張 遠(yuǎn)，趙 兆

(南京理工大學(xué) 電子工程與光電技術(shù)學(xué)院，南京 210094)

射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試及故障診斷系統(tǒng)研究

張 遠(yuǎn)，趙 兆

(南京理工大學(xué) 電子工程與光電技術(shù)學(xué)院，南京 210094)

自動(dòng)測(cè)試與故障診斷的聯(lián)合研究已經(jīng)在電子設(shè)備實(shí)際工作中得到較為廣泛的應(yīng)用；文章針對(duì)通信設(shè)備研發(fā)階段射頻指標(biāo)測(cè)試效率低下以及測(cè)試故障定位難度較大等問(wèn)題，開(kāi)發(fā)了基于虛擬儀器技術(shù)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)以及適用于射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試問(wèn)題定位的智能故障診斷系統(tǒng)；故障診斷系統(tǒng)采用基于專(zhuān)家系統(tǒng)的知識(shí)庫(kù)及推理機(jī)制，解釋機(jī)制采用預(yù)制文本法進(jìn)行設(shè)計(jì)；實(shí)際運(yùn)行結(jié)果表明該系統(tǒng)能夠高效準(zhǔn)確地完成射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試，并對(duì)測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行較為準(zhǔn)確的定位。

射頻指標(biāo)；自動(dòng)測(cè)試；故障診斷；專(zhuān)家系統(tǒng)

0 引言

隨著電子科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，通訊設(shè)備復(fù)雜度越來(lái)越高，迭代更新周期不斷縮短。高度集成的結(jié)構(gòu)使得通訊設(shè)備故障的復(fù)雜性大大增強(qiáng)，問(wèn)題定位及維修的成本也隨之提高。測(cè)試技術(shù)在設(shè)備研發(fā)生產(chǎn)過(guò)程中的重要性越來(lái)越強(qiáng)。人工手動(dòng)測(cè)試耗時(shí)長(zhǎng)、誤差大、成本高的缺陷越來(lái)越突出。自動(dòng)化測(cè)試可以將最為規(guī)范的測(cè)試流程應(yīng)用到每一次測(cè)試活動(dòng)中，從而避免人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與可信度將大幅提高[1]。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)將重復(fù)的手動(dòng)操作變成以毫秒級(jí)發(fā)送的計(jì)算機(jī)指令，顯著降低測(cè)試時(shí)間，提升測(cè)試效率。

隨著自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，測(cè)試人員對(duì)數(shù)據(jù)的分析處理能力成為制約測(cè)試效率提升的關(guān)鍵因素。測(cè)試問(wèn)題智能定位研究的目的在于利用故障診斷的方法代替“領(lǐng)域?qū)＜摇敝貜?fù)工作，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行智能分析，以定位測(cè)試活動(dòng)中出現(xiàn)的問(wèn)題并給出適當(dāng)?shù)奶幚斫ㄗh。

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展始于20世紀(jì)50年代初美國(guó)SETE計(jì)劃[2]。最初的專(zhuān)業(yè)型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)性強(qiáng)，測(cè)試方便，但測(cè)試軟件與儀器接口通常沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)化，通用性、可移植性很差。積木型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)于20世紀(jì)70年代出現(xiàn)，測(cè)試系統(tǒng)的硬件接口部分實(shí)現(xiàn)了標(biāo)準(zhǔn)化，但測(cè)試系統(tǒng)的軟件部分依舊沒(méi)有統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)[3]。與此同時(shí)，故障診斷技術(shù)作為融合控制理論、計(jì)算機(jī)工程、信號(hào)處理、人工智能等相關(guān)學(xué)科知識(shí)的新興學(xué)科迅速興起[4]。我國(guó)關(guān)于故障診斷的研究始于20世紀(jì)80年代，此時(shí)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)展到基于測(cè)試總線與模塊化儀器，利用虛擬儀器技術(shù)將軟硬件結(jié)合的模塊化集成階段。近年來(lái)，自動(dòng)測(cè)試與故障診斷的聯(lián)合研究已經(jīng)成為故障診斷領(lǐng)域的重要研究方向，2003年北京航空航天大學(xué)谷云輝、劉亞斌等人對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、模糊理論和小波分析在基于自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的故障診斷中的應(yīng)用進(jìn)行了有益的探索[5]。同期，海軍航空工程學(xué)院杜鑫等人提出將自動(dòng)測(cè)試與故障診斷技術(shù)應(yīng)用于機(jī)載設(shè)備維護(hù)保障中[6]。本文設(shè)計(jì)的射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試及故障診斷系統(tǒng)將自動(dòng)測(cè)試與故障診斷的聯(lián)合研究應(yīng)用于通訊設(shè)備開(kāi)發(fā)測(cè)試階段，以達(dá)到大幅提高測(cè)試效率的目的。

