1-xErxTiO3陶瓷的巨介電性能研究"/>
蒲永平 張賢 張金波 寧亞婷 上陽超
摘?要:選用“兩性”稀土Er3+離子摻雜SrTiO3陶瓷,采用傳統(tǒng)固相法制備出了在空氣下燒結(jié)的具有巨介電低損耗的Sr1-xErxTiO3陶瓷.結(jié)果表明,當(dāng)x=0.012,該陶瓷顯示出巨介電行為,在1 kHz下具有17 790的介電常數(shù),在1 MHz下具有14 363的介電常數(shù),在1 kHz下具有0.02的介電損耗.在巨介電、低介電損耗的材料中,存在著“電子釘扎”現(xiàn)象,電子的局域極化使介電常數(shù)增大;而在此過程中,由于限制了電子的長程移動(dòng),從而降低了介質(zhì)損耗.
關(guān)鍵詞:SrTiO3;巨介電常數(shù);低介電損耗;兩性摻雜
中圖分類號(hào):TB32
文獻(xiàn)標(biāo)志碼: A
文章編號(hào):2096-398X(2023)04-0104-08
Abstract:The Sr1-xErxTiO3 ceramics were sintered in air with low dielectric loss and colossal permittivity,which were prepared by the traditional solid phase method by using amphoteric rare earth Er3+ ions doped SrTiO3 ceramics.The results show that when x=0.012,the colossal permittivity is 17 790 at 1 kHz,and the permittivity is 14 363 at 1 MHz,dielectric loss is 0.02 at 1 kHz.In colossal permittivity materials with low dielectric loss,there is electron pinning effect,and the local polarization of electrons increases the permittivity.On the other hand,the long-range motion of electrons is inhibited,resulting in low dielectric loss.
Key words:SrTiO3;colossal permittivity;low dielectric loss;amphoteric doping
0?引言
巨介電陶瓷是近年來研究的熱點(diǎn),因?yàn)檫@些材料都在儲(chǔ)能和微型電容器方面有廣闊的應(yīng)用前景.盡管近年來有很多好的材料[1,2],但是巨介電常數(shù)材料仍有一些局限性,例如CaCu3Ti4O12(CCTO)的介電損耗很大,這限制了它的應(yīng)用[3].從字面上看,開發(fā)具有巨介電性能的新材料是令人向往的.
鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的SrTiO3作為一種量子順電結(jié)構(gòu),具有低的居里溫度(-250 ℃).然而,SrTiO3的本征介電常數(shù)較低(~330)[4,5],因此,提高介電特性一直是主要研究的課題[6].Er2O3是一種極具吸引力的稀土氧化物[7],具有高電阻率(1012~1015 Ω cm),高介電常數(shù)(7~20),寬帶隙(Eg=4.0~6.0 eV),較強(qiáng)的化學(xué)穩(wěn)定性和熱穩(wěn)定性[8].此外,由于Er3+是一種兩性摻雜劑,因此在陶瓷中可以產(chǎn)生更多種類的缺陷.目前,研究人員通常在SrTiO3中摻入Er3+以改善其熱性能,但對(duì)其巨介電常數(shù)性能的研究較少[9].因此,給鈦酸鍶中摻雜微量Er3+,以期望獲得巨介電性能.Er3+離子的半徑(88.1 pm),介于Sr2+離子(144 pm)和Ti4+離子(60.5 pm)之間.Er3+離子可能占據(jù)SrTiO3中的Sr或Ti位,這取決于Sr/Ti比值.Er3+離子較好地結(jié)合到Sr位點(diǎn),生成Er·Sr,而且在過量TiO2的存在下誘導(dǎo)施主行為.過量的SrO迫使Er3+離子進(jìn)入Ti位,生成Er·Ti并誘導(dǎo)受主行為.當(dāng)Sr/Ti比為1時(shí),Er3+離子在Sr和Ti位點(diǎn)上均有分布.摻雜過程伴隨著材料產(chǎn)生內(nèi)源性氧空位,使得陶瓷的氧空位、晶格畸變和內(nèi)部缺陷機(jī)制發(fā)生變化.缺陷極化是其介電性能的主要因素,而兩性摻雜和氧空位電離產(chǎn)生大量電子則是主要原因[10].
