郭垚峰,周海生,王永明,李 珍
富士康科技集團(tuán)鴻富錦精密電子(鄭州)有限公司,河南 鄭州 450000
電鍍高強(qiáng)度螺絲斷裂分析
郭垚峰,周海生,王永明,李 珍
富士康科技集團(tuán)鴻富錦精密電子(鄭州)有限公司,河南 鄭州 450000
電子產(chǎn)品內(nèi)一批次電鍍緊固螺絲額定扭力裝配后,放置一段時間發(fā)生斷裂.通過外觀和金相觀察、斷口和成分分析及硬度測試等,對螺絲斷裂原因進(jìn)行了研究,并提出了解決方案.結(jié)果表明:該批次螺絲斷口為氫脆特征,基體硬度較高;在采用了雙層電鍍后沒有后續(xù)去氫處理,是螺絲氫脆斷裂的主要原因.
螺絲;斷裂;氫脆;電鍍
螺絲作為最常見的可拆卸緊固件,被稱之為工業(yè)之米.小到手機(jī)、手表,大到飛機(jī)、橋梁,螺絲在日常生活及生產(chǎn)中起著必不可缺的作用.先進(jìn)的螺絲是機(jī)械制造之本,遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出其表面產(chǎn)值,有著四兩撥千斤的效果.正因如此,螺絲的失效破壞也會帶來系統(tǒng)層面的巨大附加損失.
某廠采購一批次電鍍高強(qiáng)度螺絲,用于電子產(chǎn)品裝配.螺絲要求可承受的扭力≥1.2 kgf·cm,在以不大于0.5 kgf·cm額定扭力上緊螺絲,在周圍涂液態(tài)膠固化,室溫下放置數(shù)天后發(fā)現(xiàn)相當(dāng)數(shù)量的螺絲發(fā)生斷裂,結(jié)果造成該批次電子產(chǎn)品報廢.螺絲生產(chǎn)工藝:來料熱處理→螺紋加工→螺絲熱處理(淬火+中溫回火)→表面電鍍(鍍銅+鍍鎳)→檢測→出廠.為找到螺絲斷裂原因并規(guī)避后期風(fēng)險,對該批次失效螺絲進(jìn)行一系列理化檢測.
選取斷口新鮮且完整的失效螺絲一根,使用VHX-600E型3D光學(xué)顯微鏡觀察其宏觀斷口形貌進(jìn)行初步判斷.用HITACHI-SU1510型掃描電子顯微鏡,對螺絲斷口進(jìn)行微觀分析,并結(jié)合HORIBA-EX250型能譜分析儀,對斷口位置的成分進(jìn)行分析.利用ZEISS-Imager.A2m型金相顯微鏡,對螺絲靠近斷口位置基材的組織及螺絲鍍層的結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察.用日本MITUTOYO維氏硬度計,對螺絲基材進(jìn)行顯微硬度測試.設(shè)計液體石蠟浸漬實驗,定性判斷螺絲是否含有超標(biāo)氫.
取失效螺絲于光學(xué)顯微鏡下觀察,如圖1所示.從圖1可見:螺絲斷口呈現(xiàn)很多小亮面,表現(xiàn)出脆斷特征[1];斷裂螺絲周圍藍(lán)色區(qū)域為已固化的固定膠,斷口區(qū)域未發(fā)現(xiàn)殘留膠,說明裂紋出現(xiàn)于涂膠工段后,符合實際中延遲斷裂之特征.
2.1 斷口分析
2.1.1 形貌及金相
圖2為失效螺絲的SEM斷口形貌.從圖2可見,失效螺絲斷口整體為沿晶斷裂,呈冰糖狀,晶界棱線清楚,晶面光滑.同時,螺絲斷口可觀察到較多二次裂紋、微孔與發(fā)紋,呈現(xiàn)出氫脆斷口特征[1].整個斷口面無明顯夾雜、氧化等異常.
圖1 失效螺絲外觀 (a)100×;(b)300×Fig.1 The photo of the failed screw
圖2 失效螺絲斷口微觀特征(a)整體;(b)1區(qū)域;(c)2區(qū)域;(d)3區(qū)域Fig.2 Fracture micrograph of the failed screw(a)entire;(b) area 1;(c) area 2;(d) area 3
圖3為失效螺絲截面金相圖.從圖3可見,螺絲斷口位置與基材組織均為馬氏體位向分布的回火托氏體.該組織綜合性能優(yōu)異,且與螺絲供應(yīng)商標(biāo)稱之熱處理工藝(淬火+中溫回火)對應(yīng),無明顯異常.但需要注意的是,此金相屬于對氫脆較敏感的類型[2].
