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針對(duì)串聯(lián)直流電弧的電容電流時(shí)頻檢測(cè)方法

2018-12-12 13:21劉小軍熊慶汲勝昌祝令瑜
關(guān)鍵詞:變化率電弧串聯(lián)

劉小軍,熊慶,汲勝昌,祝令瑜

(西安交通大學(xué)電力設(shè)備電氣絕緣國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,710049,西安)

直流供電具有便于接入儲(chǔ)能設(shè)備、節(jié)約空間、提高能源使用效率及可靠性高等優(yōu)點(diǎn),在大型數(shù)據(jù)中心、船舶、航空航天、電動(dòng)汽車等系統(tǒng)中得到了廣泛使用[1-3]。在直流供電系統(tǒng)中,發(fā)生絕緣破壞、金屬接頭松動(dòng)、元件老化、動(dòng)物嚙咬等情況時(shí)都會(huì)產(chǎn)生直流電弧故障。直流電弧不同于交流電弧,電流沒有過零點(diǎn),因而不能自然熄弧,一旦發(fā)生,如不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)并處理,由電弧故障燃燒而導(dǎo)致的損失將極為巨大[4-6]。因此,對(duì)直流電弧檢測(cè)方法的研究具有十分重要的實(shí)際意義。

國內(nèi)外針對(duì)直流電弧的特性及檢測(cè)開展了大量研究工作。在直流系統(tǒng)中,產(chǎn)生并聯(lián)電弧時(shí)的回路電流近似為短路電流,可以通過回路首端的熔斷器進(jìn)行識(shí)別;但產(chǎn)生串聯(lián)電弧時(shí),電弧通道導(dǎo)電性普遍比金屬導(dǎo)體差,回路電流減小,導(dǎo)致串聯(lián)電弧故障難以檢測(cè)[7-10]。

根據(jù)串聯(lián)直流電弧故障產(chǎn)生時(shí)伴隨的聲、光、熱等物理特性,以及電壓、電流等參數(shù)的時(shí)頻特性,學(xué)者提出了各種串聯(lián)直流電弧故障的檢測(cè)方法[11-12]。Seo等人建立了直流電弧模型,并在不同負(fù)載工況下對(duì)模型進(jìn)行了驗(yàn)證,在此基礎(chǔ)上,提出基于電弧頻域特性的檢測(cè)方法,能夠區(qū)分電弧故障與開關(guān)操作兩種不同情況[13]。Telford等人建立了基于直流串聯(lián)電弧頻域信號(hào)的隱馬爾科夫模型,并對(duì)電弧進(jìn)行檢測(cè),考慮了負(fù)載切換時(shí)檢測(cè)算法的準(zhǔn)確性,但更多其他因素對(duì)檢測(cè)有效性的影響有待深入研究[14]。Oh等人對(duì)仿真得到的串聯(lián)直流電弧電流進(jìn)行小波特征值分解,并以得到的小波細(xì)節(jié)系數(shù)與小波近似系數(shù)為特征參量,對(duì)產(chǎn)生的串聯(lián)直流電弧進(jìn)行檢測(cè),但是該方法缺乏實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,準(zhǔn)確性尚需進(jìn)一步研究[15]。Taufik等人提出了一種基于電流中244~100 kHz頻帶范圍內(nèi)頻域幅值變化的直流電弧檢測(cè)方法,并制作了直流電弧故障檢測(cè)裝置,具有一定的檢測(cè)成功率,但提出的方案無法區(qū)別電路中正常開關(guān)切換操作,易造成檢測(cè)裝置的誤判與漏判[16]。

上述直流電弧檢測(cè)方法一般都是采集完整的直流電流波形,利用電流的時(shí)頻域特性進(jìn)行診斷。實(shí)際上,直流系統(tǒng)工作時(shí)正常直流電流幅值較高,會(huì)將一些高頻或暫態(tài)的故障信息掩蓋,給后續(xù)串聯(lián)電弧故障的檢測(cè)造成極大困難。

