唐建朝,周嘉梁
(西安航空動力股份有限公司 無損檢測中心,西安 710021)
航空發(fā)動機(jī)作為飛機(jī)的動力裝置,安全性、可靠性要求較高,而渦輪葉片作為航空發(fā)動機(jī)中承受溫度載荷最劇烈和工作環(huán)境最惡劣的部件之一,在高溫下要承受很大、很復(fù)雜的應(yīng)力,因而對其在制造過程中的材料及冶金缺陷的檢測就顯得十分重要。
滲透檢測是一種以毛細(xì)作用原理為基礎(chǔ)的用于檢測非疏孔性金屬和非金屬試件表面開口缺陷的常規(guī)無損檢測方法[1]。其由于具有較高的檢測靈敏度,在航空航天領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。常用的熒光滲透劑的靈敏度等級有4級(超高)、3級(高)和2級(中)。按照國外相關(guān)規(guī)范描述,4級靈敏度應(yīng)能夠發(fā)現(xiàn)開口寬度為10μm的缺陷。
滲透檢測作為一種表面缺陷檢測方法,其局限性在于只能檢測出表面開口的缺陷,對污染物堵塞或經(jīng)機(jī)械處理(如噴丸、拋光和研磨等)后開口被封閉的缺陷不能有效地檢出[1]。同時(shí)對于非常淺的毛細(xì)現(xiàn)象較弱的細(xì)微裂紋,在熒光滲透檢測時(shí),由于裂紋中殘留的熒光液太少,熒光顯示過于細(xì)微,無法形成缺陷顯示,以至于這類缺陷不能被有效檢出。
該渦輪葉片為高溫合金材料鍛造成型,在批產(chǎn)時(shí)主要工序?yàn)椋簷C(jī)加—校正—拋光—腐蝕—清洗—熒光—檢驗(yàn)—入庫;修理時(shí)主要工序?yàn)椋撼e碳—拋光—腐蝕—熒光—檢驗(yàn)—修理—檢驗(yàn)入庫。
該零件在總裝廠經(jīng)過2h試車分解后進(jìn)行熒光滲透檢測工作,然后發(fā)動機(jī)在廠內(nèi)加速模擬800h試車后熒光滲透檢測。葉片新品制造過程和試車2h后的滲透檢驗(yàn)均未發(fā)現(xiàn)缺陷顯示。發(fā)動機(jī)加速模擬800h試車后,發(fā)現(xiàn)9件Ⅰ級渦輪葉片葉身與緣板轉(zhuǎn)接圓弧處點(diǎn)線狀裂紋,最大裂紋范圍為10mm×70mm;3件Ⅱ級渦輪葉片葉身與緣板轉(zhuǎn)接圓弧處點(diǎn)線狀裂紋,最大裂紋范圍為10mm×30mm。裂紋外觀示例如圖1所示。
圖1 渦輪葉片裂紋外觀示例
該零件為關(guān)重件,針對該零件的表面狀態(tài)以及使用中的受力大小和缺陷形態(tài)等情況,制定了后乳化3級靈敏度的熒光滲透檢測工藝:采用浸漬法施加滲透液,滲透液牌號為RC-65,滲透時(shí)間為30min(其中浸漬15min,滴落15min);乳化劑采用ER-83A,乳化時(shí)間為90s,乳化劑濃度為6%~8%;烘干溫度不高于71℃,烘干時(shí)間為10min;顯像劑采用D-90G型干粉顯像劑,采用爆粉的顯像方式,顯像時(shí)間為10min~4h[2]。
對故障葉片進(jìn)行冶金分析,Ⅰ、Ⅱ級渦輪葉片熒光顯示缺陷位于緣板葉背側(cè)轉(zhuǎn)接R處。分別在Ⅰ級和Ⅱ級渦輪葉片熒光顯示缺陷部位取樣,進(jìn)行SEM(掃描電子顯微鏡)顯微觀察試樣表面;Ⅰ級和Ⅱ級渦輪葉片試樣表面均發(fā)現(xiàn)沿晶裂紋,裂紋細(xì)小曲折,沿葉片縱向垂直加工方向擴(kuò)展,如圖2所示。
圖2 Ⅰ級與Ⅱ級渦輪葉片裂紋顯微示例
對垂直小裂紋磨制金相并進(jìn)行顯微觀察,裂紋細(xì)小末端尖銳,沿晶擴(kuò)展,Ⅰ級和Ⅱ級渦輪葉片裂紋深度均約為0.1mm。由裂紋分布、方向及形貌特征判斷,Ⅰ級渦輪葉片和Ⅱ級渦輪葉片緣板與葉背側(cè)轉(zhuǎn)接R處的小裂紋均為拋修裂紋。如圖3,4所示。