圖3 失效螺絲截面金相(a)斷口位置; (b)芯部組織Fig.3 Microstructure of the failed screw in cross section(a)fracture location;(b) core structure
2.1.2 成分分析
表1為螺絲斷口位置的能譜(EDS)成分分析結(jié)果.由于螺絲尺寸較小且表面存在鍍層,不適合采用直讀光譜(Spark)、原子發(fā)射光譜(ICP)等手段進(jìn)行成分分析,故對斷口1~3區(qū)域采用EDS法進(jìn)行成分分析.由表1可知,螺絲基材為普通碳鋼,成分無明顯異常.
表1 EDS成分測試結(jié)果
2.2 鍍層分析
為保證螺絲導(dǎo)電及耐蝕性等要求,先后對螺絲表面進(jìn)行了鍍銅-鍍鎳處理.客戶管控規(guī)格為銅層+鎳層總厚度平均值不小于2 μm.實際測試中發(fā)現(xiàn),螺絲螺牙部分鍍層較薄,根部較厚.在斷裂螺絲截面選取五點得平均鍍層厚度為4.1 μm,符合設(shè)計需求.圖4為螺絲之截面切片形貌.從圖4可見,斷裂螺絲螺牙及螺牙根部等位置鍍層連續(xù)且平整,對應(yīng)的螺絲基材亦無明顯缺陷或不良.
圖4 螺絲鍍層分析Fig.4 The coating analysis of the screw
2.3 硬度測試
依據(jù)日標(biāo)JIS Z 2244-2009對失效螺絲進(jìn)行維氏硬度分析,結(jié)果列于表2.由表2可知,螺牙與螺絲位置的硬度無明顯差異,硬度值均在回火托氏體硬度范圍內(nèi),并且符合客戶的要求.
表2 螺絲硬度測試結(jié)果
2.4 去氫檢測
在160~190 ℃溫度下,加熱液體石蠟5 min,以便去除石蠟中殘存的水分.將該批次失效螺絲清洗及干燥后,完全浸沒于石蠟中,大約10 s后螺絲表面出現(xiàn)少量的氣泡.這說明,螺絲中存在一定量的氫[3],亦證明了螺絲氫脆斷裂之判斷.
對失效螺絲的金相、硬度、鍍層及成分分析均未發(fā)現(xiàn)異常,裝配操作恰當(dāng)并保留了足夠的安全系數(shù).螺絲斷口呈現(xiàn)冰糖狀沿晶斷裂,斷口無夾雜等缺陷,為氫脆之典型特征.
實際考察失效螺絲生產(chǎn)工藝,發(fā)現(xiàn)其經(jīng)兩道電鍍處理后卻未進(jìn)行去氫處理,結(jié)合到失效螺絲延遲斷裂的特征[4],可以認(rèn)定其失效原因為電鍍導(dǎo)致的氫脆.由GB/T 3098.17-2000緊固件機(jī)械性能標(biāo)準(zhǔn)中檢測氫脆用預(yù)載荷試驗—平行支承面法(等效于ISO 15330:1999)推薦的檢查螺絲室溫條件發(fā)生氫脆的試驗方法可知,預(yù)載荷試驗的靈敏度取決于試驗的開始時間,通常這種試驗應(yīng)盡快進(jìn)行,即最好在制造過程結(jié)束后的24 h內(nèi)進(jìn)行.鑒于本批次螺絲出廠時間較久,且相當(dāng)數(shù)量螺絲已發(fā)生斷裂,進(jìn)行預(yù)載實驗已失去意義,故并未進(jìn)行該項檢測.
材料強(qiáng)度越大,其氫脆敏感性也越大[5].由于鋼材強(qiáng)度與硬度有很好的對應(yīng)關(guān)系,因此實踐中通常會用材料的硬度來判斷材料氫脆敏感性.根據(jù)GB/T 5267.1-2002緊固件電鍍層的要求,緊固件的表面硬度大于320HV時,推薦采取合理的工藝設(shè)計并進(jìn)行氫脆測試;當(dāng)硬度超過365HV時,推薦供需雙方明確協(xié)議,進(jìn)一步減少氫脆發(fā)生風(fēng)險.本文中所測試高強(qiáng)螺絲基材硬度達(dá)400HV,屬于需要特別去氫的類別.供應(yīng)商并未進(jìn)行相關(guān)操作,進(jìn)而導(dǎo)致了該批次產(chǎn)品的報廢.
