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防毒面具NR罩體材料與CPU鏡片材料的粘接分析

2018-07-23 07:33王得印李小銀皇甫喜樂戎德功
橡膠工業(yè) 2018年11期
關(guān)鍵詞:膠粘劑鏡片原子

王得印,李小銀,皇甫喜樂,戎德功,王 鋼

(1.軍事科學(xué)院防化研究院 國民核生化災(zāi)害防護(hù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京 100191;2.山西新華化工有限責(zé)任公司,山西 太原 030008)

防毒面具可保護(hù)佩戴人員呼吸道、頭部和面部皮膚、眼部免受化學(xué)毒劑(CWAs)及工業(yè)有毒化學(xué)品(TICs)的侵害[1-2],通常由橡膠罩體及安裝在罩體上的鏡片、濾毒罐、通話器等部件組成[3-6]。橡膠罩體與鏡片的連接十分重要,必須實(shí)現(xiàn)良好密封,避免CWAs或TICs通過連接部位進(jìn)入橡膠罩體內(nèi)。目前,國內(nèi)通常采用溝槽管件連接或卡箍固定橡膠罩體與鏡片,這種方式適用于橡膠罩體與傳統(tǒng)硬質(zhì)鏡片材料(如甲基丙烯酸甲酯和聚碳酸酯等)連接,優(yōu)點(diǎn)是容易拆卸與更換,缺點(diǎn)是溝槽管件或卡箍的使用增大了面具質(zhì)量,降低了面具與其他光學(xué)觀瞄器材的匹配性。

粘接式柔性鏡片防毒面具的研發(fā)始于美國軍用XM30型防毒面具研究計(jì)劃,該計(jì)劃因粘接問題未得到有效解決而被迫停止。隨后經(jīng)過多年的技術(shù)攻關(guān),粘接技術(shù)難題獲得突破,XM30型防毒面具成為美國空軍和海軍的標(biāo)準(zhǔn)防毒面具。由于先進(jìn)粘接技術(shù)的應(yīng)用有效提高了面具與觀瞄器材的匹配性[6],同時(shí)顯著減小了面具質(zhì)量,方便了面具折疊儲(chǔ)存和攜行,2007年美國開發(fā)出更先進(jìn)的M50型防毒面具,自此粘接式柔性鏡片防毒面具正式成為美國海、陸、空多兵種使用的主流防毒面具。我國在該領(lǐng)域的研究尚處于追蹤階段。

天然橡膠(NR)是防毒面具罩體常用的膠種之一,在受力情況下易發(fā)生應(yīng)變誘導(dǎo)結(jié)晶(SIC)而具有較高的拉伸強(qiáng)度和撕裂強(qiáng)度[7-12],同時(shí)其分子內(nèi)摩擦較小而具有良好的彈性。此外,NR的玻璃化溫度較低(-55 ℃),使其在絕大部分地區(qū)都具有良好的橡膠態(tài)響應(yīng)。澆注型聚氨酯(CPU)是聚氨酯(PU)的主流品種,具有良好的光學(xué)性能,與傳統(tǒng)硬質(zhì)鏡片材料相比具有質(zhì)量小和抗刮擦、抗沖擊、耐撓屈等特點(diǎn)[13-14]。本研究選用適合的膠粘劑對NR罩體材料與柔性CPU鏡片材料進(jìn)行粘接,并對NR罩體材料與CPU鏡片材料接頭的粘合狀態(tài)進(jìn)行考察。

1 實(shí)驗(yàn)

1.1 原材料

NR罩體材料(邵爾A型硬度為48度),自制;CPU鏡片材料(透光率為92%,霧度為2.7%,邵爾A型硬度為94度,非黃變),自制;FH-101-I型PU膠粘劑,市售品;三氯乙氰尿酸(TCI)和乙酸乙酯(EAC),分析純,國藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司產(chǎn)品。

1.2 試樣制備

NR罩體材料/CPU鏡片材料單搭接頭[如圖1(a)所示]制樣步驟如下。(1)表面處理:NR罩體材料經(jīng)表面打磨、除屑處理后裁樣(試樣寬度為25 mm),試樣經(jīng)TCI/EAC溶液處理后干燥,CPU鏡片材料經(jīng)表面打磨、除屑處理后裁樣(試樣寬度為25 mm)。(2)涂覆膠粘劑:分別在經(jīng)處理的NR罩體材料試樣和CPU柔性鏡片材料試樣表面涂覆PU膠粘劑。(3)粘接與固化:將涂覆膠粘劑的試樣疊合、壓平,自然放置48 h以上完成固化。

