莫秀英 陳坤 田志

摘 要：數(shù)字集群對講機在使用時會概率性出現(xiàn)鎖相環(huán)失鎖問題，造成對講機在集群模式下無法注冊入網(wǎng)、在直通模式下無法通信、調(diào)試模式下不能進行指標測試等問題，必須重啟機器才能恢復。針對這一現(xiàn)象，從理論上分析，造成這種干擾的可能是信號完整性問題、鎖相環(huán)的環(huán)路濾波器配置問題、電源完整性問題等。針對可能的原因逐個分析和測試，得出增大電源的濾波電容、并同時增加緩啟動電路和軟件檢測鎖相環(huán)鎖定狀態(tài)的解決方案，從示波器測試結(jié)果分析可以看出，徹底解決了因收發(fā)切換時電壓跌落造成的鎖相環(huán)失鎖問題，對講機的穩(wěn)定可靠性得到了明顯改善。

關(guān)鍵詞：鎖相環(huán)失鎖；電源完整性；信號完整性；啟動電路

基金項目：2023年攀登計劃—基于智能傳感器檢測的智慧校園節(jié)能減排的系統(tǒng)研究，項目編號pdjh2023 b1117

鎖相環(huán)廣泛應用于頻率合成、時鐘分配、相位解調(diào)以及時鐘恢復等，是無線通信、光纖鏈路、射頻收發(fā)機及微型計算機等必不可少的一部分，其穩(wěn)定性對于確保整個電子系統(tǒng)的性能具有重要意義[1-2]。數(shù)字集群對講機在常溫環(huán)境（25℃）使用時，會出現(xiàn)鎖相環(huán)失鎖的現(xiàn)象，導致對講機在集群模式下無法注冊入網(wǎng)、在直通模式下無法通信、調(diào)試模式下不能進行指標測試等問題，在低溫環(huán)境下（-40℃）測試指標時鎖相環(huán)失鎖出現(xiàn)的概率更大。本文通過造成鎖相環(huán)失鎖的原因分析和實驗結(jié)果，得出解決鎖相環(huán)失鎖問題的解決方案，即增大電源的濾波電容、并同時增加緩啟動電路和軟件檢測鎖相環(huán)鎖定狀態(tài)。

1 對講機鎖相環(huán)工作原理

鎖相環(huán)（PLL）電路存在于各種高頻應用中，從簡單的時鐘凈化電路到高性能無線電通信鏈路的本振（LO）等。

鎖相環(huán)是一種實現(xiàn)相位自動鎖定的控制系統(tǒng)，最基本配置是將參考信號的相位與可調(diào)反饋信號的相位進行比較，當比較結(jié)果處于穩(wěn)態(tài)，即輸出頻率和相位與鑒相器的輸入頻率和相位匹配時，鎖相環(huán)即被鎖定[3-4]。

鎖相環(huán)通常由鑒頻鑒相器（PD）、環(huán)路濾波器（LPF）和壓控振蕩器（VCO） 3 部分組成[4]，鎖相環(huán)的組成框圖如圖1 所示。鑒頻鑒相器將輸入?yún)⒖碱l率FREF 和相位與反饋信號的頻率和相位進行比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出泵電流IC，經(jīng)環(huán)路濾波器積分后，形成壓控振蕩器VCO的調(diào)諧電壓UC 去調(diào)整VCO 的頻率和相位，使之最終收斂或鎖定到相同頻率及相位。

對講機的工作頻段在300 MHz ～ 400 MHz 之間，采用小數(shù)分頻鎖相環(huán)，設(shè)計框圖如圖2 所示。其工作原理為：主控芯片根據(jù)時序要求，通過SPI 總線配置鎖相環(huán)的頻點信息，同時控制模擬開關(guān)、選擇環(huán)路濾波器以及配置外部快鎖模塊，使VCO 快速振蕩至所需頻點。

