摘要:掃描光柵微鏡的轉(zhuǎn)動結(jié)構(gòu)通常設(shè)計(jì)成扭振系統(tǒng),通過扭轉(zhuǎn)梁實(shí)現(xiàn)微鏡轉(zhuǎn)動時(shí)的結(jié)構(gòu)抗扭。將扭轉(zhuǎn)梁設(shè)計(jì)成折疊形式,可以減小扭轉(zhuǎn)梁的抗扭剛度,但扭轉(zhuǎn)振型仍有可能未成為系統(tǒng)的一階主振型。因此,通過提高系統(tǒng)鏡板的轉(zhuǎn)動慣量和設(shè)置剛度調(diào)節(jié)棒,改進(jìn)系統(tǒng)的振型模態(tài)分布。最后,對優(yōu)化后結(jié)構(gòu)進(jìn)行了理論計(jì)算和基于ANSYS的有限元軟件仿真,結(jié)果均表明優(yōu)化后結(jié)構(gòu)能有效改善微鏡的扭轉(zhuǎn)諧振特征。
關(guān)鍵詞:掃描光柵微鏡;結(jié)構(gòu)優(yōu)化;剛度調(diào)節(jié);有限元仿真
中圖分類號:TH703" " 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A" " 文章編號:1671-0797(2025)03-0044-04
DOI:10.19514/j.cnki.cn32-1628/tm.2025.03.012
0" " 引言
掃描光柵微鏡作為微型近紅外光譜儀的核心器件,能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)機(jī)械掃描與光學(xué)分光[1];具有體積小、功耗低,能以單管探測器代替昂貴的陣列探測器等優(yōu)點(diǎn),是替代傳統(tǒng)近紅外和中紅外光譜分析檢測裝備的新一代核心分光器件[2]。在各種電磁式掃描光柵微鏡中,基于FR4的掃描光柵微鏡機(jī)械結(jié)構(gòu)和驅(qū)動線圈可以通過快速、低成本的商業(yè)化PCB技術(shù)進(jìn)行加工,傳感線圈也可以一體化集成,因此具有顯著的低成本優(yōu)勢[3-4]。
1" " 電磁式掃描光柵微鏡工作原理
電磁式掃描光柵微鏡的電磁驅(qū)動器主要是利用驅(qū)動電流在磁場中所受安培力來產(chǎn)生驅(qū)動力,驅(qū)動電壓低,驅(qū)動位移大且響應(yīng)速度快。在電磁式掃描光柵微鏡中利用多自由度諧振系統(tǒng)特性,實(shí)現(xiàn)對掃描光柵微鏡轉(zhuǎn)動角的放大,從而有效提升器件掃描角。
基本結(jié)構(gòu)的掃描光柵微鏡扭轉(zhuǎn)梁為直梁結(jié)構(gòu),扭轉(zhuǎn)剛度主要由左右兩根扭轉(zhuǎn)直梁提供,假設(shè)單根扭轉(zhuǎn)梁的抗扭剛度為Ksθ,F(xiàn)R4制造工藝下扭轉(zhuǎn)梁截面一般為矩形,其高等同鏡板厚度t,假定梁寬為ws,則截面扭轉(zhuǎn)因子Jp可由式(1)計(jì)算:
Jp=wst3β(1)
式中:β為與ws和t兩參數(shù)相關(guān)的雙曲正切函數(shù),具體近似數(shù)值也可通過查表得到。
假定扭轉(zhuǎn)直梁的長度為ls,則其扭轉(zhuǎn)剛度Ksθ可由式(2)計(jì)算:
Ksθ==(2)
式中:Mx為梁末端施加的扭轉(zhuǎn)力矩;θx為梁末端轉(zhuǎn)角;G為材料的剪切模量。
直梁結(jié)構(gòu)微鏡系統(tǒng)剛度偏大,會導(dǎo)致諧振微鏡偏轉(zhuǎn)角不夠大[5],目前主流的改進(jìn)方法是將光柵鏡板和邊框之間的扭轉(zhuǎn)直梁調(diào)整為圖1所示的折疊梁,以降低扭轉(zhuǎn)梁的扭轉(zhuǎn)剛度。
