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淺談方法權(quán)利要求創(chuàng)造性判斷中的整體原則

2015-11-13 07:13:12胡文娟
科教導(dǎo)刊 2015年29期
關(guān)鍵詞:創(chuàng)造性

胡文娟

摘 要 專利審查中創(chuàng)造性判斷的客觀性是審查中的難點(diǎn),把握整體原則是使判斷接近客觀的最基本條件。方法權(quán)利要求通常使用多個(gè)步驟或者流程的技術(shù)特征來(lái)描述,實(shí)踐中經(jīng)常出現(xiàn)不顧整體原則而導(dǎo)致創(chuàng)造性判斷結(jié)論錯(cuò)誤的情況。本文從具體案例出發(fā)探討方法權(quán)利要求創(chuàng)造性判斷中整體原則的考量因素。

關(guān)鍵詞 方法權(quán)利要求 創(chuàng)造性 整體原則

中圖分類號(hào):D923.4 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:ADOI:10.16400/j.cnki.kjdkz.2015.10.078

Analyzing the Overall Principle of Creative Method of Claim

HU Wenjuan

(State Intellectual Property Office Patent Examination Cooperation Center in Hubei, Wuhan, Hubei 430000)

Abstract It is a difficulty of the objectivity of judgement in inventive steps of patent examination. Holding the whole principle is the basic condition for approaching objectivity. Means claims are usually described by multi procedures or process. In practice, wrong judgement often occurs in inventive steps while disregarding of the whole principle. The consideration factors of the whole principle are explored for correct judgement in inventive steps of means claims.

Key words means claim; creativity; overall principle

0 引言

創(chuàng)造性判斷在發(fā)明專利的實(shí)質(zhì)審查過(guò)程中,其地位非常重要,發(fā)明是否具有創(chuàng)造性,往往是審查員與申請(qǐng)人/代理人之間的爭(zhēng)議焦點(diǎn)?!秾@麑彶橹改稀返诙糠值谒恼隆秳?chuàng)造性》中貫穿著“整體”的思想。第3.1節(jié)關(guān)于“審查原則”規(guī)定:“在評(píng)價(jià)發(fā)明是否具備創(chuàng)造性時(shí),審查員不僅要考慮發(fā)明的技術(shù)方案本身,而且還要考慮發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域、所解決的技術(shù)問(wèn)題和所產(chǎn)生的技術(shù)效果,將發(fā)明作為一個(gè)整體看待?!钡?.2.1.1節(jié)中關(guān)于“三步法”的規(guī)定:“判斷過(guò)程中,要確定的是現(xiàn)有技術(shù)整體上是否存在某種技術(shù)啟示”。第6.4節(jié)關(guān)于“對(duì)要求保護(hù)的發(fā)明進(jìn)行審查”規(guī)定:“創(chuàng)造性的判斷,應(yīng)當(dāng)針對(duì)權(quán)利要求限定的技術(shù)方案整體進(jìn)行評(píng)價(jià),即評(píng)價(jià)技術(shù)方案是否具備創(chuàng)造性,而不是評(píng)價(jià)某一技術(shù)特征是否具備創(chuàng)造性。”①②③“整體”原則應(yīng)當(dāng)貫穿于創(chuàng)造性判斷的始終,忽視“整體”原則容易造成創(chuàng)造性判斷錯(cuò)誤。

方法權(quán)利要求作為一大類權(quán)利要求,通常采用工藝過(guò)程、步驟或者流程等技術(shù)特征來(lái)描述,方法權(quán)利要求中各步驟之間執(zhí)行的順序、步驟得到的中間結(jié)果等,在創(chuàng)造性判斷中應(yīng)當(dāng)如何考慮,也是在審查員與申請(qǐng)人/代理人之間容易引發(fā)分歧的問(wèn)題。筆者從兩個(gè)實(shí)際案例入手,引出方法權(quán)利要求的創(chuàng)造性判斷容易出現(xiàn)未把握“整體”原則的問(wèn)題,結(jié)合對(duì)“整體”原則的思考與理解,深入分析方法權(quán)利要求創(chuàng)造性判斷中的“整體”原則需要考量的因素。