NR罩體材料/CPU鏡片材料嵌槽接頭[如圖1(b)所示]制樣方式與單搭接頭制樣方式基本類似,不同之處在于對NR罩體材料的硫化模具進(jìn)行了噴砂處理,使制得的NR罩體材料凹槽表面為粗糙面,因而不再對NR罩體材料表面進(jìn)行機(jī)械打磨。嵌槽接頭試樣嵌槽深度為6 mm,寬度為25 mm。

圖1 單搭接頭和嵌槽接頭試樣

1.3 測試分析

(1)X射線光電子能譜(XPS):采用美國ThermoFisher Scientific公司的EscaLab250型XPS儀測試,AlKα單色源。

(2)衰減全反射紅外光譜(ATR-FTIR):采用德國布魯克公司的VERTEK 70V型紅外分析儀測試,波數(shù)范圍為600~4 000 cm-1。

(3)掃描電鏡(SEM)分析:采用日本日立公司的Hitachi S4700型SEM觀察試樣表面(噴金處理)形貌。

(4)掃描電鏡能譜(EDS):采用美國EDAX公司的TEAMTM型EDS儀測試,加速電壓為20 kV。

(5)粘合性能:粘合拉伸試驗(yàn)采用深圳新三思材料檢測有限公司的CMT4104型電子拉力機(jī)進(jìn)行,拉伸速率為100 mm·min-1;粘合剝離試驗(yàn)按照GB/T 2791—1995進(jìn)行。

2 結(jié)果與討論

2.1 膠粘劑選擇

膠粘劑在NR罩體/CPU柔性鏡片接頭中的功能是連接、定位和彈性密封。由于防毒面具使用時(shí)接頭部位常常受到彎曲和拉伸等外力作用,要求其膠粘劑必須具有較好的彈性和抗形變位移性能,即該接頭密封必須為彈性密封。雖然防毒面具接頭部位傳遞的結(jié)構(gòu)載荷并不大,但其必須具有較大的粘合強(qiáng)度以抵御外力破壞。然而,實(shí)現(xiàn)NR罩體/CPU鏡片的良好粘接卻較為困難,主要原因一是NR罩體材料與CPU鏡片材料極性差異顯著,這是由于CPU分子主鏈上因含有氨基甲酸酯基團(tuán)(—NHCOO—)而具有較強(qiáng)的極性,NR由于表面能低而呈非極性;二是NR罩體材料配方復(fù)雜,其中配合劑如硫化劑、促進(jìn)劑、增塑劑、防老劑等可能遷移至橡膠表面形成潛在的弱界面層,使粘合界面內(nèi)聚強(qiáng)度降低,導(dǎo)致粘合部位易出現(xiàn)應(yīng)力破壞;三是NR罩體材料/CPU鏡片材料的粘接在廣義上屬于橡膠/橡膠后硫化粘合,即粘接前兩種材料內(nèi)部已形成交聯(lián)結(jié)構(gòu),其粘接難以通過界面擴(kuò)散而形成良好結(jié)合。

橡膠/橡膠后硫化粘合通常采用具有良好彈性和韌性的PU、氯丁橡膠或甲基丙烯酸甲酯-氯丁橡膠接枝共聚物、丁腈橡膠等彈性體型膠粘劑。理論上,PU膠粘劑比較適合作為NR罩體材料/CPU鏡片材料的膠粘劑,這是因?yàn)镻U膠粘劑與CPU均為強(qiáng)極性材料,且分子結(jié)構(gòu)類似,PU膠粘劑與CPU鏡片材料的粘合效果好(CPU鏡片材料需打磨、除去脫模劑等,裸露出新鮮高能界面),需要解決的問題是提高NR罩體材料與PU膠粘劑之間的粘合性能。