為了產(chǎn)生更多種類缺陷,形成更多數(shù)量、更多種類的缺陷偶極子、缺陷簇,并降低其遷移能力,從而人為地增加氧空位的濃度.在本工作中,樣品按照化學(xué)式Sr1-xErxTiO3進(jìn)行配料(x=0,0.002、0.006、0.008、0.010、0.012、0.014,縮寫為ST、SET2、SET6、SET8、SET10、SET12和SET14).目的是研究?jī)尚噪x子Er3+摻雜量對(duì)SrTiO3陶瓷微觀結(jié)構(gòu)、介電性能的影響,從而獲得巨介電低損耗陶瓷,并討論巨介電特性產(chǎn)生的機(jī)理,如圖1所示.
1?實(shí)驗(yàn)部分
1.1?實(shí)驗(yàn)原料
二氧化鈦(TiO2),購自國藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司.碳酸鍶(SrCO3),購自國藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司.氧化餌(Er2O3),購自國藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司.
1.2?實(shí)驗(yàn)方法
1.2.1?制備Sr1-xErxTiO3粉體
按照化學(xué)式Sr1-xErxTiO3,x=0、0.002、0.006、0.008、0.01、0.012和0.014,其中x為摩爾質(zhì)量百分比,將SrCO3、TiO2和Er2O3混合球磨后烘干.
1.2.2?制備純相粉體
將經(jīng)球磨烘干后的粉體壓塊后于1 100?℃~1 200 ℃煅燒2.5~3 h后粉碎研磨120目篩,制成Sr1-xErxTiO3純相的陶瓷粉體.
1.2.3?制備陶瓷樣品
將Sr1-xErxTiO3粉體壓制成試樣,并將制好的試樣置于以氧化鋯為墊板的氧化鋁匣缽內(nèi),然后將氧化鋁匣缽置于馬弗爐在空氣下于1 510 ℃進(jìn)行燒結(jié),燒結(jié)完成后冷卻至室溫后打磨、清洗燒結(jié)試樣,在打磨和清洗后的燒結(jié)試樣正反兩面均勻涂覆銀電極漿料,將涂覆銀電極漿料的試樣置于以氧化鋯為墊板的氧化鋁匣缽內(nèi),然后將氧化鋁匣缽置于馬弗爐中,在700 ℃的溫度下保溫20 min,即可進(jìn)行電性能測(cè)試.
1.3?結(jié)構(gòu)表征與性能測(cè)試
1.3.1?Sr1-xErxTiO3陶瓷的微觀結(jié)構(gòu)表征
以SrTiO3基陶瓷粉末為對(duì)象,采用X射線衍射(XRD)技術(shù),以此為基礎(chǔ),對(duì)SrTiO3基陶瓷粉末的成分、內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征.采用拉曼儀器獲得樣品微區(qū)分子的振動(dòng)信息,從而得到相關(guān)的分子信息.采用掃描電子顯微鏡(SEM)對(duì)粉末樣品以及陶瓷的斷面進(jìn)行晶粒形貌及分布、樣品致密度的觀察,并采用能譜儀(EDS)對(duì)樣品的成分進(jìn)行分析.
1.3.2?Sr1-xErxTiO3陶瓷的介電和復(fù)阻抗性能測(cè)試
采用變溫介電測(cè)試系統(tǒng)對(duì)不同溫度下樣品的介電特性、和阻抗等特性進(jìn)行測(cè)試.
材料的介電性質(zhì),也就是極化能力,一般通過介電常數(shù)來反應(yīng),而介電常數(shù)一般都是用ε來表達(dá)的.在這個(gè)實(shí)驗(yàn)中,使用的是E4980A型精密阻抗分析儀和高溫箱,來對(duì)樣品在不同的溫度或頻率下的介電常數(shù)及介電損耗進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試模式是CPD,測(cè)試頻率是20 Hz~2 MHz,根據(jù)公式(1)可以計(jì)算介電常數(shù)ε:
式(1)中:C—電容(單位:F);h—樣品的厚度(單位:cm);ε0=8.854×10-12 F·m-1,表示真空介電常數(shù);d—樣品的直徑(單位:cm).