氫脆是材料常見缺陷之一,導(dǎo)致氫脆通常需要兩個必要條件[6],一是必須有氫的發(fā)生源,二是對象金屬需對氫敏感.本例中的電鍍工藝是失效螺絲氫的主要來源,理論上由于水分子的離解,在電鍍過程中電鍍?nèi)芤夯蚨嗷蛏侔橛形鰵涞母狈磻?yīng)發(fā)生[7].相關(guān)研究表明,氫在金屬內(nèi)可能以間隙原子(后期會聚集為氫氣[8])、氫化物、甲烷氣體[9]等形式存在,它們的共同特點是均會引起金屬晶界結(jié)合力降低[10]及材料內(nèi)應(yīng)力增大[11].由于氫脆與氫原子的擴(kuò)散有關(guān),而擴(kuò)散需要時間,故氫脆通常表現(xiàn)為延遲斷裂[12].本例中回火托氏體鋼屬于常見易吸氫材質(zhì),理論上活性排在氫之前的金屬都可能發(fā)生氫脆,酸性環(huán)境電鍍的材質(zhì)更應(yīng)特別注意.
實踐中通??梢酝ㄟ^以下途徑避免和消除氫脆[5].(1)原料控制:緊固件材料表面缺陷,如微裂紋、蝕坑、超標(biāo)脫碳層等,都可能產(chǎn)生局部應(yīng)力集中,給后期電鍍埋下隱患.(2)電鍍前處理:在除氧化皮時建議盡量采用吹砂等工藝除銹,必須采用酸洗時需在酸洗液中添加緩蝕劑,每次酸洗時間應(yīng)嚴(yán)格控制.(3)電鍍工藝控制:在電鍍時選用堿性鍍液或高電流效率的鍍液,其滲氫量較少[13].(4)去氫工藝:氫原子半徑小,在鋼鐵材料中擴(kuò)散速度快[5],對可能出現(xiàn)氫脆的電鍍件,可在真空或惰性氣氛中200~240 ℃下加熱2~4 h去氫,具體的處理溫度和時間應(yīng)根據(jù)零件大小、強(qiáng)度、鍍層性質(zhì)及電鍍時間的長短而定,去氫加熱在電鍍后1 h(最慢3 h)內(nèi)進(jìn)行效果最佳,因為隨著時間的延長氫會逐漸向零件芯部擴(kuò)散,去氫加熱注意不要影響材料基體力學(xué)性能且顧及鍍層的強(qiáng)度,尤其不能在某些鋼材的回火脆性區(qū)加熱.
通過對失效的高強(qiáng)電鍍螺絲斷裂原因分析發(fā)現(xiàn),螺絲沿晶、延遲斷裂,是氫脆的典型特征,而材料氫脆屬于緊固件嚴(yán)重的質(zhì)量問題.螺絲供應(yīng)商電鍍后沒有進(jìn)行去氫操作,是造成螺絲失效的主要原因,可通過原料控制、電鍍前處理、電鍍工藝控制及去氫工藝等途徑避免和消除氫脆.
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Fracture analysis of electroplate high strength screw
GUO Yaofeng,ZHOU Haisheng,WANG Yongming,LI Zhen
HongFujinPrecisionElectronics(Zhengzhou)Co.,Ltd.,Zhengzhou450000,China
Abatchofelectroplatescrewsforelectronicproductsfracturedduringaperiodoftimeafterassemblageintheratingforce.Throughvisualinspection,fractureanalysis,chemicalcompositionanalysis,metallographicmicrostructureandhardnesstest,thecrackreasonofthescrewandthesolutionwillbeproduced.Theresultsshowsthatthescrewswithahigherhardness,andhavethefeatureofhydrogeninduceddelayedfracture,whichmeansthehydrogenhadbeennoteliminatedaftertwiceelectroplates.
screw;fracture;hydrogenembrittlement;electroplate
2016-08-27
郭垚峰(1987-),男,河南新鄉(xiāng)人,碩士.
1673-9981(2016)04-278-05
TG178
A