劉仲禹
(長春理工大學(xué)光電信息學(xué)院,吉林 長春 130012)
本系統(tǒng)以面陣CCD 作為光電傳感器接收待測(cè)的圖像信號(hào)。CCD傳感器將莫爾條紋圖像信號(hào)轉(zhuǎn)換為視頻信號(hào),視頻信號(hào)中每一個(gè)離散電壓信號(hào)的大小對(duì)應(yīng)該光敏元所接收光強(qiáng)的強(qiáng)弱(用y 軸表示),而信號(hào)輸出的時(shí)序則對(duì)應(yīng)CCD 光敏元位置的順序(用X 軸表示)。則CCD所接收的光強(qiáng)與CCD 光敏元位置的關(guān)系如圖所示。
圖1 CCD 所接收的光強(qiáng)與CCD 光敏元位置的關(guān)系
系統(tǒng)中通過單片機(jī)數(shù)據(jù)采集電路完成對(duì)CCD 像元固定點(diǎn)采樣,并將采集結(jié)果通過串行口發(fā)送給PC 機(jī),PC 機(jī)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,對(duì)比同一點(diǎn)的電壓變換次數(shù)就可以得知經(jīng)過該電位置的莫爾條紋個(gè)數(shù)。采用CCD 的優(yōu)點(diǎn)就在于可以同時(shí)采集多個(gè)點(diǎn)的電壓變換情況,使數(shù)據(jù)測(cè)量更為準(zhǔn)確,同時(shí)在該系統(tǒng)的基礎(chǔ)上稍微改動(dòng)就可以用它進(jìn)行光譜數(shù)據(jù)的采集,非常方便,實(shí)用。
根據(jù)柵式數(shù)字傳感器的工作原理,可分為光柵和磁柵兩種。光柵是由很多等節(jié)距的透光縫隙和不透光的刻線均勻相間排列構(gòu)成的光電器件。按其原理和用途,它又可分為物理光柵和計(jì)量光柵。物理光柵是利用光的衍射現(xiàn)象制造的,主要用于光譜分析和光波長等量的測(cè)量。計(jì)量光柵按應(yīng)用范圍不同又分為透射光柵和反射光柵兩種,具體制作時(shí)又可制作成線位移的長光柵和角位移的圓光柵。按光柵的表面結(jié)構(gòu),又可分為幅值光柵和相位光柵等。幅值光柵是利用照相復(fù)制工藝加工成柵線與縫隙為黑白相間結(jié)構(gòu),故又稱為黑白光柵。實(shí)驗(yàn)中用的就是這種光柵。
柵式傳感器的測(cè)量電路。
1)光電轉(zhuǎn)換
主光柵和指示光柵做相對(duì)移動(dòng)產(chǎn)生了莫爾條紋,莫爾條紋需要經(jīng)過轉(zhuǎn)換電路才能將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。光柵傳感器的光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)由聚光鏡和光敏元件組成(也就是攝像機(jī)和鏡頭,攝像機(jī)也就是CCD器件是由許多個(gè)光敏元件組成),當(dāng)兩塊光柵做相對(duì)移動(dòng)時(shí),光敏元件上的光強(qiáng)隨莫爾條紋移動(dòng)而變化,如圖2。
圖2 光強(qiáng)變化
在a 處,兩光柵刻線重疊,透過的光強(qiáng)最大,光電元件輸出的電信號(hào)也最大;c 處由于光被遮去一半,光強(qiáng)減少;d 處的光全被遮去而成全黑,光強(qiáng)為零;若光柵繼續(xù)移動(dòng),投射到光敏元件上的光強(qiáng)又逐漸增大,因而形成了如圖A 所示的輸出波形[9]。
光敏元件輸出的波形可由下面的公式,描述:
U=U0+Umsin(2πx/W)
式中:U0——輸出信號(hào)的直流分量;
Um——交流信號(hào)的幅值;
x——光柵的相互位移量。
由上面公式可以知道,利用光柵可以測(cè)量位移量x 的值。
2)辨向原理
為了辨別主光柵是向左還是向右移動(dòng),僅有一條明暗交替的莫爾條紋是無法辨別的,因此,在原來的莫爾條紋上再加上一條莫爾條紋,使兩個(gè)莫爾條紋信號(hào)相差π/2 相位。實(shí)現(xiàn)的方法是在相隔1/4 條紋間的位置上安裝兩只光敏元件,如圖3 所示。
圖3
兩種信號(hào)經(jīng)整形后得到方波U1’和U2’。當(dāng)主光柵右移(見圖b,d)時(shí),U1’的微弱信號(hào)與U2’相與得到正向移動(dòng)脈沖,從與門Y1輸出;而U1’倒相后微分,在與門Y2相與,由于在U1’的微分脈沖出現(xiàn)時(shí),U2’是低電位,故Y2沒有輸出脈沖。當(dāng)主光柵左移時(shí),U1信號(hào)超前U2信號(hào)π/2相位,U1’的倒相方波經(jīng)微分后,在與門Y2上相與;U1’微分信號(hào)與U2’在與門Y1上相與的結(jié)果正好和右移情況相反,而Y1沒有脈沖信號(hào)輸出,Y2有脈沖信號(hào)輸出。這樣就實(shí)現(xiàn)了主光柵左右移動(dòng)的方向辨別。