2 造成鎖相環(huán)失鎖的原因分析

現(xiàn)象1：常溫環(huán)境下，對講機正常使用過程中，多次呼叫后，會出現(xiàn)呼叫失敗、和被呼機器建立鏈接失敗的現(xiàn)象。此現(xiàn)象出現(xiàn)概率不高，當出現(xiàn)該現(xiàn)象后，通過天線口測試故障機器的發(fā)射指標，發(fā)現(xiàn)無論切換至哪個頻點：

1）對講機的輸出頻點都是399.70 MHz 附近，如圖3 所示；

2）用示波器測試鎖相環(huán)環(huán)路濾波器的輸出電壓CV，也一直保持不變，正常情況下不同頻點CV 值不同。

據(jù)此可以判斷故障機器的鎖相環(huán)失鎖了。

現(xiàn)象2：低溫環(huán)境下（-40℃），測試對講機的發(fā)射和接收性能指標時：如果一開始就測試發(fā)射指標，對講機都能正常工作，一旦切換到接收性能測試，就出現(xiàn)鎖相環(huán)失鎖；如果一開始就測試接收指標，切換到發(fā)射指標測試時，對講機也能正常工作，但是切換回接收指標測試，就會出現(xiàn)鎖相環(huán)失鎖的現(xiàn)象，有2 臺樣機100% 出現(xiàn)該現(xiàn)象，且出現(xiàn)后無論切換至哪個頻點，頻譜儀測試的頻點都是399.70 MHz，CV 值也保持不變。

根據(jù)以上現(xiàn)象分析，可以得出以下推論：

1）出現(xiàn)鎖相環(huán)失鎖，是在對講機由“發(fā)射”切換至“接收”狀態(tài)時出現(xiàn)的；

2）常溫和低溫環(huán)境下出現(xiàn)鎖相環(huán)失鎖，其原因是一致的，低溫環(huán)境下由于器件特性參數(shù)惡化，出現(xiàn)的概率才更高；

3）根據(jù)經(jīng)驗，可能是信號完整性、環(huán)路濾波器參數(shù)配置或電源完整性導致。

4）針對可能的原因我們逐個分析、測試，從而找到問題的根本原因，并提出解決方案。

2.1 信號完整性

主控芯片通過SPI 總線對鎖相環(huán)IC（鑒頻鑒相器）進行配置，鎖相環(huán)IC 再根據(jù)不同的頻點輸出不同的CV值。為了濾除SPI 總線上的干擾、毛刺，我們在SPI 總線的時鐘（CLK）、數(shù)據(jù)（DATA）和片選（CS）線上串聯(lián)了22 Ω 電阻，對地并聯(lián)了33 pF 電容，因此初步認為是SPI 總線頻率高、信號完整性不佳，兩者之間通信異常，導致配置失敗并造成失鎖。

用示波器測試SPI 總線的波形如圖4 所示。從波形分析，SPI 總線信號質(zhì)量尚可，不會造成鎖相環(huán)失鎖。

將SPI 總線上接的電容都去掉、電阻改成0 Ω，對講機仍然會失鎖，因此排除SPI 總線信號完整性的原因。

2.2 環(huán)路濾波器配置

鎖相環(huán)失鎖后，切換頻點時，VCO 輸出的頻率和VCO 的調(diào)諧電壓CV_T/RX 都保持不變，因此也有可能是環(huán)路濾波器的參數(shù)配置問題導致，包括環(huán)路濾波器的快鎖控制電路。

把快鎖控制電路斷開、或調(diào)整環(huán)路濾波電路的C1值，在低溫環(huán)境下進行測試，鎖相環(huán)依舊會失鎖，因此也可以確認不是環(huán)路濾波電路的問題。

2.3 電源完整性

前文提到，鎖相環(huán)失鎖是在對講機由“發(fā)射”切換到“接收”時出現(xiàn)的，根據(jù)軟件控制邏輯，由“發(fā)”轉(zhuǎn)“收”的過程中，軟件做了以下動作：1）重新配置鎖相環(huán)IC 的頻點信息；2）關(guān)閉發(fā)射鏈路的電源；3）打開接收鏈路的電源。

