郭松梅（重慶能源職業(yè)學(xué)院，401321）

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淺析微電子電路的校準(zhǔn)技術(shù)和自動(dòng)測(cè)試

郭松梅
（重慶能源職業(yè)學(xué)院，401321）

摘要：隨著社會(huì)的不斷進(jìn)步，無(wú)論是工廠(chǎng)的大型電器設(shè)備還是日常生活的家用電器都會(huì)使用到微電子電路技術(shù)，微電子電路是一種以多種半導(dǎo)體器件為基礎(chǔ)的高新電子技術(shù)集成電路，其具有體積小、重量輕、可靠性高、工作速度快等多種特點(diǎn)。為了確保具有微電子電路的電器的質(zhì)量，我們必須對(duì)其進(jìn)行嚴(yán)格檢測(cè)，從而達(dá)到對(duì)其進(jìn)行質(zhì)控的目標(biāo)。為了確保電器設(shè)備中微電子電路的安全可靠性，本文主要針對(duì)微電子電路的校準(zhǔn)技術(shù)和自動(dòng)測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了研究，全文分為五個(gè)部分：第一部分引言對(duì)微電子電路進(jìn)行了介紹；第二部分分析了微電子電路研究的重要性；第三部分介紹了微電子電路的檢測(cè)方法；第四部分對(duì)探索了微電子電路的測(cè)試和校準(zhǔn)的具體方法；第五部分對(duì)全文進(jìn)行了總結(jié)。同時(shí)筆者也希望通過(guò)此次研究能夠更好的推動(dòng)我國(guó)微電子電器設(shè)備的發(fā)展，促進(jìn)我國(guó)微電子技術(shù)的進(jìn)步。

關(guān)鍵詞：微電子電路；校準(zhǔn)技術(shù)；測(cè)試技術(shù)

0 引言

隨著科技的迅猛發(fā)展，計(jì)算機(jī)技術(shù)、電子信息技術(shù)、自動(dòng)化技術(shù)不斷融合，這些高新技術(shù)共同成為了當(dāng)今社會(huì)科學(xué)技術(shù)的重要支柱?，F(xiàn)如今，任何科學(xué)領(lǐng)域的新技術(shù)的研發(fā)必然與這些技術(shù)有著很大的聯(lián)系，正是這些技術(shù)共同推動(dòng)著我國(guó)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步。微電子技術(shù)作為其中一門(mén)重要技術(shù)，其在各種電器產(chǎn)品之中的深入應(yīng)用，對(duì)我們?nèi)粘Ｉ詈凸ぷ魃a(chǎn)帶來(lái)了非常大的變化。同時(shí)，為了確保微電子電路技術(shù)的電器產(chǎn)品質(zhì)量良好，我們必須對(duì)微電子電路進(jìn)行校準(zhǔn)與測(cè)試，運(yùn)用校準(zhǔn)技術(shù)和自動(dòng)測(cè)試技術(shù)保證以微電子電路為基礎(chǔ)的家電的質(zhì)量?jī)?yōu)良。

1 微電子電路的重要性

當(dāng)前，隨著社會(huì)科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，無(wú)論是工廠(chǎng)的大型設(shè)備還是日常生活的家用電器都會(huì)適應(yīng)帶為電子電路技術(shù)，為了保證這些商品的質(zhì)量，我們不想確保這些商品微電子電路合格優(yōu)良，利用測(cè)試技術(shù)達(dá)到質(zhì)量控制了目的。在過(guò)去的十多年中，我們對(duì)于電器設(shè)備的質(zhì)量控制有了很大的進(jìn)步，但是還是存在一些問(wèn)題，比如，設(shè)備自身的質(zhì)量問(wèn)題，即檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性；有的檢測(cè)設(shè)備還需要跟進(jìn)具體情況變形檢測(cè)程序方可檢測(cè)；檢測(cè)方法過(guò)于繁瑣，檢測(cè)不及時(shí)。正是因?yàn)檫@些問(wèn)題的存在，我們更需要一個(gè)科學(xué)各科的測(cè)試和校準(zhǔn)方法，確保及時(shí)準(zhǔn)確對(duì)電子電路進(jìn)行檢測(cè)和校驗(yàn)。

2 當(dāng)前微電子電路的檢測(cè)