1 案例介紹

案例1:某發(fā)明專利申請(qǐng),涉及適用于能夠通過(guò)手指或觸控筆等的接觸而輸入信息的輸入顯示裝置等的導(dǎo)電性膜的制造方法,其說(shuō)明書指出現(xiàn)有導(dǎo)電性膜具備形成在膜基材的兩面的透明導(dǎo)電體層和形成在各透明導(dǎo)電體層的表面的金屬層,存在將該膜卷成卷狀時(shí)鄰接的膜彼此壓接的問(wèn)題,如果將壓接的膜彼此剝離,則有時(shí)損傷膜內(nèi)的透明導(dǎo)電體層,可能導(dǎo)致品質(zhì)降低。

本發(fā)明采用在第1銅層的表面形成含有氧化亞銅的氧化被膜層,在將第2層疊體卷成卷狀制成第2卷時(shí),發(fā)揮即使不在導(dǎo)電性膜之間插入襯紙也不壓接的效果。

權(quán)利要求 1:

一種導(dǎo)電性膜卷的制造方法,其特征在于,所述導(dǎo)電性膜卷的制造方法包含如下工序:

第1工序,在膜基材的一側(cè)通過(guò)濺射法順次層疊第1透明導(dǎo)電體層和第1銅層,將得到的第1層疊體卷成卷狀,制成第1卷。

第2工序,將所述第1卷在大氣中存放30小時(shí)以上,在所述第1銅層的表面形成含有氧化亞銅的氧化被膜層。

第3工序,邊將所述第1卷開卷,邊在所述膜基材的另一側(cè)通過(guò)濺射法順次層疊第2透明導(dǎo)電體層和第2銅層,將得到的第2層疊體卷成卷狀,制成第2卷。

審查員檢索獲得三篇對(duì)比文件。對(duì)比文件 1 公開了一種單面的導(dǎo)電性膜卷的制造方法,其將透明導(dǎo)電材料層設(shè)置在基板的表面上,其它導(dǎo)電材料層淀積在透明導(dǎo)電材料層上或基板的相反側(cè)上,通過(guò)選擇性地蝕刻這些層,從而制成用于安裝電元件的焊盤和形成電路的導(dǎo)電跡線的布圖。對(duì)比文件 2、3分別公開了一種導(dǎo)電性膜的結(jié)構(gòu)。對(duì)比文件1-3均未公開本發(fā)明的發(fā)明構(gòu)思。

審查意見(jiàn)如下:

權(quán)利要求1與對(duì)比文件1相比,區(qū)別技術(shù)特征在于:(1)第2工序中將第1卷在大氣中存放30小時(shí)以上,在第1銅層表面形成含有氧化亞銅的氧化被膜層;(2)在第3工序中邊將第1卷開卷,邊在所述膜基材的另一側(cè)通過(guò)濺射法順序?qū)盈B第2透明導(dǎo)電體層和第2銅層?;谏鲜鰠^(qū)別技術(shù)特征,本發(fā)明實(shí)際解決的技術(shù)問(wèn)題是(1)如何形成有銅被氧化的層;(2)如何形成完整的導(dǎo)電性膜的結(jié)構(gòu)。對(duì)于區(qū)別技術(shù)特征(1),對(duì)比文件2公開了……;對(duì)于區(qū)別技術(shù)特征(2),對(duì)比文件3公開了……;……是本領(lǐng)域的公知常識(shí)。因此權(quán)利要求1不具備創(chuàng)造性。

【案例分析】

權(quán)利要求1本身就是一個(gè)完整的單面的導(dǎo)電性模的結(jié)構(gòu),并不存在雙面才是完整的結(jié)構(gòu)概念,權(quán)利要求1并沒(méi)有需求要形成雙面的膜結(jié)構(gòu),上述提出的技術(shù)問(wèn)題(2)未從發(fā)明的整體技術(shù)方案出發(fā)來(lái)確定技術(shù)問(wèn)題。并且,審查意見(jiàn)在評(píng)述區(qū)別技術(shù)特征時(shí),將方法權(quán)利要求的相互關(guān)聯(lián)的步驟(2)、(3)割裂開來(lái)作為多個(gè)區(qū)別技術(shù)特征,分別解決不同的技術(shù)問(wèn)題,導(dǎo)致相互關(guān)聯(lián)的步驟各自孤立,未從整體上把握技術(shù)方案。