1 系統(tǒng)需求分析與總體方案設(shè)計(jì)

1.1 系統(tǒng)需求分析

通訊設(shè)備全球市場(chǎng)已經(jīng)有十分明確的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及參數(shù)要求，全球主流標(biāo)準(zhǔn)包括歐洲經(jīng)濟(jì)區(qū)執(zhí)行的CE認(rèn)證、美國(guó)聯(lián)邦通信委員會(huì)制定的FCC認(rèn)真以及其他地區(qū)廣泛使用的IEEE標(biāo)準(zhǔn)。本課題研究的射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試及故障診斷系統(tǒng)主要是針對(duì)ZigBee、Sub-G兩類(lèi)射頻指標(biāo)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試以及測(cè)試問(wèn)題的智能定位。如表1所示，ZigBee指標(biāo)測(cè)試包括最大發(fā)射功率、頻譜模板等18個(gè)測(cè)試項(xiàng)，Sub-GHz指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試包括頻率誤差、傳導(dǎo)雜散等20個(gè)測(cè)試項(xiàng)。自動(dòng)測(cè)試完后，故障診斷系統(tǒng)需要對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行智能分析，定位測(cè)試活動(dòng)中被測(cè)設(shè)備的問(wèn)題，并針對(duì)測(cè)試問(wèn)題給出相應(yīng)的處理建議。

1.2 總體方案設(shè)計(jì)

本課題研究的射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試及故障診斷系統(tǒng)由自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(Automatic Test System，ATS)和故障診斷系統(tǒng)(Fault Diagnosis System，F(xiàn)DS)組成，相互獨(dú)立的兩個(gè)系統(tǒng)通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)的傳輸以及計(jì)算機(jī)指令的交互實(shí)現(xiàn)協(xié)調(diào)工作。如圖1所示，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可分為自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment，ATE)、測(cè)試程序集(Test Program Set，TPS)、測(cè)試數(shù)據(jù)集(Test Data Set，TDS)等3個(gè)部分；故障診斷系統(tǒng)由知識(shí)庫(kù)、推理機(jī)、解釋機(jī)制、交互界面構(gòu)成。

表1 射頻指標(biāo)測(cè)試需求

圖3 ZigBee測(cè)試套流程圖

圖1 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖

本課題研究的射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試及故障診斷系統(tǒng)支持多設(shè)備自動(dòng)測(cè)試，如圖2所示，系統(tǒng)使用到的主要測(cè)試儀器包括R&S FSG頻譜儀、R&S SMBV100A矢量信號(hào)發(fā)生器、干擾源等。被測(cè)設(shè)備通過(guò)串口服務(wù)器與測(cè)試PC相連，測(cè)試過(guò)程中PC通過(guò)向被測(cè)設(shè)備發(fā)送指定命令，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)設(shè)備的控制，PC通過(guò)調(diào)節(jié)電子開(kāi)關(guān)的狀態(tài)選擇執(zhí)行測(cè)試任務(wù)的設(shè)備。由于測(cè)試PC與測(cè)試儀器數(shù)據(jù)交互量相對(duì)較大，為了保證數(shù)據(jù)傳輸質(zhì)量，使用Telnet方式進(jìn)行連接。測(cè)試執(zhí)行過(guò)程中，PC通過(guò)交換機(jī)向測(cè)試設(shè)備發(fā)送配置指令，并接收測(cè)試設(shè)備返回的測(cè)試數(shù)據(jù)。測(cè)試前的參數(shù)配置、測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的關(guān)鍵數(shù)據(jù)以及測(cè)試結(jié)束后生成的測(cè)試報(bào)告將通過(guò)交換機(jī)存入數(shù)據(jù)庫(kù)服務(wù)器。

系統(tǒng)使用的Impeller平臺(tái)是基于第三代TDL測(cè)試體系的自動(dòng)化測(cè)試用例集成開(kāi)發(fā)環(huán)境，具有完善的測(cè)試用例開(kāi)發(fā)、調(diào)試、管理、執(zhí)行等功能，同時(shí)支持報(bào)告瀏覽、執(zhí)行環(huán)境設(shè)計(jì)、支撐包開(kāi)發(fā)等功能。自動(dòng)測(cè)試及故障定位代碼使用Ruby語(yǔ)言編寫(xiě)。

