劉慶彬 蔚翠 何澤召 王晶晶 李佳 蘆偉立 馮志紅
(河北半導體研究所,專用集成電路國家級重點實驗室,石家莊050051)
藍寶石襯底上化學氣相沉積法生長石墨烯
劉慶彬蔚翠何澤召王晶晶李佳蘆偉立馮志紅*
(河北半導體研究所,專用集成電路國家級重點實驗室,石家莊050051)
化學氣相沉積(CVD)法是制備大面積、高質(zhì)量石墨烯材料的主要方法之一,但存在襯底轉(zhuǎn)移和碳固溶等問題,本文選用藍寶石襯底彌補了傳統(tǒng)CVD法的不足。利用CVD法在藍寶石襯底上生長石墨烯材料,研究生長溫度對石墨烯表面形貌和晶體質(zhì)量的影響。原子力顯微鏡(AFM)、光學顯微鏡(OM)、拉曼光譜和霍爾測試表明,低溫生長有利于保持材料表面的平整度,高溫生長有利于提高材料的晶體質(zhì)量。研究氫氣和碳源對藍寶石襯底表面刻蝕作用機理,發(fā)現(xiàn)氫氣對藍寶石襯底有刻蝕作用,而單純的碳源不能對襯底產(chǎn)生刻蝕效果。在1200°C下,直徑為50mm的晶圓級襯底上獲得平整度和質(zhì)量相對較好的石墨烯材料,室溫下載流子遷移超過1000cm2?V-1?s-1。
石墨烯;藍寶石;化學氣相沉積法;生長溫度;刻蝕機理
藍寶石單晶材料屬于六方晶系,具有電絕緣、易導熱、硬度高和價格低廉的特點,因此經(jīng)常用來作為集成電路的襯底材料。藍寶石如此優(yōu)良的特性使得它成為制備石墨烯材料的理想選擇,近幾年,國際上已有數(shù)個研究小組開展了藍寶石襯底上石墨烯材料生長研究,并取得了一定的進展。2010年,Hwang7和Maeda8研究組在沒有金屬催化劑的條件下,分別采用CVD法和分子束外延(MBE)法,直接在藍寶石襯底上生長出薄層石墨化碳材料,證明藍寶石襯底上生長石墨烯材料具有可行性。2011年,F(xiàn)anton等9采用CVD法在藍寶石襯底獲得了1-2層的石墨烯材料,并研究了在碳源濃度(碳源氣體流量與載氣流量比值)為0.5%時,生長溫度對石墨烯材料的影響。2013年,Hwang等10發(fā)現(xiàn),當碳源濃度低于0.6%時,獲得的石墨烯材料為P型。該研究組生長出的石墨烯材料拉曼光譜測試結(jié)果顯示,ID/IG小于0.05,2D峰半高寬(簡記為2D-FWHM)僅為33 cm-1,材料質(zhì)量與Cu箔上生長的水平相當11,這說明藍寶石襯底上采用CVD法生長石墨烯材料具有潛在的研究價值和應用前景。此外,F(xiàn)anton等9研究發(fā)現(xiàn),在高溫下,碳源氣體裂解出的C原子與藍寶石襯底表面O原子結(jié)合生成CO,C原子對藍寶石襯底有刻蝕作用,隨著生長溫度的提高,刻蝕作用增強,導致石墨烯材料表面平整度變差。Wang等12發(fā)現(xiàn),提高氫氣流量與碳源氣體流量的比值,可有效降低石墨烯材料中缺陷峰(D峰)的積分強度。削弱C原子對藍寶石襯底表面的刻蝕作用,提高石墨烯材料表面平整度,減少石墨烯材料缺陷,是實現(xiàn)藍寶石襯底上CVD法制備高質(zhì)量石墨烯材料的前提。降低石墨烯材料生長過程中碳源濃度是有效方法之一。本文采用低碳源濃度(0.01%)制備藍寶石襯底上外延石墨烯材料,研究生長溫度對石墨烯表面形貌和晶體質(zhì)量的影響,并分析了氫氣和碳源對藍寶石襯底表面刻蝕作用機理,最后對材料的電學性能和均勻性進行表征。
