,加入磷酸晶種(質(zhì)量分?jǐn)?shù)為1%)開始在冷卻管外表面上形成晶層,然后剝離外表面上的初始晶層,再以重結(jié)晶的方式形成均勻分布的晶層,然后冷卻管以一定的冷卻速度開始逐漸冷卻。每隔一段時間,通過照相機(jī)拍攝晶體層的厚度。當(dāng)冷端溫度達(dá)到終點,并結(jié)晶達(dá)平衡時,記錄冷卻管入口和出口的溫度。當(dāng)體系達(dá)到結(jié)晶平衡時,將冷卻管從熔體中取出,待表層熔體流盡后,測量晶層中的雜質(zhì)含量。
圖1 實驗裝置
磷酸熔體質(zhì)量分?jǐn)?shù)采用磷鉬酸喹啉重量法確定;氟離子含量的測定采用氟離子選擇電極法。
在高過冷度下結(jié)晶是層熔融結(jié)晶過程形成均勻初始晶層的常用方法。但是磷酸-水體系成核所需要的過冷度極高[9],并且極高過冷度下形成的晶層易包藏母液,降低了晶層的傳熱效率且增加了晶層的雜質(zhì)含量[10]。本研究采用重結(jié)晶的方法,在低過冷度下,形成了均勻厚度的初始晶層,如圖2所示。
圖2 磷酸晶層
3.1.1 熔體起始濃度對晶層生長的影響
在恒定結(jié)晶溫度(冷端為10℃,熱端為25℃)下,磷酸熔體起始濃度對晶體生長的影響,如圖3所示。晶層生長速率(晶層厚度對時間的導(dǎo)數(shù))隨著時間的增加,不斷減小,這是因為晶層生長主要驅(qū)動力是晶層和熔體(固液)界面溫度與熔體溫度的溫差[11],開始時晶層生長速率很大,隨后生成的晶層阻礙了傳熱從而降低了驅(qū)動力使得生長速率降低。同時,晶層生長也受固液界面處擴(kuò)散層的傳質(zhì)影響[12],濃度越大,傳質(zhì)動力越大,所以隨著磷酸熔體起始濃度的增加,晶層生長速率增大。
圖3 不同磷酸熔體起始質(zhì)量分?jǐn)?shù)下磷酸晶層厚度隨時間的變化
3.1.2 冷卻速率對晶層生長的影響
在程序降溫結(jié)晶過程中,熔體溫度(25℃)保持不變,冷卻管中冷卻介質(zhì)的溫度隨時間降低。晶體生長與冷卻速率的關(guān)系,如圖4所示。晶層平均生長速率隨著冷卻速率的增加而增加,這是因為固液界面溫度與熔體溫度的溫差是晶層生長主要驅(qū)動力,冷卻速率越大,溫差越大,所以生長速率越大;達(dá)到冷卻終點時,晶層生長速率變緩,且冷卻速率越大的過程生長速率降低越快,這主要是由于生成的晶層會阻礙傳熱,并且越高的生長速率產(chǎn)生的晶層包藏的母液越多,晶層的傳熱阻力越大[13],從而生長速率降低越快。
圖4 冷卻速率對晶層生長的影響(磷酸熔體起始質(zhì)量分?jǐn)?shù)為86.10%,降溫區(qū)間為2~10℃,紅色虛線表示結(jié)晶平衡點,黑色虛線表示冷卻終點)
不同冷卻速率下晶層厚度與時間的關(guān)系呈S型,可用DoseResp方程擬合。DoseResp方程為:
擬合參數(shù)結(jié)果見表1,其中Gν表示晶層的平均生長速率。
表1 關(guān)聯(lián)式擬合參數(shù)
3.1.3 結(jié)晶過程操作參數(shù)對晶層平均厚度的影響
晶層平均厚度與操作條件的關(guān)系對結(jié)晶器的設(shè)計及產(chǎn)能的預(yù)算具有重要意義。在動態(tài)層熔融結(jié)晶凈化磷酸過程中,晶層生長的驅(qū)動力包括固液界面溫度與熔體溫度的溫差和固液界面處擴(kuò)散層的傳質(zhì),所以當(dāng)結(jié)晶達(dá)到平衡時,磷酸晶層平均厚度只與磷酸熔體起始濃度和冷卻終點溫度有關(guān)。晶層平均厚度與磷酸熔體起始質(zhì)量分?jǐn)?shù)和冷卻終點溫度的關(guān)系見圖5。從圖5可以看出,晶層平均厚度隨著磷酸熔體起始濃度的增加而增加,隨著冷卻終點溫度的下降而增大。另外,由于磷酸晶體為2H3PO4·H2O,所以結(jié)晶時二分子磷酸結(jié)晶會帶走熔體中一分子的水,減緩了熔體中磷酸濃度的下降,因此,晶層平均厚度隨著冷卻終點溫度的下降增幅越來越大,并且隨著磷酸熔體起始濃度的增加,這種增幅越發(fā)明顯。