本文提出了基于電容電流時(shí)頻特性的串聯(lián)直流電弧檢測(cè)方法,即在直流電源側(cè)的并聯(lián)濾波電容處,耦合串聯(lián)直流電弧故障產(chǎn)生時(shí)的高頻電流分量,避免由幅值較大的低頻及直流電流分量帶來的影響。在PSCAD/EMTDC中進(jìn)行仿真,并搭建串聯(lián)電弧試驗(yàn)平臺(tái)進(jìn)行驗(yàn)證,分析在電弧故障產(chǎn)生時(shí)并聯(lián)電容電流的時(shí)頻特性,并討論在不同回路電流等級(jí)及不同電極材料對(duì)并聯(lián)電容電流的影響。

1 試驗(yàn)系統(tǒng)和檢測(cè)方法

1.1 試驗(yàn)系統(tǒng)

UL 1699B標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光伏系統(tǒng)中電弧故障電路保護(hù)問題制定了相關(guān)準(zhǔn)則,其中建議的串聯(lián)直流電弧發(fā)生裝置如圖1所示[17-18]。本文所使用的串聯(lián)直流電弧發(fā)生裝置在UL 1699B中提出的裝置基礎(chǔ)上進(jìn)行了改進(jìn):電弧發(fā)生裝置在電弧產(chǎn)生處與外界環(huán)境直接接觸,可以更好地模擬串聯(lián)直流電弧發(fā)生的實(shí)際情況。串聯(lián)直流電弧發(fā)生裝置由機(jī)械單元及控制單元兩部分構(gòu)成,如圖2所示。機(jī)械單元由導(dǎo)電塊、固定底座、滑塊、固定電極、移動(dòng)電極以及導(dǎo)軌等部件組成,固定電極與移動(dòng)電極分別固定在固定塊與移動(dòng)塊上。控制單元主要包括步進(jìn)電機(jī)、編程控制器及電源3部分。通過編程控制步進(jìn)電機(jī),可以實(shí)現(xiàn)對(duì)移動(dòng)電極的移動(dòng)方向、速率以及步長的控制,滿足不同串聯(lián)電弧故障情況下的試驗(yàn)需要。電路正常工作時(shí),將電弧發(fā)生裝置串聯(lián)在電路中,電路正、負(fù)極分別與固定電極、移動(dòng)電極連接。固定電極與移動(dòng)電極相互接觸,可以通過電路中的正常工作電流??刂撇竭M(jìn)電機(jī)控制移動(dòng)電極運(yùn)動(dòng),在移動(dòng)電極與固定電極間產(chǎn)生串聯(lián)直流電弧。

圖1 UL 1699B標(biāo)準(zhǔn)中電弧發(fā)生裝置構(gòu)造

圖2 整流直流源串聯(lián)電弧試驗(yàn)電路圖

試驗(yàn)系統(tǒng)電路連接情況如圖2所示。系統(tǒng)中使用的直流電源可以輸出0~360 V直流電壓,容量為15 kV·A,電源處濾波電容容為4 700 μF,直流負(fù)載為一個(gè)功率1 500 W、阻值10 Ω的電爐絲,測(cè)量得到電爐絲的電感僅為12 μH,可以將該電爐絲看作一個(gè)無感電阻。使用電流探頭(帶寬為0~100 MHz)測(cè)量流過電容的電流,電壓探頭測(cè)量電弧兩端電壓,霍爾電流傳感器(帶寬為0~200 kHz)測(cè)量回路電流。

1.2 檢測(cè)方法

當(dāng)發(fā)生直流串聯(lián)電弧故障時(shí),會(huì)伴隨有特定頻帶的高頻分量[19]。通過檢測(cè)電路中的高頻電流幅值,可以較為準(zhǔn)確地檢測(cè)到電路中的串聯(lián)電弧故障[20]。但是在發(fā)生電弧故障時(shí),幅值相對(duì)更高的正常回路直流電流會(huì)覆蓋幅值較低的高頻特征信號(hào),給準(zhǔn)確檢測(cè)帶來極大困難。

