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干摩擦和水潤滑條件下單晶硅的摩擦磨損性能研究

2012-07-25 04:00周海蘭趙永武陳曉春王永光
中國機械工程 2012年14期
關(guān)鍵詞:單晶硅磨損率因數(shù)

周海蘭 趙永武 陳曉春 王永光

江南大學(xué),無錫,214122

0 引言

單晶硅是當今集成電路制造中的重要材料之一,隨著超大規(guī)模集成電路的發(fā)展,硅片表面要求具有納米級面型精度和亞納米級表面粗糙度,同時保證表面和亞表面無損傷,但由于單晶硅材料硬而脆,加工中極易產(chǎn)生裂紋和脆斷,這就使得硅片的加工技術(shù)面臨著前所未有的挑戰(zhàn)[1-3]。目前,化學(xué)機械拋光技術(shù)(chemical mechanical polishing,CMP)已普遍地應(yīng)用于硅片的超精密加工中,是制造平整光潔芯片的核心技術(shù)之一[4-6]。

CMP被公認為是目前最好的材料全局平坦化方法且已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用的技術(shù)[7]。CMP工藝的實質(zhì)是機械和化學(xué)之間的相互作用規(guī)律[8-9]。然而,研究 CMP中機械和化學(xué)的耦合作用,進而控制化學(xué)作用,一直是科研工作者研究的重要科學(xué)問題:Hickenboth等[10]研究發(fā)現(xiàn),機械能可以促進、控制化學(xué)反應(yīng);Wang等[11]的CMP研究表明,當磨粒具有的機械能大于表面原子具有的去除結(jié)合能時,材料將被去除。以上均表明:可以通過研究CMP中機械作用對化學(xué)反應(yīng)的控制影響規(guī)律,進而調(diào)整機械參數(shù)控制CMP中化學(xué)反應(yīng)的作用。但是如何采用試驗手段的方法揭示機械作用對化學(xué)反應(yīng)的控制影響還有待深入和系統(tǒng)的研究。同時,傳統(tǒng)CMP的拋光液中包含了大量的化學(xué)物質(zhì),如氧化劑、緩蝕劑和螯合劑等,對環(huán)境造成了嚴重的污染。隨著人們對環(huán)境保護和安全健康兩大主題的關(guān)注與日劇增,以綠色拋光液代替?zhèn)鹘y(tǒng)拋光液成為未來研究的熱點[12]。本文在干摩擦和水潤滑條件下,對單晶硅進行摩擦磨損試驗,并分析其摩擦磨損機理,以探索采用綠色拋光液——水來研究CMP中機械作用對化學(xué)反應(yīng)的控制影響規(guī)律。

1 試驗

在 UMT-2微摩擦試驗機(center of trobology,USA)上進行單晶硅(100)的摩擦磨損試驗。對摩偶件為φ4mm的Si3N4小球,下試樣為單晶硅(100)芯片,每次試樣在安裝固定前都在超聲清洗機中用酒精清洗;采用的對偶方式為往復(fù)式,載荷 為30~ 110mN, 滑 動 速 度 為5.33~10.66mm/s,摩擦磨損時間為2min。水潤滑條件下的摩擦磨損試驗采用去離子水為介質(zhì),將單晶硅片完全浸沒在去離子水中,然后進行摩擦磨損試驗,摩擦因數(shù)直接由試驗機自動記錄。之后用Phase Shife MicroXAM-3D 三維白光干涉表面形貌儀測量磨痕長度、寬度和凹陷深度三維參數(shù),從而獲得材料的磨損率和單次劃痕的深度;用掃描電子顯微鏡(SEM)對試件磨損表面形貌進行觀測和分析。