從鎖相環(huán)失鎖后SPI 總線的波形時序分析，可以確定主控芯片能正常發(fā)送配置信息。因此不排除是收發(fā)切換過程中電源的打開、關(guān)閉造成電壓波動，引起鎖相環(huán)失鎖。

接收鏈路的電源電路如圖6 所示。其中， 電源3V3DRF 通過MOS 開關(guān)變成3V3_RX，給接收鏈路供電。同時，3V3DRF 還給鎖相環(huán)芯片、中頻數(shù)字化芯片等供電。

用示波器測試3V3DRF、3V3_RX 的波形，在對講機由“發(fā)射”切換到“接收”瞬間，發(fā)現(xiàn)3V3DRF 從3.3 V 跌落到2.7 V，再升回3.3 V，如圖7 所示。

基于這個測試結(jié)果，我們作了以下分析：

1）由于3V3DRF 也給鎖相環(huán)芯片供電，規(guī)格書顯示鎖相環(huán)芯片能接受的最低電源電壓是2.7 V，低于2.7 V會造成鎖相環(huán)芯片掉電復位。

2）主控芯片只在對講機開機時才初始化鎖相環(huán)芯片，使用過程中，鎖相環(huán)芯片低電復位后，主控芯片沒有對其初始化配置，鎖相環(huán)芯片內(nèi)部寄存器進入復位后的默認狀態(tài)，不受主控芯片控制。這就是為什么鎖相環(huán)失鎖后，對講機的輸出頻點和環(huán)路濾波器的輸出電壓CV 都不隨頻點切換而變化，必須重啟對講機才可以。

3）同時，低溫環(huán)境下鎖相環(huán)芯片性能變差，能接受的最低電壓高于2.7 V，所以低溫環(huán)境下鎖相環(huán)失鎖出現(xiàn)的概率比常溫時更高。

3 實驗結(jié)果與分析

針對電壓跌落造成鎖相環(huán)失鎖的問題，還需要找到造成電壓跌落的根本原因，才能從根本上解決問題。由于接收通路上的濾波器、低噪聲放大電路、混頻器、中頻放大電路等模塊都是由3V3_RX 供電，功耗大，尤其在上電瞬間，可能出現(xiàn)瞬時大電流造成電壓跌落。

為此我們測試了3V3DRF 跌落瞬間，從3V3DRF 流向3V3_RX 的電流，如圖8 所示。

從測試結(jié)果分析，對講機由“發(fā)射”切換到“接收”瞬間，接收通路3V3_RX 處產(chǎn)生了高達1.83 A 的瞬態(tài)大電流，而3.6 V 轉(zhuǎn)3V3DRF 的LDO（XC6209F332） 最大輸出電流只有0.5 A，帶載能力不足造成3V3DRF 電壓跌落至2.78 V，最終導致了鎖相環(huán)失鎖。

3.1 增大電源的濾波電容

加大LDO 的濾波電容，如圖9 所示，LDO 輸出的最大電流只有0.5 A，3V3DRF 的濾波電容只有10 μF，當負載電流波動較大時，LDO 和濾波電容帶載能力不足，必然出現(xiàn)電壓跌落的情況。在當前條件下已找不到輸出電流更大的LDO，可以增大濾波電容C449 的容量，瞬間電流由C449 提供，電容值根據(jù)式（1）估算：

已知瞬時大電流I 是1.83 A，時間Δt 是2.5 μs，假設(shè)要使電壓跌落幅度小于0.1 V，那么電容C449 不能小于45.75 μF。受器件封裝、耐壓等限制，C449 改用47 μF。