復(fù)阻抗測(cè)試則是選取RX模式進(jìn)行測(cè)試,先設(shè)置幾個(gè)測(cè)試溫度,升溫速率為3 ℃/min,然后每達(dá)到一個(gè)測(cè)試溫度,則可以開始測(cè)試交流電阻.電阻率的計(jì)算公式如式(2)所示:
式(2)中:S—電極面積(cm2);L—陶瓷片的厚度(cm);ρ—電阻率(Ω·cm).
1.3.3?點(diǎn)缺陷表征
用X射線光電子能譜(XPS,VG Multilab 2000)對(duì)樣品中元素的價(jià)態(tài)進(jìn)行了分析.
2?結(jié)果與討論
2.1?Sr1-xErxTiO3陶瓷的晶體結(jié)構(gòu)
圖2展示出了陶瓷試樣在空氣環(huán)境下進(jìn)行燒結(jié)時(shí)的XRD圖譜.從圖2(a)可知,所有的陶瓷試樣都具有單一相的鈣鈦礦型晶體結(jié)構(gòu).如圖2(b)所示,當(dāng)Er3+離子含量增大時(shí),該衍射峰(110)先是移到左邊,接著移到右邊.Er3+(0.89 )離子在Sr(1.44 )與(0.61 )之間,因此,有可能實(shí)現(xiàn)Sr和Ti兩個(gè)位置的同時(shí)摻雜.當(dāng)0≤x≤ 0.012時(shí),衍射峰向低角度移動(dòng),表明Er3+離子主要取代Ti離子的位置.當(dāng)0.012≤x≤ 0.014時(shí),衍射峰向高角度移動(dòng),表明Er3+離子主要取代Sr離子的位置.當(dāng)x=0.012時(shí),Er3+離子同時(shí)取代Sr離子和Ti離子.
除X-射線衍射法外,還可根據(jù)各相中的特征峰,采用拉曼光譜技術(shù)對(duì)其進(jìn)行鑒別.利用拉曼光譜峰與分子的振動(dòng)、旋轉(zhuǎn)等信息相關(guān)聯(lián),研究不同摻雜濃度下SrTiO3材料的拉曼光譜中各振動(dòng)模態(tài)的變化規(guī)律,揭示摻雜對(duì)其晶體結(jié)構(gòu)的影響規(guī)律.
如圖3所示,對(duì)不同摻雜量的Sr1-xErxTiO3陶瓷進(jìn)行拉曼光譜測(cè)試,來觀察隨著Er摻雜量的增加對(duì)陶瓷結(jié)構(gòu)的影響.SrTiO3在室溫下是理想的鈣鈦礦結(jié)構(gòu),每個(gè)晶胞內(nèi)的五個(gè)離子都位于對(duì)稱中心,所有一階拉曼都被抑制,能被觀察到的都是二階拉曼,其主要是由于布里淵區(qū)附近的聲子組合引起的[11,12].從圖3可以看出該體系陶瓷的拉曼光譜中有兩個(gè)明顯的寬峰,分別是位于220~400 cm-1和620~700 cm-1的二階振動(dòng)模.此外,在圖中還可以觀察到兩個(gè)分別位于538.8 cm-1(TO4)和794.5 cm-1(LO4)的一階振動(dòng)模.其中,TO4振動(dòng)模與相互作用的缺陷偶極子有關(guān),而LO4振動(dòng)模是Ti-O鍵的拉伸模式,與偏離中心的Ti3+離子有關(guān).
從圖3還可以看出,SET12和SET14陶瓷TO4振動(dòng)模的強(qiáng)度高于其余五個(gè)陶瓷TO4振動(dòng)模的強(qiáng)度.這說明了SET12和SET14陶瓷內(nèi)部比后兩者陶瓷存在更多的缺陷偶極子,這與Er3+同時(shí)進(jìn)入了A位和B位顯示出“兩性”行為有關(guān),而ST、SET2、SET6、SET8、SET10陶瓷的Er3+只進(jìn)入B位.從LO4振動(dòng)模中,可以看到SET2、SET6、SET8、SET10、SET12和SET14陶瓷LO4振動(dòng)模比ST陶瓷LO4向高波數(shù)方向偏移并且更加寬化,這說明了諸如氧空位、Ti3+的存在使得Ti-O鍵被拉伸,對(duì)稱性被破壞,導(dǎo)致振動(dòng)模的寬化.這也從側(cè)面說明了SET2、SET6、SET8、SET10、SET12和SET14陶瓷中具有更多的點(diǎn)缺陷以及形成的缺陷偶極子.