對于折疊梁結(jié)構(gòu),其抗扭剛度的計(jì)算相對比較復(fù)雜,需要根據(jù)單元荷載法計(jì)算折疊梁末端轉(zhuǎn)角θx與施加的扭轉(zhuǎn)力矩Mx之間的關(guān)系,如式(3)所示:
θx=Mx
(l0-ws)+
(4lp+2ws)(3)
式中:E為材料的彈性模量;Iy0為折疊梁矩形截面的慣性矩。
根據(jù)式(3)可計(jì)算出折疊梁的扭轉(zhuǎn)剛度,如式(4)所示:
Ksθ==
(l0-ws)+
(4lp+2ws)(4)
2" " 優(yōu)化前結(jié)構(gòu)分析
電磁式掃描光柵微鏡的扭轉(zhuǎn)梁由直梁改為折疊梁后將會出現(xiàn)一個嚴(yán)重問題,即微鏡沿豎直方向上下振動的抗彎剛度也相應(yīng)變?nèi)?,?dǎo)致平動模態(tài)振型的頻率也相應(yīng)降低,豎直方向上下振動的平動模態(tài)可能仍然是系統(tǒng)的一階主振型,而系統(tǒng)期望的扭轉(zhuǎn)振型未必會變成一階主振型。一般來說,低階振型對結(jié)構(gòu)振動的影響要大于高階振型,因此扭轉(zhuǎn)振型不是第一階主振型對以扭轉(zhuǎn)發(fā)生諧振為工作目標(biāo)的微鏡系統(tǒng)而言不夠理想[6]。
首先,建立折疊梁掃描光柵微鏡模型參數(shù)。FR4鏡板基底尺寸:12 mm×12 mm×0.4 mm;折疊梁尺寸:l0=12 mm、lp=0.7 mm、ws=1.2 mm;密度:1 850 kg/m3;楊氏模量:20 GPa;剪切模量:7.8 GPa。FR4鏡板基底上疊合光柵層,光柵層材料密度:2 330 kg/m3;楊氏模量:169 GPa;剪切模量:66 GPa。理論計(jì)算結(jié)果顯示,器件一階模態(tài)的振型為微鏡沿豎直方向上下振動,諧振頻率為294.1 Hz,二階模態(tài)振型即為預(yù)期的微鏡扭轉(zhuǎn)運(yùn)動,諧振頻率為295.3 Hz,三階和四階模態(tài)的振型分別為微鏡在其所在平面內(nèi)的扭轉(zhuǎn)運(yùn)動和平動,諧振頻率分別為712.9 Hz和814.1 Hz??梢园l(fā)現(xiàn)器件預(yù)期工作模態(tài)與相鄰模態(tài)間的諧振頻率相隔較近,存在一定的發(fā)生振型跳躍的概率;另外,扭轉(zhuǎn)振動并非第一階主振型,工作時(shí)容易受到一階主振型成分的影響,引起模態(tài)間的串?dāng)_。
同時(shí),應(yīng)用ANSYS有限元軟件對結(jié)構(gòu)優(yōu)化前的折疊梁掃描光柵微鏡結(jié)構(gòu)進(jìn)行模態(tài)分析。結(jié)構(gòu)優(yōu)化前的第一階振動模態(tài)和第二階振動模態(tài)分別如圖2、圖3所示,振動頻率結(jié)果如表1所示。
可以發(fā)現(xiàn)第一階為豎直方向上下平動,諧振頻率為294.3 Hz,二階模態(tài)振型為期望的微鏡扭轉(zhuǎn)運(yùn)動,諧振頻率為294.77 Hz。仿真結(jié)果和理論計(jì)算結(jié)果一致,均表明一階和二階模態(tài)諧振頻率相距很近,極易發(fā)生模態(tài)間的串?dāng)_。
3" " 結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計(jì)