圖3 某Ⅰ級渦輪葉片不同裂紋的顯微形貌
圖4 某Ⅱ級渦輪葉片裂紋的不同態(tài)形貌
(1)葉片在新品制造過程中經(jīng)拋修、腐蝕后再進(jìn)行熒光滲透檢驗(yàn),此時(shí)檢驗(yàn)未發(fā)現(xiàn)裂紋,原因如下:
該類零件拋修裂紋深約0.1mm,寬度細(xì)微至無法測量,由金相分析寬度約為1~2μm,尺寸較小,屬于開口緊密型裂紋。熒光液難以滲入,不能形成缺陷顯示。
該零件拋修時(shí)會產(chǎn)生金屬碎屑,細(xì)小的金屬碎屑會堵塞零件表面缺陷開口。該類零件雖在熒光檢驗(yàn)前安排腐蝕工序以用于清除零件表面污染物,但這類裂紋開口緊密,且其中充滿金屬碎屑,即使經(jīng)過腐蝕處理,仍會存在不能徹底清除裂紋中污染物的情況,從而產(chǎn)生熒光液無法滲入裂紋或污染物降低熒光亮度的問題,因此未能形成缺陷顯示。
(2)發(fā)動機(jī)在工廠試車2h后,由裝試廠對該葉片清洗后送檢熒光。由于該零件裂紋細(xì)小,且2h試車時(shí)間較短,不足以使裂紋開口完全打開,因此,這道工序的熒光滲透檢驗(yàn)未能檢測出細(xì)微的拋修裂紋。
(3)發(fā)動機(jī)在工廠進(jìn)行加速模擬800h試車后對該葉片先進(jìn)行腐蝕除積碳,然后進(jìn)行熒光滲透檢驗(yàn)。經(jīng)檢驗(yàn),發(fā)現(xiàn)部分零件表面存在點(diǎn)線狀裂紋。原因如下:
發(fā)動機(jī)長時(shí)間試車,渦輪葉片長期處于高溫和高速旋轉(zhuǎn)狀態(tài),高溫有利于去除細(xì)小裂紋中的油污等污染物,使裂紋開口內(nèi)清潔。國外先進(jìn)技術(shù)中,熒光滲透檢驗(yàn)之前,將零件在300~400℃高溫環(huán)境下進(jìn)行烘烤,也是出于這方面的考慮;而長時(shí)間的高速旋轉(zhuǎn)是對零件進(jìn)行加載的過程,這與熒光滲透檢驗(yàn)方法中的加載法類似。該過程可以促進(jìn)開口緊密的裂紋打開,便于熒光液充分滲入裂紋形成熒光顯示。對于某些開口緊密的疲勞裂紋,裂紋內(nèi)部存在污染物的零件,如條件具備,可采用加載法進(jìn)行熒光滲透檢驗(yàn),但此方法檢測速度慢,工作效率低。
發(fā)動機(jī)長試后,對葉片進(jìn)行的腐蝕除積碳處理,也起到清潔零件開口缺陷中的污染物的作用,有助于熒光滲透檢驗(yàn)發(fā)現(xiàn)缺陷。
Ⅰ、Ⅱ級渦輪葉片拋修裂紋深度較淺,且開口緊密,在新品制造過程中進(jìn)行熒光滲透檢驗(yàn)時(shí)不能完全被發(fā)現(xiàn),但經(jīng)長時(shí)間試車后暴露充分,可以通過熒光滲透檢驗(yàn)被發(fā)現(xiàn)。同時(shí)經(jīng)過對以往大修及長試,
發(fā)動機(jī)Ⅰ、Ⅱ級渦輪葉片的復(fù)查也曾發(fā)現(xiàn)出現(xiàn)過拋修裂紋;該類裂紋程度輕微,擴(kuò)展緩慢,可在發(fā)動機(jī)到壽返廠大修時(shí),通過熒光滲透檢驗(yàn)被發(fā)現(xiàn)。而長時(shí)間的試車過程與加載法原理相似,因此針對這類關(guān)重件(渦輪葉片等),應(yīng)采用加載法或在試車后進(jìn)行熒光滲透檢驗(yàn),以確保細(xì)微缺陷被徹底檢出。
[1] 林猷文,任學(xué)東.滲透檢測[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2004:1-4.
[2] HB/Z 61—1998 滲透檢驗(yàn)[S].