就當(dāng)前的校準(zhǔn)技術(shù)而言，為了確保測(cè)試軟件對(duì)微電子電路檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性，我們往往會(huì)采用三家測(cè)試結(jié)果比對(duì)和一票否決的檢測(cè)方法。當(dāng)?shù)牵@樣的檢測(cè)方法在確保了檢測(cè)結(jié)果的相對(duì)準(zhǔn)確的情況下，很大程度上增加了企業(yè)管理環(huán)節(jié)與生產(chǎn)環(huán)節(jié)的成本支出，降低了產(chǎn)品的生產(chǎn)效率，影響到企業(yè)的根本經(jīng)濟(jì)效益。為了確保微電子電路電器商品質(zhì)量能夠達(dá)標(biāo)，我們必須根據(jù)商品微電子電路的實(shí)際情況進(jìn)行實(shí)際測(cè)試。此時(shí)，檢測(cè)軟所選用的檢測(cè)方式、測(cè)試復(fù)蓋率和測(cè)試驗(yàn)證等幾方面則是檢測(cè)的重點(diǎn)，也是微電子電路自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究的一大重點(diǎn)。

3 微電子電路自動(dòng)測(cè)試與校準(zhǔn)技術(shù)的探討

3.1微電子電路校準(zhǔn)依據(jù)與方法研究

目前，對(duì)于微電子電路的檢測(cè)還未形成一個(gè)系統(tǒng)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。除了三十多種電路測(cè)試方法的基本原理，為了確保檢測(cè)結(jié)果的完整性、準(zhǔn)確性和一致性，還需要與這三十多種檢測(cè)方法搭配想要的程序設(shè)計(jì)。在程序設(shè)計(jì)時(shí)，選擇使用自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，在對(duì)微電子電路校準(zhǔn)過(guò)程中可以自由控制，從而少數(shù)了人工操作錯(cuò)誤產(chǎn)生的幾率。

3.2復(fù)蓋率檢測(cè)和校準(zhǔn)完整性檢測(cè)

針對(duì)以往微電子電路檢測(cè)過(guò)于繁瑣，操作困難的情況，我們可以采用覆蓋率檢測(cè)和校準(zhǔn)完整性檢測(cè)的方法，這種檢測(cè)方法不同于以往的檢測(cè)方法，其并不在乎測(cè)試碼的大小，其主要的是考慮微電子電路檢測(cè)參量是否完全測(cè)驗(yàn)，從人與校準(zhǔn)方式和校準(zhǔn)過(guò)程掛鉤。

3.3微電子電路的量值溯源

微電子電路中的量值溯源，指的是其量值通過(guò)一條不間斷鏈持續(xù)追溯到最高標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)微電子電路測(cè)試所使用的檢測(cè)設(shè)備而言，其校準(zhǔn)和溯源有著很大聯(lián)系的。因此在對(duì)微電子電路檢測(cè)和校準(zhǔn)時(shí)可以采用分別溯源法或者是標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)法，對(duì)微電子電路進(jìn)行校準(zhǔn)。

4 結(jié)束語(yǔ)

微電子電路技術(shù)作為當(dāng)前科學(xué)技術(shù)發(fā)展的重點(diǎn)，我們確保其跟上時(shí)代的步伐進(jìn)步的同時(shí)，有一個(gè)完整、準(zhǔn)確和一致的檢測(cè)方法。因此，需要加強(qiáng)微電子電路自動(dòng)測(cè)試與校準(zhǔn)技術(shù)的研究力度，掌控好以微電子電路為基礎(chǔ)的電器設(shè)備的質(zhì)量。

參考文獻(xiàn)

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作者簡(jiǎn)介

郭松梅，女，1976年12月，湖北省英山縣，重慶能源職業(yè)學(xué)院，碩士在讀，講師，研究方向：電氣工程及其自動(dòng)化。

Calibration technology and automatic test of microelectronic circuit

Guo Songmei
（Chongqing energy Career Academy， 401321）

Abstract：With the progress of society， whether it is a large plant or electrical equipment everyday household appliances will be used to microelectronic circuit technology，microelectronic circuit is a semiconductor device in a variety of high-tech electronic technology-based integrated circuits，having small size，light weight，high reliability，work fast and many other features.To ensure the quality of microelectronic circuits having electrical，and we must be rigorous testing，quality control so as to achieve its objectives.To ensure the safety and reliability of electrical equipment in microelectronic circuits，this paper mainly for microelectronic circuit technology calibration and automated testing techniques have been studied. The paper is divided into five parts： The first part of the introduction of microelectronic circuits were introduced；second microelectronic circuit section analyzes the importance of the study；the third part describes the detection method microelectronic circuit；the fourth part explores the specific methods microelectronic circuit test and calibration；the fifth part of the paper are summarized.At the same time we also hope that through this research to better promote the development of China's microelectronics electrical equipment， promote the progress of China's microelectronics technology.

Keywords：microelectronic circuit；calibration；Testing Technology