圖5 晶層平均厚度與磷酸熔體起始質(zhì)量分?jǐn)?shù)和冷卻終點溫度的關(guān)系
關(guān)聯(lián)實驗數(shù)據(jù),在磷酸熔體起始質(zhì)量分?jǐn)?shù)為83%~89%和冷卻終點溫度為2~10℃范圍內(nèi),晶層平均厚度(s)與熔體起始濃度(w)和冷卻終點溫度(T)的關(guān)聯(lián)式如下:
層熔融結(jié)晶中,晶層有效導(dǎo)熱系數(shù)對晶層生長有著重要的影響[14]。磷酸晶層是由磷酸晶體和包藏的液相組成的固液混合層,因此,晶層有效熱導(dǎo)率與晶層的結(jié)構(gòu)有關(guān),如孔隙率和液相分率,它們直接受溫度和熔體濃度的影響。
在固定的冷卻速率0.2℃/min下,晶層有效導(dǎo)熱系數(shù)與熔體濃度和冷卻終點溫度的關(guān)系,見圖6。由于液體的導(dǎo)熱性能比固體差,所以晶層有效導(dǎo)熱系數(shù)隨著晶體層中液體的量增加而減小。從圖6可以看出,在相同的冷卻終點溫度下,熔體起始濃度越高,晶層有效熱導(dǎo)率越低,因為高濃度熔體下晶層生長速率快,晶層更易包藏母液[14],所以液固比大;在相同熔體起始濃度下,晶層有效導(dǎo)熱系數(shù)隨著冷卻終點溫度的降低而增加,因為結(jié)晶剛開始時晶體生長速率大,晶層包藏液體多,導(dǎo)熱系數(shù)較小,隨后由于晶層的存在,體系傳熱性能變差,晶體生長速率變慢,這從圖3和圖4也可以看出,所以隨后產(chǎn)生的晶層包藏的液體量變少,導(dǎo)熱系數(shù)開始增大。
圖6 有效導(dǎo)熱系數(shù)隨磷酸熔體起始質(zhì)量分?jǐn)?shù)和冷卻終點溫度的變化
層熔融結(jié)晶過程中,晶體層生長的同時會發(fā)生母液的包覆,雜質(zhì)分配系數(shù)可體現(xiàn)母液的包覆情況,分配系數(shù)越低,母液包覆的越少,分離效果越好。圖7反映了F-的分配系數(shù)與操作條件的關(guān)系。從圖7可以看出,F(xiàn)-的分配系數(shù)隨磷酸熔體起始濃度的降低而降低,隨冷卻終點溫度的下降而減小。這是因為隨著磷酸濃度和冷卻終點溫度的下降,晶層生長速率逐漸變小,所以包藏的母液減少,分離效果好。
綜合上述研究結(jié)果,在降溫速率為0.2℃/min,冷卻終點溫度為2℃的條件下,使用層熔融結(jié)晶技術(shù)可將質(zhì)量分?jǐn)?shù)為86.79%的磷酸溶液純度提高至90.8%,雜質(zhì)離子F-的質(zhì)量分?jǐn)?shù)由3×10-5下降到4.5×10-6,雜質(zhì)去除率達(dá)85%,說明層熔融結(jié)晶制備高純磷酸是可行的。
圖7 F-的分配系數(shù)隨冷卻終點溫度和磷酸熔體起始質(zhì)量分?jǐn)?shù)的變化(冷卻速率為0.2℃/min)
本文系統(tǒng)地研究了操作參數(shù)對磷酸動態(tài)層熔融結(jié)晶冷凍過程的影響。在建立的均一初始晶層的基礎(chǔ)上,研究了結(jié)晶過程的傳質(zhì)與操作參數(shù)的關(guān)系,建立了晶層生長動力學(xué)模型,研究發(fā)現(xiàn)熔體濃度和冷端冷卻速率越高,晶層生長速率越大,晶層包覆的母液就越多,從而使分離效率下降;另外研究了晶層傳熱和雜質(zhì)分離效率與過程參數(shù)的關(guān)系,發(fā)現(xiàn)隨著冷卻終點溫度和磷酸熔體起始濃度的降低,晶層導(dǎo)熱性能增加,雜質(zhì)分離效率提高。采用優(yōu)化的工藝條件,冷卻速率為0.2℃/min、冷卻終點溫度為2℃,可將質(zhì)量分?jǐn)?shù)為86.79%的磷酸溶液純度提高至90.8%,雜質(zhì)離子F-的質(zhì)量分?jǐn)?shù)由3×10-5下降到4.5×10-6,因此動態(tài)層熔融結(jié)晶逐漸冷凍技術(shù)凈化磷酸被證明是一種可行且高效的純化方法。