電容器的阻抗與流過本身電流的頻率有關(guān),阻抗值隨電流頻率的增加而減小。因而,對(duì)于直流電源輸出端并聯(lián)的濾波電容而言,對(duì)幅值較高的直流及低頻電流表現(xiàn)為高阻抗,而對(duì)幅值較低的高頻電流表現(xiàn)為低阻抗。利用并聯(lián)濾波電容這一性質(zhì),可以將幅值較低的高頻電流特征信號(hào)從回路電流中提取出來,降低了正常回路電流對(duì)電弧故障檢測(cè)特征信號(hào)的干擾,更好地檢測(cè)回路中串聯(lián)直流電弧。

此外,將電流探頭布置于直流電源側(cè)的并聯(lián)濾波電容處,即可實(shí)現(xiàn)檢測(cè)流過并聯(lián)濾波電容支路的高頻電流分量,無需額外在直流系統(tǒng)中增加測(cè)量回路,避免對(duì)系統(tǒng)的影響。

2 串聯(lián)電弧故障仿真

2.1 串聯(lián)直流電弧擬合伏安特性曲線

根據(jù)實(shí)測(cè)串聯(lián)直流電弧電壓和電流擬合伏安特性曲線,保持固定、移動(dòng)電極間隙距離為2.0 mm不變,在直流系統(tǒng)中調(diào)節(jié)直流電壓,改變電極兩端電壓。選取電弧燃弧后0.4~0.5 s,電弧達(dá)到穩(wěn)定燃燒時(shí)的電弧電流以及電弧電壓進(jìn)行擬合。黃銅尖電極(曲率半徑為1 mm)在電極距離2 mm時(shí)測(cè)得的電弧電流、電壓如表1所示。

根據(jù)表1中測(cè)得的電弧電壓及電流,可擬合得到電弧伏安特性曲線,如圖3所示。所測(cè)得的電弧電壓、電流曲線滿足Nottingham公式,因而通過Nottingham公式擬合直流電弧伏安特性[21-22]

表1 5 mm黃銅電極在2 mm間隙下產(chǎn)生電弧的電壓和電流

圖3 電弧伏安特性曲線

2.2 串聯(lián)直流電弧仿真

圖4 串聯(lián)直流電弧仿真電路

利用PSCAD/EMTDC進(jìn)行串聯(lián)直流電弧仿真,仿真電路如圖4所示。經(jīng)三相半波整流后的直流電壓作為直流源,輸出電壓為50 V。在電源端并聯(lián)RC濾波電路(濾波電容為4 700 μF,并聯(lián)電阻為50 Ω),直流負(fù)載為10 Ω電阻,使用非線性電阻等效串聯(lián)直流電弧,伏安特性與Nottingham公式相同。在非線性電阻兩端并聯(lián)一個(gè)由延時(shí)裝置控制的延時(shí)開關(guān),利用開關(guān)的通斷來模擬電弧在電路中的產(chǎn)生與熄滅。仿真總時(shí)長為0.05 s,在0~0.01 s時(shí)間段內(nèi),延時(shí)開關(guān)閉合,將非線性電阻短路;在0.01~0.02 s時(shí)間段內(nèi),延時(shí)開關(guān)斷開,非線性電阻接入電路,串聯(lián)電弧產(chǎn)生;在0.02~0.05 s時(shí)間段內(nèi),延時(shí)開關(guān)再次閉合,串聯(lián)電弧熄滅。仿真時(shí)間步長為5 ns,流過濾波電容的電流波形如圖5所示。