將C449 改成47 μF 后，對講機從“發(fā)射”切換到“接收”時，電源3V3DRF的波形變化及瞬時電流如圖9 所示。

從測試波形分析，C449 容值增大后，3V3DRF 電壓跌落情況得到了明顯改善，跌落的最低值由之前的2.7 V提升到3.13 V，滿足鎖相環(huán)芯片的工作需求。但是收發(fā)切換瞬間電流沒有變，依舊存在著因瞬間電流大導致電壓跌落，出現(xiàn)鎖相環(huán)失鎖的可能性。

3.2 增加緩啟動電路

減小收發(fā)切換時3V3_RX 上電瞬間的電流，MOS管的導通內(nèi)阻隨VGS 變化而變化，如圖10 所示。

如圖11 所示，在MOS 開關(guān)電路上增加C6、R6，構(gòu)成緩啟動電路。當MOS 管導通瞬間，電容C6 通過電阻R6 緩慢放電，使VGS 緩慢升高，MOS 管導通內(nèi)阻緩慢減小，在導通前期起到限流作用，達到減小瞬時電流的目的。緩啟動時間（MOS管導通時間）可按式（2）估算：

τ = R×C （2）

引入緩啟動電路后，MOS管導通時間延長，相應的，MOS 管的截止時間也延長了。關(guān)閉MOS 管時，由于電容C6 兩端電壓不能突變，電源3V3DRF 通過R5 給C6充電，當VGS ＜ VGS（TH）時，MOS 管才徹底截止。充電時間可以由上述公式估算。

對講機從發(fā)射切換到接收狀態(tài)時的瞬間大電流持續(xù)時間2.5 μs，緩啟動時間應大于2.5 μs。由于對講機收發(fā)切換時隙是1 ms，因此MOS 管的導通和截止時間不能大于1 ms。經(jīng)過計算及實際驗證，R5、R6、C6 采用圖11 所示參數(shù)，MOS 管導通時間約10 μs，MOS 管關(guān)閉時間約100 μs。

增加緩啟動電路R6、C6，對講機從“發(fā)射”切換到“接收”時，電源3V3DRF 的波形變化及瞬時電流如圖12 所示。

從圖12 波形分析，加上緩啟動后，收發(fā)切換瞬間電流從2.1 A 降低至0.65 A，雖然瞬間電流明顯減小，但由于LDO 最大輸出電流不足0.65 A，所以電壓跌落至2.72 V，鎖相環(huán)仍然會出現(xiàn)失鎖現(xiàn)象。

要想徹底解決鎖相環(huán)失鎖的問題，需要雙管齊下：將C449 改成47 μF，同時加上緩啟動電路。測試波形如圖13 所示。

增大C449 電容值、加上緩啟動電路后，瞬間電流降低到0.74 A，電源3V3DRF 微跌至3.13 V，不會造成鎖相環(huán)芯片低電復位。經(jīng)多次測試，無論是在常溫還是低溫環(huán)境下，都沒有出現(xiàn)鎖相環(huán)失鎖的現(xiàn)象。加上主控芯片實時監(jiān)測鎖相環(huán)芯片鎖定狀態(tài)，鎖相環(huán)的穩(wěn)定性進一步得到保障。

3.3 實時檢測鎖相環(huán)芯片狀態(tài)

主控芯片實時檢測鎖相環(huán)芯片狀態(tài)。鎖相環(huán)芯片有一個鎖定檢測腳，當鎖相環(huán)芯片失鎖時，該引腳輸出低電平。當主控芯片檢測到鎖相環(huán)失鎖后，可以重新初始化芯片，讓鎖相環(huán)芯片恢復正常。

4 結(jié)束語

本文著重從理論出發(fā)，初步分析鎖相環(huán)失鎖的問題，通過排除法，對可能的原因進行多次測試定位，最終得出增大電源的濾波電容，以及增加緩啟動電路、軟件檢測鎖相環(huán)鎖定狀態(tài)的解決方案，徹底解決了因收發(fā)切換時電壓跌落造成的鎖相環(huán)失鎖問題，對講機的穩(wěn)定可靠性得到了明顯改善。