2 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)方案

2.1 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

本課題研究的射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試及故障診斷系統(tǒng)ATS部分完成ZigBee、Sub-GHz兩個(gè)射頻協(xié)議38個(gè)測(cè)試項(xiàng)的自動(dòng)測(cè)試，本節(jié)以ZigBee頻譜模板測(cè)試為例詳細(xì)介紹ATS實(shí)現(xiàn)過(guò)程。

圖2 系統(tǒng)硬件拓?fù)鋱D

2.1.1 支撐庫(kù)文件

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)需要兼容不同廠商的多型測(cè)試儀器，以及多種被測(cè)設(shè)備。通用性是自動(dòng)測(cè)試代碼編寫(xiě)過(guò)程中重要的考量因素。將針對(duì)不同儀器的計(jì)算機(jī)指令，以及不同用例中的公用代碼段進(jìn)行封裝形成固定的支撐庫(kù)，將大大降低代碼的維護(hù)更新成本。本自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)過(guò)程主要使用到的支撐庫(kù)文件如表2所示。

表2 支撐庫(kù)文件

圖4 ZigBee頻譜模板測(cè)試流程圖

2.1.2 測(cè)試套文件

測(cè)試套文件是在各個(gè)用例執(zhí)行前運(yùn)行的一段代碼，完成具體測(cè)試用例執(zhí)行之前的準(zhǔn)備工作以及全部用例執(zhí)行完成后的首位工作。ZigBee測(cè)試套實(shí)現(xiàn)流程如圖3所示，系統(tǒng)運(yùn)行開(kāi)始，首先加支撐庫(kù)文件，讀取用戶(hù)入?yún)⒈砀裰械呐渲脭?shù)據(jù)，分析數(shù)據(jù)格式是否正確，并根據(jù)讀取的數(shù)據(jù)選擇測(cè)試頻段，創(chuàng)建相應(yīng)的空白測(cè)試報(bào)告，之后開(kāi)始執(zhí)行用戶(hù)選擇的測(cè)試用例。測(cè)試用例全部執(zhí)行完成后釋放測(cè)試儀器及被測(cè)設(shè)備對(duì)象，發(fā)送郵件后結(jié)束自動(dòng)測(cè)試。

2.1.3 測(cè)試用例文件

測(cè)試用例是自動(dòng)測(cè)試的核心部分，針對(duì)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行具體開(kāi)發(fā)，完成對(duì)設(shè)備和儀器的配置、測(cè)試過(guò)程的設(shè)計(jì)以及數(shù)據(jù)讀寫(xiě)。圖4為ZigBee指標(biāo)頻譜模板自動(dòng)測(cè)試實(shí)現(xiàn)流程圖，測(cè)試用例開(kāi)始執(zhí)行，根據(jù)入?yún)⒈砀裰械倪B接方式調(diào)用匹配的支撐庫(kù)文件連接被測(cè)設(shè)備及頻譜儀；配置被測(cè)設(shè)備使其工作在ZigBee狀態(tài)；PC向FSQ發(fā)送中心頻率、觸發(fā)模式、積分帶寬等配置參數(shù)；被測(cè)設(shè)備開(kāi)啟信號(hào)發(fā)送，穩(wěn)定后讀取頻譜儀OBW、Temp1、Temp2的值；判斷OBW是否符合預(yù)期，若不符合則重新讀取該值；保存此時(shí)頻譜儀顯示波形，測(cè)試數(shù)據(jù)填入測(cè)試報(bào)告；遍歷入?yún)⒈砀裰杏脩?hù)選擇的頻段及發(fā)射功率；按照頻譜模板類(lèi)要求配置頻譜儀參數(shù)，繪制模板；被測(cè)設(shè)備在此發(fā)送制定頻點(diǎn)的信號(hào)，分頻段讀取信號(hào)功率最大值；將此功率值分別回填測(cè)試報(bào)告，保存此時(shí)波形圖像；遍歷用戶(hù)選擇的測(cè)試頻段及發(fā)射功率，結(jié)束發(fā)射機(jī)CE頻譜模板自動(dòng)測(cè)試。

2.2 智能故障診斷系統(tǒng)

本課題研究的故障診斷系統(tǒng)針對(duì)射頻指標(biāo)指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試開(kāi)發(fā)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試問(wèn)題的智能定位。

2.2.1 知識(shí)庫(kù)建立與維護(hù)