2.2 NR罩體材料的表面處理及分析

提高NR罩體材料表面極性,使之與PU膠粘劑極性相匹配,是提高NR罩體材料與PU膠粘劑粘合性能的關(guān)鍵?;瘜W(xué)處理(氯化反應(yīng)和磺化反應(yīng)等)是提高橡膠表面極性的有效方法,特別是采用有機(jī)氯給予體/有機(jī)溶劑體系(如TCI/EAC溶液)進(jìn)行化學(xué)處理是提高非飽和橡膠表面極性的常用手段[15]。采用質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0.02的TCI/EAC溶液對NR罩體材料進(jìn)行表面處理(20 min),并對處理前后的罩體材料表面進(jìn)行XPS譜、EDS譜、ATR-FTIR譜和SEM分析。

2.2.1 XPS譜分析

對處理前后的NR罩體材料表面進(jìn)行XPS寬掃描,截取C,O,Cl和N原子對應(yīng)的峰位譜線(如圖2所示),并采用半定量的相對靈敏度因子法(RSF)推算出這些原子的相對含量(如表1所示)。

圖2 TCI/EAC溶液處理前后NR罩體材料表面XPS譜對比

從圖2可以看出,未經(jīng)處理的NR罩體材料表面XPS譜線上僅存在Cls峰(284.8 eV)和O1s峰(531.9 eV),處理后的NR罩體材料表面XPS譜線上出現(xiàn)明顯的Cl2p峰(199.9 eV)和Cls峰(284.8 eV)以及較微弱的N1s峰(400.4 eV),同時(shí)O1s峰(532.1 eV)強(qiáng)度明顯提高。上述結(jié)果也可以從表1得到佐證,即處理后的NR罩體材料表面Cl/C原子摩爾比從0增加到0.1,O/C原子摩爾比從0.06增加到0.18,N/C原子摩爾比從0增加到0.05,說明對NR罩體材料進(jìn)行處理后表面攝入了O,Cl和N原子,尤其是攝入了較多的O和Cl原子。

表1 TCI/EAC溶液處理前后NR罩體材料表面原子的相對摩爾分?jǐn)?shù)

通過對XPS寬掃描出現(xiàn)的原子進(jìn)行高分辨掃描(窄掃描),可以確定這些原子的化學(xué)態(tài)信息,結(jié)果如圖3—6所示(圖中藍(lán)色和紅色線分別為實(shí)測線和擬合線)。

從圖3—6可以得出以下結(jié)論。

圖3 TCI/EAC溶液處理后NR罩體材料表面XPS譜Cl2 p分峰擬合結(jié)果

圖4 TCI/EAC溶液處理后NR罩體材料表面XPS譜N1 s分峰擬合結(jié)果

圖5 TCI/EAC溶液處理前后NR罩體材料表面XPS譜O1 s分峰擬合結(jié)果

圖6 TCI/EAC溶液處理前后NR罩體材料表面XPS譜C1 s分峰擬合結(jié)果

(1)處理后NR罩體材料表面出現(xiàn)明顯的Cl2p峰,該峰歸屬于C—Cl結(jié)構(gòu),其擬合的兩個(gè)中心峰(200.3和198.7 eV)分別是光電子從L殼層2p軌道發(fā)射時(shí)因自旋-軌道耦合分裂而產(chǎn)生的Cl2p3/2和Cl2p1/2峰[16],Cl2p3/2和Cl2p1/2峰強(qiáng)度比為1.9∶1(接近于理論值2∶1);400.4 eV處較弱的N1s峰可歸屬于C—N結(jié)構(gòu)。

(2)處理前后NR罩體材料表面的O1s峰面積比為1∶3.5,這說明處理后NR罩體材料表面的O原子含量顯著上升;O1s峰由532.6 eV的C—O/C=O/O=C—O結(jié)構(gòu)峰與531.8 eV的O—H結(jié)構(gòu)峰疊加,處理前后NR罩體材料表面的這兩個(gè)峰強(qiáng)度比分別為0.45∶1和1∶2.3,也說明經(jīng)過處理后罩體材料表面的O原子含量明顯上升。

