張繼光,賈 鑫
(中國電子科技集團(tuán)公司第二研究所,山西太原030024)
單晶硅是硅的單晶體,是晶體材料的重要組成部分,處于新材料發(fā)展的前緣,其主要用途是用作半導(dǎo)體材料和利用太陽能光伏發(fā)電、供熱等。以單晶硅為代表的高科技附加值材料及其相關(guān)高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,成為當(dāng)代信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)的支柱,并使信息產(chǎn)業(yè)成為全球經(jīng)濟(jì)發(fā)展中增長最快的先導(dǎo)產(chǎn)業(yè)。但在自然界不存在單體硅,多呈氧化物或硅酸鹽狀態(tài)。高純度硅在石英中提取,以單晶硅為例,提煉要經(jīng)過以下過程:石英砂-冶金級(jí)硅-提純和精煉-沉積多晶硅錠-單晶硅-硅片切割。硅片中含有氧,在450℃左右,硅中的氧會(huì)轉(zhuǎn)化為氧施主,對電阻率的正確測量產(chǎn)生影響。退火可以將硅片表面附近的氧,從其表面揮發(fā)脫除,使表面附近的雜質(zhì)數(shù)量減少,缺陷也減少,對制造半導(dǎo)體器件具有致關(guān)重要的積極影響。由于硅片處理對溫度均勻性及外部環(huán)境潔凈度要求非常高,普通退火處理或氣氛保護(hù)條件下的退火處理已經(jīng)不能滿足其工藝要求,因此,為了滿足及改善硅片退火工藝對溫度及外部環(huán)境的較高要求,提高生產(chǎn)率,我們開發(fā)研制了移動(dòng)式硅片退火設(shè)備。
移動(dòng)式硅片退火設(shè)備要解決的主要問題:
(1)對硅片無污染;
(2)加熱區(qū)溫度均勻性要好,要求在≤±5℃范圍內(nèi),這樣處理后的硅片性能具有一致性和連續(xù)性;
(3)工作真空度要高,達(dá)到1×10-3Pa級(jí),這樣可以很大程度上減少空氣中殘留的氧對硅片的影響;
(4)有一定的冷卻速度;
(5)一次性可處理硅片多,可滿足多種規(guī)格硅片工藝處理要求。
我所為中國電科某研究所研制的移動(dòng)式硅片退火設(shè)備著重進(jìn)行了箱體結(jié)構(gòu)、加熱系統(tǒng)及冷卻方式的優(yōu)化設(shè)計(jì)研究,利用這些關(guān)鍵技術(shù),很大程度地降低了外部環(huán)境對硅片處理所帶來的影響,保證了加熱區(qū)間的溫度穩(wěn)定性及均勻性,提高了硅片退火處理的穩(wěn)定性及一致性。
移動(dòng)式硅片退火設(shè)備為外加熱臥式結(jié)構(gòu),采用外加熱方式優(yōu)點(diǎn):
(1)使硅片避免在加熱過程中由于加熱元件的揮發(fā)造成的污染;
(2)通過石英管間接加熱使溫度更均勻,波動(dòng)減小。
設(shè)備結(jié)構(gòu)如圖1所示,主要由設(shè)備主體、支撐臺(tái)架、主體移動(dòng)機(jī)構(gòu)、真空系統(tǒng)、充氣系統(tǒng)及控制系統(tǒng)組成。
設(shè)備主體主要包括箱門、石英管和加熱系統(tǒng)等部分,采用前開門結(jié)構(gòu),方便工件裝取。與金屬管相比,石英管具有耐高溫、耐腐蝕、熱穩(wěn)定性好、電絕緣性能好、光透過性好等優(yōu)點(diǎn),可以滿足硅片處理時(shí)對環(huán)境真空度和溫度以及防止污染的要求。石英管采用特殊的密封結(jié)構(gòu),保證管體內(nèi)與外界嚴(yán)格隔離。其密封結(jié)構(gòu)如圖2所示。
圖1 設(shè)備結(jié)構(gòu)圖
圖2 石英管密封圖