在本文中,選用直徑為50mm的c面藍寶石襯底。在外延生長之前,把藍寶石襯底放入無水乙醇中沸煮10m in,然后用去離子水沖洗干凈,并用高純氮氣槍吹干,通過推桿將襯底送入反應室。藍寶石襯底置于反應腔中部,整個設(shè)備與計算機連接,對生長溫度進行精確控制,保障石墨烯材料生長的穩(wěn)定性和可重復性。我們在實驗中采用丙烷作為碳源,氫氣作為載氣,丙烷流量為1m L?m in-1,氫氣流量為1×104m L?m in-1。生長溫度為1000°C至1400°C,溫度間隔為100°C,生長壓力為3×104Pa,生長時間為60min。材料生長過程如圖1所示,襯底被送入CVD反應爐后,依次經(jīng)過加熱、生長和降溫三個階段。
材料生長后采用原子力顯微鏡(AFM)、光學顯微鏡(OM)、拉曼光譜(Raman)和霍爾(Hall)測試系統(tǒng)進行表征。其中,Raman測試結(jié)果是在室溫下采集,波長為514.5nm。
圖1 石墨烯生長流程圖Fig.1 Flow char t of graphene grow th RT:room temperature
3.1生長溫度對石墨烯的影響
圖2為藍寶石襯底上不同溫度下生長的石墨烯的AFM照片。生長前,藍寶石襯底表面平坦,10μm×10μm區(qū)域粗糙度僅為0.3 nm(圖2(a))。在1000°C(圖2(b))和1100°C(圖2(c))下,樣品表面整體平坦,說明此時C原子對藍寶石襯底的刻蝕作用很弱。其中在1100°C下,樣品表面有大量褶皺和少量小顆粒,類似于C面SiC襯底高溫升華法制備的石墨烯表面形貌13。這些褶皺和小顆??赡苁窃诘蜏?1100°C)下,C原子在藍寶石襯底表面重構(gòu),沒有充分地在藍寶石襯底表面形成均勻的sp2雜化,而是有部分C原子堆垛形成亂層顆?;蛘邿o定形碳等結(jié)構(gòu)。當生長溫度為1200°C時(圖2(d)),表面出現(xiàn)晶向相對一致的臺階,臺階平均寬度為0.5μm,此時10μm×10μm區(qū)域粗糙度為0.8 nm。臺階的形成是由于氫氣和碳源對藍寶石襯底刻蝕作用導致的9,說明1200°C時C原子對藍寶石襯底開始產(chǎn)生刻蝕作用。1300°C時(圖2(e)),C原子對襯底刻蝕作用進一步增強,樣品表面出現(xiàn)大量的小尺寸的坑。1400°C時(圖2(f)),刻蝕作用明顯增強,材料表面形成寬大的臺階,坑的尺寸明顯變大、變深,直徑達到5-8μm,深度為10-20nm,表面整體平坦度很差,30μm×30μm區(qū)域粗糙度達7.5nm。從圖2中可以看出,生長溫度較低時,樣品表面平整度較好,隨著溫度的提高,C原子刻蝕作用明顯增強,降低了材料表面平整度。由此可見,低溫生長有利于保持材料表面的平整度。
圖2 藍寶石襯底生長石墨烯的AFM平面圖Fig.2 AFMimagesof sam plesat differentgrow th tem peratures (a)before grow th;(b)1000°C;(c)1100°C;(d)1200°C;(e)1300°C;(f)1400°C.(a-e)scalebar is0-10nm,(f)scale bar is0-50nm.
