徐雪鵬
(吉林省電力勘測(cè)設(shè)計(jì)院,長(zhǎng)春 130022)
隨著現(xiàn)代電力系統(tǒng)由傳統(tǒng)高壓輸送形式向超高壓和大容量方向的升級(jí)發(fā)展,光學(xué)電流互感器也正逐漸走向成熟。近年來(lái)我國(guó)對(duì)智能化電網(wǎng)的整體升級(jí)改造,也大大推動(dòng)了光學(xué)電流互感器這一新式設(shè)備的應(yīng)用化進(jìn)程。然而光學(xué)電流互感器雖然有著絕緣性更高,經(jīng)濟(jì)性更好等多方面的優(yōu)勢(shì),但由于實(shí)際變電站的戶外運(yùn)行條件及技術(shù)原因,目前在我國(guó)(尤其是四季溫差較大的東北部地區(qū))光學(xué)電流互感器尚未在實(shí)際工程中廣泛應(yīng)用。根據(jù)到變電站運(yùn)行的實(shí)際需求,缺乏長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性是阻礙光學(xué)電流互感器實(shí)現(xiàn)大面積推廣的最主要原因,因此,本文在綜合分析光學(xué)電流互感器工作理論的基礎(chǔ)上采用合理手段提高其穩(wěn)定性。
工程光學(xué)電流互感器傳感頭的基本工作原理是利用法拉第磁光效應(yīng),即:線偏振光通過(guò)置于磁場(chǎng)中的晶體時(shí),角度將發(fā)生偏轉(zhuǎn),偏轉(zhuǎn)角φ可由公式(1)計(jì)算:
式中:L為光程長(zhǎng)度;V為光學(xué)材料的維爾德常數(shù);H為磁場(chǎng)強(qiáng)度。
由安培環(huán)路定律可推導(dǎo)出公式(2):
式中:i為閉合環(huán)路中所通過(guò)的電流強(qiáng)度;Ω為閉合積分路徑。
根據(jù)公式(2)可知,當(dāng)想測(cè)得電流強(qiáng)度i時(shí),只需通過(guò)測(cè)得線偏光的偏轉(zhuǎn)角φ即可。對(duì)于φ的測(cè)定,可以根據(jù)馬呂斯定律將偏轉(zhuǎn)角和光強(qiáng)建立聯(lián)系,即線偏振光在恒定磁場(chǎng)的作用下發(fā)生偏轉(zhuǎn),通過(guò)檢偏器后的透射光強(qiáng)I0表達(dá)式為:
式中:α是檢偏器方向與線偏振光方向之間的夾角;Ii是偏振光的光強(qiáng)。
將輸出光強(qiáng)經(jīng)過(guò)信號(hào)處理后得到的輸出電壓U0為:
式中I0(+45°)與I0(-45°)表示當(dāng)檢偏器方向與偏振光方向分別呈±45°角時(shí)的輸出光強(qiáng)。
通過(guò)上述公式推導(dǎo)可知,根據(jù)公式(3)、(4)可測(cè)量通過(guò)傳感頭內(nèi)檢偏器的光強(qiáng)大小計(jì)算得出線偏光偏轉(zhuǎn)角大小,再根據(jù)公式(1)、(2)即可利用線偏光偏轉(zhuǎn)角度得到閉合環(huán)路中通過(guò)的電流值大小,實(shí)現(xiàn)目前使用的傳統(tǒng)電流互感器的功能。
電力磁光材料中固有的線性雙折射是影響光學(xué)電流互感器穩(wěn)定性的最主要因素,當(dāng)線性雙折射存在時(shí),描述傳感頭中法拉第磁光效應(yīng)的瓊斯矩陣表示如下:
式中:n代表傳感頭中第n個(gè)光纖臂,取值為1,2,3,…,n;An=cos(Δn/2)+jcos(xn)sin(Δn/2);Bn=sinxnsin(Δn/2);(Δn/2)2=(σ/2)2+φn2,sinxn=2φn/Δn;cosxn=σ/Δn。φn代表在法拉第效應(yīng)作用下偏振面所產(chǎn)生的旋轉(zhuǎn)角,σ是相位延遲,相位延遲是由光纖臂中磁光材料本身的線性雙折射所引起。由于相位延遲的存在,入射光線的線偏振光將轉(zhuǎn)化為橢圓偏振光,使得測(cè)量精度發(fā)生變化,從而導(dǎo)致光學(xué)電流互感器運(yùn)行穩(wěn)定性受到影響[1]。
在線性雙折射影響下,輸出光強(qiáng)的測(cè)量值為I=1/2〔1-2φn(sinΔn/Δn)〕。該值與理論計(jì)算值I=1/2(1-sin 2φn)相比較,含有一個(gè)由Δn所決定的參數(shù),當(dāng)σ?φn時(shí),Δn約等于2φn,此時(shí),最終測(cè)量值I≈1/2(1-sin 2φn),同理論分析值更加接近;而當(dāng)σ?φn的情況下,Δn約等于σ。此時(shí)實(shí)際測(cè)量結(jié)果I=1/2〔1-2φn(sinσ/σ)〕,逐漸遠(yuǎn)離理論分析值。
由上公式述推導(dǎo)可以看出,σ值的存在將對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生較大影響,即降低了測(cè)量的可靠性,而且在實(shí)際應(yīng)用中,σ的值是隨著外界環(huán)境變化隨時(shí)改變的,因此,從理論上證實(shí)了磁光材料中溫度變化及線性雙折射是影響實(shí)際運(yùn)行中光學(xué)電流互感器穩(wěn)定性的最主要因素。
由理論分析可知,環(huán)境溫度變化導(dǎo)致光學(xué)電流互感器傳感頭內(nèi)磁光材料產(chǎn)生線性雙折射是影響其運(yùn)行穩(wěn)定性的最主要原因。鑒于當(dāng)今關(guān)于光學(xué)電流互感器的理論研究已經(jīng)相當(dāng)成熟,同時(shí)考慮到我國(guó)光學(xué)電流互感器所使用的磁光材料主要依賴進(jìn)口,且該材料為人工合成,維爾德常數(shù)較為穩(wěn)定且缺乏研發(fā)改進(jìn)空間,因此,本文將從改善現(xiàn)有互感器傳感頭結(jié)構(gòu)著手,盡可能提升光學(xué)電流互感器的運(yùn)行穩(wěn)定性。其優(yōu)點(diǎn)在于無(wú)需對(duì)現(xiàn)有光學(xué)電流互感器材料和相關(guān)配套測(cè)量設(shè)備進(jìn)行更換,實(shí)施起來(lái)較為簡(jiǎn)便,便于日后推廣應(yīng)用。
分析傳統(tǒng)光學(xué)電流互感器傳感頭采用的“光繞電”光學(xué)傳感結(jié)構(gòu)的不足,在保證設(shè)備性能不變的前提下,考慮將現(xiàn)有光學(xué)電流互感器結(jié)構(gòu)采用“電繞光”的形式進(jìn)行改進(jìn),即在傳感頭中央設(shè)置一塊形狀規(guī)則的法拉第光學(xué)材料。在材料周?chē)@通有電流的通電螺線管。這種結(jié)構(gòu)相當(dāng)于光路中的偏振光通過(guò)螺線管的軸方向進(jìn)行電流測(cè)量。由對(duì)偶原理可知,這種改進(jìn)后的“電繞光”式結(jié)構(gòu)和傳統(tǒng)“光繞電”式光學(xué)電流互感器在測(cè)量電流上的意義是完全等價(jià)的。經(jīng)過(guò)改進(jìn)后的傳感頭內(nèi)部磁光結(jié)構(gòu)見(jiàn)圖1。
圖1 改進(jìn)后的“電繞光”式傳感頭結(jié)構(gòu)示意圖