知識(shí)庫(kù)是故障診斷知識(shí)的集合，豐富反應(yīng)故障本質(zhì)的領(lǐng)域?qū)＜业慕?jīng)驗(yàn)，經(jīng)知識(shí)處理模塊的處理存儲(chǔ)于知識(shí)庫(kù)中。專(zhuān)家系統(tǒng)知識(shí)庫(kù)由測(cè)試專(zhuān)家進(jìn)行制定和維護(hù)，在診斷系統(tǒng)執(zhí)行過(guò)程中不可修改。近似推理隱式知識(shí)庫(kù)是在診斷系統(tǒng)執(zhí)行過(guò)程中由系統(tǒng)自行操作的知識(shí)庫(kù)文件，無(wú)需人為干預(yù)。本系統(tǒng)利用MySQL數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)知識(shí)進(jìn)行管理，可以方便地進(jìn)行知識(shí)的獲取和維護(hù)，并且能夠較為容易地與系統(tǒng)連接實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的快速傳輸和整理。測(cè)試問(wèn)題診斷表(表3)和故障定位知識(shí)集合(表4)為專(zhuān)家系統(tǒng)知識(shí)庫(kù)兩個(gè)重要的組成部分。近似算法中用到的隱式知識(shí)庫(kù)結(jié)構(gòu)域?qū)＜蚁到y(tǒng)知識(shí)庫(kù)類(lèi)似，只是在維護(hù)更新時(shí)由診斷系統(tǒng)自動(dòng)完成。

2.2.2 推理機(jī)設(shè)計(jì)

推理機(jī)制是故障診斷系統(tǒng)重要的組成部分，系統(tǒng)診斷速度和準(zhǔn)確度與推理機(jī)制的設(shè)計(jì)直接相關(guān)。如圖5所示，本系統(tǒng)推理機(jī)在接收到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)或者手動(dòng)輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)后，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，提取測(cè)試中出現(xiàn)的問(wèn)題，生成固定的測(cè)試問(wèn)題編號(hào)。與專(zhuān)家系統(tǒng)知識(shí)庫(kù)中的問(wèn)題編號(hào)進(jìn)行匹配，如果匹配成功，按照對(duì)應(yīng)的故障編號(hào)輸出故障定位信息以及相應(yīng)的處理建議。如果匹配不成功，則將問(wèn)題編號(hào)與近似算法隱式知識(shí)庫(kù)進(jìn)行匹配，隱式知識(shí)庫(kù)中的知識(shí)是在近似算法執(zhí)行過(guò)程中自動(dòng)生成的，格式與專(zhuān)家系統(tǒng)知識(shí)庫(kù)相同。如果匹配成功則輸出相應(yīng)的診斷結(jié)果及處理建議，如果匹配不成功則啟動(dòng)近似算法進(jìn)行推理，近似算法中使用模糊處理，對(duì)故障編號(hào)進(jìn)行分析，通過(guò)添加或者刪減故障找到與專(zhuān)家系統(tǒng)知識(shí)庫(kù)中最為近似的故障類(lèi)型，并將其診斷結(jié)果作為輸出，完成診斷后，將此診斷結(jié)果作為新的知識(shí)寫(xiě)入近似推理隱式知識(shí)庫(kù)，待測(cè)試專(zhuān)家確認(rèn)后更新專(zhuān)家系統(tǒng)知識(shí)庫(kù)。故障診斷執(zhí)行結(jié)束。

表3 測(cè)試問(wèn)題診斷表

注：?jiǎn)栴}編號(hào)“#”前面的兩位數(shù)值表示射頻指標(biāo)的類(lèi)型，01表示ZigBee，02表示Sub-G，“#”后面的十八位數(shù)值每一位對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)試項(xiàng)，0表示測(cè)試通過(guò)，1表示測(cè)試失敗。

注：該表的故障編號(hào)與測(cè)試問(wèn)題診斷表中故障編號(hào)嚴(yán)格對(duì)應(yīng)

圖5 故障診斷流程圖

2.2.3 解釋機(jī)制設(shè)計(jì)

基于規(guī)則的專(zhuān)家系統(tǒng)中建立解釋機(jī)制是比較簡(jiǎn)單的，只需將相關(guān)規(guī)則找出并將其轉(zhuǎn)化為自然語(yǔ)言的形式呈現(xiàn)在用戶(hù)面前即可。本課題研究的故障診斷系統(tǒng)采用預(yù)制文本與策略解釋法相結(jié)合的解釋機(jī)制，在專(zhuān)家系統(tǒng)運(yùn)行中采用預(yù)制文本的方式將解釋信息以及測(cè)試專(zhuān)家信息與故障診斷編號(hào)對(duì)應(yīng)寫(xiě)入知識(shí)庫(kù)，在診斷完成時(shí)同時(shí)輸出解釋內(nèi)容。診斷系統(tǒng)使用近似算法推理時(shí)的解釋機(jī)制采用策略解釋法，在診斷執(zhí)行完成后輸出近似推理的過(guò)程即增加或忽略測(cè)試問(wèn)題項(xiàng)的過(guò)程以及在專(zhuān)家系統(tǒng)知識(shí)庫(kù)中尋找到的最近似故障信息。