2.2?Sr1-xErxTiO3陶瓷的微觀形貌
圖4(a)~(g)為陶瓷樣品的微觀形貌,圖4(h)為陶瓷的平均晶粒尺寸.由圖可以看出,隨著Er3+離子含量的增加,陶瓷樣品的氣孔率逐漸減小.當(dāng)0≤x<0.012時(shí),SrTiO3陶瓷的平均晶粒尺寸從14.57 μm增加到43.59 μm,但當(dāng)x=0.012時(shí),晶粒尺寸明顯減小,其平均晶粒尺寸為12.43 μm,x=0.012陶瓷樣品相比于純的SrTiO3陶瓷的晶粒尺寸略微減小,這是由于晶粒的生長與Er3+離子的摻雜占位和燒結(jié)氣氛有關(guān)系.
圖5(a)、(b)、(c)、(d)分別為ST、SET6、 SET12、 SET14陶瓷樣品的背散射電子像.從圖中可以看出,ST和SET6陶瓷的顏色呈現(xiàn)淡灰色,而SET12和SET14陶瓷的顏色呈黑色.產(chǎn)生這種現(xiàn)象的原因是,由于電子補(bǔ)償機(jī)制,兩性離子摻雜的SrTiO3陶瓷在燒結(jié)過程中,當(dāng)其恰好發(fā)揮兩性離子的作用時(shí),可以產(chǎn)生更多缺陷,這與拉曼圖譜得到的結(jié)論一致,因此,氧空位進(jìn)一步產(chǎn)生,Ti4+結(jié)合弱連接電子形成Ti3+,通常位于負(fù)離子空位(氧空位)附近.因?yàn)檠蹩瘴粠д姡东@的兩個(gè)電子構(gòu)成了一個(gè)色心,稱為F色心[13].因此,SET12和SET14陶瓷在背散射電子像中的顏色較其他樣品深,半導(dǎo)性能增強(qiáng).
圖6(a1)、(b1)分別為ST、 SET12陶瓷的微觀形貌,及其對(duì)應(yīng)的元素分布圖.結(jié)果表明,O、Sr、Ti、Er四種元素分布均勻.值得注意的是,微量的Er3+離子能夠均勻地分布在陶瓷中,這為制備高性能、高質(zhì)量的巨介電陶瓷提供基礎(chǔ).
2.3?Sr1-xErxTiO3陶瓷的介電性能
圖7是所有陶瓷在常溫下的介電常數(shù)和介電損耗隨頻率的變化曲線.當(dāng)x<0.012時(shí),在空氣中燒結(jié)的陶瓷都表現(xiàn)出相似的介電響應(yīng),但是介電常數(shù)很小,沒有滿足巨介電要求.當(dāng)x=0.012或0.014時(shí),介電常數(shù)大于104,介電損耗小于0.05.當(dāng)x=0.012時(shí),介電常數(shù)最高,在1 kHz下介電常數(shù)為17 790,在1 MHz下的介電常數(shù)為14 363,在1 kHz下的介電損耗為0.02.其原因在于,Er3+可以引入多余的電子,而Ti4+可以結(jié)合電子,并生成Ti3+,并生成氧空位,進(jìn)而提升其介電常數(shù).然而,在大于105 Hz時(shí),介電常數(shù)開始減小,這是因?yàn)?,界面極化機(jī)制在高頻時(shí)會(huì)退出,導(dǎo)致介電常數(shù)迅速下降[13].
圖8(a)~(g)是所有在空氣下燒結(jié)的陶瓷材料的介電常數(shù)和介電損耗隨溫度的關(guān)系.可見,當(dāng)x小于0.010時(shí),介電損耗在低溫處不存在峰,而當(dāng)x大于等于0.012時(shí),出現(xiàn)了巨介電現(xiàn)象,且產(chǎn)生了兩個(gè)介電損耗峰.這與陶瓷內(nèi)部點(diǎn)缺陷的不同有關(guān).圖8(h)為在1 kHz下所有陶瓷介電常數(shù)和介電損耗隨溫度的變化曲線的對(duì)比圖,可以明顯地看出在-170 ℃~425 ℃的溫度區(qū)間范圍內(nèi),x大于等于0.012時(shí),介電常數(shù)均高于其他組分陶瓷,說明在空氣下燒結(jié)的SrTiO3陶瓷,要使其滿足巨介電性能,摻雜的兩性Er3+離子含量必須大于等于0.012.