2 結(jié)果與討論

2.1 載荷對摩擦因數(shù)和磨損率的影響

圖1所示為兩種試驗條件下摩擦因數(shù)和磨損率隨載荷的變化曲線。從圖1a可以看出:干摩擦和水潤滑兩種條件下的摩擦因數(shù)均隨著載荷的增大而減小。在載荷為30mN時,水潤滑條件下的摩擦因數(shù)略小于干摩擦條件下的摩擦因數(shù),隨著載荷的不斷增大,水潤滑條件下的摩擦因數(shù)明顯小于干摩擦條件下的摩擦因數(shù);在載荷達到70mN前,摩擦因數(shù)隨載荷增大急劇減?。划斴d荷達到70mN后,隨著載荷的繼續(xù)增大,摩擦因數(shù)趨于穩(wěn)定狀態(tài)。從圖1b可以看出:兩種試驗條件下,磨損率均隨著載荷的增大而增大:干摩擦條件下,在載荷達到70mN前,磨損率隨載荷增大而迅速增大;當載荷達到70mN后,隨著載荷的繼續(xù)增大,磨損率增加較緩慢;水潤滑條件下,磨損率很小,且明顯小于干摩擦條件下的磨損率,在載荷為30mN時,磨損率最小為10μm3/s,磨損率隨著載荷增大只是微量地增大,在載荷為110mN時,磨損率最大為30μm3/s。

圖1 滑動速度為8mm/s時單晶硅片在干摩擦和水潤滑條件下摩擦因數(shù)和磨損率隨載荷的變化關(guān)系曲線

這是因為:干摩擦條件下,隨著載荷的不斷增大,摩擦副之間的摩擦生熱顯著增加,這樣就使得摩擦表面黏結(jié)點分子鍵的抗剪切強度降低,從而使得摩擦因數(shù)下降;同時,摩擦熱引起摩擦表面溫度升高,使得硅基體有蠕變軟化的趨勢,對摩偶件與單晶硅的接觸面積增大,磨損率增大。圖2a所示為單晶硅在干摩擦條件下的的磨損表面形貌SEM照片,可以看出:磨損表面粗糙,有不同程度的顆粒黏著和摩擦氧化跡象,其磨損機理主要表現(xiàn)為黏著磨損;當載荷達到70mN后,隨著載荷的進一步增大,摩擦因數(shù)趨于穩(wěn)定,這是因為對摩區(qū)域SiO2氧化層已經(jīng)形成,使得對摩偶件Si3N4小球與SiO2氧化層直接對摩,磨損逐漸進入穩(wěn)定磨損階段,從而摩擦因數(shù)和磨損率也逐漸趨于穩(wěn)定。而在水潤滑條件下,隨著載荷的增大,摩擦熱促進硅表面生成SiO2氧化膜,同時,對摩件間的載荷和滑動速度容易促進SiO2膜和Si3N4小球與水發(fā)生摩擦化學(xué)作用生成低剪切強度的Si(OH)4[13],潤滑膜化學(xué)反應(yīng)如下:

同時,由于水的冷卻作用,以及水介質(zhì)在摩擦表面形成的水膜將摩擦副隔開,從而明顯減少單晶硅表面的黏著磨損[14],有效地降低了硅片表面的摩擦因數(shù)和磨損率;但當載荷為30mN時,摩擦因數(shù)只是略小于干摩擦條件下的摩擦因數(shù),這是因為載荷太小,未在對摩面間發(fā)生摩擦化學(xué)反應(yīng);當載荷達到70mN后,隨著載荷繼續(xù)增大,機械除膜的速率大于化學(xué)成膜的速率,因此破壞了兩者間的平衡,導(dǎo)致磨損率的增量減小,同時,單晶硅水潤滑條件下,摩擦因數(shù)的大小取決于摩擦化學(xué)反應(yīng)速率,而當載荷達到70mN后,SiO2氧化膜和Si3N4小球與水的摩擦化學(xué)速率趨于穩(wěn)定,因而使得摩擦因數(shù)趨于穩(wěn)定。水潤滑膜和摩擦化學(xué)磨損造成材料的微量去除,導(dǎo)致了磨痕表面較為光滑,磨損程度明顯比干摩擦條件輕,表面幾乎沒有黏著(圖2b)。