圖4 右移波形
圖5 判向電路
3)細(xì)分原理
如果僅以光柵的柵距作其分辨單位,只能讀到整數(shù)莫爾條紋;倘若要讀出位移為0.1μm,勢(shì)必要求每毫米刻線一萬條,這是目前工藝無法實(shí)現(xiàn)的。因此,只能在有合適的光柵柵距地基礎(chǔ)上,對(duì)柵距進(jìn)一步細(xì)分,才可能獲得更高的測(cè)量精度。常用的細(xì)分方法有倍頻細(xì)分法,電橋細(xì)分法等。這里介紹四倍頻細(xì)分法,其他方法可以參考相關(guān)文獻(xiàn)。
在一個(gè)莫爾條紋寬度上并列4 個(gè)光電元件,如圖所示,得到相位分別相差π/2 的四個(gè)正弦周期信號(hào)。用適當(dāng)電路處理這一列信號(hào),使其合并得到如圖所示的脈沖信號(hào)。每個(gè)脈沖分別和四個(gè)周期信號(hào)的零點(diǎn)相對(duì)應(yīng),則電脈沖的周期為1/4 個(gè)莫爾條紋寬度。用計(jì)數(shù)器對(duì)這一列脈沖信號(hào)計(jì)數(shù),就可以讀到1/4 個(gè)莫爾條紋寬度的位移量,這樣便到光柵固有分辨率的4 倍。
1)莫爾條紋是由光柵的大量刻線共同形成的,對(duì)光柵的刻劃誤差有平均作用,從而能在很大程度上消除光柵刻線不均勻引起的誤差。
2)當(dāng)指示光柵沿與柵線垂直的方向作相對(duì)移動(dòng)時(shí),莫爾條紋則沿光柵刻線方向移動(dòng)(兩者的運(yùn)動(dòng)方向相互垂直);指示光柵反向移動(dòng),莫爾條紋亦反向移動(dòng)。在圖中,當(dāng)指示光柵向右移動(dòng)時(shí),莫爾條紋向上運(yùn)動(dòng)。
3)莫爾條紋的間距是放大了的光柵柵距,它隨著指示光柵與主光柵刻線夾角θ 而改變。θ 越小,L 越大,相當(dāng)于把微小的柵距擴(kuò)大了1/θ倍。由此可見,計(jì)量光柵起到光學(xué)放大器的作用。
光學(xué)成像系統(tǒng)的作用是使光學(xué)莫爾條紋能夠清晰地呈現(xiàn)在CCD圖像傳感器上。在該實(shí)驗(yàn)中,把兩塊光柵距相等的光柵平行安裝,主光柵與指示光柵,使兩光柵保持平行,光柵間間隙要盡量小,微調(diào)主光柵角度,并且使光柵刻痕相對(duì)保持一個(gè)較小的夾角θ 時(shí),透過光柵組可以看到一組明暗相間的條紋清晰可見,即為莫爾條紋。莫爾條紋的寬度B 為:B=P/sinθ 其中P 為光柵距。光柵刻痕重合部分形成條紋暗帶,非重合部分光線透過則形成條紋亮帶。
影響測(cè)量精度的因素有很多,有些是可以通過減少誤操作等方式來避免或是減少;而有些誤差是在所設(shè)計(jì)系統(tǒng)中所固有的或是操作環(huán)境中存在的,是不可避免的。下面就影響測(cè)量結(jié)果的主要方面進(jìn)行誤差分析:
(1)光柵組的影響
為使CCD 攝取的莫爾條紋圖像清晰,光柵組一定要平行,且間距要盡量小,即目測(cè)時(shí)莫爾條紋的暗帶要足夠黑,確定后光柵組一定要安裝緊固,以防平臺(tái)位移時(shí)因兩片光柵相碰擦造成光柵角度的變化,使莫爾條紋的寬度發(fā)生變化。如果光柵片相隔較遠(yuǎn),則暗帶條紋發(fā)紅發(fā)黃,軟件就可能會(huì)錯(cuò)誤地讀取信號(hào),錯(cuò)誤地計(jì)數(shù)。
(2)光源的影響
實(shí)驗(yàn)時(shí)要注意背景光的影響,如果光照太強(qiáng),有可能造成自動(dòng)記數(shù)軟件誤讀數(shù)。
(3)環(huán)境因素誤差
其它的許多不可預(yù)知的因素可能會(huì)對(duì)測(cè)量產(chǎn)生影響:如環(huán)境溫度、濕度對(duì)測(cè)量器件的性能影響。一般情況下,可以忽略此類影響。
(4)CCD 輸出噪聲誤差
主要的噪聲為散粒噪聲、暗電流噪聲和復(fù)位噪聲,其中復(fù)位噪聲是主要的干擾源。
減小誤差的方法:
1)針對(duì)CCD 的輸出噪聲誤差,可以采取多點(diǎn)采集方法減小誤差。
2)實(shí)驗(yàn)過程中盡量保持安靜的環(huán)境,且實(shí)驗(yàn)臺(tái)要穩(wěn)定無振動(dòng)。
[1]史立生,賈彥枝,左俊玲.邁克爾遜干涉儀干涉條紋計(jì)數(shù)器.河北師范大學(xué)學(xué)報(bào),1996.
[2]王守權(quán),張紹良,張薇.干涉條紋計(jì)數(shù)器的研制.長春郵電學(xué)院學(xué)報(bào),2000.
[3]張黎麗,莫長濤.條紋計(jì)數(shù)器在光學(xué)實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用.大學(xué)物理實(shí)驗(yàn),2002.