2.4?Sr1-xErxTiO3陶瓷的巨介電機(jī)理
圖9是x=0.012的陶瓷試樣在空氣中燒結(jié)時(shí),在各種頻率下,其介電常數(shù)及介電損耗與溫度的關(guān)系曲線.顯然,兩個(gè)介質(zhì)損失峰值出現(xiàn)在圖9(b)中.這些介電損耗峰符合阿倫尼烏斯(Arrhenius)定律[14].
為了探討巨介電機(jī)理,本文對(duì)x=0.012的介電損耗峰進(jìn)行擬合,A的活化能為0.26 eV,與偏離中心的B位離子與電子締合(Ti4+·e)有關(guān),因此可以證明SET12陶瓷中存在Ti3+;峰B的活化能分別為0.57 eV,這與氧空位有關(guān).結(jié)合較低的介電損耗,可以推測(cè):在此過程中,氧空位可能會(huì)與其它點(diǎn)缺陷一起約束約束電子的移動(dòng)[15].
為了驗(yàn)證上述推測(cè)的可行性,對(duì)樣品進(jìn)行了XPS圖譜分析,圖10(a)、(c)和(e)分別為SET10、SET12和SET14陶瓷的O 1s圖譜,表面吸附H2O的O 1s結(jié)合能為531.6 eV,Ti-O鍵的O 1s結(jié)合能為529.4 eV[16].圖10(b)、(d)和(f)分別為SET10、SET12和SET14陶瓷的Ti 2p圖譜,Ti4+和Ti3+的擬合光譜為Ti 2p3/2峰,Ti3+的結(jié)合能為457.3 eV,Ti4+的結(jié)合能為458.2 eV.對(duì)測(cè)得的數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合,分析可以得到陶瓷中氧空位和Ti3+缺陷的含量[17].由該圖可知,當(dāng)Er3+離子的摻雜量增大時(shí),氧空位及Ti3+的含量增大.這說明Er3+對(duì)氧缺陷的形成有一定的促進(jìn)作用.一方面,以Er3+為施主,引入多余的電子,使Ti4+獲得自由電子,轉(zhuǎn)化成Ti3+,誘導(dǎo)氧空位生成.此外,由于Er3+對(duì)Sr2+的替代,會(huì)產(chǎn)生較弱的晶格畸變,使得鄰近的Er3+在低溫缺氧環(huán)境中發(fā)生分離,從而產(chǎn)生氧空位.然而,這兩個(gè)假設(shè)均說明了氧空位的存在是決定材料介電性能的重要因素,而通過摻雜離子的方式,可以間接地促進(jìn)材料的巨介電性能和介電性能的提高.O1s等的結(jié)合能幾乎沒有變化,因此對(duì)元素的價(jià)態(tài)沒有影響.同時(shí),通過對(duì)氧空位和Ti3+的研究,揭示了氧空位、Er′Ti和Ti′Ti之間存在著釘扎的缺陷偶極子,為Ti′Ti-V··O-Ti′Ti、Ti′Ti-Er·Ti和V··O-3Ti′Ti-Er·Ti.
3?結(jié)論
選用“兩性”稀土離子Er3+摻雜引入SrTiO3陶瓷,以Sr1-xErxTiO3為研究對(duì)象,利用常規(guī)固相合成方法,在空氣氣氛下,實(shí)現(xiàn)巨介電、低損耗的Sr1-xErxTiO3材料的合成.在0≤x≤0.012范圍內(nèi),其衍射峰向低角度偏移,說明Er3+離子取代Ti4+離子的位置.結(jié)果顯示,在0.012≤x≤0.014之間,其衍射峰位發(fā)生了較大的偏移,說明了Er3+對(duì)Sr2+的替代作用.當(dāng)x=0.012,該陶瓷顯示出巨介電行為,在1 kHz下具有17 790的介電常數(shù),在1 MHz下具有14 363的介電常數(shù),在1 kHz下具有0.02的介電損耗.結(jié)果表明:在此過程中,電子的局域極化使介電常數(shù)增大,由于限制了電子的長程移動(dòng),從而降低了介電損耗.