案例2:某發(fā)明專利申請(qǐng),涉及對(duì)多源圖像的融合方法,其說(shuō)明書指出目前采用小波域隱馬爾可夫樹HMT統(tǒng)計(jì)模型來(lái)捕捉小波系數(shù)不同尺度間的相關(guān)性,并將該模型用在圖像融合上,但存在以下問(wèn)題:小低頻部分融合規(guī)則過(guò)于簡(jiǎn)單,導(dǎo)致許多信息丟失;對(duì)圖像特征的選擇缺少方向性,不能充分提取出原始圖像中的細(xì)節(jié)信息;圖像中的邊緣和輪廓奇異性的各向異性特征,不能被各向同性小波變換有效捕捉。

本發(fā)明采用基于方向波域隱馬爾可夫模型的多源圖像融合,提高融合圖像的質(zhì)量。

權(quán)利要求1:一種基于方向波域隱馬爾可夫樹模型的多源圖像融合方法,包括如下步驟:(a)輸入兩幅原始圖像,并利用基于小波變換的融合方法從兩幅原始圖像中得到一幅初期融合圖像;

(b)對(duì)兩幅原始圖像與得到的初期融合圖像分別進(jìn)行Directionlet變換,分別得到三幅圖像的Directionlet低頻系數(shù)和高頻系數(shù);

(c)對(duì)得到的初始融合圖像的Directionlet高頻系數(shù)建立HMT模型,構(gòu)造該模型的參數(shù)集 ;

(d)利用期望最大算法即EM算法對(duì)構(gòu)造的參數(shù)集 進(jìn)行訓(xùn)練得到它的估計(jì)值根據(jù)分別計(jì)算兩幅原始圖像的每個(gè)Directionlet高頻系數(shù)的后驗(yàn)概率;

(e)對(duì)兩幅原始圖像的Directionlet低頻系數(shù)采用自適應(yīng)加權(quán)融合規(guī)則進(jìn)行融合,得到融合圖像的Directionlet低頻系數(shù);

(f)根據(jù)步驟(d)中得到的參數(shù)集和后驗(yàn)概率,對(duì)兩幅原始圖像的Directionlet高頻系數(shù)采用顯著性測(cè)量的融合規(guī)則進(jìn)行融合,得到融合圖像的Directionlet高頻系數(shù);

(g)對(duì)上述的融合圖像的Directionlet系數(shù)進(jìn)行Directionlet逆變換得到融合圖像。

審查員檢索獲得三篇對(duì)比文件。對(duì)比文件1公開了對(duì)兩幅原始圖像分別進(jìn)行Directionlet變換,對(duì)Directionlet低頻系數(shù)和高頻系數(shù)分別進(jìn)行融合,再進(jìn)行Directionlet逆變換得到融合圖像。對(duì)比文件 2公開了一種圖像分割方法,對(duì)高頻分量使用Directionlet域HMT模型獲得估計(jì)參數(shù),對(duì)比文件 3公開了一種圖像融合方法,對(duì)兩幅原始圖像Contourlet變換高頻分量分別HMT建模得到各自參數(shù)集,指導(dǎo)融合。對(duì)比文件1~3均未公開本發(fā)明的發(fā)明構(gòu)思。

審查意見(jiàn)如下:

權(quán)利要求1與對(duì)比文件1相比,區(qū)別技術(shù)特征在于:(1)利用基于小波變換的融合方法從兩幅原始圖像中得到一幅初期融合圖像,并對(duì)初期融合圖像進(jìn)行Directionlet變換,得到其Directionlet低頻系數(shù)和高頻系數(shù);(2)對(duì)得到的初始融合圖像的Directionlet高頻系數(shù)建立HMT模型,構(gòu)造該模型的參數(shù)集 ;利用期望最大算法即EM算法對(duì)構(gòu)造的參數(shù)集 進(jìn)行訓(xùn)練得到它的估計(jì)值,根據(jù)分別計(jì)算兩幅原始圖像的每個(gè)Directionlet高頻系數(shù)的后驗(yàn)概率;(3)……

對(duì)于區(qū)別技術(shù)特征(1),對(duì)比文件2公開了……對(duì)于區(qū)別技術(shù)特征(2),對(duì)比文件3公開了……區(qū)別技術(shù)特征(3)……是本領(lǐng)域的公知常識(shí)。因此權(quán)利要求1不具備創(chuàng)造性。

