鄧朝暉 王超登 萬林林 張曉紅
(①湖南大學(xué)機(jī)械與運(yùn)載工程學(xué)院,湖南長沙410082)(②湖南大學(xué)國家高效磨削工程技術(shù)研究中心,湖南長沙 410082)
氮化硅陶瓷材料以其強(qiáng)度高、耐高溫、耐化學(xué)腐蝕等優(yōu)良性能在工業(yè)和國防等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。對于氮化硅陶瓷的超精密加工一般采用研磨的加工方式[1-2]。由于氮化硅陶瓷自身的硬、脆特性,研磨加工易在氮化硅陶瓷表面產(chǎn)生劃痕和殘余應(yīng)力等表面缺陷,無法獲得高質(zhì)量的氮化硅表面,影響零件的使用性能[3]。
化學(xué)機(jī)械拋光是機(jī)械磨削和化學(xué)腐蝕相結(jié)合的技術(shù)。它借助微粒子的研磨以及拋光研磨液的化學(xué)腐蝕作用在加工工件表面上形成光潔表面[4]。氮化硅陶瓷材料化學(xué)機(jī)械拋光研究機(jī)理主要表現(xiàn)在以下2個(gè)方面:(1)化學(xué)作用:拋光過程中,拋光微粒和拋光墊在加工工件表面之間相互摩擦產(chǎn)生熱能,形成一個(gè)高溫、高壓的局部環(huán)境,有利于CeO2微粒與氮化硅材料發(fā)生界面化學(xué)反應(yīng),生成SiO2等產(chǎn)物[5]。在高溫作用下Si-O鍵的斷裂,發(fā)生水解反應(yīng)生成Si(OH)4軟質(zhì)層,這種軟質(zhì)層水溶性較強(qiáng),容易被去除[6]。(2)機(jī)械作用:借助CeO2微粒的研磨和拋光墊對工件表面產(chǎn)生一定的擠壓力,把工件表面的軟質(zhì)層除去,并被流動(dòng)的拋光漿料帶走[7]。CeO2材料硬度比 Si3N4材料要小得多(約為1/3),因此在化學(xué)機(jī)械拋光過程中工件表面幾乎不會(huì)受到CeO2微粒所造成的機(jī)械損傷[8]。
化學(xué)機(jī)械拋光工藝各參數(shù)影響化學(xué)和機(jī)械作用效果,只有找到化學(xué)作用與機(jī)械作用的最佳結(jié)合點(diǎn),保證兩者實(shí)現(xiàn)良好匹配,才能滿足氮化硅陶瓷低損傷高質(zhì)量的加工要求。
目前,氮化硅陶瓷材料的化學(xué)機(jī)械拋光工藝研究,主要集中在對平面或者球類零件的精密加工,對外形較復(fù)雜的零件的化學(xué)機(jī)械拋光工藝的研究較為少見[9-10]。本文根據(jù)數(shù)控坐標(biāo)磨床的特點(diǎn)和氮化硅陶瓷回轉(zhuǎn)曲面零件的加工要求,將化學(xué)機(jī)械拋光(Chemo-mechanical polishing,CMP)工藝應(yīng)用到氮化硅陶瓷超精密加工過程中,獲得了較高的加工表面質(zhì)量,有效地控制了加工表面缺陷;并通過實(shí)驗(yàn)研究了化學(xué)機(jī)械拋光工藝各參數(shù)對氮化硅陶瓷表面粗糙度的影響規(guī)律。
本實(shí)驗(yàn)采用寧江機(jī)床廠生產(chǎn)的高精度數(shù)控坐標(biāo)磨床MK2945C。該機(jī)床具有六軸三聯(lián)動(dòng)功能,砂輪中心線與主軸中心線之間有一個(gè)偏置軸稱為U軸,砂輪圍繞主軸旋轉(zhuǎn)的行星軸稱為C軸。自制聚氨酯和無紡布拋光輪,在拋光過程中用拋光輪取代砂輪。回轉(zhuǎn)曲面工件拋光運(yùn)動(dòng)方式為:工件被夾具夾持在自旋工作臺(tái)上,通過自旋工作臺(tái)旋轉(zhuǎn)及拋光輪的自轉(zhuǎn)配合C軸轉(zhuǎn)動(dòng)從而實(shí)現(xiàn)拋光運(yùn)動(dòng)過程。本實(shí)驗(yàn)使用的材料為北京中材人工晶體研究院生產(chǎn)的高性能氮化硅陶瓷,采用氣氛壓力燒結(jié)成型,其力學(xué)性能如表1所示。Si3N4陶瓷工件拋光實(shí)驗(yàn)裝置示意圖如圖1所示。