圖3(a)是藍寶石襯底上不同溫度下生長的石墨烯的Raman光譜圖,五個樣品的測試環(huán)境和曝光時間相同。從Raman光譜可以看出:生長溫度在1000-1400°C時,襯底表面都形成了石墨烯。對1200-1400°C條件下Raman光譜的2D峰進行洛倫茲擬合,發(fā)現(xiàn)均為單峰(圖3(b)),且I2D/IG比值在3-4之間(圖3(c)),說明我們在藍寶石襯底表面生長的石墨烯薄膜為單層。Wang等14對撕拉法制備石墨烯材料測試發(fā)現(xiàn),在相同測試條件下,石墨烯層數(shù)越多,G峰積分強度越大。圖3(a)中1000-1200°C條件下,G峰的積分強度隨生長溫度升高而增強,說明石墨烯材料覆蓋率一直在增加;1200-1400°C下G峰的積分強度沒有明顯變化,說明較高溫條件下生長的都是單層石墨烯,與圖3 (b)結(jié)果一致。
在較低的生長溫度1000-1100°C時,石墨烯缺陷峰D峰較大,如圖3(c)所示,ID/IG比值均大于1,表明此時石墨烯缺陷較多,這是由于生長溫度低,C原子自由能低,成鍵能力較差導致的。圖3 (a)和圖3(c)顯示,隨著生長溫度的提高,D峰逐漸變小,ID/IG比值降低,而且2D峰逐漸增強,表明石墨烯缺陷降低。生長溫度為1200°C時,ID/IG大約為0.6,根據(jù)經(jīng)驗公式15L a=(2.4×10-10)×λ4× (ID/IG)-1,其中λ為514.5nm,此時,完美的石墨烯晶格尺寸約為28 nm。此外,1300-1400°C時,ID/ IG比值高于1200°C時的結(jié)果,結(jié)合之前AFM形貌分析,說明坑的出現(xiàn)導致材料表面缺陷增加。圖3 (d)中2D-FWHM隨溫度提高而降低,是因為C原子自由能隨溫度提高而增加,有利于C原子在襯底表面重構(gòu)形成石墨烯,獲得的石墨烯晶體質(zhì)量變好。在1400°C時,C原子自由能最高,晶體質(zhì)量最好,2D-FWHM均值為36.7 cm-1。從以上分析看出,生長溫度越高,越有利于石墨烯晶體質(zhì)量的提高。
3.2氫氣和碳源對藍寶石襯底表面刻蝕作用機理
圖3 (a)不同生長溫度下樣品的Raman光譜;(b)1200-1400°C條件下Raman光譜的2D峰洛倫茲擬合結(jié)果; (c)不同生長溫度下ID/IG和I2D/IG結(jié)果;(d)2D-FWHM結(jié)果Fig.3(a)Raman spectra of samp lesat differentgrow th temperatures;(b)Lorentzian fitof 2D-peak of samp lesunder 1200-1400°C;(c)ratio of ID/IGand I2D/IGofsam plesat differentgrow th tem peratuers; (d)resultof fullw idth athalfmaximum of 2D peak(2D-FWHM)
圖4 樣品的AFM和OM表征Fig.4AFMand OMcharacterization of sam p les (a)1200°C,annealfor60min inH2environment;(b)1200°C,grow th for60min inH2environment;(c)1200°C,grow th for60minw ithoutH2; (d)cleanedby deionizedwaterofsample;(a,b,d)scalebaris0-2nm.
我們研究了氫氣和碳源對藍寶石襯底表面刻蝕作用機理。對生長后樣品5μm×5μm區(qū)域進行AFM表征。圖4(a)為藍寶石襯底在1200°C下,氫氣環(huán)境熱退火60m in后表面形貌。從圖中可以看出,襯底表面形成了臺階形貌,說明氫氣氣氛對藍寶石襯底有刻蝕作用。圖4(b)為1200°C下,氫氣環(huán)境,生長時間為60m in的石墨烯表面形貌。樣品表面仍然有臺階出現(xiàn),但是臺階上有鋸齒狀形貌出現(xiàn),粗糙度從0.5nm(圖4(a))上升到0.6nm (圖4(b)),這說明在氫氣環(huán)境下,碳源中的C原子也參與了對襯底表面的刻蝕作用,與之前報道9,10,16的結(jié)果一致。圖4(c)為1200°C下,未通入氫氣,直接通入碳源生長60m in的樣品表面形貌。從光學顯微鏡照片可以看到,樣品表面形成了碳化薄膜,有大量褶皺,粗糙度很大。使用去離子水清洗該樣品,表面碳化薄膜被沖洗掉。對清洗后的襯底進行AFM測試,如圖4(d),襯底表面平坦均勻,粗糙度為0.16nm,與未生長的藍寶石襯底形貌和粗糙度一致,這說明在1200°C下,在沒有氫氣氣氛的環(huán)境下,單純的碳源不能對襯底產(chǎn)生刻蝕效果,這在之前的文獻9,10,16中并沒有報道。一種可能的解釋是,在1200°C下,由于沒有氫氣中H原子的參與,碳源氣體中的C原子不能發(fā)生還原10,16(carbon thermal reduction)過程,不能和藍寶石襯底表面O原子結(jié)合形成CO,即碳源氣體中的C原子與襯底之間沒有發(fā)生化學過程,僅僅是裂解出來的自由C原子在襯底表面的物理吸附。此外,F(xiàn)anton9和Hwang10等通過X光電子能譜(XPS)測試發(fā)現(xiàn),藍寶石表面石墨烯層與襯底沒有形成化學鍵,二者之間是范德華力連接,該結(jié)果解釋了圖4(c)中藍寶石襯底表面的碳化薄膜很容易被去離子水清洗掉,裸露出圖4(d)中平坦均勻的藍寶石襯底表面形貌。