圖5 仿真電容電流波形

由圖5可見:當(dāng)回路中產(chǎn)生串聯(lián)電弧時(shí),電容電流會(huì)出現(xiàn)一個(gè)瞬間的正極性突變;在串聯(lián)電弧熄滅時(shí),電容電流會(huì)出現(xiàn)一個(gè)瞬間的負(fù)極性突變,且在發(fā)生正極性突變時(shí),電容電流變化率為8.761 kA/s,遠(yuǎn)大于整流引起的電容電流突變變化率294.5 A/s。

(5)OLT通過此ONT認(rèn)證請(qǐng)求,并配置該ONT的管理和業(yè)務(wù)通道,然后把屬于ONT配置通過OMCI/TR069協(xié)議把配置下發(fā)到ONT上。

對(duì)電弧故障前后5 ms的并聯(lián)電容電流進(jìn)行快速傅里葉變換(FFT),電弧故障前后的電容電流頻譜如圖6所示。

圖6 電容電流頻譜仿真結(jié)果

對(duì)電容電流燃弧前后5~50 kHz頻帶范圍內(nèi)頻譜分量進(jìn)行積分,可以得到電弧起始前頻譜積分值為1.31 A·Hz,而電弧起始后頻譜積分值為10.67 A·Hz,頻譜積分明顯增大。因此,通過檢測(cè)直流源濾波電容電流,可以檢測(cè)電路中串聯(lián)電弧的產(chǎn)生。

3 直流系統(tǒng)串聯(lián)電弧故障檢測(cè)

串聯(lián)直流電弧仿真研究表明,并聯(lián)電容電流的變化可作為判斷串聯(lián)直流電弧產(chǎn)生的判據(jù)。本節(jié)將通過試驗(yàn)驗(yàn)證檢測(cè)方法,研究產(chǎn)生串聯(lián)電弧故障時(shí)并聯(lián)電容電流特性及影響因素。

3.1 并聯(lián)電容電流特性

采用直徑為5 mm的黃銅尖形材料作為電極,電極移動(dòng)距離為2 mm、速率為2 mm/s,直流電源輸出為50 V。串聯(lián)直流電弧產(chǎn)生的高頻分量頻帶在幾十kHz范圍內(nèi),測(cè)量電弧產(chǎn)生的高頻信號(hào)需要滿足奈奎斯特采樣定律,設(shè)置示波器采樣率為200 MHz,采樣時(shí)間50 ms。發(fā)生串聯(lián)直流電弧故障時(shí),電流探頭測(cè)得并聯(lián)電容電流如圖7所示。

圖7 并聯(lián)電容電流波形

對(duì)電弧故障前后5 ms的并聯(lián)電容電流進(jìn)行快速傅里葉變換,電弧故障前后的電容電流頻譜如圖8所示。

圖8 燃弧前后電容電流頻譜試驗(yàn)結(jié)果

在圖7中,串聯(lián)電弧故障于0時(shí)刻產(chǎn)生時(shí),并聯(lián)電容電流出現(xiàn)正極性突變。當(dāng)未產(chǎn)生串聯(lián)電弧故障時(shí),流過并聯(lián)電容的電流為整流電路產(chǎn)生的電流,且電流突變率為750 A/s。當(dāng)產(chǎn)生串聯(lián)電弧故障時(shí),會(huì)有高頻電流分量產(chǎn)生。在高頻回路中,并聯(lián)電容表現(xiàn)為低阻抗,高頻電流主要從并聯(lián)電容回路流過,電容電流中高頻分量幅值增加,此時(shí)的電容電流為正常電流與高頻電流相疊加的電流。因此,當(dāng)產(chǎn)生串聯(lián)電弧故障時(shí),并聯(lián)電容電流會(huì)出現(xiàn)突變,且此時(shí)電容電流變化率為15 kA/s,遠(yuǎn)大于正常情況時(shí)的電流變化率。試驗(yàn)結(jié)果與仿真結(jié)果一致,當(dāng)電弧產(chǎn)生時(shí),回路中高頻分量增加,并聯(lián)電容電流變化率增大,遠(yuǎn)大于正常運(yùn)行時(shí)的電容電流變化率。由于實(shí)際試驗(yàn)環(huán)境中直流電源輸出電壓與輸入的三相交流電壓有關(guān),受到環(huán)境干擾的影響,因此實(shí)際輸出的電壓不僅僅含有因整流產(chǎn)生的紋波,還包含有其他頻率分量,導(dǎo)致實(shí)際測(cè)得的電容電流變化率高于仿真結(jié)果的電容電流變化率。