(3)處理前NR罩體材料表面C1s峰僅可擬合為284.8 eV的C—C/C—H結(jié)構(gòu)峰和286.1 eV的C—O結(jié)構(gòu)峰,這兩個(gè)峰面積比為1∶0.08;處理后NR罩體材料表面的O1s峰可擬合為284.8 eV的C—C/C—H結(jié)構(gòu)峰、286.3 eV的C—O/C—Cl結(jié)構(gòu)峰和288.7 eV的C=O結(jié)構(gòu)峰,這3個(gè)峰面積比為1∶0.46∶0.07。上述結(jié)果說明處理后NR罩體材料表面攝入較多的Cl和O原子。

2.2.2 EDS譜分析

對處理前后NR罩體材料表面進(jìn)行EDS譜(如圖7所示)分析如下。

圖7 TCI/EAC溶液處理前后NR罩體材料表面的EDS譜

(1)處理前后NR罩體材料表面均出現(xiàn)C原子峰(0.277 keV)、N原子峰(0.392 keV)、O原子峰(0.525 keV)、Zn原 子峰(1.01/8.64/9.57 keV)、S原 子峰(2.31/2.47 keV)和Ca原子峰(3.69/4.01 keV)。

(2)處理后的NR罩體材料表面出現(xiàn)明顯的Cl原子峰(2.62/2.82 keV),同時(shí)O原子峰也明顯增強(qiáng)。

(3)計(jì)算得出,處理前后Cl/C原子摩爾比從0顯著增至2.5,O/C原子摩爾比從0.15顯著增至0.35,N/C原子摩爾比從0.14增至0.16。

上述結(jié)果佐證了經(jīng)過處理后NR罩體材料確實(shí)攝入了較多的Cl和O原子。

2.2.3 ATR-FTIR分析

處理前后NR罩體材料表面的官能團(tuán)區(qū)和指紋區(qū)ATR-FTIR譜分別如圖8和9所示。

圖8 TCI/EAC溶液處理前后NR罩體材料表面的ATR-FTIR譜(官能團(tuán)區(qū))

圖9 TCI/EAC溶液處理前后NR罩體材料表面的ATR-FTIR譜(指紋區(qū))

從圖8可以看出:對于處理前NR罩體材料,在3 375 cm-1處出現(xiàn)N—H伸縮振動(dòng)吸收峰;在2 960 cm-1處出現(xiàn)—CH3非對稱伸縮振動(dòng)吸收峰;在2 918和2 849 cm-1處分別出現(xiàn)—CH2—非對稱和對稱伸縮振動(dòng)吸收峰;在1 652和1 537 cm-1處分別出現(xiàn)仲酰胺基團(tuán)中C=O伸縮振動(dòng)吸收峰和C—N—H變形振動(dòng)吸收峰(酰胺Ⅰ和Ⅱ譜帶),這是NR中蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)的特征峰;在1 444 和1 373 cm-1處分別出現(xiàn)—CH2—和CH3—變形振動(dòng)吸收峰;在1 263 cm-1處出現(xiàn)—CH2—面外搖擺振動(dòng)吸收峰;在871和836 cm-1處分別出現(xiàn)3,4-加成和1,4-加成C=C—H結(jié)構(gòu)中C—H面外彎曲振動(dòng)吸收峰;在744和721 cm-1處均出現(xiàn)—CH2—面內(nèi)搖擺振動(dòng)吸收峰。對于處理后NR罩體材料,在3 410 cm-1處出現(xiàn)寬的O—H伸縮振動(dòng)吸收峰;在2 957,2 918和2 849 cm-1處的—CH3和—CH2—振動(dòng)吸收峰相對減弱;酰胺Ⅰ和Ⅱ譜帶消失;在1 730和1 622 cm-1處分別出現(xiàn)C=O和—COO—伸縮振動(dòng)吸收峰;在1 240和823 cm-1處分別出現(xiàn)環(huán)氧丙烷結(jié)構(gòu)C—O—C對稱和非對稱伸縮振動(dòng)吸收峰;在1 043 cm-1處出現(xiàn)C—OH伸縮振動(dòng)吸收峰;在971和921 cm-1處分別出現(xiàn)=CH—和=CH2面外搖擺振動(dòng)吸收峰;在840 cm-1處出現(xiàn)的—CH=CH—結(jié)構(gòu)中C—H吸收峰顯著減弱;在783和678 cm-1處均出現(xiàn)C—Cl伸縮振動(dòng)吸收峰;在636 cm-1處出現(xiàn)C—OH結(jié)構(gòu)中C—O—H面外彎曲振動(dòng)吸收峰。