圖5 (a)直徑為50mm的晶圓級藍寶石襯底上石墨烯的照片;(b)B=5T時不同溫度下生長的晶圓級石墨烯樣品非接觸霍爾測試;(c)生長樣品的ID/IG比值的Ram an-mapp ing;(d)生長樣品方塊電阻Mapping測試Fig.5(a)Opticm icroscope photograph ofgrapheneon a sapphirewafer w ith diameter of 50mm;(b)Hall resu ltof sam ples w ith B of 5T at differentgrow th temperatures;(c)Raman-mapping of the ratio of ID/IGof the sam plegrow th; (d)Mapp ing of the sheet resistance of the sam p le grow th (c)the scanning area is20μm×20μm;(c,d)T=1200°C
3.3石墨烯電學性能和均勻性表征
圖5(a)所示為直徑為50mm的晶圓級藍寶石襯底上石墨烯材料。對1000-1400°C生長的石墨烯材料進行非接觸霍爾測試(圖5(b)),1000°C生長的為高阻,這是由于石墨烯生長不連續(xù),與圖3結(jié)果一致。1000°C以上樣品遷移率在500-1100cm2?V-1?s-1之間,說明石墨烯材料連續(xù),覆蓋襯底表面。室溫下,1200°C生長的石墨烯遷移率最高為1024cm2?V-1?s-1,面密度為6.73×1012cm-2,載流子為空穴。對1200°C生長樣品進行Raman-mapping測試分析,如圖5(c)所示,樣品表面20μm× 20μm區(qū)域內(nèi)70%以上的ID/IG比值在0.6-0.7之間,88%的2D-FWHM在42-48 cm-1之間。對該樣品方塊電阻進行Mapping測試,如圖5(d)所示,材料大部分區(qū)域的方塊電阻在990-1040Ω?□-1之間。綜合ID/IG比值和方塊電阻Mapping,說明我們獲得的石墨烯材料具有較好的均勻一致性。
利用化學氣相沉積方法,在藍寶石襯底上生長石墨烯材料。研究生長溫度對石墨烯表面形貌和晶體質(zhì)量的影響,發(fā)現(xiàn)低溫生長有利于保持材料表面的平整度,高溫生長有利于提高材料晶體質(zhì)量。研究氫氣和碳源對藍寶石襯底表面刻蝕作用機理,發(fā)現(xiàn)在高溫下氫氣對藍寶石襯底有刻蝕作用,而單純的碳源不能對襯底產(chǎn)生刻蝕效果。1200°C下生長的石墨烯材料具有相對較好的晶體質(zhì)量、表面平整度和電學特性。晶圓級石墨烯載流子遷移率最高為1024cm2?V-1?s-1。
傳統(tǒng)CVD法制備石墨烯采用Ni、Cu等催化金屬,其生長利用了金屬碳高溫溶解和低溫析出的原理,存在碳固溶的問題。藍寶石襯底表面致密,碳源氣體中的C原子很難進入襯底內(nèi)部,不存在碳固溶的問題。而且,藍寶石表面生長的石墨烯材料無需進行襯底轉(zhuǎn)移,避免了轉(zhuǎn)移過程中引入的雜質(zhì),界面和摻雜電荷等散射源。此外,藍寶石表層石墨烯與襯底之間沒有強相互作用力,有利于保持石墨烯本身優(yōu)良的電學特性。因此,藍寶石襯底CVD法生長石墨烯在材料制備及應用領(lǐng)域具有非常高的價值。
References
(1)Novoselov,K.S.;Geim,A.K.;Morozov,S.V.;Jiang,D.; Zhang,Y.;Dubonos,S.V.;Grigorieva,I.V.;Firsov,A.A. Science2004,306(5696),666.doi:10.1126/science.1102896
(2)Geim,A.K.;Novoselov,K.S.Nat.Mater.2007,6,183.doi: 10.1038/nmat1849
(3)Li,X.S.;Cai,W.W.;An,J.;Kim,S.;Nah,J.;Yang,D.X.; Piner,R.;Velamakanni,A.;Jung,I.;Tutuc,E.;Banerjee,S.K.; Colombo,L.;Ruoff,R.S.Science 2009,324(5932),1312. doi:10.1126/science.1171245