加熱系統(tǒng)包括保溫材料、加熱體、保持架和保持架水冷裝置等四部分。保溫材料采用保溫性能較好的莫來石材料,加熱體為鐵鉻鋁絲材,沿石英管圓周均勻布置,分三區(qū)加熱,每區(qū)獨(dú)立控制,確保真空室內(nèi)部的溫度均勻性。
保持架水冷裝置可確保設(shè)備主體表面溫度溫升在25℃范圍內(nèi)。
硅片處理工藝完成后,主體移動(dòng)機(jī)構(gòu)可以將加熱及保溫部分從加熱區(qū)移開,從而加快硅片冷卻速度。主體移動(dòng)機(jī)構(gòu)由滾珠螺桿、導(dǎo)軌、減速機(jī)和伺服電機(jī)等組成,傳動(dòng)可靠、運(yùn)動(dòng)平穩(wěn)、噪音小。移動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)有前、后兩個(gè)限位位置,分別對應(yīng)加熱位置和冷卻位置,限位方式采用機(jī)械限位和行程開關(guān)限位兩種方式,保證限位可靠。
通過對該設(shè)備進(jìn)行三維建模,伺服電機(jī)負(fù)載質(zhì)量(即設(shè)備移動(dòng)部分)M=250 kg,選用滾珠螺桿螺距PB=5 mm,螺桿直徑DB=20 mm,螺桿質(zhì)量MB=3 kg,負(fù)載移動(dòng)速度V=0.6 m/min,全程移動(dòng)時(shí)間t=60 s,加減速時(shí)間t1=t2=0.5 s,取摩擦系數(shù)μ=0.12,機(jī)械效率η=0.9。
重物折算到電機(jī)軸上的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量JW=M×(PB/2π)2=1.59 kg·cm2
螺桿轉(zhuǎn)動(dòng)慣量JB=MB×DB2/8=1.5 kg·cm2
總負(fù)載慣量JL=JW+JB=3.09 kg·cm2
電機(jī)所需轉(zhuǎn)速N=V/PB=120 r/min
克服摩擦力所需轉(zhuǎn)矩Tf=M×g×μ×PB/2π/η=0.261 N·m
重物加速時(shí)所需轉(zhuǎn)矩TA1=M×a×PB/2π/η=0.044 N·m
螺桿加速時(shí)所需要轉(zhuǎn)矩 TA2=JB×a/η=JB×(N×2π/60/t1)/η=0.0042 N·m
加速所需總轉(zhuǎn)矩TA=TA1+TA2=0.0482 N·m
計(jì)算瞬時(shí)最大扭矩:
加速扭矩Ta=Tf+TA=0.3092 N·m
勻速扭矩Tb=Tf=0.261 N·m
減速扭矩Tc=Tf-TA=0.2128 N·m
伺服電機(jī)額定扭矩T>Tf
伺服電機(jī)最大扭矩Tmax>Tf+TA
故選用伺服電機(jī):ECMA-C20604,伺服電機(jī)額定功率0.4 kW。
為了滿足工藝對設(shè)備極限真空度和工作真空度的較高要求,真空系統(tǒng)由RVP-18直聯(lián)泵(中科科儀)和F250渦輪分子泵(中科科儀)兩級(jí)泵組成,真空管路采用無縫鋼管,并配有控制閥門。
真空測量裝置選用測量精度高、穩(wěn)定性好的成都睿寶ZDF系列復(fù)合真空計(jì),測量范圍(1.0×105~1.0×10-5)Pa,配套 ZJ-52T 電阻規(guī)管和 ZJ-27電離規(guī)管。
充氣系統(tǒng)由電磁閥、壓力表、微調(diào)閥及管路等組成,所用介質(zhì)為氮?dú)狻?/p>
設(shè)備采用MODBUS RTU通訊協(xié)議,實(shí)現(xiàn)設(shè)備中各個(gè)儀表之間的數(shù)據(jù)交換。采用可編程控制器PLC為運(yùn)算控制核心,通過觸摸屏對設(shè)備進(jìn)行操作。PLC采集各個(gè)數(shù)字量和模擬量數(shù)據(jù)。觸摸屏分別與PLC、溫控儀、記錄儀實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的通訊交換與處理,各個(gè)儀表的控制又是相互獨(dú)立的。