通過譜線對比,可推測出處理后NR罩體材料表面C=C鍵發(fā)生氯化、氧化反應(yīng),形成C—Cl、=CH2、=CH、環(huán)氧基團(tuán)、C—OH、C=O和—COO—等結(jié)構(gòu)。通常情況下,氯化反應(yīng)以取代氯化為主[式(1)—(2)][17],形成C—Cl、=CH2和=CH結(jié)構(gòu);氧化反應(yīng)主要以環(huán)氧化及次生反應(yīng)(開環(huán)和氧化)[式(3)—(5)]為主,形成環(huán)氧基團(tuán)、C—OH、C=O和—COOH結(jié)構(gòu)。

2.2.4 SEM分析

對NR罩體材料表面進(jìn)行化學(xué)處理不僅會(huì)使表面組成變化,還對表面形貌產(chǎn)生較大影響。處理前后NR罩體材料表面形貌的SEM照片如圖10所示。

圖10 處理前后NR罩體材料表面形貌的SEM照片

從圖10可以看出,處理前NR罩體材料表面存在微小裂紋,處理后NR罩體材料表面沒有出現(xiàn)微裂紋增多的現(xiàn)象,而是形成很多瘤狀凸起,這些瘤狀凸起增大了表面的粗糙度和物理接觸面積,對粘合有利。另外,對NR罩體材料的處理時(shí)間不宜過長。試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)過長的處理時(shí)間容易造成罩體表面變硬、發(fā)脆,這可能源于如式(6)的交聯(lián)反應(yīng)。

2.3 接頭粘合性能

NR罩體/CPU鏡片接頭采用CPU鏡片嵌入NR罩體凹槽的嵌槽接頭形式,嵌槽接頭可以看作由雙搭接頭和對接接頭組成。嵌槽接頭中,雙搭接頭的承載力大于對接接頭(對接接頭承載力可忽略不計(jì)),因此嵌槽接頭受拉伸載荷時(shí),其膠層主要受剪切作用,同時(shí)接頭粘合面積大,受力良好,外表美觀。嵌槽接頭受軸向拉伸作用時(shí)的拉力-位移曲線如圖11所示(NR罩體材料經(jīng)TCI/EAC溶液處理,硫化模具經(jīng)噴砂處理)。

圖11 嵌槽接頭拉力-位移曲線

從圖11可以看出,嵌槽接頭的拉力-位移狀態(tài)變化可分為3個(gè)階段。第1階段為接頭彈性變形階段:NR罩體材料的彈性模量約為CPU鏡片材料彈性模量的1/20,在微小軸向載荷作用下彈性模量較低的NR罩體材料率先發(fā)生彈性(虎克彈性)變形。第2階段為接頭頸縮階段:隨軸向載荷的增大,NR罩體材料在不大的應(yīng)力下發(fā)生高彈形變,并表現(xiàn)出明顯的頸縮,隨后CPU鏡片材料也發(fā)生頸縮,但其頸縮遠(yuǎn)不如NR罩體材料明顯。第3階段為接頭剪切變形階段:軸向載荷繼續(xù)增大,NR罩體材料所受剪切力急劇上升,接頭發(fā)生明顯的剪切變形,NR罩體材料/膠粘劑之間的界面層逐漸裸露出來,直到CPU鏡片材料從NR罩體材料凹槽中拔出,導(dǎo)致接頭失效(560 N)。實(shí)際上,從受力開始到頸縮階段,嵌槽接頭拉力-位移狀態(tài)是NR罩體材料與CPU鏡片材料兩種彈性體的拉力-位移狀態(tài)疊加。