參考文獻(xiàn)
[1] Zhang L,Pu Y,Chen M,et al.Novel (1-x) NaNbO3-xBi2/3HfO3 based,lead-free compositions with stable antiferroelectric phase and high energy density and switching field[J].Chemical Engineering Journal,2023,457:141 376.
[2] Ning Y,Pu Y,Wu C,et al.Enhanced capacitive energy storage and dielectric temperature stability of A-site disordered high-entropy perovskite oxides[J].Journal of Materials Science & Technology,2023,145:66-73.
[3] Lee J W,Koh J H.Enhanced dielectric properties of Ag-doped CCTO ceramics for energy storage devices[J].Ceramics International,2017,43(12):9 493-9 497.
[4] Müller K A,Burkard H.SrTiO3:An intrinsic quantum paraelectric below 4 K[J].Physical Review B,1979,19 (7):3 593-3 602.
[5] Tkach A,Vilarinho P M,Senos A M R,et al.Effect of nonstoichiometry on the microstructure and dielectric properties of strontium titanate ceramics[J].Journal of the European Ceramic Society,2005,25(12):2 769-2 772.
[6] 沈宗洋.稀土Nd摻雜SrTiO3基高儲(chǔ)能介質(zhì)陶瓷缺陷結(jié)構(gòu)及介電性能研究[D].武漢:武漢理工大學(xué),2007.
[7] 張若樺.稀土元素化學(xué)[M].天津:天津科學(xué)技術(shù)出版社,1987:7-10.
[8] Gao B,Mamat M,Ghupur Y,et al.In situ study on the thermal stability and interfaces properties of Er2O3/Al2O3/Si multi stacked films by X-ray photoelectron spectroscopy[J].Superlattices and Microstructures,2017,104:415-421.
[9] Rittiruam M,Seetawan T,Yokhasing S,et al.La/Sm/Er cation doping induced thermal properties of SrTiO3 perovskite[J].Inorganic Chemistry,2016,55 (17):8 822-8 826.
[10] 魏雅妮.鈦酸鍶晶界層電容器陶瓷的燒結(jié)性能與介電性能研究[D].廣州:華南理工大學(xué),2021.
[11] Gopalan S,Balu V,Lee J H,et al.Study of the electronic conduction mechanism in Nb-doped SrTiO3 thin films with Ir and Pt electrodes[J].Applied Physics Letters,2000,77 (10):1 526-1 528.
[12] Jeong J,Ataai M M.A highly structured model for simulation of batch and continuous cultures of B.subtilis and examination of cellular differentiation[J].Annals of the New York Academy of Sciences,1990,589:82-90.
[13] Rinke P,Schleife A,Kioupakis E,et al.First-principles optical spectra for F centers in MgO[J].Physical Review Letters,2012,108(12):126 404.
[14] Zhang X,Pu Y,Zhang L,et al.Simultaneously achieving colossal permittivity,ultralow dielectric loss tangent,and high insulation resistivity in Er-Doped SrTiO3 ceramics via oxygen vacancy regulation[J].ACS Applied Materials and Interfaces,2022,14(43):48 821-48 832.
[15] Zhang X,Zhang J,Zhou Y,et al.Colossal permittivity and defect-dipoles contribution for Ho0.02Sr0.97TiO3 ceramics[J].Journal of Alloys and Compounds,2018,767:424-431.
[16] Guo X,Pu Y,Ji J,et al.Colossal permittivity and high insulation resistivity in Dy-modified SrTiO3 lead-free ceramic materials with low dielectric loss[J].Ceramics International,2020,46(8):10 075-10 082.
[17] Hu W,Liu Y,Withers R L,et al.Electron-pinned defect-dipoles for high-performance colossal permittivity materials[J].Nature Materials,2013,12(9):821-826.
【責(zé)任編輯:蔣亞儒】
基金項(xiàng)目:國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(52172118,51872175)
作者簡(jiǎn)介:蒲永平(1971—),男,山西新絳人,教授,博士,研究方向:電子功能陶瓷