(4)Bae,S.;Kim,H.;Lee,Y.B.;Xu,X.F.;Park,J.S.;Zheng,Y.; Balakrishnan,J.;Lei,T.;Kim,H.R.;Song,Y.,II.;Kim,Y.J.; Kim,K.S.;?zyilmaz,B.;Ahn,J.H.;Hong,B.H.;Iijima,S. Nat.Nanotechnol.2010,5,574.doi:10.1038/nnano.2010.132
(5)Li,X.S.;Cai,W.W.;Colombo,L.;Ruoff,R.S.Nano Lett. 2009,9(12),4268.doi:10.1021/nl902515k
(6)Bi,H.;Huang,F.Q.;Zhao,W.;Lü,X.J.;Chen,J.;Lin,T.Q.; Wan,D.Y.;Xie,X.M.;Jiang,M.H.Carbon 2012,50(8), 2703.doi:10.1016/j.carbon.2012.02.027
(7)Hwang,J.;Shields,V.B.;Thomas,C.I.;Shivaraman,S.;Hao, D.;Kim,M.;Woll,A.R.;Kim,M.;Spencer,M.G.J.Cryst. Grow.2010,312(21),3219.doi:10.1016/j. jcrysgro.2010.07.046
(8)Maeda,F.;Hibino,H.Jpn.J.Appl.Phys.2010,49(4), 04DH13.doi:10.1143/JJAP.49.04DH13
(9)Fanton,M.A.;Robinson,J.A.;Puls,C.;Liu,Y.;Hollander,M. J.;Weiland,B.E.;LaBella,M.;Trumbull,K.;Kasarda,R.; Howsare,C.;Stitt,J.;Snyder,D.W.ACSNano 2011,5(10), 8062.doi:10.1021/nn202643t
(10)Hwang,J.;Kim,M.;Campbell,D.;A lsalman,H.A.;Kwak,J. Y.;Shivaraman,S.;Woll,A.R.;Singh,A.K.;Hennig,R.G.; Gorantla,S.;Rümmeli,M.H.;Spencer,M.G.ACSNano 2013,7(1),385.doi:10.1021/nn305486x
(11)Robinson,J.A.;Wetherington,M.;Tedesco,J.L.;Campbell,P. M.;Weng,X.;Stitt,J.;Fanton,M.A.;Frantz,E.;Snyder,D.; VanMil,B.L.;Jernigan,G.G.;Myers-Ward,R.L.;Eddy,C. R.,Jr.;Gaskill,D.K.Nano Lett.2009,9(8),2873.doi: 10.1021/nl901073g
(12)Wang,G.;Zhang,M.;Zhu,Y.;Ding,G.Q.;Jing,D.;Guo,Q. L.;Liu,S.;Xie,X.M.;Chu,P.K.;Di,Z.F.;Wang,X.Sci. Rep.-UK 2013,3:2465.doi:10.1038/srep02465
(13)Srivastava,N.;He,G.W.;Feenstra,R.M.;Fisher,P.J.Phys. Rev.B 2010,82,235406.doi:10.1103/PhysRevB.82.235406
(14)Wang,Y.Y.;Ni,Z.H.;Shen,Z.X.;Wang,H.M.;Wu,Y.H. Appl.Phys.Lett.2008,92(4),043121.doi:10.1063/1.2838745
(15)Canc,L.G.;Takai,K.;Enoki,T.;Endo,M.;Kim,Y.A.; Mizusaki,H.;Jorio,A.;Coelho,L.N.;Magalhaes-Paniago, R.;Pimenta,M.A.Appl.Phys.Lett.2006,88(16),163106. doi:10.1063/1.2196057
(16)Wang,S.;Lara,F.D.S.;Wurstbauer,U.;Wang,L.;Pfeiffer,L. N.;Hone,J.;Garcia,J.M.;Pinczuk,A.Solid State Commun. 2014,189,15.doi:org/10.1016/j.ssc.2014.03.008
Epitaxial Graphene on Sapphire Substrate by Chemical Vapor Deposition
LIU Qing-Bin YU Cui HE Ze-Zhao WANG Jing-Jing LIJia LUWei-Li FENG Zhi-Hong*
