張 磊

（天津鐵道職業(yè)技術學院，天津，300240）

0 引言

HC08芯片是飛思卡爾半導體公司生產的一種工業(yè)用八位微控制器，其以結構簡單、功能可靠、適用性強而在汽車電子、家用電子等各方面得到了廣泛應用。為了保證HC08芯片的質量可靠性，必須要在芯片封裝后對其進行參數測試和功能測試，JVT測試就是參數測試的一種，并且一般都作為全部測試的最后一項，為實現HC08安全可信的測試結果提供了重要依據。

1 HC08芯片的JVT測試1.1 JVT測試簡介

JVT（Junction Verification Test）是 HC08 芯 片 測 試的一個重要組成部分，它通過測試與芯片管腳內部連接的保護二極管的特性，來檢測芯片的各個管腳對電源腳、對接地腳是否能夠可靠連接。

JVT測試通常安排在芯片測試的最后，即芯片在完成其它參數和功能測試后，再進行JVT測試，作為芯片質量測試的最后一道關卡，它能夠探測出在前期測試過程中由于電壓、電流過大而對芯片造成的破壞，保證測試的準確性和安全性。

1.2 HC08芯片的JVT測試原理

HC08芯片通常由CPU、ROM、RAM、SIM等模塊構成。芯片中各個模塊能否正常運行，都依賴于各個管腳對地和電源的可靠連接。JVT測試就是用來驗證各個管腳對電源和地的連接狀況的一種參數測試。

圖1為HC08芯片一種典型封裝形式的管腳示意圖，圖中Pin4為電源管腳，Pin32為地腳，其余管腳為I/O管腳或晶振、復位等功能管腳。JVT測試就是要驗證這些I/O管腳和功能管腳能否對電源和地進行可靠連接。

HC08芯片進行JVT測試所需要的測試條件如下表1所示：

表1 HC08芯片JVT測試條件

JVT測試原理如下，如圖2所示，在待測管腳和Vdd（電源管腳）之間加入灌電流，通常為5微安左右，利用J750平臺的PPMU（精密測量單元）來測量管腳內部保護二極管的正向壓降，對于硅二極管來說，如果壓降在0.4V到0.8V之前，則表示保護二極管工作正常，待測管腳與Vdd之間實現了可靠連接，如果壓降小于0.4V或大于0.8V， 則表示保護二極管未能正常工作，待測管腳與Vdd之間沒有實現可靠連接，一般低于0.4V時表示二極管被擊穿，高于0.8V時表示二極管與管腳斷開，總之芯片為次品，需要淘汰。

圖3 管腳與Vss之間的JVT測試

圖2 管腳與Vdd之間的JVT測試

同樣還需要測試待測管腳和Vss（接地管腳）之間的連接情況，如圖3所示，在Vss和待測管腳之間加正向電流，通常為100微安左右，來測量保護二極管的正向壓降，如果壓降在0.4V到0.8V之前，則表示保護二極管工作正常，待測管腳與Vss之間實現了可靠連接，否則，表示待測管腳與Vss之間沒有實現可靠連接，芯片為次品。

1.3 HC08芯片的JVT測試過程

JVT的測試流程如圖4所示，JVT測試需要先將芯片斷電，讓其它管腳處在懸空狀態(tài)，再單獨對待測管腳進行測試。這樣充分避免了各個管腳之間的串擾對測試結果的影響，使測試結果更加精確，有效。

圖4 JVT測試流程

如圖5所示為J750測試平臺，分為測試機、電源柜、計算機三部分，是目前對HC08芯片進行功能測試的主流測試平臺。在測試時，先由Handler（機器人手臂）取芯片，之后通過測試電路板與J750測試機相連，然后利用IG-XL軟件給出上電、下電、測試等各項指令，并由計算機輸出最后的測試結果。

圖5 J750測試平臺

圖6所示，即是用IG-XL軟件對HC08芯片進行JVT測試時的參數設置界面，圖中測試對象為 Ports（對應圖2中的管腳3,5~26,28,31), osc1（對應圖2中的管腳1）, osc1(對應圖2中的管腳1)，osc2（對應圖2 中的管腳2）, cgmxfc（對應圖2中的管腳27，29，30）這些管腳和管腳組，系統(tǒng)將依次給每個待測管腳加入5uA電流（其余管腳懸空），測試平臺中的PPMU測量管腳對地或電源腳的電壓。根據芯片材質、封裝工藝及客戶的實際需求，確定測試值的上下限，例如把JVT測試的上限值設置為750mv，下限值設置為250mv，將PPMU測出電壓值，與上下限值比較，得出芯片pass/fail的結論。

圖6 JVT測試的IG-XL軟件界面

2 HC08芯片的JVT測試方法的優(yōu)勢

傳統(tǒng)的開路/短路測試也是針對與管腳相連的鉗位二極管的一種測試，它是通過DPS（Digital Power Supply）給待測管腳加電流，測量管腳與地和電源之前的電壓，來判斷保護二極管能否正常工作，如果電壓過大，表示管腳與地或電源之間是開路狀態(tài)，如果測得的電壓過小，表示管腳與電源或地之間呈現短路狀態(tài)。只有測量結果在上限與下限之間時，表示鉗位二極管能夠正常工作，待測管腳與電源和地之間實現了可靠連接。

與傳統(tǒng)的開路/短路測試相比，JVT測試方法有效的克服了開路/短路測試對高阻態(tài)管腳不敏感的缺點。在進行開路測試時，假設對待測管腳加5uA的電流，測試上限值設為750mV,保護二極管的壓降為0.6V，根據歐姆定律，在待測管腳和Vdd之間的允許電阻為(0.75V-0.6V)/5uA = 30KΩ，也就是說，假如由于靜電擊穿或半導體生產工藝中封裝打線問題，造成待測管腳呈現30KΩ左右的高阻態(tài)，開路測試將不能有效測出。而JVT測試，通常可以在待測管腳和Vdd之間阻抗大于5KΩ時，即可判斷芯片失效，能夠有效的篩選出靜電擊穿的芯片次品。

圖1 HC08芯片引腳示意圖

3 結論

通過JVT測試法，可實現對HC08芯片所有功能管腳的保護二極管的測試，保證了芯片的正常功能，并能有效甄別出因為前期測試過程中的電壓、電流尖峰而對芯片造成的損壞。

[1] MC68HC908JL16 data sheet，- freescale semiconductor, 2005.

[2] Fundamentals of Digital Semiconductor Testing，-freescale semiconductor, July 1999

[3] JVT Evaluation Reference (Rev 0.7) ，-OHT Market Business Group, April 2003

[4] J750 Basic Prog Student Manual(V3.4), -freescale semiconductor, 2003

[5] Visual Basic for Test –Teradyne company, 1999