采用改進(jìn)后的“電繞光”式結(jié)構(gòu)后,最直觀的特點(diǎn)在于傳感頭內(nèi)的光路得到了最大化精簡(jiǎn),原有的多次折射形式光路被單一的直通光路所取代,消除了傳統(tǒng)傳感頭結(jié)構(gòu)中的反射面及多層光路結(jié)構(gòu),完全去除了偏振光在不規(guī)則形狀光路中因多次折射、反射產(chǎn)生的光學(xué)誤差,也減少了因光路過(guò)于復(fù)雜所帶來(lái)的線性雙折射負(fù)面影響。由于在這種結(jié)構(gòu)下,磁光材料用量縮減到僅使用一塊磁光晶體,也就不存在傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)中,由于多塊磁光玻璃相互拼接,在結(jié)合面處由多余膠體所產(chǎn)生的光路誤差,從制造工藝的角度將光學(xué)環(huán)節(jié)誤差降到了最低。同時(shí),周邊環(huán)境的溫度變化對(duì)于單塊晶體的形變影響也遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于多塊晶體的整體結(jié)合系統(tǒng),從物理角度提高了傳感頭針對(duì)溫度變化的運(yùn)行穩(wěn)定性。
通過(guò)理論分析可知,改進(jìn)后的螺線管包繞光路結(jié)構(gòu)能夠有效改善因溫度和線性雙折射所引起的測(cè)量誤差及穩(wěn)定性問(wèn)題,但該方案依然存在著一定的缺點(diǎn)。從結(jié)構(gòu)角度來(lái)說(shuō),該方案通電導(dǎo)體周?chē)a(chǎn)生的電磁場(chǎng)將由磁光材料內(nèi)部轉(zhuǎn)變?yōu)楦采w磁光材料本身,導(dǎo)致傳感頭對(duì)外界電磁場(chǎng)環(huán)境的變化更為敏感,受外界電磁干擾能力將有明顯降低。
由于通過(guò)改進(jìn)結(jié)構(gòu)使得傳感頭受周邊溫度環(huán)境的影響減小,因此完全可以使用簡(jiǎn)單的物理手段來(lái)改善光學(xué)電流互感器的缺點(diǎn)。比如為外置的傳感頭覆蓋上專門(mén)的隔離電磁場(chǎng)用鎧裝外殼,也可以通過(guò)對(duì)戶外光學(xué)電流互感器加蓋專門(mén)的小型操作間,總體來(lái)說(shuō),這種改進(jìn)后的“電繞光”式傳感頭結(jié)構(gòu)是利遠(yuǎn)大于弊的。
在確定改進(jìn)后光學(xué)電流互感器傳感頭結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,利用ANSOFT、ANSYS 等軟件分別建立了對(duì)應(yīng)的傳感頭數(shù)學(xué)仿真模型,并獨(dú)立設(shè)置了溫度調(diào)節(jié)模塊與電磁場(chǎng)調(diào)節(jié)模塊,通過(guò)調(diào)節(jié)溫度控制模塊和額定電壓百分比來(lái)模擬在各種溫度環(huán)境下,各電壓等級(jí)變電站的光學(xué)電流互感器運(yùn)行測(cè)量誤差。電流互感器誤差根據(jù)GB 1208—2006《電流互感器》規(guī)定,采用比差和角差對(duì)比。
考慮到光學(xué)電流互感器在我國(guó)的實(shí)際環(huán)境應(yīng)用范圍,分別模擬在室外極限工況條件(-40~+60℃)[2]下改進(jìn)后傳感頭的比差和角差曲線,見(jiàn)圖2、圖3。