(National Key Laboratory ofApplication Specific Integrated Circuit,HebeiSemiconductorResearch Institute, Shijiazhuang 050051,P.R.China)
Epitaxialgraphene by chem icalvapor deposition(CVD)is one of themainmethods to fabricate high-quality wafer-sca le graphenematerials.However,CVD-grown graphene onmeta lsubstrates has some disadvantages,such as the need for a transfer process and carbon atom s dissolved into themetalsubstrate. In this w ork,w e evalua te sapphire substrates to overcome those disadvantages.The morphology and crystal quality of the samples grown atdifferent tem peratureswere characterized by atom ic forcem icroscopy(AFM), opticalm icroscopy(OM),Raman spectroscopy,and a Hallmeasurementsystem.To ease the etching process of carbon atom s to the substrate,we adopta very low carbon concentra tion of0.01%.AFMand Ram an results show that the surfacemorphologies ofsamples grown at lower temperatureswere smoother,whereas the quality of sam p les grown athigher tem peratures w as better.The sapphire substrate was e tched in an H2environment, while itwas notetched only by carbon source without H2environment.Epitaxia lgraphene with flat surface morpho logy and good crystalquality was p repared on a c-p lane sapphire substrate(diameter:50mm)ata g row th tem pera tu re of1200°C.The carrierm obility is above 1000cm2?V-1?s-1a t room tem pera ture.
Graphene;Sapphire;Chem icalvapor deposition;Grow th temperature;Etchingmechanism
2004年英國曼徹斯特大學Novoselov1首次成功制備并觀測到石墨烯,引起了學術(shù)界的廣泛關(guān)注。石墨烯以其優(yōu)異的熱力學、光學和電學特性2成為當前國際研究熱點之一。石墨烯材料的制備技術(shù)是研究其性能和探索其應用的基礎(chǔ)前提。在眾多的材料制備方法中,過渡金屬表面化學氣相沉積(CVD)法3可以實現(xiàn)大面積和高質(zhì)量的石墨烯材料的制備。該方法的特點是成本低、工藝簡單并適合大規(guī)模工業(yè)化生長。但在催化金屬襯底上CVD法生長石墨烯材料仍存在兩個問題,第一,生長的石墨烯材料需要轉(zhuǎn)移到絕緣襯底上,轉(zhuǎn)移過程中不可避免地引入光刻膠殘余物、雜質(zhì)和晶格缺陷4等。第二,碳在催化金屬襯底表面高溫生長過程中存在一定的碳固溶現(xiàn)象5,在降溫過程中碳原子從催化金屬內(nèi)部偏析至表面,導致石墨烯材料質(zhì)量和均勻性降低。目前在碳固溶度最低的Cu箔襯底上生長的最好的石墨烯材料還存在5%的雙層或多層結(jié)構(gòu)6。因此,CVD法生長石墨烯材料研究亟需一種新型絕緣襯底,既無需襯底轉(zhuǎn)移,又避免碳固溶現(xiàn)象,藍寶石襯底可能是解決該問題的一種有效選擇。
September28,2015;Revised:December14,2015;Published onWeb:December18,2015.
O646
10.3866/PKU.WHXB201512183
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