拋光工藝參數(shù)如下:水基CeO2拋光液濃度為(5%~20%);拋光輪轉(zhuǎn)速為6 000~10 500 r/min;拋光液流量為0.4~1 L/min;拋光總時(shí)間為4 h,粗拋為聚氨酯拋光輪,拋光時(shí)間為3 h;精拋為無紡布拋光輪,拋光時(shí)間為1 h;拋光過程中粗拋和精拋選用相同的工藝參數(shù)。自旋工作臺(tái)轉(zhuǎn)速為100 r/min。拋光過程中拋光輪始終與氮化硅表面之間保持一定的接觸。
表1 氮化硅陶瓷力學(xué)性能
實(shí)驗(yàn)檢測設(shè)備如下:JB-4C精密粗糙度測試儀,測量精度達(dá)到0.001 μm,能實(shí)現(xiàn)表面粗糙度的多種參數(shù)測量,在氮化硅陶瓷回轉(zhuǎn)曲面工件幾個(gè)均布位置上分別測量3次,求其平均值作為此拋光條件下的粗糙度值。用德國萊卡(LEICA)DMI-RM倒置金相光學(xué)顯微鏡,對拋光前后工件表面形貌進(jìn)行觀測。
用400#金剛石噴鍍砂輪磨削半徑R=15 mm的氮化硅陶瓷回轉(zhuǎn)曲面工件,工件表面未出現(xiàn)裂紋,表面粗糙度值為0.7 μm,如圖2。在此基礎(chǔ)上進(jìn)行化學(xué)機(jī)械拋光實(shí)驗(yàn),采用單因素法研究了拋光液濃度、拋光液流量、拋光輪轉(zhuǎn)速等工藝參數(shù)對氮化硅陶瓷表面粗糙度的影響規(guī)律。
圖3為拋光后表面粗糙度與拋光液濃度的關(guān)系,其中拋光輪轉(zhuǎn)速為6 000 r/min,拋光液流量為0.6 L/min。
如圖3所示,隨著CeO2濃度的增大,氮化硅陶瓷加工表面Ra值變小,當(dāng)拋光液濃度超過20%后,Ra值增大。其原因?yàn)?拋光液濃度較低時(shí),拋光液中CeO2微粒不足,即沒有足夠的CeO2微粒參與化學(xué)反應(yīng),從而使氮化硅材料的去除率較低,表面粗糙度差;當(dāng)拋光液濃度增大時(shí),化學(xué)機(jī)械拋光過程中參與化學(xué)反應(yīng)的原料供應(yīng)增加,加大了有效機(jī)械研磨作用,使局部溫度升高,化學(xué)反應(yīng)加速,并且生成的軟質(zhì)層被有效去除,從而實(shí)現(xiàn)了較高的去除率和加工表面質(zhì)量;拋光液的濃度進(jìn)一步增大時(shí),化學(xué)作用得到進(jìn)一步的增強(qiáng),但是機(jī)械作用相對不足,導(dǎo)致表面粗糙度值增大。
圖4所示為表面粗糙度與拋光液流量的關(guān)系圖。拋光液選用CeO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)20%,拋光輪轉(zhuǎn)速6 000 r/min。
如圖4所示,隨著拋光液流量增大,氮化硅陶瓷加工表面Ra值變小,當(dāng)流量超過0.6 L/min后,Ra值增大。其原因?yàn)?當(dāng)拋光液流量增大時(shí),使CMP過程中參與化學(xué)反應(yīng)的CeO2微粒增多,并有利于拋光輪微孔中的殘?jiān)驋伖飧碑a(chǎn)物及時(shí)排除,從而增大了拋光速率,提高了拋光質(zhì)量。當(dāng)流量超過0.6 L/min后,由于流量過大,拋光液中的CeO2微粒被快速帶走,影響了CeO2微粒與氮化硅表面及拋光墊的三體接觸過程與接觸時(shí)間,導(dǎo)致拋光過程中化學(xué)作用相對不足,表面粗糙度值增大,表面質(zhì)量降低。
圖5所示為表面粗糙度與拋光輪轉(zhuǎn)速的關(guān)系圖,其中CeO2質(zhì)量分?jǐn)?shù)20%,拋光液流量0.6 L/min。
隨著拋光輪轉(zhuǎn)速的增大,氮化硅表面Ra值增大。其原因?yàn)?在相同時(shí)間內(nèi),轉(zhuǎn)速越大,噴射到工件表面與拋光輪之間的拋光液被快速甩出,沒有足夠的CeO2微粒參與化學(xué)反應(yīng),使拋光過程中化學(xué)反應(yīng)不夠充分,拋光過程中機(jī)械作用相對過強(qiáng),拋光效果不理想。因此在拋光過程中選擇較低轉(zhuǎn)速比較適宜。