對(duì)電容電流燃弧前后的頻譜5~50 kHz范圍內(nèi)的頻率分量進(jìn)行積分,積分值由燃弧前的104.10 A·Hz增加為燃弧后的169.76 A·Hz,差值為65.66 A·Hz。燃弧前后頻譜積分值的變化與仿真結(jié)果一致。由此可見,電容電流變化率及頻譜中高頻分量的變化,能夠作為檢測(cè)串聯(lián)直流電弧故障的判據(jù)。

3.2 回路電流幅值對(duì)并聯(lián)電容電流的影響

(a)5 A回路電流

(b)10 A回路電流

(c)15 A回路電流

表2 不同回路電流時(shí)電容電流變化率及頻譜積分差值

由表2可知,不同回路電流條件下,并聯(lián)電容電流在電弧故障產(chǎn)生時(shí)的電流變化率均較大,且隨回路電流幅值的增加而增加。電弧故障前后電容電流5~50 kHz頻帶積分差值與回路電流呈正相關(guān)。隨著回路電流的增加,電極表面單位時(shí)間內(nèi)流過的電子數(shù)量增加,放電有效電子數(shù)量增加,使得電極之間的放電時(shí)延更短,放電更加劇烈,因而伴隨電弧故障產(chǎn)生的高頻電流分量幅值隨之增加。體現(xiàn)在并聯(lián)電容電流上的結(jié)果即是,在產(chǎn)生電弧故障時(shí),電容電流變化率隨回路電流幅值的增加而增加,燃弧后頻譜積分與燃弧前頻譜積分差值也隨回路電流幅值的增加而增加。

3.3 電極材料對(duì)并聯(lián)電容電流的影響

分別采用半徑為5 mm的不銹鋼尖形材料、鋁尖形材料以及紫銅尖形材料作為電弧產(chǎn)生裝置上的電極進(jìn)行試驗(yàn),電極移動(dòng)距離為2 mm、速率為2 mm/s,直流源輸出電壓為50 V。采用不同電極材料產(chǎn)生串聯(lián)電弧時(shí)的并聯(lián)電容電流如圖10所示。不同電極材料產(chǎn)生串聯(lián)電弧的電容電流變化趨勢(shì)一致,說明電容電流及變化規(guī)律不隨電極材料的變化而變化。

采用不銹鋼、鋁及紫銅電極產(chǎn)生串聯(lián)電弧時(shí),分別測(cè)量并聯(lián)電容電流在電弧故障時(shí)刻(0時(shí)刻)的電流變化率,并對(duì)電弧故障前后5 ms并聯(lián)電容電流5~50 kHz頻帶范圍內(nèi)進(jìn)行積分。不同電極材料產(chǎn)生串聯(lián)電弧時(shí),并聯(lián)電容的電流變化率及頻譜積分差值如表3所示。并聯(lián)電容電流變化率均大于10 kA/s,電容電流在電弧故障前后的頻譜積分差值隨電極材料的變化而變化,其中不銹鋼電極時(shí)的積分差值最大,之后依次為紫銅、鋁及黃銅電極。電流變化率隨電極材料的變化趨勢(shì)與頻譜積分差值相反,黃銅電極的電流變化率最大,其后依次為鋁、紫銅以及不銹鋼電極。