不同處理方式的嵌槽接頭拔出力為:NR罩體材料未經(jīng)TCI/EAC溶液處理/硫化模具未經(jīng)噴砂處理 75 N,NR罩體材料未經(jīng)TCI/EAC溶液處理/硫化模具經(jīng)噴砂處理 120 N,NR罩體材料經(jīng)TCI/EAC溶液處理/硫化模具未經(jīng)噴砂處理 380 N,NR罩體材料經(jīng)TCI/EAC溶液處理/硫化模具經(jīng)噴砂處理 560 N??梢钥闯觯寒?dāng)NR罩體材料未經(jīng)TCI/EAC溶液處理時(shí),其硫化模具不經(jīng)噴砂處理,硫化的NR罩體材料表面光滑,接頭拔出力較?。籒R罩體材料硫化具模即使經(jīng)噴砂處理,NR罩體材料凹槽內(nèi)表面粗糙,其對提高接頭粘合強(qiáng)度提高效果并不明顯。當(dāng)NR罩體材料經(jīng)TCI/EAC溶液處理后,接頭拔出力顯著提高。這表明TCI/EAC溶液對NR罩體材料進(jìn)行處理是提高接頭粘合性能的有效手段。

CPU鏡片材料從NR罩體材料凹槽中拔出的破壞除拉伸破壞外,還可能發(fā)生剝離破壞,可以以單搭接頭形式進(jìn)行粘合剝離試驗(yàn)。與嵌槽接頭受軸向拉伸載荷時(shí)發(fā)生剪切斷裂不同,單搭接頭受剝離作用時(shí)發(fā)生劈裂斷裂。CPU鏡片材料/NR罩體材料單搭接頭的剝離力-剝離長度曲線如圖12所示(NR罩體材料經(jīng)打磨處理/經(jīng)TCI/EAC溶液處理)。從圖12可以得出,單搭接頭的剝離強(qiáng)度為3.7 kN·m-1。

圖12 單搭接頭的剝離力-剝離長度曲線

不同處理方式的單搭接頭剝離強(qiáng)度為:NR罩體材料未經(jīng)打磨處理/未經(jīng)TCI/EAC溶液處理1.3 kN·m-1,NR罩體材料經(jīng)打磨處理/未經(jīng)TCI/EAC溶液處理 1.6 kN·m-1,NR罩體材料未經(jīng)打磨處理/經(jīng)TCI/EAC溶液處理 3.5 kN·m-1,NR罩體材料經(jīng)打磨處理/經(jīng)TCI/EAC溶液處理 3.7 kN·m-1??梢钥闯觯琓CI/EAC溶液對NR罩體材料進(jìn)行處理可以有效提高接頭的粘合性能。

單搭接頭剝離后粘合界面的EDS譜如圖13所示。從圖13可以看出,NR罩體材料和CPU鏡片材料粘合界面的EDS譜中均存在Ca,S,Zn和Cl原子特征峰。其中,Ca,S和Zn原子分別對應(yīng)NR罩體材料中的碳酸鈣、硫黃和氧化鋅,Cl原子由TCI/EAC溶液處理時(shí)引入。這說明單搭接頭破壞類型不可能僅是界面破壞或膠粘劑內(nèi)聚破壞,而可能是NR罩體材料破壞或混合破壞。

圖13 單搭接頭剝離后粘合界面的EDS譜

單搭接頭剝離后粘合界面的SEM照片如圖14所示。從圖14可以看出,剝離后NR罩體材料的粘合界面和CPU鏡片材料的粘合界面存在斑駁的膠膜[18],推測接頭破壞類型更傾向于NR罩體材料破壞。

圖14 單搭接頭剝離后粘合界面SEM照片

3 結(jié)論

(1)NR罩體材料與CPU鏡片材料間顯著的極性差異是其接頭難以良好粘合的主要原因。在NR罩體材料/CPU柔性鏡片材料接頭中膠粘劑的主要作用是連接、定位和彈性密封,適宜采用彈性體型PU膠粘劑。

(2)采用TCI/EAC溶液對NR罩體材料表面進(jìn)行處理,通過氯化反應(yīng)和環(huán)氧化反應(yīng)使NR罩體材料表面附集大量Cl和O原子,同時(shí)形貌顯著變化。

(3)采用PU膠粘劑對NR罩體材料與CPU鏡片材料進(jìn)行粘接,單搭接頭剝離強(qiáng)度達(dá)到3.7 kN·m-1,嵌槽接頭拔出力為560 N。對NR罩體材料進(jìn)行表面化學(xué)處理是提高接頭粘合性能的有效手段。

(4)防毒面具NR罩體與CPU鏡片粘接適合采用嵌槽接頭。

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