根據(jù)以上的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,綜合考慮拋光效率和表面加工質(zhì)量這2個(gè)因素,對氮化硅陶瓷回轉(zhuǎn)曲面工件化學(xué)機(jī)械拋光工藝參數(shù)進(jìn)行優(yōu)選,具體工藝參數(shù)為:拋光液濃度為20%,拋光液流量為 0.6 L/min,拋光輪轉(zhuǎn)速為6 000 r/min,其他參數(shù)不變。其表面粗糙度Ra平均值為12 nm。如圖6所示,為倒置金相光學(xué)顯微鏡觀測的表面形貌圖,采用上述加工工藝進(jìn)行拋光加工,可見氮化硅陶瓷表面光潔,無明顯缺陷與劃痕。
(1)將化學(xué)機(jī)械拋光工藝應(yīng)用在數(shù)控坐標(biāo)磨床上,獲得了高質(zhì)量的氮化硅陶瓷加工表面,為氮化硅陶瓷回轉(zhuǎn)曲面工件的超精密加工提供了一種新的方法。
(2)本文采用單因素法,研究了拋光液濃度、拋光液流量、拋光輪轉(zhuǎn)速對加工表面粗糙度的影響規(guī)律:表面粗糙度Ra值并不是隨著濃度增大而得到提高,而是先降低然后增大的趨勢;表面粗糙度Ra值隨著拋光液流量的增大先降低然后增大;表面粗糙度Ra值隨著拋光輪轉(zhuǎn)速的增大而增大,因此在拋光過程中選擇較低轉(zhuǎn)速比較適宜。
(3)對拋光工藝實(shí)驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行了優(yōu)選。結(jié)果表明:在拋光液濃度為20%,拋光液流量為0.6 L/min,拋光輪轉(zhuǎn)速為6 000 r/min的條件下,能獲得較好的表面質(zhì)量,其表面粗糙度Ra值達(dá)12 nm。
[1]吳明明,周兆忠.陶瓷球軸承球體的高精密研磨方式[J].現(xiàn)代制造工程,2004(2):66-68.
[2]李立明,李茂,朱永偉.固結(jié)磨料研磨與拋光的研究現(xiàn)狀與展望[J].金剛石與磨料磨具工程,2009(5):17-22.
[3]任成祖,許浩.氮化硅軸承球表面層殘余應(yīng)力的形成機(jī)理及實(shí)驗(yàn)研究[J].硅酸鹽通報(bào),2000(4):31-35.
[4]雷紅,雒建斌,馬俊杰.化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)的發(fā)展、應(yīng)用及存在的問題[J].潤滑與密封,2002(4):73-76.
[5]Jiang M,Wood N O,Komanduri R.On chem -omechanical polishing(CMP)of silicon nitride(Si3N4)work material with various abrasives[J].Wcar,1998,220(1):59 -71.
[6]Wang L,Snidle R W,Gu L,Rolling contact silicon nitride bearing technology research:a rev - iew of recent research[J].Wear,2000,246(1/2):159-173.
[7]陳勇,李攀.高準(zhǔn)確度玻璃光學(xué)元件的CMP技術(shù)研究[J].光子學(xué)報(bào),2008,37(12):2049 -2052.
[8]Yuan J L,Lü B H,Lin X,et al.Research on abrasives in the chemical mechanical polishing process for silicon nitride balls[J].Journal Materi- als Processing Technology,2002,129(1/3):171 -175.
[9]朱從容,呂冰海,袁巨龍.氮化硅陶瓷球化學(xué)機(jī)械拋光機(jī)理研究.中國機(jī)械工程[J],2010,21(10):1245 -1249.
[10]Myoung-Hwan Oh,Rajiv K.Singh,Sushant Gupta,et al.Polishing behaviors of single crystalline ceria abrasives on silicon dioxide and silicon nitride CMP[J].Microelectronic Engi- neering,2010,87(12):2633-2637.