【案例分析】

權(quán)利要求1中針對(duì)高頻系數(shù)的融合,是對(duì)初期融合圖像的Directionlet高頻系數(shù)進(jìn)行HMT建模及后續(xù)參數(shù)集的構(gòu)建及訓(xùn)練得到估計(jì)值,根據(jù)估計(jì)值分別計(jì)算兩幅原始圖像的高頻系數(shù)的后驗(yàn)概率,進(jìn)而對(duì)兩幅原始圖像的Directionlet高頻系數(shù)采用顯著性測(cè)量的融合規(guī)則進(jìn)行融合。對(duì)比文件1~3針對(duì)的對(duì)象均未出現(xiàn)初期融合圖像。一般而言,操作步驟針對(duì)的對(duì)象不同,獲得的結(jié)果必然不同,獲得的結(jié)果用于指導(dǎo)后續(xù)步驟的操作也必然不同,而對(duì)比文件1~3均未公開上述內(nèi)容。并且,審查意見(jiàn)在評(píng)述區(qū)別技術(shù)特征時(shí),將對(duì)初始融合圖像進(jìn)行操作相關(guān)的特征割裂開來(lái),并分別解決不同的技術(shù)問(wèn)題,導(dǎo)致相互關(guān)聯(lián)的特征各自孤立,未從整體上把握技術(shù)方案。

上述兩個(gè)案例從表面上看,審查意見(jiàn)中的創(chuàng)造性判斷貌似注重證據(jù)使用,但仔細(xì)分析,這種審查方式并不正確,它違背了專利法審查指南上規(guī)定的關(guān)于創(chuàng)造性判斷的“整體”原則。

2 把握“整體”原則時(shí)的考量因素

如本文第一部分中指出,《專利審查指南》第二部分第四章《創(chuàng)造性》中貫穿著“整體”的思想。從“整體”出現(xiàn)的三個(gè)位置來(lái)看,這三個(gè)“整體”分別從三個(gè)不同的層次,闡述了創(chuàng)造性判斷中應(yīng)遵循的原則。第一個(gè)“整體”從創(chuàng)造性判斷的基本思路和原理上,提出“整體”的基本要求;第二個(gè)“整體”從“三步法”中“判斷要求保護(hù)的發(fā)明對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)是否顯而易見(jiàn)”上,即從技術(shù)啟示的角度,提出“整體”的判斷方法;第三個(gè)“整體”從創(chuàng)造性判斷針對(duì)的是技術(shù)方案而非某一技術(shù)特征的角度,指出“整體”的判斷對(duì)象。

根據(jù)以上兩個(gè)案例,筆者提出在方法權(quán)利要求的創(chuàng)造性判斷中,從以下兩個(gè)角度,分析是否能夠?qū)⒍鄠€(gè)步驟技術(shù)特征拆分的情況,有助于在判斷方法權(quán)利要求的創(chuàng)造性時(shí)把握“整體”原則。

2.1 考慮步驟的順序調(diào)換能否達(dá)到相同效果

方法權(quán)利要求往往是一套完整的工藝步驟,雖然由多個(gè)技術(shù)特征構(gòu)成,但這些技術(shù)特征組成一套解決手段,構(gòu)成一個(gè)發(fā)明構(gòu)思。因此,在發(fā)明構(gòu)思不可拆分的情況下,不應(yīng)將形成該發(fā)明構(gòu)思的多個(gè)技術(shù)特征拆分開來(lái)。判斷方法權(quán)利要求各個(gè)步驟之間的順序關(guān)系是否可以隨意調(diào)整,而不影響發(fā)明構(gòu)思的實(shí)現(xiàn),是是否能夠?qū)⒏鱾€(gè)步驟拆分開來(lái)討論的關(guān)鍵。在不能通過(guò)先后順序的調(diào)換達(dá)到相同的效果時(shí),不宜將多個(gè)步驟的技術(shù)特征拆分開來(lái)進(jìn)行分別判斷。