電氣控制系統(tǒng)主要實(shí)現(xiàn)以下功能:1)溫度可編程控制,實(shí)時(shí)監(jiān)測加熱帶上的電流、電壓值,通過熱偶檢測溫度來控制調(diào)壓器,并實(shí)時(shí)記錄和顯示數(shù)據(jù);2)爐內(nèi)真空度控制,控制泵及閥的開啟;3)充排氣控制,通過PLC檢測壓力計(jì)數(shù)值,控制充氣的流量、壓力;4)斷水、斷電、缺相、超溫、充氣壓力低等均采用報(bào)警和互鎖保護(hù)。
設(shè)備達(dá)到的主要技術(shù)指標(biāo):
移動(dòng)式硅片退火設(shè)備經(jīng)過測試,達(dá)到了如下性能指標(biāo):
恒溫區(qū)尺寸:準(zhǔn)250 mm(內(nèi))×350 mm;
使用溫度:350~750℃;
最高溫度:800℃
控溫精度:±1℃;
溫度均勻性:≤±3℃(按國家標(biāo)準(zhǔn)在400℃、550℃、700℃范圍內(nèi)檢測);
升溫時(shí)間:從室溫升至700℃≤50 min(空爐);
極限真空度:≤4×10-4Pa(空爐);
打開箱門裝料,關(guān)閉箱門抽真空,當(dāng)箱體內(nèi)壓力低于8×10-3Pa時(shí),點(diǎn)擊‘加熱’按鈕,設(shè)備按照預(yù)先設(shè)定的加熱曲線完成升溫、保溫等工藝過程。保溫結(jié)束后,通過主體移動(dòng)結(jié)構(gòu)將設(shè)備加熱系統(tǒng)轉(zhuǎn)移到冷卻位置,使硅片自然冷卻。硅片冷卻過程中,真空室始終保持在真空條件下,如工藝需要也可充入氮?dú)獾榷栊詺怏w,以加快硅片冷卻速度,待硅片在真空室冷卻后,將真空室放氣至與大氣平衡的狀態(tài)即可打開前門取出。
設(shè)備在中國電科某研究所進(jìn)行了實(shí)際使用。對硅單晶片進(jìn)行退火處理,硅片規(guī)格為直徑3英寸和4英寸,厚度300 μm,一次最大裝入50片,退火溫度500℃,保溫完成后自然冷卻。為改善硅片性能,每兩層硅片之間貼附一層鋁片,鋁片厚度30 μm,經(jīng)表面清洗和活化處理后,用夾具將兩者貼合在一起(如圖3所示),然后放入設(shè)備內(nèi)抽真空,排除兩者之間空氣,最后加熱,經(jīng)過分子間相互擴(kuò)散過程,形成強(qiáng)度很大的化學(xué)共價(jià)鍵連接,增加鍵合強(qiáng)度而形成一個(gè)整體。退火處理后,目測鍵合處均勻一致,通過紅外系統(tǒng)檢測后,鍵合界面無孔洞。硅片制成品電阻率明顯降低。
圖3 硅片裝夾圖
目前我所研制的移動(dòng)式硅片退火設(shè)備,具有實(shí)際使用中溫度均勻性好(±3℃)、密封性好(壓升率≤0.5 Pa/h)的優(yōu)點(diǎn),并且一次性處理硅片數(shù)量多,對硅片零污染,解決了硅片退火處理工藝要求很高、普通設(shè)備無法滿足的難題,提高了硅片制成品性能的一致性及可靠性,很大程度上提高了生產(chǎn)效率。設(shè)備在半導(dǎo)體材料制造、電子元器件封裝領(lǐng)域均可以有很大的應(yīng)用空間,經(jīng)濟(jì)效益顯著。
[1]達(dá)道安.真空設(shè)計(jì)手冊(2版)[M].北京:國防工業(yè)出版社,1995.614-629.
[2]王秉銓.工業(yè)爐設(shè)計(jì)手冊(2版)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,1996.743-903.