結(jié)構(gòu)優(yōu)化目標(biāo):一方面提高微鏡系統(tǒng)的轉(zhuǎn)動慣量,但避免提高系統(tǒng)的抗扭剛度;另一方面大幅提高微鏡系統(tǒng)在豎直上下方向的抗彎剛度。這樣優(yōu)化設(shè)計(jì)后,可以拉開微鏡系統(tǒng)一階和二階振型的頻率間隔;同時(shí),將扭轉(zhuǎn)振型調(diào)整為微鏡系統(tǒng)的第一階主振型。優(yōu)化后結(jié)構(gòu)如圖4所示。第一,在FR4鏡板基底一對側(cè)邊各增加一條附重棒,針對性提高微鏡系統(tǒng)的轉(zhuǎn)動慣量;第二,安裝一端可在橢圓孔支座內(nèi)自由轉(zhuǎn)動但上下方向約束的一對剛度調(diào)節(jié)棒,提高微鏡系統(tǒng)在豎直上下方向的抗彎剛度,但不改變抗扭剛度。
接下來,對本文所提的優(yōu)化結(jié)構(gòu)進(jìn)行計(jì)算仿真。為降低計(jì)算難度,簡化調(diào)節(jié)棒的截面并調(diào)整布置位置,同時(shí)橢圓支座的約束在ANSYS中被設(shè)定為轉(zhuǎn)動約束釋放,而僅在豎直上下方向限制位移。第一階模態(tài)如圖5所示,顯示系統(tǒng)的第一階振型是扭轉(zhuǎn)振型,位于扭轉(zhuǎn)軸中軸線上的剛度調(diào)節(jié)棒由于在兩端支座處釋放了轉(zhuǎn)動約束(可自由轉(zhuǎn)動),微鏡轉(zhuǎn)動時(shí)圓桿調(diào)節(jié)棒不會在系統(tǒng)中形成抗扭貢獻(xiàn);從分布云圖上也可以看出圓桿確實(shí)滿足了設(shè)計(jì)要求,只有轉(zhuǎn)動但未受扭矩,因此圓桿也就沒有因?yàn)樾枰挚古ぞ厮纬傻膽?yīng)變和應(yīng)力。
第二階振型為豎直方向的上下平動模態(tài),如圖6所示。在這個方向上可以看到圓桿狀剛度調(diào)節(jié)棒存在明顯的撓曲變形,證明相關(guān)構(gòu)造設(shè)計(jì)在豎直方向上提供了有效抗彎剛度,增加了該平動方向整個系統(tǒng)的抗彎剛度,從而也使得相關(guān)平動振型的頻率提升。
優(yōu)化后振動頻率結(jié)果如表2所示。
由表2可以發(fā)現(xiàn),結(jié)構(gòu)優(yōu)化后確保了所期望的扭轉(zhuǎn)振動模態(tài)為第一階主振型(諧振頻率為262.16 Hz),而豎直方向上下平動模態(tài)變?yōu)榈诙A振型(諧振頻率為615.26 Hz),這將增加平動振型模態(tài)的啟動和激發(fā)難度,削減系統(tǒng)工作過程中并不期望的平動振型振動分量;同時(shí),結(jié)構(gòu)優(yōu)化后系統(tǒng)的第一階主振型扭轉(zhuǎn)振動的頻率與其他各階振型頻率也清晰分離,幾乎不可能發(fā)生模態(tài)間的串?dāng)_或振型跳躍,從而構(gòu)建了更可靠的扭轉(zhuǎn)諧振系統(tǒng)。
4" " 結(jié)束語
本文針對FR4電磁式掃描光柵微鏡系統(tǒng)可能出現(xiàn)的扭轉(zhuǎn)振型頻率并非第一階主振型的結(jié)構(gòu)失調(diào)現(xiàn)象,設(shè)計(jì)了增加附重棒和剛度調(diào)節(jié)棒的優(yōu)化結(jié)構(gòu)。根據(jù)ANSYS有限元軟件的仿真計(jì)算結(jié)果,設(shè)計(jì)能有效調(diào)整系統(tǒng)的振型分布,使期望的扭轉(zhuǎn)振型成為系統(tǒng)的一階主振型,同時(shí)優(yōu)化后的結(jié)構(gòu)也顯著拉開了系統(tǒng)的一、二階頻率差值,確保能清晰分離不同振型,避免發(fā)生頻率跳躍,從而有效放大了微鏡系統(tǒng)所追求的扭轉(zhuǎn)諧振特征,提高了系統(tǒng)工作的可靠性。
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收稿日期:2024-10-11
作者簡介:劉海濤(1975—),男,重慶人,博士研究生,研究方向:MEMS器件設(shè)計(jì)及應(yīng)用。