3 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)結(jié)果

3.1 ATS執(zhí)行結(jié)果

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行完成后會(huì)針對(duì)每個(gè)測(cè)試頻段生成詳細(xì)的測(cè)試報(bào)告，該報(bào)告中包括每個(gè)測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果以及必要的過(guò)程數(shù)據(jù)，測(cè)試報(bào)告以圖片的形式保存每項(xiàng)測(cè)試執(zhí)行過(guò)程的信號(hào)波形。圖6為自動(dòng)測(cè)試結(jié)束后測(cè)試報(bào)告的數(shù)值部分，圖7為3 kHz頻譜密度測(cè)試結(jié)束后的波形圖片，圖8為發(fā)射機(jī)CE頻譜模板測(cè)試結(jié)束后的波形圖片。

圖7 3 kHz頻譜密度測(cè)試波形圖

圖8 發(fā)射機(jī)CE頻譜模板測(cè)試波形圖

3.2 FDS執(zhí)行結(jié)果

故障診斷系統(tǒng)針對(duì)射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試中發(fā)射機(jī)CE傳導(dǎo)雜散與發(fā)射機(jī)FCC傳導(dǎo)雜散測(cè)試失敗進(jìn)行故障定位，測(cè)試問(wèn)題編號(hào)為01#000000000000010001，與專(zhuān)家系統(tǒng)知識(shí)庫(kù)進(jìn)行匹配，診斷結(jié)束輸出兩個(gè)可能的故障原因：1，電源不穩(wěn)定或者有壓降，造成發(fā)射性能下降；2，直流信號(hào)流入PA及開(kāi)關(guān)，導(dǎo)致其線性度下降。對(duì)應(yīng)的處理建議為：1，檢查電源部分走線及相關(guān)器件，注意電源走線穿層要多打孔；2，信號(hào)通路上加入隔直電容，阻止直流信號(hào)流入。同時(shí)簡(jiǎn)要輸出該診斷結(jié)果的診斷方式為專(zhuān)家系統(tǒng)，以及該知識(shí)的建立專(zhuān)家姓名及工號(hào)完成診斷工作。

圖9 故障診斷系統(tǒng)執(zhí)行結(jié)果

4 結(jié)論

本課題研究的射頻指標(biāo)自動(dòng)測(cè)試及故障診斷系統(tǒng)針對(duì)通信設(shè)備研發(fā)測(cè)試階段射頻指標(biāo)測(cè)試進(jìn)行開(kāi)發(fā)，ATS部分運(yùn)用基于虛擬儀器技術(shù)的第三代自動(dòng)測(cè)試研發(fā)體系進(jìn)行開(kāi)發(fā)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)ZigBee、Sub-GHz等射頻信號(hào)接口指標(biāo)的快速測(cè)試，較大程度提高了測(cè)試效率；FDS部分主要采用傳統(tǒng)專(zhuān)家系統(tǒng)加模糊算法相結(jié)合的方法實(shí)現(xiàn)故障推理，實(shí)現(xiàn)了對(duì)自動(dòng)測(cè)試問(wèn)題的智能定位。結(jié)果表明自動(dòng)測(cè)試與故障診斷的聯(lián)合研究在通信設(shè)備研發(fā)測(cè)試效率提升方面有較大的應(yīng)用價(jià)值。

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Research on System of Automatic Test and Fault Diagnosis for RF Index

Zhang Yuan，Zhao Zhao

(School of Electronic and Optical Engineering, Nanjing University of Science and Technology, Nanjing 210094, China)

The joint research of automatic test and fault diagnosis has been widely used in the field of electronic equipment. For the problem of low test efficiency of the radio frequency index of communication equipment in development phase and difficult of the test fault location, this paper developed the automatic test system based on virtual instrument and intelligent fault diagnosis system which can be applied to the automatic test of radio frequency index. The knowledge base and reasoning mechanism of expert system are used in the fault diagnosis system. The interpretation mechanism adopts the method of prefabricated text. The actual results show that the system can effectively and accurately complete the automatic test of RF index, and the emerging faults in the testing process has been accurately positioned.

radio frequency index; automatic test; fault diagnosis; expert system

2016-06-27；

2016-07-15。

張 遠(yuǎn)(1991-)，男，山西晉中人，碩士研究生，主要從事自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)方向的研究。

1671-4598(2016)12-0032-05

10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2016.12.010

TP274

A