(a)不銹鋼電極

(b)鋁電極

(c)紫銅電極

不同電極材料的冶金特性如表4所示[23]。不銹鋼的沸點(diǎn)最高,之后依次是紫銅、鋁以及黃銅。對(duì)于4種電極材料而言,沸點(diǎn)越高,產(chǎn)生電弧前后電容電流頻譜積分差值越大,產(chǎn)生電弧時(shí)刻電容電流變化率越小。高沸點(diǎn)材料在較高的溫度時(shí)會(huì)汽化,產(chǎn)生足夠的金屬蒸汽,此時(shí)電極表面積累的能量較高[24-25],因而高沸點(diǎn)材料電極產(chǎn)生電弧時(shí),電弧能量較高,產(chǎn)生的高頻分量幅值也隨之增大,電弧故障前后的頻譜積分差值隨沸點(diǎn)的增加而增大。此外,隨著電極材料沸點(diǎn)的提高,電極表面溫度提高所需的時(shí)間也隨之增加,電流變化率與該時(shí)間成反比關(guān)系,因而電流變化率隨著電極材料沸點(diǎn)的升高而降低。

表3 不同電極材料時(shí)電容電流變化率及頻譜積分差值

表4 不同電極材料的冶金特性

3.4 串聯(lián)電弧檢測(cè)方法分析

本文以直流電源輸出端并聯(lián)電容電流作為串聯(lián)直流電弧故障的檢測(cè)參數(shù),這種方式簡單易行,對(duì)于傳感器位置沒有特殊要求。對(duì)于有濾波單元的直流電源,無需另外在電源輸出側(cè)并聯(lián)電容,只需要測(cè)量流過濾波電容的電流即可檢測(cè)直流系統(tǒng)中的串聯(lián)電弧故障。此外,測(cè)量電源輸出端并聯(lián)電容電流,可以有效避免直流電流的影響,提高系統(tǒng)中串聯(lián)直流電弧故障檢測(cè)的精確性。

分析不同回路電流條件下產(chǎn)生串聯(lián)電弧的電容電流發(fā)現(xiàn),其變化率及在電弧故障前后的頻譜積分差值均隨回路電流的增大而增大,且在較小的回路電流條件下,電容電流變化率高達(dá)為16 kA/s,頻譜積分差值為65.66 A·Hz。當(dāng)電極材料發(fā)生改變時(shí),電容電流變化率隨材料沸點(diǎn)的增加有所降低,而頻譜積分差值隨材料沸點(diǎn)的增加而增大,但不影響對(duì)串聯(lián)直流電弧故障的檢測(cè)。因此,以并聯(lián)電容電流變化率及電流頻譜在電弧故障產(chǎn)生前后的積分差值作為檢測(cè)串聯(lián)直流電弧故障的判據(jù)是可行的。

4 結(jié) 論

本文提出了基于直流電源側(cè)并聯(lián)電容電流時(shí)頻特性的串聯(lián)電弧檢測(cè)方法。對(duì)檢測(cè)方法進(jìn)行了仿真及試驗(yàn)研究,分析了電流幅值及電極材料對(duì)并聯(lián)電容電流檢測(cè)判據(jù)的影響,主要得到以下結(jié)論。

(1)產(chǎn)生串聯(lián)直流電弧故障時(shí)會(huì)伴隨產(chǎn)生高頻電流分量,該分量會(huì)流過電源側(cè)并聯(lián)電容,并聯(lián)電容電流出現(xiàn)突變。

(2)產(chǎn)生串聯(lián)電弧時(shí),并聯(lián)電容電流變化率隨著回路電流幅值的增加而增加;電弧產(chǎn)生前后,電容電流在5~50 kHz頻帶內(nèi)的積分差值與回路電流幅值成正比例。

(3)并聯(lián)電容電流變化率及頻譜積分差值與電極材料的沸點(diǎn)有關(guān),其中電流變化率與沸點(diǎn)成反比,而電流頻譜積分差值與其成正比。

(4)并聯(lián)電容電流的變化率及頻譜積分差值具有足夠的分辨率,能夠應(yīng)用于串聯(lián)直流電弧故障檢測(cè)。

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