按照J(rèn)JG 313—2010《測(cè)量用電流互感器檢定規(guī)程》及JJG 314—2010《測(cè)量用電壓互感器檢定規(guī)程》規(guī)定。0.2級(jí)電壓互感器和電流互感器在50Hz,額定電壓或額定電流下,其最大比差應(yīng)小于0.2%,小于10′。由圖2、圖5對(duì)比可以看出,改進(jìn)傳感頭結(jié)構(gòu)后的光學(xué)電流互感器在環(huán)境溫度60 ℃時(shí),誤差明顯高于環(huán)境溫度-40 ℃時(shí)的誤差,穩(wěn)定性隨溫度上升而變差,符合理論規(guī)律,但所測(cè)誤差均在0.2級(jí)電流互感器允許的誤差范圍內(nèi),能夠滿足運(yùn)行需求。
圖2 環(huán)境溫度-40 ℃時(shí)的改進(jìn)傳感頭比差值與角差值曲線
圖3 環(huán)境溫度+60 ℃時(shí)的改進(jìn)傳感頭比差值與角差值曲線
在測(cè)得極限工況條件下的誤差曲線后,依次模擬環(huán)境連續(xù)溫度為:+20 ℃、+40 ℃、+60 ℃、+40℃、+20 ℃、0 ℃、-20 ℃、-30 ℃、-20 ℃、0 ℃、20 ℃,環(huán)境溫度曲線隨時(shí)間周期變化見(jiàn)圖4。
圖4 溫度曲線變化周期
在圖4溫度周期變化基礎(chǔ)上,得出改進(jìn)后光學(xué)電流傳感器傳感頭的周期測(cè)量誤差曲線(見(jiàn)圖5)。
由誤差曲線可知,經(jīng)過(guò)改進(jìn)后的通電螺線管包繞光路結(jié)構(gòu)傳感頭的光學(xué)電流互感器在合理工況范圍內(nèi),環(huán)境溫度隨時(shí)間變化,比差值的絕對(duì)值始終小于0.2%,角差值的絕對(duì)值也小于10′,符合JJG 313—2010及JJG 314—2010 規(guī)定,滿足變電站實(shí)際運(yùn)行需求。誤差隨溫度變化波動(dòng)較小,相比起“光繞電”式傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)光學(xué)電流互感器,穩(wěn)定性有了明顯提高。
圖5 環(huán)境溫度周期變化時(shí)改進(jìn)傳感頭的比差值與角差值曲線
通過(guò)對(duì)現(xiàn)有光學(xué)電流互感器進(jìn)行理論分析,總結(jié)出影響光學(xué)電流互感器運(yùn)行穩(wěn)定性的最主要因素在于環(huán)境溫度變化導(dǎo)致磁光材料中線性雙折射產(chǎn)生波動(dòng)。在此基礎(chǔ)上通過(guò)對(duì)光學(xué)電流傳感器傳感頭部分的研究,擬定從改善傳感頭磁光結(jié)構(gòu)入手改善其長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性,并提出了改進(jìn)后的“電繞光”式傳感頭結(jié)構(gòu)。利用ANSOFT、ANSYS等軟件搭建仿真平臺(tái),對(duì)改進(jìn)后傳感頭進(jìn)行了各種條件下的運(yùn)行模擬。結(jié)果表明本文所提出的改進(jìn)式光學(xué)電流互感器傳感頭結(jié)構(gòu),不僅能夠有效提高其長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性及抗干擾性,且完全滿足我國(guó)電力行業(yè)對(duì)于電流互感器誤差的標(biāo)準(zhǔn)JJG 313—2010 及JJG 314—2010的規(guī)定。
[1] 李紅斌.光學(xué)電流傳感器傳感頭的研究[J].光學(xué)學(xué)報(bào),1997,17(7):946-949.
[2] 于文斌,李巖松,張國(guó)慶,等.光學(xué)電流互感器的性能分析與實(shí)驗(yàn)研究[J].哈爾濱工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào),2006,38(3):353-356.