例如案例1中“第2工序,將所述第1卷在大氣中存放30小時(shí)以上,在所述第1銅層的表面形成含有氧化亞銅的氧化被膜層”與“第3工序,邊將所述第1卷開卷,邊在所述膜基材的另一側(cè)通過(guò)濺射法順次層疊第2透明導(dǎo)電體層和第2銅層,將得到的第2層疊體卷成卷狀,制成第2卷”之間具有先后順序,若這兩個(gè)工序順序調(diào)換,顯然將不能夠利用在所述第1銅層的表面形成含有氧化亞銅的氧化被膜層的效果,從而也就不能夠解決將膜卷成卷狀時(shí)鄰接的膜彼此壓接的問(wèn)題。在此情況下,不宜于將多個(gè)步驟的技術(shù)特征拆分開來(lái)。

2.2 考慮后續(xù)步驟的執(zhí)行是否依賴于前述步驟的結(jié)果

方法權(quán)利要求往往存在多個(gè)步驟,每個(gè)步驟可能都會(huì)產(chǎn)生某個(gè)結(jié)果,在判斷方法權(quán)利要求的多個(gè)步驟技術(shù)特征是否能夠拆分時(shí),判斷后續(xù)步驟是否依賴于前述某個(gè)步驟生成的結(jié)果, 是另一個(gè)重要因素,即考慮步驟之間是否體現(xiàn)了執(zhí)行結(jié)果的依賴性,即第二步驟的執(zhí)行是否依賴于第一步驟的執(zhí)行結(jié)果。

例如案例2中,步驟(b)的執(zhí)行針對(duì)的對(duì)象是步驟(a)的結(jié)果“初期融合圖像和兩幅原始圖像”;步驟(c)執(zhí)行針對(duì)的對(duì)象是步驟(b)的結(jié)果之一“初期融合圖像的Directionlet高頻系數(shù)”;步驟(d)執(zhí)行針對(duì)的對(duì)象是步驟(c)的結(jié)果“初始融合圖像的Directionlet高頻系數(shù)的HMT參數(shù)集 ”;步驟(e)執(zhí)行針對(duì)的對(duì)象是步驟(b)的另一結(jié)果“初期融合圖像的Directionlet低頻系數(shù)”;步驟(f)執(zhí)行針對(duì)的對(duì)象是步驟(d)的結(jié)果“參數(shù)集和后驗(yàn)概率”;步驟(g)執(zhí)行針對(duì)的對(duì)象是步驟(f)的結(jié)果 “融合圖像的Directionlet高頻系數(shù)”及步驟(e)的結(jié)果“融合圖像的Directionlet低頻系數(shù)”??梢?jiàn),多個(gè)步驟之間存在步驟結(jié)果的傳遞,后述步驟的執(zhí)行明顯嚴(yán)格依賴于前述步驟的結(jié)果輸入,其中任意一個(gè)中間結(jié)果的輸入不同,都將會(huì)導(dǎo)致最終結(jié)果的不同。當(dāng)然,這里需要指出的是,對(duì)于步驟(e)和步驟(f)他們之間采用一先一后或者并行的順序關(guān)系,并不影響其結(jié)果對(duì)后續(xù)步驟的影響,因此這兩個(gè)步驟之間的順序,單獨(dú)來(lái)說(shuō)不需要關(guān)聯(lián)考慮,但是從權(quán)利要求整體技術(shù)方案來(lái)看,顯然需要考慮各步驟之間的關(guān)聯(lián),不宜于將多個(gè)步驟的技術(shù)特征拆分開來(lái)。

3 小結(jié)

針對(duì)方法權(quán)利要求的創(chuàng)造性判斷,需要把握“整體”原則。這里的“整體”指的是從整體的視角來(lái)審視本發(fā)明的技術(shù)方案,在評(píng)價(jià)創(chuàng)造性時(shí),既要認(rèn)識(shí)到各個(gè)步驟技術(shù)特征本身的存在,也應(yīng)充分意識(shí)到各個(gè)步驟技術(shù)特征之間所存在的關(guān)聯(lián),才能真正做到從“整體”上進(jìn)行創(chuàng)造性判斷。

注釋

① 專利審查指南2010[M].知識(shí)產(chǎn)權(quán)出版社,2010.

② 姚正陽(yáng).從一個(gè)案例淺談專利創(chuàng)造性判斷中的整體原則[J].中國(guó)發(fā)明與專利,2015(2).

③ 王寶筠.淺析創(chuàng)造性判斷中的“整體”[J].電子知識(shí)產(chǎn)權(quán),2014(5).

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