圖2 單晶硅在速度為8mm/s、載荷為70mN時的磨損表面形貌SEM照片

2.2 滑動速度對摩擦因數(shù)和磨損率的影響

兩種試驗條件下摩擦因數(shù)和磨損率隨滑動速度的變化曲線如圖3所示。圖3a可以看出:干摩擦條件下,滑動速度為9.33mm/s前,摩擦因數(shù)隨著滑動速度的增大而減小,當滑動速度達到9.33mm/s后,摩擦因數(shù)隨滑動速度的增大而增大;水潤滑條件下,摩擦因數(shù)隨滑動速度的增大而減小,但其摩擦因數(shù)一直較干摩擦條件下的摩擦因數(shù)小。兩種試驗條件下磨損率隨滑動速度的變化曲線如圖3b所示??梢钥闯觯焊赡Σ翖l件下,滑動速度在8mm/s前,磨損率隨著滑動速度的增大而急劇增大,但滑動速度達到9.33mm/s后,磨損率隨著滑動速度增加而下降;水潤滑條件下,磨損率一直很小,幾乎接近與零,磨損率隨滑動速度增加緩慢增加。

這是由于在干摩擦條件下,滑動速度小于8mm/s時,隨著滑動速度增大,摩擦副間的摩擦熱使得滑動界面溫度升高,從而使得接觸區(qū)域氧化物的生成更加有利,同時也引起接觸區(qū)域材料軟化,這就使得真實接觸面積增大,因而導(dǎo)致摩擦因數(shù)降低和磨損率的迅速增大。滑動速度達到9.33mm/s后,隨著速度的進一步提高,對摩區(qū)域產(chǎn)生劇烈的摩擦,導(dǎo)致摩擦表面溫度過高,材料應(yīng)變率增加,對摩偶件Si3N4小球的磨損磨屑在摩擦表面形成的一層硬質(zhì)層,這就使得摩擦因數(shù)增大,同時,由于Si3N4小球磨損,這就使得對摩偶件與硬質(zhì)層的真實接觸面積增大,因而導(dǎo)致磨損率的下降;水潤滑條件下,由于水的冷卻作用和水潤滑膜以及摩擦化學(xué)反應(yīng)膜Si(OH)4膜的潤滑作用,有效地降低了硅片表面的摩擦因數(shù)和磨損率。

由此可見,載荷與滑動速度對單晶硅的摩擦磨損性能影響不同,尤其是單晶硅在高速條件下的摩擦磨損性能以及對摩偶件Si3N4小球的磨損性能還有待于進一步研究。

圖3 載荷為70mN時硅片在干摩擦和水潤滑條件下摩擦因數(shù)和磨損率與滑動速度的關(guān)系

2.3 單次磨痕深度分析

表1列出了干摩擦和水潤滑條件下單次磨痕深度。從表1可以得出:在載荷為70mN,滑動速度為8mm/s時,干摩擦條件下的單次磨痕深度為1.25nm,而水潤滑條件下的單次磨痕深度為0.07nm,因此水潤滑條件下材料去除可認為是單分子層材料去除[15-16]。同時,在上述載荷和滑動速度下,水潤滑條件下磨除率僅為16μm3/s(圖1b),可以認為硅基體表面基本無損傷。因此,水潤滑條件下的磨損機理主要表現(xiàn)為機械控制化學(xué)作用下的原子/分子去除過程。

表1 干摩擦和水潤滑條件下單次磨痕深度

3 結(jié)論

(1)干摩擦條件下的磨損機理主要表現(xiàn)為黏著磨損;水潤滑條件下,磨損機理主要表現(xiàn)為機械控制化學(xué)作用下的原子/分子去除過程。

(2)在水潤滑條件下,載荷為30~70mN之間,滑動速度為8mm/s時,對摩面間的載荷和滑動速度促進了硅片表面發(fā)生摩擦化學(xué)反應(yīng),生成具有潤滑作用的Si(OH)4膜,說明在載荷在30~70mN之間,滑動速度為8mm/s時,機械作用對化學(xué)反應(yīng)有促進作用。

(3)水潤滑條件下,摩擦因數(shù)較干摩擦條件下小,磨損率最小僅為10μm3/s,在載荷為70mN,滑動速度為8mm/s時,單次磨痕深度僅為0.07nm。因此一定機械作用下(載荷和速度),水潤滑條件下具有實現(xiàn)綠色無損傷的化學(xué)機械拋光的可能性。

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